一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法与流程

一种基于动态配置参数的ate测试装置及其测试方法
技术领域
1.本发明涉及半导体自动测试设备(automatic test equipment，简称ate)领域，尤其涉及一种基于动态配置参数的ate测试装置及其测试方法。


背景技术：

2.在半导体行业，元器件的生产和制造都会伴随着各种测试的需求，其中，芯片测试在整个产业链当中占有极其重要的地位。通常，芯片测试的整个流程会涉及到测试设备，这类设备统称为自动化测试设备。
3.自动化测试设备是一种由高性能计算机控制的测试系统，可以通过运行测试程序的指令来控制测试硬件，用于检测集成电路功能和性能的完整性以确保元器件的良品率。
4.然而，随着集成电路设计复杂度的提高，其测试复杂度也随之增加，大规模集成电路往往会要求几百次的电压、电流和时序的测试以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。这也使得芯片的测试成本越来越高，占据了芯片成本的大部分比例。
5.因此，除了要保证测试系统本身的可靠性和稳定性，如何提升芯片测试的速度和效率也变得尤为重要，是整个半导体测试机行业的共同课题。
6.目前，行业内通用的方案是，通过对自动化测试设备编写测试程序(testprogram)，来控制整个芯片测试的流程。而且，考虑到性能和效率等因素，通常会采用更接近底层硬件的编译型语言(c/c++)进行测试程序的开发。
7.由于测试条件(例如硬件资源、端口号、输入激励和信号大小等)的调试需要对测试程序不断的修改，但编译型语言的特性又导致测试程序一旦被修改，整个测试就需要经过重新编译、链接、执行等步骤才可以对更改后的测试条件生效，这就使得整体的调试效率变得低下，开发周期冗长。
8.鉴于此，为了能够动态的修改测试条件，一些公司会将测试条件以json或xml的格式编写进配置文件中，在程序运行时只需读取配置文件中的信息，修改的测试条件就能及时生效，而无须修改测试程序本身，以此提高测试的效率。然而，json或xml等数据格式易于解析和传输，但对于用户来说可读性非常糟糕，并且语法格式过于繁杂，不易于理解测试条件相互之间的关系，难以维护。


