显示装置的检查方法与流程

1.本发明的一个实施方式涉及显示装置的检查方法。具体而言，涉及包含检查缺陷像素的步骤的显示装置的检查方法。


背景技术：

2.作为显示装置的检查方法，公开了通过目视来判定伽马特性的方法(参照专利文献1)。该检查通过如下方式进行：在显示部中，将在一个方向上具有检查色的渐变图案的渐变区域和具有检查色和黑色的区域的抖动(检查图案)区域以相邻的方式配置，在一个方向的同一位置通过目视来比较渐变区域的亮度和抖动区域的亮度。
3.现有技术文献
4.专利文献
5.专利文献1：日本特开2016-161612号公报。


技术实现要素：

6.发明要解决的问题
7.缺陷像素包括坏点(黑点)缺陷和亮点缺陷。具体而言，坏点缺陷包括与影像信号无关地不点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变低的缺陷，亮点缺陷包括与影像信号无关地点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变高的缺陷。目视点亮检查是使显示部进行整面点亮，检查员通过目视来判定有无上述那样的缺陷像素而进行的。但是，如果像素的尺寸因高精细化而变小，则缺陷的尺寸也变小，所以难以判别缺陷像素。例如，坏点缺陷被包围坏点缺陷的周边像素的光掩埋，难以通过视觉来检测坏点缺陷。由于这样的理由，仅显示测试图案并通过目视来判别缺陷像素的有无的检查伴随着像素的高精细化而变得困难，识别缺陷像素的精度的降低、偏差成为问题。
8.鉴于这样的问题，本发明的一个实施方式的目的在于提供一种检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。
9.用于解决问题的技术手段
10.本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，所述第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与所述第1单位区域相邻且以与所述第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，所述第2测试图案图像以所述第2灰阶值显示所述第1单位区域且以所述第1灰阶值显示所述第2单位区域，所述第1单位区域和所述第2单位区域分别为1个像素。
11.根据本发明，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。
附图说明
12.图1是表示本发明的一个实施方式的显示装置的概略结构的图。
13.图2是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
14.图3是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
15.图4a表示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。
16.图4b表示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。
17.图5是表示本发明的一个实施方式的第1测试图案图像中包含缺陷像素时的显示状态的图。
18.图6是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
19.图7是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
20.图8是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
21.图9是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
22.图10表示本发明的一个实施方式的显示装置的检查系统。
23.附图标记说明
24.100：显示装置，102：显示面板，104：显示部，106：扫描线驱动电路，108：驱动器ic，110：端子部，112：柔性电路板，150：检查系统，152：控制电路，154：测试图案图像产生电路，156：显示装置驱动电路，158：摄像机，160：图像处理电路，162：存储装置，164：输入部，166：输出部，px：像素，spx：子像素，201a：第1测试图案图像，202a：第2测试图案图像。
具体实施方式
25.以下，参照附图等对本发明的实施方式进行说明。但是，本发明能够以多种不同的方式实施，并不限定于以下例示的实施方式的记载内容来解释。附图是为了使说明更明确，所以与实际的方式相比，存在示意地表示各部分的宽度厚度、形状等的情况，但这只不过是一个例子，并不是限定本发明的解释。另外，在本说明书和各图中，对于与关于已出现的图在前面叙述过的要素相同的要素，标注相同的附图标记(或者在数字之后标注了a、b等的附图标记)，有时适当省略详细的说明。进而，对各要素标注了“第1”、“第2”的文字是为了区别各要素而使用的方便的标识，只要没有特别的说明，则不具有其以上的意思。
