一种直流参数测试系统及方法与流程

1.本技术涉及测试技术领域，尤其是一种直流参数测试系统及方法。


背景技术：

2.在芯片的量产测试(包括cp/ft测试)过程中，一般需要较多的直流参数的测试，比如进行开短路(open/short,os)测试和漏电流测试，往往这些测试涉及到的芯片管脚较多。在面对数量庞大的芯片的测试时，直流参数测试将占据大量的时间，从而影响了芯片的测试成本和生产效率。
3.在传统的直流参数测试方法中，上位机根据需要测试的通道对下位机进行逐通道地配置，并在延时等待一段时间后串行读回测试结果。其中，每测试一个通道直流参数都需要上位机下发一次通道配置信息进行通道配置，并且由于每个通道直流参数的测试结果的生成时间不固定，上位机延时等待的时间往往设置较长，大大增加了直流参数的测试时间。此外，在进行多测试工位直流参数的并行测试时，每个测试工位都需要进行单独测试，上位机同样需要延时等待一段时间后串行读回测试结果，导致多测试工位直流参数的并行测试效率低。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。
5.为此，本发明实施例的一个目的在于提供一种直流参数测试系统及方法，实现了高效的多通道直流参数测试。
6.为了达到上述技术目的，本发明实施例所采取的技术方案包括：
7.第一方面，本发明实施例提供了一种直流参数测试系统，包括：
8.上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给tmu控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；用于根据所述测试通道，将第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中；
9.tmu控制板，用于根据第一数据格式解析所述第一参数，得到所述第二参数；用于读取pec模块保存的第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成所述第二测试结果，所述第一数据格式和所述第二数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式；
10.pec模块，用于根据所述第二参数配置pmu测试芯片的通道参数；用于根据配置结束信号进行fpga内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述pec模块完成所述pmu测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；
11.pmu测试芯片，用于根据所述通道参数对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成所述第一测试结果。
12.另外，根据本发明上述实施例的一种直流参数测试系统，还可以具有以下附加的
技术特征：
13.进一步地，本发明实施例的一种直流参数测试系统中，所述pec模块中包括多块pec板，所述pec板中包括32个通道；
14.所述pec板根据所述第二参数采用状态机步进配置所述通道参数。
15.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述pmu测试芯片根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流，并根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。
16.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述的一种直流参数测试系统还包括adc模块；
17.所述pec模块根据所述配置结束信号进行fpga内部延时处理后发送启动信号，所述adc模块根据所述启动信号并行读取所述pmu测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知，所述pec模块根据所述第一通知读取所述第一测试结果。
18.第二方面，本发明实施例提出了一种直流参数测试方法，所述方法应用于直流参数测试系统，所述直流参数测试系统包括上位机、tmu控制板、pec模块、pmu测试芯片，所述方法包括：
19.通过所述上位机采用数据压缩算法生成第一参数并下发给所述tmu控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；
20.根据第一数据格式，通过所述tmu控制板解析所述第一参数，得到所述第二参数，所述第一数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式；
21.根据所述第二参数，通过所述pec模块配置所述pmu测试芯片的通道参数；
22.根据所述通道参数，通过所述pmu测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成第一测试结果；
23.根据配置结束信号，通过所述pec模块进行fpga内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述pec模块完成所述pmu测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；
24.通过所述tmu控制板读取所述pec模块保存的所述第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成第二测试结果，所述第二数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式；
