一种高稳定性LCD芯片测试平台的制作方法

一种高稳定性lcd芯片测试平台
技术领域
1.本发明属于高稳定性lcd芯片测试平台，尤其涉及一种高稳定性lcd芯片测试平台。


背景技术：

2.lcd已经广泛应用于数码产品领域，与之配套的lcd驱动芯片的需求量也大幅度增加。lcd驱动芯片的测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证驱动芯片品质的重要手段。
3.然而，现有的lcd驱动芯片测试设备易受外界环境等因素影响，测试准确度较差，并且lcd芯片区别于其他芯片的一大特点就是pin脚十分的多，这导致了测量准确性进一步的降低。
4.因此现在急需一种能够排除干扰因素并稳定的对lcd芯片进行检测的高稳定性lcd芯片测试平台。


技术实现要素：

5.本发明的目的是针对现有中技术存在的上述问题，提出了一种能够排除干扰因素并稳定的对lcd芯片进行检测的高稳定性lcd芯片测试平台。
6.为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种高稳定性lcd芯片测试平台，包括机体，所述机体内部固设有第一电机，所述第一电机输出端固设有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆外部转动设有第一螺母，所述第一螺母与所述第一螺纹杆之间螺纹传动接触，所述第一螺母外部固定套设有滑块，所述滑块与所述机体滑动接触，所述滑块远离所述第一螺纹杆一端底部固设有主臂，所述主臂内部中间滑动设有滑杆，所述滑杆与所述主臂之间通过两个第一弹簧连接，所述滑杆远离所述第一弹簧一端中间固设有吸盘，所述吸盘周围固设有限位壳，所述主臂内部一侧固设有气泵，所述气泵与所述吸盘连通。
7.优选的，所述机体面向所述滑块一侧固设有检测架，所述检测架顶部滑动设有检测台，所述检测台与所述检测架之间通过第三弹簧连接，所述检测架顶部固设有触头，所述检测台远离所述检测架一侧中间固设有检测模块。
8.优选的，所述机体两侧分别固设有侧架，一侧所述侧架顶部固设有待检盘，另一侧所述侧架顶部固设有清洗箱。
9.优选的，所述机体内部靠近所述滑块一侧滑动设有压杆，所述压杆底部注满液压油，所述压杆远离所述滑块方向滑动设有拉杆，所述拉杆与所述机体之间通过第二弹簧连接，所述压杆底部与所述拉杆处通过软管连通，所述拉杆远离所述第二弹簧一端固设有防尘板，所述防尘板与所述检测台滑动接触。
10.优选的，所述清洗箱内侧底部固设有第二电机，所述第二电机输出端固设有小齿轮，所述小齿轮一侧滑动设有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆外部与所述小齿轮对应处转动套设有第二螺母，所述第二螺母与所述第二螺纹杆螺纹传动接触，所述第二螺纹杆靠近所
述检测台一端固设有清洗座，所述清洗座远离所述检测台方向固设有循环泵。
11.优选的，所述清洗座内部四周分别转动设有多个清洗辊，外侧每个所述清洗辊之间通过第一锥齿轮、第二锥齿轮传动，一侧所述清洗辊转轴一端固设有第三电机，所述第三电机输出端与此处所述清洗辊转轴固定连接，所述清洗辊表面为软质且内部呈空心格栅状。
12.优选的，所述清洗座内部分别开有出水道、回流道，所述回流道与所述出水道连通所述循环泵与所述清洗辊。
13.有益效果
14.本发明通过改进在此提供一种高稳定性lcd芯片测试平台，与现有技术相比，具有如下改进及优点：
15.1.通过设置防尘板，能够在不进行检测时将检测模块进行密封保护防止受到干扰。
16.2.通过设置触头，能够在不进行检测时断开检测电路保证系统的稳定性和安全性。
17.3.通过设置清洗辊，能够在芯片检测出现异常时对芯片引脚进行抗氧化清洗，排除引脚氧化引起的芯片异常，并且清洗辊的设计使其在应对数量很多的pin脚时，也能有效的与每一个pin脚接触。
附图说明
18.图1为本发明立体图；
19.图2为本发明俯视图；
20.图3为图2中a-a处剖视图；
21.图4为图2中b-b处剖视图；
22.图5为图3中d处局部放大图；
23.图6为图5中c-c处局部剖视图。
24.图中：10、滑块；11、主臂；12、气泵；13、第一弹簧；14、滑杆；15、防尘壳；16、清洗箱；17、侧架；18、检测架；19、检测台；20、检测模块；21、待检盘；22、防尘板；23、限位壳；24、吸盘；25、第一螺纹杆；26、第一螺母；27、压杆；28、软管；29、第二弹簧；30、第一电机；31、机体；32、拉杆；33、循环泵；34、第二螺纹杆；35、第二电机；36、小齿轮；37、第二螺母；38、清洗座；39、清洗辊；40、回流道；41、出水道；42、第一锥齿轮；43、第二锥齿轮；45、第三电机；47、第三弹簧；49、触头。
具体实施方式