26.[第1实施方式]
[0027]
参照附图详细说明本发明的一个实施方式的显示装置的检查缺陷像素的方法的详细情况。
[0028]
图1表示显示装置100的概略结构。显示装置100包括显示面板102和向显示面板
102输出视频信号的驱动器ic108。显示面板102包括由多个像素px构成的显示部104。多个像素px按照规定的排列图案配置在显示部104中。驱动器ic108安装于柔性电路板112。柔性电路板112与显示面板102的端子部110连接。
[0029]
在显示部104配设有未图示的扫描信号线、数据信号线。显示面板102可以包括扫描线驱动电路106。扫描线驱动电路106与扫描信号线连接。扫描信号线驱动电路106输出扫描信号。另外，驱动器ic108与数据信号线连接。驱动器ic108输出影像信号。配置于显示部104的多个像素px由扫描信号选择，从数据信号线依次输入视频信号。
[0030]
显示部104例如也可以是作为显示元件包括液晶显示元件的结构。另外，显示部104例如也可以是作为显示元件包括有机电致发光元件的结构。进而，显示部104例如也可以是作为显示元件包括微型led或迷你led的结构。显示部104例如也可以具有静电电容型的触摸传感器被一体化的、所谓的in-cell型的结构。在显示部104内置静电电容型的触摸传感器而一体化例如包括兼用显示元件用的电极和配线等一部分部件以及触摸传感器用的电极和配线等一部分部件。显示部104例如也可以具有安装了静电电容型的触摸传感器的、所谓的on-cell型的结构。
[0031]
图1在插入图中表示显示部104中的区域d的放大图。像素px包含多个子像素spx。图1的插入图表示像素px包含子像素spxr、子像素spxg和子像素spxb的例子。这些多个子像素对应于各色，例如，子像素spxr对应于红色，子像素spxg对应于绿色，子像素spxb对应于蓝色。像素px控制基于这些子像素的r(红)、g(绿)、b(蓝)的3原色的灰阶，表现成为彩色图像的要素的1点的颜色。显示部104通过这样进行了颜色表现的多个像素px来显示1张图像。在该情况下，如果某一个像素是缺陷而无法准确地进行颜色表现，则图像的一部分缺失，有时该缺失的部分能够被视觉辨认。
[0032]
这样的缺陷使所显示的图像的品质降低，所以在显示装置出厂前在工厂进行检查。像素的缺陷检查通过点亮检查来进行。即，使显示部104的整个面点亮，对像素中是否存在缺陷、缺陷的数量是否在基准范围内进行检查。缺陷像素的检查例如通过检查员的目视来进行。基于目视的检查依赖于检查员的熟练度，如果仔细地进行检查，则生产率降低成为问题。并且，随着像素的高精细化的发展，如上所述，存在难以识别缺陷像素的问题。
[0033]
在本实施方式中，在显示装置100的点亮检查中，对显示于显示部104的测试图案图像的显示方法进行研究设计，由此能够提高缺陷像素的视觉辨认性，并且容易识别。以下对其详细内容进行说明。
[0034]
图2表示显示部104的局部放大图，表示显示第1测试图案图像201a时的像素px的状态。图2所示的显示部104表示多个像素pxjk沿x轴方向和y轴方向排列的方式。此外，x轴方向和y轴方向是图2中为了方便而表示的方向。具体而言，像素pxjk表示在x轴方向上排列有像素px11(px21)、像素px12(px22)、像素px13(px23)、像素px14(px24)、像素px15(px25)、像素px16(px26)，在y轴方向上排列有像素px11、像素px21、像素px31、像素px41、像素px51、像素px61、像素px71、像素px81的方式。
[0035]
如参照图1所说明的那样，各像素pxjk包含子像素spxr、spxg、spxb。在图2中，对于这样的各像素pxjk，对通过第1测试图案图像201a进行灰阶显示而成为亮状态(也称为点亮或者发射光)的子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb标注阴影线来表示，用黑色表示暗状态(也称为不点亮或者不发射光)的子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb。
[0036]
如图2所示，第1测试图案图像201a包括以第1灰阶值显示的第1单位区域和以第2灰阶值显示的第2单位区域。第1灰阶值和第2灰阶值具有不同的灰阶值。例如，第1灰阶值为80～100％灰阶，第2灰阶值为0～20％灰阶。第1单位区域与第2单位区域相邻。第1测试图案图像201a交替地配置有处于该相邻关系的第1单位区域和第2单位区域。