25.根据所述测试通道，通过所述上位机将所述第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中。
26.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述pec模块中包括多块pec板，所述pec板中包括32个通道；
27.所述根据所述第二参数，通过所述pec模块配置所述pmu测试芯片的通道参数，包括：
28.根据所述第二参数，通过所述pec板采用状态机步进配置所述通道参数。
29.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述根据所述第二参数，通过所述pec板采用状态机步进配置所述通道参数，包括：
30.根据状态机的初始状态，选取第一通道作为当前通道，所述第一通道为所述pec板上的第一个通道；
31.根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置；
32.若是，根据所述测试模式和所述配置参数配置所述当前通道；
33.确认所述当前通道配置完成，且所述当前通道不为所述pec板上的最后一个通道，选取第二通道作为所述当前通道，并返回根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤，所述第二通道为所述pec板上所述当前通道的下一个通道。
34.进一步地，在本发明的一个实施例中，在所述根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤之后，还包括：
35.若否，确认所述当前通道不为所述pec板上的最后一个通道，选取所述第二通道作为所述当前通道，并返回根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤。
36.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述根据所述通道参数，通过所述pmu测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，包括：
37.根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流；
38.根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。
39.进一步地，在本发明的一个实施例中，所述直流参数测试系统还包括adc模块；
40.所述根据所述配置结束信号，通过所述pec模块读取所述第一测试结果，包括：
41.根据所述配置结束信号，通过所述pec模块进行fpga内部延时处理后发送启动信号；
42.根据所述启动信号，通过所述adc模块并行读取所述pmu测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知；
43.根据所述第一通知，通过所述pec模块读取所述第一测试结果。
44.本发明的优点和有益效果将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到：
45.本发明实施例通过上位机压缩多通道测试的第二参数得到第一参数，并将第一参数下发给tmu控制板解析得到第二参数，进而根据第二参数对pmu测试芯片多通道测试的通道参数进行配置，实现了多通道直流参数测试场景下上位机的单次通道配置信息下发，提高了通道配置效率，从而提高了直流参数测试效率；pmu测试芯片完成参数配置后，生成配置结束信号给pec模块，同时进行被测芯片直流参数测试，pec模块根据pmu测试芯片测试反应时间进行fpga内部延时处理，再读取第一测试结果，实现了测试结果读取的精准延时，进一步缩短了直流参数测试过程的耗时；通过并行读取第一测试结果并通过tmu控制板打包成第二测试结果后读回上位机，实现了测试通道的直流参数的快速读取；通过pec模块根据测试通道将第一测试结果保存，使得tmu控制板能够并行读取任意测试通道的数据，实现了在多测试工位并行测试时，对各个测试工位的同一直流参数的同时测试，提高了多测试工位并行测试效率。
附图说明
46.为了更清楚地说明本技术实施例或者现有技术中的技术方案，下面对本技术实施
例或者现有技术中的相关技术方案附图作以下介绍，应当理解的是，下面介绍中的附图仅仅为了方便清晰表述本技术的技术方案中的部分实施例，对于本领域的技术人员来说，在无需付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取到其他附图。
47.图1为本发明一种直流参数测试方法具体实施例的流程示意图。
具体实施方式
48.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。
49.本发明的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
50.在本发明中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
51.在芯片的直流参数测试过程中一般需要频繁进行开短路(open/short,os)测试和漏电流测试，往往这些测试涉及到的芯片管脚较多。在面对芯片数量庞大的器件的测试时，直流参数测试将占据大量的时间，提高了芯片的测试成本，影响了芯片的生产效率。
