一种晶体半成品外观缺陷选别装置的制作方法

1.本发明涉及晶体检测技术领域，具体为一种晶体半成品外观缺陷选别装置。


背景技术：

2.晶片是led最主要的原物料之一，是led的发光部件，led最核心的部分，晶片的好坏将直接决定led的性能，晶片是由是由iii和v族复合半导体物质构成，在led封装时，晶片来料呈整齐排列在晶片膜上，一般在晶片的生产加工中，需要对晶片的外观缺陷与不良品进行挑选。
3.现有技术中晶体半成品外观一般通过视觉检测机进行检测，但是在使用视觉检测机进行检测时，往往一次装夹只能检测晶片一面的缺陷，进行晶片的顶面和底面检测时，需要进行二次装夹，多次装夹容易造成晶片损伤。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种晶体半成品外观缺陷选别装置，以解决上述背景技术中提出的在进行晶片的顶面和底面检测时，需要进行二次装夹，多次装夹容易造成晶片损伤的问题。
5.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种晶体半成品外观缺陷选别装置，包括：底座、侧边相机、载盘和翻转轴，底座顶部外侧设有门型支架，所述门型支架上半部两侧内壁设有侧边相机，所述门型支架顶部内壁中央设有顶部相机，所述底座顶部中央设有载盘，所述载盘顶部两侧设有电动滑轨，所述电动滑轨顶部设有滑座，所述滑座顶部之间设有翻转轴，所述载盘顶部远离翻转轴一侧两端设有固定座，所述固定座顶部设有支撑杆，所述支撑杆顶部与翻转轴之间设有晶片，所述翻转轴两端顶部设有连接杆，所述连接杆远离翻转轴一端位于晶片上方设有吸盘。
6.优选的，所述底座顶部两侧位于载盘连接部位设有载盘输送滑轨。
7.优选的，所述门型支架两侧位于侧边相机连接部位设有z轴直线滑轨。
8.优选的，所述z轴直线滑轨内部与侧边相机之间设有侧边相机支架。
9.优选的，所述门型支架顶部位于顶部相机连接部位设有x轴直线滑轨。
10.优选的，所述x轴直线滑轨内部与顶部相机之间设有顶部相机支架。
11.优选的，所述翻转轴一侧位于晶片连接部位开设有卡槽。
12.优选的，所述支撑杆顶部一侧与晶片连接部位设有支撑槽。
13.优选的，位于一侧的所述滑座外壁位于翻转轴一端设有伺服电机，所述伺服电机动力输出轴一端与翻转轴固定连接。
14.优选的，所述连接杆顶部位于吸盘顶部一端设有负压吸管。
15.与现有技术相比，本发明的有益效果是：
16.本发明通过设置的翻转轴、电动滑轨以及伺服电机，实现了在晶体半成品外观缺陷选别装置使用时，将载盘输送至门型支架下方，通过侧边相机和顶部相机对晶片顶部进
行视觉检测，顶部检测完成后，通过伺服电机带动翻转轴转动，带动晶片、连接杆以及吸盘同步转动，使得晶片转动90度后停止，通过电动滑轨带动滑座向侧边相机一侧移动，通过侧边相机对晶片底面进行视觉检测，检测完成后电动滑轨带动滑座回到原位，通过伺服电机带动晶片翻转至原位，此时检测完成，通过一次装夹进行晶片顶面和底面的检测，检测效率较高的同时，减少了晶片在装夹过程中的损伤。
附图说明
17.图1为本发明整体主视图；
18.图2为本发明滑座连接结构放大图；
19.图3为本发明图1中a处放大结构示意图；
20.图4为本发明载盘连接结构俯视图；
21.图5为本发明整体左视结构剖视图；
22.图6为本发明晶片翻转状态主视图。
23.图中：1-底座；101-载盘输送滑轨；2-门型支架；201-z轴直线滑轨；202-x轴直线滑轨；3-侧边相机；301-侧边相机支架；4-顶部相机；401-顶部相机支架；5-载盘；6-电动滑轨；7-滑座；8-翻转轴；9-晶片；10-连接杆；11-负压吸管；12-吸盘；13-支撑杆；14-固定座；15-伺服电机。
具体实施方式
24.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
25.请参阅图1-6，本发明提供一种技术方案：一种晶体半成品外观缺陷选别装置，包括：底座1、侧边相机3、载盘5和翻转轴8，底座1顶部外侧通过螺钉连接有门型支架2，门型支架2上半部两侧内壁滑动连接有侧边相机3，门型支架2顶部内壁中央滑动连接有顶部相机4，底座1顶部中央滑动连接有载盘5，载盘5顶部两侧通过螺钉连接有电动滑轨6，电动滑轨6顶部滑动连接有滑座7，滑座7顶部之间通过轴承连接有翻转轴8，载盘5顶部远离翻转轴8一侧两端通过螺钉连接有固定座14，固定座14顶部卡接有支撑杆13，支撑杆13顶部与翻转轴8之间插接有晶片9，翻转轴8两端顶部焊接有连接杆10，连接杆10远离翻转轴8一端位于晶片9上方卡接有吸盘12。
26.底座1顶部两侧位于载盘5连接部位通过螺钉连接有载盘输送滑轨10，门型支架2两侧位于侧边相机3连接部位通过螺钉连接有z轴直线滑轨201，z轴直线滑轨201内部与侧边相机3之间滑动连接侧边相机支架301，门型支架2顶部位于顶部相机4连接部位通过螺钉连接有x轴直线滑轨202，x轴直线滑轨202内部与顶部相机4之间滑动连接顶部相机支架401。
27.翻转轴8一侧位于晶片9连接部位开设有卡槽，支撑杆13顶部一侧与晶片9连接部位设有支撑槽，位于一侧的滑座7外壁位于翻转轴8一端设有伺服电机15，伺服电机15动力输出轴一端与翻转轴8固定连接，连接杆10顶部位于吸盘12顶部一端卡接有负压吸管11。
28.工作原理：在晶体半成品外观缺陷选别装置使用时，通过推进机构将晶片9推入到翻转轴8和支撑杆13之间，通过翻转轴8上的卡槽与支撑杆13上的支撑槽进行导向，晶片推入后，通过吸盘12对晶片9进行固定，晶片9固定完成后，通过载盘输送滑轨10，将载盘5输送至门型支架2下方，通过侧边相机3和顶部相机4对晶片9顶部进行视觉检测，顶部检测完成后，通过伺服电机15带动翻转轴8转动，带动晶片9、连接杆10以及吸盘12同步转动，使得晶片9转动90度后停止，通过电动滑轨6带动滑座7向侧边相机3一侧移动，通过侧边相机3对晶片9底面进行视觉检测，检测完成后电动滑轨6带动滑座7回到原位，通过伺服电机15带动晶片9翻转至原位，此时检测完成，通过一次装夹进行晶片9顶面和底面的检测，检测效率较高的同时，减少了晶片9在装夹过程中的损伤。
29.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
30.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。