[0037]
在本实施方式中，第1单位区域和第2单位区域由1个像素构成。与第1单位区域对应的1个像素以第1灰阶值显示而成为亮状态，与第2单位区域对应的1个像素以第2灰阶值显示而成为暗状态。因此，第1测试图案图像201a具有每隔1个像素排列亮状态的像素和暗状态的像素的周期性的图案。换言之，第1测试图案图像201a具有将亮状态的像素和暗状态的像素按每1个像素交替地排列而形成了块检查(或者也称为方格图案)的图案。具体而言，像素px11、像素px13、像素px15、像素px22、像素px24、像素px26被灰阶显示(80～100％灰阶)而成为亮状态的像素，像素px12、像素px14、像素px16、像素px21、像素px23、像素px25成为暗状态(0～20％灰阶)的像素。
[0038]
在该例子中，各像素pxjk以第1灰阶值(亮状态)或第2灰阶值(暗状态)显示子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb。在将白显示设为100％灰阶、将黑显示设为0％灰阶时，第1灰阶值(亮状态)为80～100％灰阶，第2灰阶值(暗状态)为0～20％灰阶的范围。例如，在将红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)的灰阶显示为256灰阶的情况下，与红色(r)对应的子像素spxr、与绿色(g)对应的子像素spxg、与蓝色(b)对应的子像素spxb的第1灰阶值为204～255，第2灰阶值为0～51。在子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb作为第1灰阶值以100％灰阶显示(点亮)时，像素pxjk为白显示，在作为第2灰阶值以0％灰阶显示(点亮)时，像素pxjk为黑显示。
[0039]
在图2中，在亮状态的像素以100％灰阶显示，暗状态的像素以0％灰阶显示的情况下，白点和黑点以1个像素单位交替显示。此外，在亮状态的像素以80％灰阶显示，暗状态的像素以20％灰阶显示的情况下，亮灰色点和暗灰色点以1个像素单位交替显示。
[0040]
图3表示第2测试图案图像202a。第2测试图案图像202a具有第1测试图案图像201a的反转图案。即，像素px11、像素px13、像素px15、像素px22、像素px24、像素px26成为暗状态的像素，像素px12、像素px14、像素px16、像素px21、像素px23、像素px25成为亮状态的像素。
[0041]
图2和图3表示显示部104的局部状态，但具有这样的周期性图案的第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a显示于显示部104的整体。
[0042]
图2所示的第1测试图案图像201a和图3所示的第2测试图案图像202a按每1个像素(1点)，亮状态和暗状态(点亮状态和非点亮状态)反转，所以当观察者俯瞰显示部104整体时，视觉辨认为进行了单调的灰色显示。在第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a中，亮状态、像素和暗状态的像素的比例实质上相同。因此，当俯视整体时，第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a成为相同灰阶的灰色显示。因此，即使仅显示第1测试图案图像201a或仅显示第2测试图案图像202a，缺陷像素(坏点或亮点缺陷)也会被埋没在灰色显示中而难以视觉辨认。
[0043]
与此不同，本发明的一个实施方式的显示装置100的检查方法通过交替地显示第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a，来提高缺陷像素的视觉辨认性。图4a表示进行显示装置100的点亮检查时的测试图案图像的显示方法。如图4a所示，第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a以一定的周期t交替地显示于显示部104。
[0044]
显示装置100的帧频率例如为60hz或120hz。相对于这样的帧频率，交替显示第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a的周期t具有比1帧的周期长的周期。具体而言，周期t优选为0.1～1秒，例如0.2～0.8秒。通过以这样的周期t显示第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a，缺陷像素被强调，视觉辨认性提高。
[0045]