52.在传统的直流参数测试方法中，上位机根据需要测试的通道对下位机进行逐通道地配置，并在延时等待一段时间后串行读回测试结果。其中，每测试一个通道直流参数都需要上位机下发一次通道配置信息进行通道配置，并且由于每个通道直流参数的测试结果的生成时间不固定，上位机延时等待的时间往往设置较长，大大增加了直流参数的测试时间。此外，在进行多测试工位直流参数的并行测试时，每个测试工位都需要进行单独测试，上位机同样需要延时等待一段时间后串行读回测试结果，导致多测试工位直流参数的并行测试效率低。
53.为此，本发明提出了一种直流参数测试系统及方法，通过上位机压缩多通道测试的第二参数得到第一参数，并将第一参数下发给tmu控制板解析得到第二参数，进而根据第二参数对pmu测试芯片多通道测试的通道参数进行配置，实现了多通道直流参数测试场景下上位机的单次通道配置信息下发，提高了通道配置效率，从而提高了直流参数测试效率；pmu测试芯片完成参数配置后，生成配置结束信号给pec模块，同时进行被测芯片直流参数测试，pec模块根据pmu测试芯片测试反应时间进行fpga内部延时处理，再读取第一测试结果，实现了测试结果读取的精准延时，进一步缩短了直流参数测试过程的耗时；通过并行读取第一测试结果并通过tmu控制板打包成第二测试结果后读回上位机，结合pmu测试芯片多通道测试的通道参数配置，实现了多测试工位并行测试时，对各个测试工位的同一直流参
数的同时测试，提高了多测试工位并行测试效率。
54.下面参照附图详细描述根据本发明实施例提出的一种直流参数测试系统及方法，首先将参照附图描述根据本发明实施例提出的一种直流参数测试系统。
55.本发明实施例中的一种直流参数测试系统包括：
56.上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给tmu控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；用于根据所述测试通道，将第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中；
57.tmu控制板，用于根据第一数据格式解析所述第一参数，得到所述第二参数；用于读取pec模块保存的第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成所述第二测试结果，所述第一数据格式和所述第二数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式；
58.pec模块，用于根据所述第二参数配置pmu测试芯片的通道参数；用于根据配置结束信号进行fpga内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述pec模块完成所述pmu测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；
59.pmu测试芯片，用于根据所述通道参数对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成所述第一测试结果。
60.其中，上位机与tmu控制板约定一套数据格式，包括所述第一数据格式和所述第二数据格式。
61.具体地，在本发明的实施例中，所述第一数据格式为上位机生成的通道配置信息的格式，即所述第二参数的格式，包括每条测试通道的指示以及对应的通道配置(测试模式和测试参数)，具体如下：
62.测试通道的指示(channel per bit)+基础配置(共有配置)+专有配置1+
…
+专有配置n channel per bit：“1”代表此通道需要配置，“0”代表此通道不需要配置
63.在本发明的一个实施例中，基础配置包含32bit地址(包括板卡地址和寄存器地址)+32bit数据。
64.在本发明的一个实施例中，若上位机需要下发256个通道的配置信息，第二参数为：
65.0xffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffff+0x1000000000000000+0x1000000000000001+...+0x10000000000000ff
66.第二参数的数据长度为256bit+64bit*256＝16640bit。通过上位机采用数据压缩算法生成第一参数：
67.0xffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffff+0x1000000000000000+0x01+...+0xff
68.第一参数的数据长度为256bit+64bit+8bit*256＝2368bit。
69.由此可知，本发明实施例通过压缩第二参数得到第一参数，并下发数据长度更短的第一参数给tmu控制板，tmu控制板根据约定好的第一数据格式解析第一参数，还原第二参数，大大减少了上位机下发的数据量，提高了通道配置信息的传输效率，进而提高了通道配置效率。
70.在本发明的实施例中，所述第二数据格式为上位机与tmu控制板约定的上位机读取数据的格式，具体如下：
71.测试通道1数据+测试通道2数据+
…
+测试通道n数据
72.tmu控制板根据上位机下发的测试通道的数量以及所述第二数据格式，将测试通道的数据按顺序打包成一连串的数据(所述第二测试结果)发送给上位机。上位机在内存中构建了测试通道的数量对应的内存解析模式，通过所述内存解析模式直接将所述第二测试结果填入所述测试通道的对应内存中，以快速获取各个测试通道的测试结果。
73.在本发明的实施例中，若上位机下发的测试通道的数量为8，第二测试结果为0x0123456789abcdef 0123456789abcdef，将第二测试结果填入构建好的内存解析模式的格式中：
[0074][0075]