技术实现要素：

9.本发明的目的在于，提供一种应用于ate测试的参数配置方法，其适用于芯片测试可读性高的配置文件的语法格式，不仅能够将调试时需要修改的测试条件动态的动态加载到测试程序中执行，使得测试程序无需重新编译链接即可对更改后的测试条件生效，也可以让用户在阅读和编写测试条件时易于理解，提高整体的测试速度和效率。
10.为实现上述目的，本发明的技术方案如下：
11.一种基于动态配置参数的ate测试装置，其包括：
12.上位机包括pin文件配置模块、level文件配置模块以及将配置好的pin文件和
level文件通过发送模块发送到下位机；
13.所述pin文件的语法结构包括三部分：pindefs、pingroup以及pinalias；整体的语法格式概括为：identifier{statements}，identifier表示标识符，statements表示语句；
14.其中，pindefs用于定义硬件资源的连接关系；语法格式即identifier为pindefs，statements则包含了pindefine_begin、pindefine_end以及中间模块；
15.pingroup用于定义一组pin；从语法结构来看，identifier为pingroup，statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式；
16.pinalias用于定义pin的别名,语法格式identifier为pinalias，statements为赋值语句；
17.level文件的语法格式为：levels identifier{statements}；其中，levels为level文件的关键字，identifier为标识符，statements表示语句；
18.所述下位机包括测试程序、第一解析模块和第二解析模块；所述第一解析模块在解析pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析level文件后将其动态加载到所述测试程序，并过测试程序控制机台来执行测试。
19.进一步地，pindefine_begin和pindefine_end分别为第一条语句(statement)和最后一条语句(statement)，表示所述pin文件定义的开始和结束，中间模块整体结构从左往右每个字段分别为pin的名称(pin_name)、资源类型(resourcetype)以及n个待测芯片(site 1、site 2
…
site i
…
site n)。
20.进一步地，每个所述待测芯片的参数包括卡槽号(slotno)和通道号(channelno)。
21.为实现上述目的，本发明的技术方案如下：
22.一种基于动态配置参数的ate测试方法，其采上述的基于动态配置参数的ate测试装置，其包括：
23.步骤s1：在启动测试前，上位机按照pin文件的语法格式，连接所述待测芯片(site 1、site 2
…
site i
…
site n)和管脚pin的硬件资源，并将连接关系写入pin文件；按照level文件的语法格式，将客户的测试需求和指标写入所述level文件；
24.所述pin文件的语法结构包括三部分：pindefs、pingroup以及pinalias；整体的语法格式概括为：identifier{statements}，identifier表示标识符，statements表示语句；
25.其中，pindefs用于定义硬件资源的连接关系；语法格式即identifier为pindefs，statements则包含了pindefine_begin、pindefine_end以及中间模块；
26.pingroup用于定义一组pin；从语法结构来看，identifier为pingroup，statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式；
27.pinalias用于定义pin的别名,语法格式identifier为pinalias，statements为赋值语句；
28.level文件的语法格式为：levels identifier{statements}；其中，levels为level文件的关键字，identifier为标识符，statements表示语句；
29.步骤s2：将所述level文件和pin文件发送到下位机；
30.步骤s3：在测试启动后，所述第一解析模块在解析pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析level文件后将其动态加载到所述测试程序，并过测试程序控制机台来执行测试。
31.从上述技术方案可以看出，本发明提供了一种可以提高芯片测试速度和效率的配置文件的语法格式，其技术效果有益具体如下：
32.①
、对测试条件的调整只需要修改pin文件/level文件即可生效，无需重新编译测试程序，缩短了调试的周期，提高了调试的效率；
33.②
、语法结构简单和可读性高，便于用户在阅读和编写测试条件时的理解，从而提高测试的速度和效率。
附图说明
34.图1所示为本发明基于动态配置参数的ate测试装置的示意图
35.图2所示为本发明实施例中的pin文件的语法格式示意图
36.图3所示为本发明实施例中的level文件的语法格式示意图
37.图4所示为本发明基于动态配置参数的ate测试方法的流程示意图
具体实施方式
38.下面结合附图1-4，对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。
39.请参阅图1，图1所示为本发明基于动态配置参数的ate测试装置的示意图。如图1所示，该上位机包括pin文件配置模块、level文件配置模块以及将配置好的pin文件和level文件通过发送模块发送到下位机；下位机包括第一解析模块和第二解析模块；所述第一解析模块在解析pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析level文件后将其动态加载到所述测试程序。
40.本发明提出的语法格式，主要涉及到了pin文件和level文件。
41.首先，pin文件的语法结构主要由三部分组成：pindefs、pingroup以及pinalias。请参阅图2，图2所示为本发明实施例中的pin文件的语法格式示意图。
42.如图2所示，整体的语法格式可以概括为：identifier{statements}，identifier表示标识符，statements表示语句。
43.①
、pindefs：用于定义硬件资源的连接关系。语法格式即identifier为pindefs，statements则包含了pindefine_begin、pindefine_end以及中间模块。
44.其中，pindefine_begin和pindefine_end分别为第一条语句(statement)和最后一条语句(statement)，表示定义的开始和结束。
45.假设，n为4，中间模块整体结构类似于excel表格，从左往右每个字段分别为pin的名称(pin_name)、资源类型(resourcetype)以及4个待测芯片(site1～site4)。
46.请再参阅图2，s1～s3表示卡槽号(slotno)，dps_ch1、io_ch1等表示的是通道号(channelno)，即通过图中的行和列的索引，用户很容易就可以获取相应的资源信息。
47.例如，第一行第三列对应的是s1.dps_ch1，即对应的连接关系为：{dut＝site1,slotno＝s1,channelno＝dps_ch1，pinname＝vcc,resourcetype＝dps}；再如s2.io_ch3对应的dut为site3,slotno为s2，channelno为io_ch3,pinname为vdd，resouretype为io，以此类推。
48.②
、pingroup：用于定义一组pin。从语法结构来看，identifier为pingroup，statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式。
49.例如，all_dig_grp＝clk+data即表示pingroup的名称为all_dig_grp，由clk和data两个pin组成。同理，all_dps_grp包含vdd和vcc两个pin；而clock_grp表示由clk+data-data+tx，即clk和tx组成。
50.③
、pinalias：用于定义pin的别名，语法格式identifier为pinalias，statements为赋值语句。
51.例如，vcc1＝vcc表示vcc和vcc1是同一个pin，vcc1即为vcc的别名。同理，vdd2和vdd表示同一个pin，vdd2是vdd的别名。
52.请参阅图3，图3所示为本发明实施例中的level文件的语法格式示意图。如图3所示，level文件的语法格式为：levels identifier{statements}。
53.其中，levels为level文件的关键字，identifier为标识符，statements表示语句。
54.如图2所示，identifier即为contactsetup_levels，表示levels的名称；statements为pingroup+配置的测试参数。level文件可以通过导入模块的形式导入pin文件(import“example.pin”)，从而获取相应的all_dig_grp、all_dps_grp以及clock_grp等pingroup。
55.以all_dig_grp为例，所配置的参数为{pinoutrelay＝open；powersequence＝off；vih＝0v；vil＝0v，delay＝3ms}，即clk和data两个pin所配置的参数皆为{pinoutrelay＝open；powersequence＝off；vih＝0v；vil＝0v,delay＝3ms}。
56.本发明提出的配置文件(pin文件和level文件)的语法格式，已经实施到整个测试环节中，请参阅图4，图4所示为本发明基于动态配置参数的ate测试方法的流程示意图。该测试方法具体流程为：
57.步骤s1：在启动测试前，上位机按照pin文件的语法格式，连接所述待测芯片(site1、site2…
sitei…
siten)和管脚pin的硬件资源，并将连接关系写入pin文件；按照level文件的语法格式，将客户的测试需求和指标写入所述level文件；
58.所述pin文件的语法结构包括三部分：pindefs、pingroup以及pinalias；整体的语法格式概括为：identifier{statements}，identifier表示标识符，statements表示语句；
59.其中，pindefs用于定义硬件资源的连接关系；语法格式即identifier为pindefs，statements则包含了pindefine_begin、pindefine_end以及中间模块；
60.pingroup用于定义一组pin；从语法结构来看，identifier为pingroup，statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式；
61.pinalias用于定义pin的别名,语法格式identifier为pinalias，statements为赋值语句；
62.level文件的语法格式为：levels identifier{statements}；其中，levels为level文件的关键字，identifier为标识符，statements表示语句；
63.步骤s2：将所述level文件和pin文件发送到下位机；
64.步骤s3：在测试启动后，所述第一解析模块在解析pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析level文件后将其动态加载到所述测试程序，并过测试程序控制机台来执行测试。
65.综上，本发明的pin文件和level文件，作为配置文件相较于json和xml而言，语法格式的结构更为简单直观，易于理解，各测试条件之间关系一一对应清晰明了，相互关联，
可读性高，便于用户对测试条件的编写和调试，后期维护方便。
66.以上所述的仅为本发明的优选实施例，所述实施例并非用以限制本发明的专利保护范围，因此凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本发明的保护范围内。