图5是说明缺陷像素被强调的理由的图。图5表示第1测试图案图像201a的显示状态。在第1测试图案图像201a的显示状态下，当着眼于像素px22、像素px24、像素px42、像素px44时，这些像素为亮状态的像素，像素px23、像素px32、像素px34、像素px43为暗状态的像素。在此，像素px33本来是要成为亮状态的像素，但由于是缺陷像素，所以是不点亮(没有成为亮状态)的像素。在图5中，px33所包含的spxr、spxg、spxb均成为暗状态，但spxr、spxg、spxb中的仅任意1个或2个成为暗状态的情况也包含在相同的缺陷的状态中。在显示第2测试图案图像202a时，上述的亮状态和暗状态反转，显示与图3所示的显示图案相同的图案。第2测试图案图像202a由于像素px33成为暗状态，所以是坏点缺陷的情况不明显。
[0046]
在图5中，当着眼于作为坏点缺陷的像素px33的周围时，像素px23、像素px32、像素px34、像素px43是暗状态的像素。由于缺陷像素px33在外观上也成为暗状态的像素，所以在第1测试图案图像201a中，缺陷像素px33的周围从本来的明暗的周期性的图案偏离，像素px23、像素px32、像素px33、像素px34、像素px43成为暗状态的像素的簇而被黑显示的面积局部变大。其结果是，成为在显示部104整体中强调显示黑点的状态。
[0047]
而且，通过以周期t交替地显示强调了黑点的第1测试图案图像201a和通常的第2测试图案图像202a，从而在显示部104中以黑点闪烁的方式进行显示。即，根据本实施方式所示的检查方法，通过以周期t交替地显示第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a，从而坏点缺陷的部位成为黑点，能够以该黑点闪烁的方式进行显示。观察者能够在灰色显示的图像中视觉辨认黑点的闪烁这样的动态状态，所以能够容易地进行缺陷像素的判别。
[0048]
根据本实施方式的检查方法，与在以全白、全黑或中间灰阶显示的静态图像状态下检查缺陷像素的情况相比，能够以动态图像的状态显示缺陷像素，所以能够唤起观察者的注意，容易发现缺陷像素。换言之，在本实施方式的检查方法中，在看起来为单调的显示部中包含缺陷像素的部分闪烁而被强调显示，所以能够对观察者的视觉给予刺激，容易发现存在缺陷像素的场所。本实施方式的显示装置的检查方法在像素高精细化时有效，例如，即使在像素的精细度为300ppi以上的情况下，也能够容易地发现缺陷像素。
[0049]
本实施方式以缺陷像素为坏点像素的情况为例进行了说明，但对于亮点缺陷像素也能够以同样的原理进行强调显示，能够容易地发现亮点缺陷像素。
[0050]
另外，图2和图3表示了像素px被条纹排列的例子，但本实施方式的检查方法并不限定于条纹排列，能够应用于拜耳(bayer)排列、pentile排列、diamond-pentile排列等各种像素排列。另外，像素px中不仅包含与红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)对应的子像素，也可以包含与白色(w)对应的子像素、与黄色(y)对应的子像素。
[0051]
[第2实施方式]
[0052]
相对于第1实施方式所示的第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a，本实施方式表示测试图案图像不同的方式。在以下的说明中，以与第1实施方式不同的部分为中心进行说明。
[0053]
图6表示本实施方式的第1测试图案图像201b。在第1测试图案图像201b中，像素
px11、像素px13、像素px15、像素px22、像素px24、像素px26被灰阶显示(80～100％灰阶)而成为亮状态的像素，像素px12、像素px14、像素px16、像素px21、像素px23、像素px25成为暗状态(0～20％灰阶)的像素。在此，第1测试图案图像201b在如下方面与第1实施方式不同：亮状态的像素不是对全部的子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb进行灰阶显示，而是对一个子像素进行灰阶显示。
[0054]
图7表示本实施方式的第2测试图案图像202b。第2测试图案图像202b表示第1测试图案图像201b的反转图案。在第2测试图案图像202b中，像素px11、像素px13、像素px15、像素px22、像素px24、像素px26成为暗状态的像素，像素px12、像素px14、像素px16、像素px21、像素px23、像素px25成为亮状态的像素。
[0055]
作为一例，图6和图7表示与红色对应的子像素spxr被灰阶显示的情况。像素pxjk的灰阶显示不限于与红色对应的子像素spxr，也可以选择与绿色对应的子像素spxg或与蓝色对应的子像素spxb。
[0056]