由此可知，本发明实施例通过tmu控制板根据第二数据格式打包第一测试结果得到第二测试结果，并通过上位机快速解析将第二测试结果映射到各个测试通道对应的内存中，实现了对各个测试通道的测试结果的高效读取，提高了直流参数测试的效率。
[0076]
其中，作为一种可选的实施方式，所述pec模块中包括多块pec板，所述pec板中包括32个通道；
[0077]
所述pec板根据所述第二参数采用状态机步进配置所述通道参数。
[0078]
具体地，每块pec板中包括32个通道和对应用于储存测试通道的数据的32个独立的寄存器。上位机可以任意读取寄存器中保存的测试通道的数据，实现对任意测试通道的测试结果的读取，从而实现了多测试工位同时测试的效果，提高了测试效率。
[0079]
作为一种可选的实施方式，所述pmu测试芯片根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流，并根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。
[0080]
具体地，在本发明的实施例中，pmu测试芯片具有5个不同量程的档位测试。pmu测试芯片根据通道参数配置各测试通道的工作模式中还包括：配置各个测试通道的量程和钳位电压/电流。配置完成后，pmu测试芯片根据配置好的工作模式通过各个测试通道自动测试待测芯片的对应直流参数。pmu测试芯片完成各测试通道的测试后，通过转化公式将各测试通道的直流参数(电流或电压)转化成所述第一测试结果(电压值)，并将所述第一测试结果输出到特定管脚等待被读取。
[0081]
作为一种可选的实施方式，所述的一种直流参数测试系统还包括adc模块；
[0082]
所述pec模块根据所述配置结束信号进行fpga内部延时处理后发送启动信号，所述adc模块根据所述启动信号并行读取所述pmu测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知，所述pec模块根据所述第一通知读取所述第一测试结果。
[0083]
具体地，pec模块启动adc模块，所述启动信号通过spi接口控制adc模块并行读取pmu测试芯片中的第一测试结果。adc模块读取完毕后，拉高ad2_data_valid信号(生成所述第一通知)来通知pec模块读取第一测试结果。pec模块中的pec板读取所述第一测试结果后，将各个测试通道的直流参数对应存入寄存器中，等待tmu控制板读取。
[0084]
综上所述，本发明实施例的一种直流参数测试系统，通过上位机压缩多通道测试的第二参数得到第一参数，并将第一参数下发给tmu控制板解析得到第二参数，进而根据第二参数对pmu测试芯片多通道测试的通道参数进行配置，实现了多通道直流参数测试场景下上位机的单次通道配置信息下发，提高了通道配置效率，从而提高了直流参数测试效率；通过配置结束时生成配置结束信号通知pec模块，pec模块进行fpga内部延时处理后读取第一测试结果，实现了测试结果读取的精准延时，进一步缩短了直流参数测试过程的耗时；通过并行读取第一测试结果并通过tmu控制板打包成第二测试结果后读回上位机，实现了测试通道的直流参数的快速读取；通过pec模块根据测试通道将第一测试结果保存，使得tmu控制板能够并行读取任意测试通道的数据，实现了在多测试工位并行测试时，对各个测试工位的同一直流参数的同时测试，提高了多测试工位并行测试效率。
[0085]
其次，参照图1，本发明实施例提出了一种直流参数测试方法，所述方法应用于直流参数测试系统，所述直流参数测试系统包括上位机、tmu控制板、pec模块、pmu测试芯片，所述方法包括：
[0086]
s101、通过所述上位机采用数据压缩算法生成第一参数并下发给所述tmu控制板；
[0087]
其中，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数。
[0088]
s102、根据第一数据格式，通过所述tmu控制板解析所述第一参数，得到所述第二参数；
[0089]
其中，所述第一数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式。
[0090]
具体地，在本发明的实施例中，所述第一数据格式为上位机生成的通道配置信息的格式，即所述第二参数的格式，包括每条测试通道的指示以及对应的通道配置(测试模式和测试参数)，具体如下：
[0091]
测试通道的指示(channel per bit)+基础配置(共有配置)+专有配置1+
…
+专有配置n
[0092]
在本发明的一个实施例中，基础配置包含32bit地址(包括板卡地址和寄存器地址)+32bit数据。
[0093]
在本发明的一个实施例中，若上位机需要下发256个通道的配置信息，第二参数为：
[0094]
0xffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffff+0x1000000000000000+0x1000000000000001+...+0x0x10000000000000ff
[0095]
第二参数的数据长度为256bit+64bit*256＝16640bit。通过上位机采用数据压缩算法生成第一参数：
[0096]
0xffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffffff+0x1000000000000000+0x01+...+0xff
[0097]
第一参数的数据长度为256bit+64bit+8bit*256＝2368bit。
[0098]
