红外辐射测量设备响应斜率标定装置及方法与流程

本发明属于设备标定，尤其涉及红外辐射测量设备响应斜率标定方法。

背景技术：

1、在红外辐射测量设备红外辐射响应数据的应用模式中，有的仅需要获取设备响应线性段的斜率，相应的可以简化设备红外辐射响应标定系统。目前用于标定响应斜率的方法有大口径面源黑体(口径大于带标定设备光学口径)和小型黑体+平行光管法，两者对于大口径设备的标定黑体成本偏高，体积略显庞大，不利于外场使用。

技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术缺陷，提出了红外辐射测量设备响应斜率标定方法。

2、为了实现上述目的，本发明提出了一种红外辐射测量设备响应斜率标定装置，所述标定装置包括圆筒、镜头盖、漫反射板和黑体；其中，

3、所述圆筒套接在望远镜镜筒前端外沿，镜头盖覆盖于圆筒口径上，漫反射板贴附于镜头盖内，随镜头盖同步翻转；

4、所述黑体设置在镜头盖外侧，可对接和拆卸，镜头盖上设置有口径小于黑体口径的开孔。

5、作为上述装置的一种改进，所述圆筒直径大于望远镜入瞳，用于使得圆筒发光或反光对待测红外辐射测量设备的像素灰度无影响。

6、作为上述装置的一种改进，所述镜头盖采用电动翻转，在整个翻转过程，镜头盖边缘均在望远镜有效口径之外，使得镜头盖发光或反光对待测红外辐射测量设备的像素灰度无影响。

7、作为上述装置的一种改进，所述装置还包括保温隔层，用于在黑体暴露口径处进行遮挡和保温。

8、作为上述装置的一种改进，所述漫反射板为聚四氟乙烯材质。

9、一种红外辐射测量设备响应斜率标定方法，根据上述标定装置实现，所述方法包括：

10、将镜头盖闭合；

11、设置黑体温度为t1，将黑体推入开孔或使黑体开放，记录对应黑体温度t1的响应灰度dns1和辐射光谱归一化亮度lts1；

12、移开或遮挡黑体，设置黑体温度为t2，再将黑体推入开孔，记录对应黑体温度 t2的响应灰度dns2和辐射光谱归一化亮度lts2；

13、根据预先确定的镜头盖开孔口径面积占比st，由下式得到红外辐射测量设备线性响应模型的斜率kt，从而实现标定：

14、

15、与现有技术相比，本发明的优势在于：

16、1、利用小型黑体和保温材料、漫反射板、镜头盖、电动伺服及测角机构，构造易于使用的设备红外辐射响应斜率标定系统；

17、2、本方法满足全口径、全过程、全视场红外辐射测量设备的标定要求；标定范围满足低端和高端范围要求；标定点数量足够多，可以较精确获取辐射测量设备的响应曲线，对探测器工作在线性段要求不高；标定器材和安装相对简单，操作简易，能切实减少工作量，减少作业时间，对提高工作效率、降低工作难度有益，成本相对较低，具有明显经济效益。

技术特征：

1.一种红外辐射测量设备响应斜率标定装置，所述红外辐射测量设备包括望远镜镜筒，其特征在于，所述标定装置包括圆筒、镜头盖、漫反射板和黑体；其中，

2.根据权利要求1所述的红外辐射测量设备响应斜率标定装置，其特征在于，所述圆筒直径大于望远镜入瞳，用于使得圆筒发光或反光对待测红外辐射测量设备的像素灰度无影响。

3.根据权利要求1所述的红外辐射测量设备响应斜率标定装置，其特征在于，所述镜头盖采用电动翻转，在整个翻转过程，镜头盖边缘均在望远镜有效口径之外，使得镜头盖发光或反光对待测红外辐射测量设备的像素灰度无影响。

4.根据权利要求1所述的红外辐射测量设备响应斜率标定装置，其特征在于，所述标定装置还包括保温隔层，用于在黑体暴露口径处进行遮挡和保温。

5.根据权利要求1所述的红外辐射测量设备响应斜率标定装置，其特征在于，所述漫反射板为聚四氟乙烯材质。

6.一种红外辐射测量设备响应斜率标定方法，基于权利要求1～5之一所述的标定装置实现，所述方法包括：

技术总结
本发明属于设备标定技术领域，尤其涉及红外辐射测量设备响应斜率标定装置及方法。所述红外辐射测量设备包括望远镜镜筒，标定装置包括圆筒、镜头盖、漫反射板和黑体；其中，所述圆筒套接在望远镜镜筒前端外沿，镜头盖覆盖于圆筒口径上，漫反射板贴附于镜头盖内，随镜头盖同步翻转；所述黑体设置在镜头盖外侧，可对接和拆卸，镜头盖上设置有口径小于黑体口径的开孔。本方法标定范围满足低端和高端范围要求；成本相对较低，具有明显经济效益。

技术研发人员：姜志富,冯旭辰,赵剑宏,吕久明,王佰兴,苑振东,张骞,李镇
受保护的技术使用者：中国人民解放军63636部队
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11