25.以下是本发明的具体实施例并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的描述，但本发明并不限于这些实施例。
26.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“内”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第
二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
27.结合图1-6，一种高稳定性lcd芯片测试平台，包括机体31，机体31内部固设有第一电机30，第一电机30输出端固设有第一螺纹杆25，第一螺纹杆25外部转动设有第一螺母26，第一螺母26与第一螺纹杆25之间螺纹传动接触，第一螺母26外部固定套设有滑块10，滑块10与机体31滑动接触，滑块10远离第一螺纹杆25一端底部固设有主臂11，主臂11内部中间滑动设有滑杆14，滑杆14与主臂11之间通过两个第一弹簧13连接，滑杆14远离第一弹簧13一端中间固设有吸盘24，吸盘24周围固设有限位壳23，主臂11内部一侧固设有气泵12，气泵12与吸盘24连通。
28.进一步的，机体31面向滑块10一侧固设有检测架18，检测架18顶部滑动设有检测台19，检测台19与检测架18之间通过第三弹簧47连接，检测架18顶部固设有触头49，检测台19远离检测架18一侧中间固设有检测模块20。
29.进一步的，机体31两侧分别固设有侧架17，一侧侧架17顶部固设有待检盘21，另一侧侧架17顶部固设有清洗箱16。
30.进一步的，机体31内部靠近滑块10一侧滑动设有压杆27，压杆27底部注满液压油，压杆27远离滑块10方向滑动设有拉杆32，拉杆32与机体31之间通过第二弹簧29连接，压杆27底部与拉杆32处通过软管28连通，拉杆32远离第二弹簧29一端固设有防尘板22，防尘板22与检测台19滑动接触。
31.进一步的，清洗箱16内侧底部固设有第二电机35，第二电机35输出端固设有小齿轮36，小齿轮36一侧滑动设有第二螺纹杆34，第二螺纹杆34外部与小齿轮36对应处转动套设有第二螺母37，第二螺母37与第二螺纹杆34螺纹传动接触，第二螺纹杆34靠近检测台19一端固设有清洗座38，清洗座38远离检测台19方向固设有循环泵33。
32.进一步的，清洗座38内部四周分别转动设有多个清洗辊39，外侧每个清洗辊39之间通过第一锥齿轮42、第一锥齿轮第二锥齿轮43传动，一侧清洗辊39转轴一端固设有第三电机45，第三电机45输出端与此处清洗辊39转轴固定连接，清洗辊39表面为软质且内部呈空心格栅状。
33.进一步的，清洗座38内部分别开有出水道41、出水道回流道40，回流道40与出水道41连通循环泵33与清洗辊39。
34.工作原理
35.高稳定性lcd芯片测试平台由静止状态下开始启动时，待检盘21处放置有多个待检测芯片，启动气泵12进行吸气，取出一个芯片置于限位壳23内部限位并接触吸盘24,吸盘24将芯片吸住固定。
36.此时第一电机30启动带动第一螺纹杆25转动，第一螺纹杆25通过第一螺母26带动滑块10面向检测台19方向移动。同时滑块10推动压杆27移动，压杆27处的液压油经由软管28处流至拉杆32处，拉杆32面向第一电机30方向移动并带动防尘板22移动打开，芯片接触并插入检测模块20进行检测，同时防尘壳15与检测台19接触并密封，将检测模块20与芯片进行封闭，避免外部干扰。
37.如果芯片测试正常，则各部件复位进行下一块芯片测试，如果芯片出现异常，吸盘24带动芯片复位，同时第二电机35启动带动小齿轮36转动，小齿轮36通过第二螺母37带动第二螺纹杆34面向检测台19方向移动，第二螺纹杆34带动清洗座38移动至芯片下方。
38.此时吸盘24带动芯片移动将芯片引脚插入各个清洗辊39之间，循环泵33启动将清洗液经由出水道41处输送至清洗辊39处，同时清洗后的液体流经回流道40回到循环泵33处，因为芯片引脚处一般无大型杂质，通常进行氧化层消除即可，因此清洗液可以重复使用。同时启动第三电机45，外侧各处清洗辊39转动对引脚外侧进行清洗擦拭。根据芯片引脚具有数量多、细小且相互间有空隙的特点，结合清洗辊39空心格栅的特性，插入芯片时引脚位于格栅空心处，因此外侧清洗辊39仍可与内侧清洗辊39接触，带动内侧清洗辊39对引脚内侧进行清洗擦拭。如果引脚弯曲变形，插入芯片时弯曲的引脚将从内外两侧清洗辊39之间格栅的空心处穿过，不会加剧引脚弯曲角度，通过清洗辊39的转动与引脚拔出时的相互作用，可将弯曲的引脚进行一定的修正，便于芯片清洗完成后再次进行检测。
39.以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。