由此可知，本发明实施例通过压缩第二参数得到第一参数，并下发数据长度更短的第一参数给tmu控制板，tmu控制板根据约定好的第一数据格式解析第一参数，还原第二参数，大大减少了上位机下发的数据量，提高了通道配置信息的传输效率，进而提高了通道配置效率。
[0099]
s103、根据所述第二参数，通过所述pec模块配置所述pmu测试芯片的通道参数；
[0100]
其中，所述pec模块中包括多块pec板，所述pec板中包括32个通道。若所述pec模块有八块pec板(pec0-7)，则一共有256通道，pec0板的通道为0-31，pec1的通道为32-63，pec2的通道为64-95，pec3的通道为96-127，pec4的通道为128-159，pec5的通道为160-191，pec6的通道为192-223，pec7的通道为224-255。
[0101]
具体地，根据所述第二参数，通过所述pec板采用状态机步进配置所述通道参数。
[0102]
s103可以进一步划分为以下步骤s1031-s1034：
[0103]
步骤s1031、根据状态机的初始状态，选取第一通道作为当前通道；
[0104]
其中，所述第一通道为所述pec板上的第一个通道。
[0105]
具体地，在本发明的实施例中，idle_state为状态机的初始状态，cont《＝0，setting_flag《＝32'hffffffff，set_done《＝1'b1。通过jump_0_state选取第一通道作为当前通道。
[0106]
步骤s1032、根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置；
[0107]
具体地，令cont《＝1，set_done《＝1'b0，开始进行步进配置，通过测试通道的指示(channel per bit)判断当前通道是否需要配置，即判断当前通道是否在所述测试通道中。
[0108]
步骤s1033、若是，根据所述测试模式和所述配置参数配置所述当前通道；
[0109]
具体地，若是，跳到setting_n_state(n＝0,
…
,31)状态，开始配置当前通道。
[0110]
若否，确认所述当前通道不为所述pec板上的最后一个通道，通过jump_n+1_state选取所述第二通道作为所述当前通道，并返回步骤s1032，所述第二通道为所述pec板上所述当前通道的下一个通道。
[0111]
步骤s1034、确认所述当前通道配置完成，且所述当前通道不为所述pec板上的最后一个通道，选取第二通道作为所述当前通道，并返回步骤s1032.
[0112]
其中，所述第二通道为所述pec板上所述当前通道的下一个通道。
[0113]
具体地，通过jump_n+1_state选取所述第二通道作为所述当前通道。
[0114]
可以理解的是，每一块pec板可以配置32个测试通道的通道参数。每个测试通道配置完后通过setting_flag标志位精准跳到下一个通道配置，使得各通道配置无缝衔接，提高了效率。
[0115]
各个测试通道配置完成后将set_done置1，生成配置结束信号，pec模块根据配置结束信号进行fpga内部延时处理后启动adc模块读取所述第一测试结果。
[0116]
s104、根据所述通道参数，通过所述pmu测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成第一测试结果；
[0117]
具体地，通过所述pmu测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，包括以下步骤：
[0118]
(1)根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流；
[0119]
(2)根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。
[0120]
具体地，在本发明的实施例中，pmu测试芯片具有5个不同量程的档位测试。pmu测试芯片根据通道参数配置各测试通道的工作模式中还包括：配置各个测试通道的量程和钳位电压/电流。配置完成后，pmu测试芯片根据配置好的工作模式通过各个测试通道自动测
试待测芯片的对应直流参数。pmu测试芯片完成各测试通道的测试后，通过转化公式将各测试通道的直流参数(电流或电压)转化成所述第一测试结果(电压值)，并将所述第一测试结果输出到特定管脚等待被读取。
[0121]
s105、根据所述配置结束信号，pec模块根据pmu测试芯片测试反应时间进行fpga内部延时处理再读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存
[0122]
其中，，所述配置结束信号为所述pec模块完成所述pmu测试芯片的通道参数的配置后生成的信号。在本发明的实施例中，所述直流参数测试系统还包括adc模块。
[0123]
s105可以进一步划分为以下步骤s1051-s1053：
[0124]
步骤s1051、根据所述配置结束信号，通过所述pec模块进行fpga内部延时处理后发送adc启动信号；
[0125]
步骤s1052、根据所述启动信号，通过所述adc模块并行读取所述pmu测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知；
[0126]
具体地，pec模块启动adc模块，所述启动信号通过spi接口控制adc模块并行读取pmu测试芯片中的第一测试结果。adc模块读取完毕后，拉高ad2_data_valid信号(生成所述第一通知)来通知pec模块读取第一测试结果。
[0127]
步骤s1053、根据所述第一通知，通过所述pec模块读取所述第一测试结果。