在第1测试图案图像201b和第2测试图案图像202b中，通过依次改变灰阶显示的子像素，能够对与红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)对应的子像素分别检查缺陷的有无。例如，也可以通过第1测试图案图像201b和第2测试图案图像202b在一定的时间(比周期t充分长的时间)内进行与红色(r)对应的子像素spxr的点亮检查，在接下来的一定时间内进行与绿色(g)对应的子像素spxg的点亮检查，在接下来的一定时间内进行与蓝色(b)对应的子像素spxb的点亮检查。
[0057]
第1测试图案图像201b和第2测试图案图像202b在进行检查时以周期t交替地显示。通过这样的显示方法，能够与第1实施方式同样地容易地检测成为坏点和亮点的缺陷像素。进而，根据本实施方式，能够以子像素spx为单位检查缺陷像素。即，第1实施方式适合于以像素单位检测缺陷像素，而在本实施方式中，能够以子像素为单位检测缺陷像素。
[0058]
本实施方式所示的检查方法能够与第1实施方式所示的检查方法适当组合来实施。即，能够将以周期t交替地显示第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202b的第1检查期间、和以周期t交替地显示第1测试图案图像201b和第2测试图案图像202b的第2检查期间组合来进行检查。通过这样的组合，能够以像素单位和子像素单位双方进行检查，能够避免缺陷像素的漏检测。
[0059]
[第3实施方式]
[0060]
在第2实施方式中，也可以将实质上成为黑显示的暗状态(0～20％)的像素置换为灰色显示(大于20％灰阶且小于80％灰阶)。即，在图6所示的第1测试图案图像201b中，也可以将像素px11、像素px13、像素px15、像素px22、像素px24、像素px26设为灰阶显示(80～100％灰阶)的亮状态的像素，将像素px12、像素px14、像素px16、像素px21、像素px23、像素px25设为灰阶显示(大于20％灰阶且小于80％灰阶)的像素。对于图7所示的第2测试图案图像202b也是同样的。
[0061]
通过这样将进行黑显示的像素置换为进行灰显示的像素，也能够与第2实施方式同样地提高缺陷像素的检测精度。此外，能够抑制在对第1测试图案图像201b和第2测试图案图像202b进行切换时的显示部104的闪烁。进而，通过将进行黑显示的像素置换为进行灰色显示的像素，能够使坏点缺陷的像素明显化，能够避免缺陷像素的漏检。
[0062]
[第4实施方式]
[0063]
在第2实施方式中，灰阶显示(80～100％灰阶)的像素pxjk不是对全部的子像素spxr、子像素spxg、子像素spxb进行灰阶显示，而是对一个子像素进行灰阶显示，但也可以取而代之对至少2个子像素进行灰阶显示。例如，既可以对与红色(r)对应的子像素spxr和与绿色(g)对应的子像素spxg进行灰阶显示来显示黄色，也可以对与绿色(g)对应的子像素spxg和与蓝色(b)对应的子像素spxb进行灰阶显示来显示青色，还可以对与红色(r)对应的子像素spxr和与蓝色(b)对应的子像素spxb进行灰阶显示来显示品红色。另外，在本实施方式中，也能够将进行黑显示的像素置换为进行灰显示的像素。
[0064]
这样，通过代替红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)这3原色而显示中间色，也同样能够与第2实施方式同样地提高缺陷像素的检测精度。
[0065]
[第5实施方式]
[0066]
相对于第1实施方式所示的第1测试图案图像201a和第2测试图案图像202a，表示测试图案图像不同的其他方式。在以下的说明中，以与第1实施方式不同的部分为中心进行说明。
[0067]
图8表示本实施方式的第1测试图案图像201c。第1测试图案图像201c的第1单位区域和第2单位区域由2个像素构成。在图8所示的例子中，第1单位区域由像素px11和像素px21构成，第2单位区域由像素px12和像素px22构成。
[0068]
具体而言，第1测试图案图像201c成为像素px11、像素px21、像素px13、像素px23、像素px15、像素px25被灰阶显示(80～100％灰阶)的亮状态的像素，像素px12、像素px22、像素px14、像素px24、像素px16、像素px26成为暗状态(0～20％灰阶)的像素。另外，在从像素px31和像素px41开始的行中，像素px31、像素px41成为暗状态(0～20％灰阶)的像素，像素px32、像素px42成为灰阶显示(80～100％灰阶)的亮状态的像素，显示与上2行反转的灰阶图案。这样，在本实施方式中，与第1实施方式的不同点在于，以2行为一组来划定单位区域，并显示明暗的灰阶图案。
[0069]
