一种RF低噪放器件测试方法与流程

一种rf低噪放器件测试方法
技术领域
1.本发明属于低噪放大器技术领域，具体涉及一种rf低噪放器件测试方法。


背景技术：

2.低噪声放大器是电信和传感系统的关键组件，通常需要在较高信号电平下进行弱接收信号，以便实现最佳解调、数字化、驱动其他电路或进行测量。当信号链中的其他元件输入端需要更高功率的信号时，也可在整条信号链中使用lna，以便增加低功率信号的增益。其中包括放大来自天线或传感器的接收信号，或者增加来自本地振荡器(lo)或其他频率生成/驱动电路的信号功率电平，确保仅产生很小的附加噪声系数。
3.lna的主要目的是在不增加噪声、相位噪声或失真的情况下增加增益，为确保lna设计或设备的运行符合设计。在rf低噪放器件使用前需要对rf低噪放器件进行设备的s参数、增益、噪声系数和线性数值进行测量。在测试时，为便于对测试设备和rf低噪放器件进行供电，一般会使用供电电源对设备和rf低噪放器件进行供电。在测量时用于对rf低噪放器件和电源连接的导线可能会受到信号的干扰，从而可能导致在检测时，电源不稳定，从而可能导致测量结果存在差异。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种rf低噪放器件测试方法，以解决上述背景技术中提出现有技术中的问题。
5.为实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
6.一种rf低噪放器件测试方法，包括测试系统，所述测试系统包括测试仪器、防干扰设备及屏蔽箱，所述测试仪器和防干扰设备相连接，并位于屏蔽箱中；
7.利用所述测试系统进行rf低噪放器件测试时，包括如下步骤：
8.s1、根据测试所需准备好测试仪器、防干扰设备及屏蔽箱；
9.s2、将所述测试仪器和防干扰设备通过导线连接；
10.s3、校准所述测试仪器后，将测试仪器和防干扰设备放入到屏蔽箱中；
11.s4、在屏蔽箱中展开测试，并将测试数值进行显示。
12.进一步的，所述测试仪器包括：射频噪声系数分析仪和电源；
13.所述射频噪声系数分析仪用于对待检测rf低噪放器件进行s参数、增值和噪音系数测试；所述电源用于为所述射频噪声系数分析仪和待检测的rf低噪放器件进行供电。
14.进一步的，所述射频噪声系数分析仪的型号为av3984a。
15.进一步的，所述电源的型号为n3411，并且所述电源上增加型号为dtc144wetl的偏置电阻器，偏置电阻用来调节基极偏置电流，使晶体管有一个适合的工作点。
16.进一步的，所述防干扰设备包括：射频扼流圈、隔直流电容器及阻塞交流信号单元；
17.所述射频扼流圈用于消除交流信号与直流源之间以及交流信号与地之间的耦合；
18.所述隔直流电容器用于隔离交流信号与直流源以及隔离交流信号与地之间的隔直流电容器，并且启到传输信号的功能；
19.所述阻塞交流信号单元为存储有信号集程序的存储设备，用于对信号的阻塞。
20.进一步的，测试时的室温为25c
°
；所述屏蔽箱的反射壁表面粗糙程度为12.5～25μm。
21.进一步的，在测试仪器和防干扰设备时，步骤如下：
22.s2.1、通过导线将电源与待检测的rf低噪放器件连接；
23.s2.2、在所述导线上连接射频扼流圈和阻塞交流信号单元；
24.s2.3、将隔直流电容器安装在射频噪声系数分析仪上；
25.s2.4、通过电源对射频噪声系数分析仪和待检测的rf低噪放器件进行电力供应。
26.进一步的，在校准所述测试仪器时，步骤如下：
27.s3.1、将电源上的电流值设置为40ma，电流限制设置为50ma和电压设置为10v；
28.s3.2、启动电源和射频噪声系数分析仪；
29.s3.3、按动射频噪声系数分析仪上的校准按键，使射频噪声系数分析仪上的s参数、增值和噪音系数进行自动校准，并且将测试区间设置在10mhz到20ghz范围内。
30.进一步的，在执行s4时，包括：按压射频噪声系数分析仪上的测试开关对待测试的测试rf低噪放器件进行测试，并且通过射频噪声系数分析仪上的显示面板对检测数值进行显示。
31.进一步的，所述射频扼流圈的型号为tcch-80+，所述隔直流电容器的型号为dhe。
32.本发明的技术效果和优点：本发明提出的一种rf低噪放器件测试方法，与现有技术相比，具有以下优点：
33.本发明通过在用于对电源和rf低噪放器件连接的导线上设置射频扼流圈，使射频扼流圈减少用于对电源和rf低噪放器件连接的导线受到电磁信号干扰，避免由于电磁信号的干扰影响到用于对电源和rf低噪放器件连接的电源线中的电流移动，防止电流移动受到干扰，影响测试结果，确保rf低噪放器件测试结果的稳定性，并且也确保在反复测试时，测试结果不会发生太大偏差，提高rf低噪放器件测试结果的精准性。
附图说明
34.图1为本发明一种rf低噪放器件测试方法的流程图；
35.图2为本发明测试系统的框图。
具体实施方式
36.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