[0128]
具体地，pec模块中的pec板读取所述第一测试结果后，将各个测试通道的直流参数对应存入寄存器中，等待tmu控制板读取。
[0129]
s106、通过所述tmu控制板读取所述pec模块保存的所述第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成第二测试结果；
[0130]
其中，所述第二数据格式为所述上位机与所述tmu控制板约定的数据格式。
[0131]
具体地，在本发明的实施例中，所述第二数据格式为上位机与tmu控制板约定的上位机读取数据的格式，具体如下：
[0132]
测试通道1数据+测试通道2数据+
…
+测试通道n数据
[0133]
tmu控制板根据上位机下发的测试通道的数量以及所述第二数据格式，将测试通道的数据按顺序打包成一连串的数据(所述第二测试结果)发送给上位机。
[0134]
s107、根据所述测试通道，通过所述上位机将所述第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中。
[0135]
具体地，结合步骤s106可知，上位机在内存中构建了测试通道的数量对应的内存解析模式，通过所述内存解析模式直接将所述第二测试结果填入所述测试通道的对应内存中，以快速获取各个测试通道的测试结果。
[0136]
在本发明的实施例中，若上位机下发的测试通道的数量为8，第二测试结果为0x0123456789abcdef 0123456789abcdef，将第二测试结果填入构建好的内存解析模式的格式中：
[0137][0138]
由此可知，本发明实施例通过tmu控制板根据第二数据格式打包第一测试结果得到第二测试结果，并通过上位机快速解析将第二测试结果映射到各个测试通道对应的内存
中，实现了对各个测试通道的测试结果的高效读取，提高了直流参数测试的效率。
[0139]
以tws247芯片测试项目为例，表1为传统的直流参数测试方法的测试耗时，其中p01/p02分别为os测试和电流测试。表2为传统的直流参数测试方法的os测试和电流测试的内容；表3为本发明实施例步骤s101-s107的一种直流参数测试方法的测试耗时，其中p01/p02分别为os测试和电流测试；表4为本发明实施例步骤s101-s107的一种直流参数测试方法的os测试和电流测试的内容。
[0140]
表1
[0141][0142]
表2
[0143][0144]
表3
[0145][0146]
表4
[0147][0148]
参照表1、表2、表3和表4，本发明实施例步骤s101-s107的一种直流参数测试方法与传统的直流参数测试方法的测试时间对比如表5所示：
[0149]
表4
[0150][0151]
由此可见，相较于传统的直流参数测试方法，本发明实施例的一种直流参数测试方法极大的提升了直流参数测试的效率，而且测试的管脚越多，提升效果越明显。
[0152]
上述方法实施例中的内容均适用于本系统实施例中，本系统实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也
相同。
[0153]
在一些可选择的实施例中，在方框图中提到的功能/操作可以不按照操作示图提到的顺序发生。例如，取决于所涉及的功能/操作，连续示出的两个方框实际上可以被大体上同时地执行或所述方框有时能以相反顺序被执行。此外，在本技术的流程图中所呈现和描述的实施例以示例的方式被提供，目的在于提供对技术更全面的理解。所公开的方法不限于本文所呈现的操作和逻辑流程。可选择的实施例是可预期的，其中各种操作的顺序被改变以及其中被描述为较大操作的一部分的子操作被独立地执行。
[0154]
此外，虽然在功能性模块的背景下描述了本技术，但应当理解的是，除非另有相反说明，功能和/或特征中的一个或多个可以被集成在单个物理装置和/或软件模块中，或者一个或多个功能和/或特征可以在单独的物理装置或软件模块中被实现。还可以理解的是，有关每个模块的实际实现的详细讨论对于理解本技术是不必要的。更确切地说，考虑到在本文中公开的装置中各种功能模块的属性、功能和内部关系的情况下，在工程师的常规技术内将会了解该模块的实际实现。因此，本领域技术人员运用普通技术就能够在无需过度试验的情况下实现在权利要求书中所阐明的本技术。还可以理解的是，所公开的特定概念仅仅是说明性的，并不意在限制本技术的范围，本技术的范围由所附权利要求书及其等同方案的全部范围来决定。
[0155]
应当理解，本技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的程序执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
[0156]
在本说明书的上述描述中，参考术语“一个实施方式/实施例”、“另一实施方式/实施例”或“某些实施方式/实施例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
[0157]
尽管已经示出和描述了本技术的实施方式，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本技术的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由权利要求及其等同物限定。
[0158]
以上是对本技术的较佳实施进行了具体说明，但本技术并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本技术精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本技术权利要求所限定的范围内。