图9表示本实施方式的第2测试图案图像202c。第2测试图案图像202c表示第1测试图案图像201c的反转图案。在第2测试图案图像202b中，第1测试图案图像201c为，像素px11、像素px21、像素px13、像素px23、像素px15、像素px25成为暗状态(0～20％灰阶)的像素，像素px12、像素px22、像素px14、像素px24、像素px16、像素px26被灰阶显示(80～100％灰阶)的亮状态的像素。另外，在从像素px31和像素px41开始的行中，像素px31、像素px41成为灰阶显示(80～100％灰阶)的亮状态的像素，像素px32、像素px42成为暗状态的像素，显示与上2行反转的灰阶图案。
[0070]
这样，通过形成以2行为一组而形成块检查(或方格图案)的测试图案，也能够同样地进行缺陷像素的检查。在由于显示部104被高精细化而1个像素的尺寸变小的情况下，难以视觉辨认1点(1个像素)单位的缺陷像素，但如本实施方式所示，通过使用多行形成基于块检查(或者也称为方格图案)的测试图案图像，能够容易地发现缺陷像素。
[0071]
在本实施方式中，也与第1实施方式同样地，通过使第1测试图案图像201c和第2测试图案图像202c以规定的周期t交替地显示，能够强调缺陷像素并提高视觉辨认性。
[0072]
图8和图9表示以2行为一组的基于块检查(或者也称为方格花纹)的测试图案图像，但并不限定于该例，也可以以更多的行(例如，3行、4行)为一组来生成基于块检查(或者也称为方格花纹)的测试图案图像。另外，也可以不是行方向而是将多列作为一组来生成基
于块检查(或者也称为方格图案)的测试图案图像。进而，也可以将n行m列作为一组而形成基于块检查图案(或也称为方格图案)的测试图案图像。
[0073]
本实施方式中的以多行(或者多列)为一组的第1测试图案图像201c和第2测试图案图像202c能够与第2至第4实施方式适当组合来实施。
[0074]
[第6实施方式]
[0075]
在本实施方式中，关于在显示装置100的点亮检查中显示测试图案图像时的驱动方法，表示与第1实施方式所示的驱动方法不同的另一例。
[0076]
图4b表示进行本实施方式的显示装置100的点亮检查时的测试图案图像的显示方法。如图4b所示，在第1测试图案图像的显示期间之后、第2测试图案图像的显示期间之前插入第3测试图案图像的显示期间。虽然在图4b中未图示，但也可以在第2测试图案图像的显示期间之后、第1测试图案图像的显示期间之前插入第3测试图案图像。第1测试图案图像和第2测试图案图像应用第1至第5实施方式所示的图像。
[0077]
第3测试图案图像中，显示部104的全部像素pxjk以亮状态的灰阶(80～100％灰阶)与暗状态的灰阶(0～20％灰阶)的中间的灰阶值显示。第3测试图案图像优选为灰阶为60～80％的光栅图像。如图4b所示，通过在显示每1个像素的块检查(或者也称为方格花纹)图案的第1测试图案图像与第2测试图案图像之间插入灰色显示的光栅图像，能够抑制画面的闪烁，能够提高缺陷像素的视觉辨认性。
[0078]
[第7实施方式]
[0079]
本实施方式表示应用本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法的检查系统结构例。
[0080]
图10表示本实施方式的显示装置的检查系统150。检查系统150包括控制电路152、测试图案图像产生电路154、显示装置驱动电路156、摄像机158、图像处理电路160、存储装置162、输入部164、输出部166。控制电路152基于规定的程序控制各部的动作。程序被存储在存储装置162中，在检查系统150启动时被读入到控制电路152中。在存储装置162中还存储有用于生成测试图案图像的数据。输出部166由显示面板等构成，显示用于操作检查系统的操作画面。输入部164由键盘、指点设备、触摸面板等构成，用于检查系统150的操作。
[0081]
通过控制电路152的控制，测试图案图像产生电路154生成第1至第6实施方式所示的第2测试图案图像和第2测试图案图像，并将其输出到显示装置驱动电路156。显示装置100由显示装置驱动电路156驱动，在显示部104上显示测试图案图像。
[0082]
摄像机158拍摄显示在显示部104上的测试图案图像，并且将其拍摄数据输出到图像处理电路160。图像处理电路160对由摄像机158拍摄到的拍摄数据进行解析来判断缺陷像素的有无。例如，在拍摄数据中存在以闪烁状产生形状与其他区域不同的检查图案的部位的情况下，判断为在该部分存在缺陷。图像显示装置驱动电路156将与缺陷像素有关的信息输出到控制电路152。与缺陷像素有关的信息可以包括关于缺陷像素的总个数、相邻缺陷像素的数量和缺陷像素的位置的信息(位图数据)。控制电路152使输出部166显示关于缺陷像素的信息。
[0083]
这样，根据本实施方式的检查系统150，通过使用第1至第6实施方式所示的测试图案图像及其显示方法进行点亮检查，能够进行高精度的缺陷像素检查。