37.本发明实施例中提供了rf低噪放器件测试系统，如图2所示的，该测试系统包括测试仪器、防干扰设备及屏蔽箱，所述测试仪器和防干扰设备相连接，测试时的室温为25c
°
，
所述屏蔽箱的反射壁表面粗糙程度为12.5～25μm。
38.所述测试仪器包括：射频噪声系数分析仪和电源。
39.具体的，所述射频噪声系数分析仪用于对待检测rf低噪放器件进行s参数、增值和噪音系数测试，且射频噪声系数分析仪的型号为av3984a。所述电源用于为所述射频噪声系数分析仪和待检测的rf低噪放器件进行供电，所述电源的型号为n3411，并且所述电源上增加型号为dtc144wetl的偏置电阻器，偏置电阻用来调节基极偏置电流，使晶体管有一个适合的工作点。
40.所述防干扰设备包括：射频扼流圈、隔直流电容器及阻塞交流信号单元。
41.具体的，所述射频扼流圈用于消除交流信号与直流源之间以及交流信号与地之间的耦合，且所述射频扼流圈的型号为tcch-80+。所述隔直流电容器用于隔离交流信号与直流源以及隔离交流信号与地之间的隔直流电容器，并且启到传输信号的功能，所述隔直流电容器的型号为dhe。所述阻塞交流信号单元为存储有信号集程序的存储设备，用于对信号的阻塞。
42.本实施例中基于测试系统提出了一种rf低噪放器件测试方法，如图1所示的，利用所述测试系统进行rf低噪放器件测试时，包括如下步骤：
43.s1、根据测试所需准备好测试仪器、防干扰设备及屏蔽箱，具体的，首先，准备好测试设备和待测试的rf低噪放器件，同时测试设备包括用于供电的电源、用于测试的射频噪声系数分析仪、射频扼流圈、隔直流电容器和阻塞交流信号单元，并且射频噪声系数分析仪的型号为av3984a、射频扼流圈的型号为tcch-80+，隔直流电容器的型号为dhe、电源的型号为n3411和阻塞交流信号单元，在将上述提到的设备搬运到室温为25c
°
和反射壁表面粗糙程度为12.5～25μm的屏蔽箱内。
44.s2、将所述测试仪器和防干扰设备通过导线连接；具体如下：
45.s2.1、通过导线将电源与待检测的rf低噪放器件连接；
46.s2.2、在所述导线上连接射频扼流圈和阻塞交流信号单元；
47.s2.3、将隔直流电容器安装在射频噪声系数分析仪上；
48.s2.4、通过电源对射频噪声系数分析仪和待检测的rf低噪放器件进行电力供应。
49.具体的，首先在电源上安装型号为dtc144wetl的偏置电阻器，偏置电阻用来调节基极偏置电流，使晶体管有一个适合的工作点，便于电源进行工作。
50.然后，再使用导线将电源的输出端口与待测试的rf低噪放器件中的直流输入端口和射频输出端口连接，并且在连接导线上添加射频扼流圈和阻塞交流信号单元。射频扼流圈和阻塞交流信号单元与导线进行电连接，通过在导线上连接射频扼流圈，射频扼流圈为一种大电感，由于感抗xl＝2πfl，可见rfc对直流通路，对高频交流开路，故用于直流通路和射频/微波通路隔离，消除交流信号与直流源及地之间的耦合。同时阻塞交流信号单元为一种信号集程序，单独存储在存储设备中，用于对信号的阻塞，就是让系统暂时保留信号待以后发送。
51.为了防止信号打断敏感的操作，便于避免导线在传导电力的过程中受到射频的影响，导致电力输出不稳定，并且通过将隔直流电容器安装在射频噪声系数分析仪上，在将导线对射频噪声系数分析仪输入端口与待测试的rf低噪放器件的射频输入端口和射频输出端口连接。由于隔直电容器用于对两个电路之间的隔离，但它同时又承担着传输信号的功
能，传输信号电容越大信号损失越小，而且容量大有利于低频信号的传输，使测试时，便于将频率信号的稳定传输，增加测试的稳定性。
52.s3、校准所述测试仪器后，将测试仪器和防干扰设备放入到屏蔽箱中。具体的，当各个设备连接完成后，首先对电源的电流值、器件电源典型值和电压进行设置。在设置时，按压电源上的设置按键，将电流值设置为40ma，电流限制设置为50ma和电压设置为10v，并且按压确定按键对电源的数值进行设置保存，其次对射频噪声系数分析仪进行设置和校准，先对射频噪声系数分析仪的测试范围的最低值和最大值进行选定，在选定区间时，一般会选择在10mhz到20ghz范围内，并且再按压校准按键，使射频噪声系数分析仪进行自动校准，对射频噪声系数分析仪中的s参数、增值和噪音系数进行自动校准。
53.s4、在屏蔽箱中展开测试，并将测试数值进行显示，具体的按压射频噪声系数分析仪上的测试开关对待测试的测试rf低噪放器件进行测试，并且通过射频噪声系数分析仪上的显示面板对检测数值进行显示。
54.在本实施例中通过在用于对电源和rf低噪放器件连接的导线上设置射频扼流圈，使射频扼流圈减少用于对电源和rf低噪放器件连接的导线受到电磁信号干扰，避免由于电磁信号的干扰影响到用于对电源和rf低噪放器件连接的电源线中的电流移动，防止电流移动受到干扰，影响测试结果，确保rf低噪放器件测试结果的稳定性，并且也确保在反复测试时，测试结果不会发生太大偏差，提高rf低噪放器件测试结果的精准性。
55.最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。