一种雷达整机系统标校方法、装置、存储介质及电子设备与流程

1.本技术涉及雷达校准领域，具体而言，涉及一种雷达整机系统标校方法、装置、存储介质及电子设备。


背景技术：

2.在智能化高速普及的当下，雷达系统作为一种信号探测的实现方式，被广泛使用。雷达系统的测量的准确性是其最重要的一个参考指标。就雷达系统自身设计和使用条件而言，测角误差可能是由多个方面原因造成的，如雷达天线的安装误差、接收机噪声、数据处理引入的误差等。因此，在雷达安装、使用、修后等各个环节，必须采取措施尽量避免误差的形成和积累，对已存在的各种误差要进行分析和处理，尽力予以消除或减小。
3.有源相控阵雷达对目标位置测量的误差包含系统误差和随机误差两个部分。随机误差部分可以通过平滑、滤波等数据处理方法予以消除；而系统误差须通过数值修正得到降低，修正的好坏或者说修正剩余有多少取决于修正的数学模型和修正用的误差系数精确与否。误差系数依靠雷达系统标校手段来获得，这种对系统误差进行校准和消除的方法称之为标校，误差系数越精确，那么修正越好。
4.因此，如何保障误差系数的精确程度，成为了本领域技术人员所关注的难题。


技术实现要素：

5.本技术的目的在于提供一种雷达整机系统标校方法、装置、存储介质及电子设备，以至少部分改善上述问题。
6.为了实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案如下：
7.第一方面，本技术实施例提供一种雷达整机系统标校方法，应用于标校系统中的上位机，所述标校系统还包括转台和目标模拟器，所述上位机与所述转台和待标校系统中的波束控制器通信连接，所述待标校系统为已部署雷达天线和所述波束控制器的终端设备，所述待标校系统固定于所述转台，所述转台用于驱动所述待标校系统转动，所述待标校系统用于监测所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述波束控制器用于将获取到的位姿信息传输给所述上位机，所述方法包括：
8.所述上位机获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，所述目标位姿信息为所述待标校系统在目标时间段内所监测到的所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述转台角度信息为在目标时间段内所述转台的实时角度信息；
9.所述上位机依据所述目标位姿信息和所述转台角度信息确定校准信息，并将所述校准信息传输给所述波束控制器；
10.其中，所述校准信息用于作为所述波束控制器标校的参考标准信息。
11.第二方面，本技术实施例提供一种标校系统，所述标校系统还包括上位机、转台目标模拟器，所述上位机与所述转台和待标校系统中的波束控制器通信连接，所述待标校系统为已部署雷达天线和所述波束控制器的终端设备，所述待标校系统固定于所述转台；
12.所述转台用于驱动所述待标校系统转动；
13.所述待标校系统用于监测所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述波束控制器用于将获取到的位姿信息传输给所述上位机；
14.所述上位机用于获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，所述目标位姿信息为所述待标校系统在目标时间段内所监测到的所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述转台角度信息为在目标时间段内所述转台的实时角度信息；
15.所述上位机还用于依据所述目标位姿信息和所述转台角度信息确定校准信息，并将所述校准信息传输给所述波束控制器；
16.其中，所述校准信息用于作为所述波束控制器标校的参考标准信息。
17.第三方面，本技术实施例提供一种雷达整机系统标校装置，应用于标校系统中的上位机，所述标校系统还包括转台和目标模拟器，所述上位机与所述转台和待标校系统中的波束控制器通信连接，所述待标校系统为已部署雷达天线和所述波束控制器的终端设备，所述待标校系统固定于所述转台，所述转台用于驱动所述待标校系统转动，所述待标校系统用于监测所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述波束控制器用于将获取到的位姿信息传输给所述上位机，所述装置包括：
18.信息收发单元，用于所述上位机获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，所述目标位姿信息为所述待标校系统在目标时间段内所监测到的所述目标模拟器相对于所述待标校系统的位姿信息，所述转台角度信息为在目标时间段内所述转台的实时角度信息；
19.处理单元，用于所述上位机依据所述目标位姿信息和所述转台角度信息确定校准信息；
20.所述信息收发单元还用于所述上位机将所述校准信息传输给所述波束控制器；
21.其中，所述校准信息用于作为所述波束控制器标校的参考标准信息。
22.第四方面，本技术实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的方法。
23.第五方面，本技术实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括：处理器和存储器，所述存储器用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述处理器执行时，实现上述的方法。
24.相对于现有技术，本技术实施例所提供的一种雷达整机系统标校方法、装置、存储介质及电子设备，上位机获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，目标位姿信息为待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息，转台角度信息为在目标时间段内转台的实时角度信息；上位机依据目标位姿信息和转台角度信息确定校准信息，并将校准信息传输给波束控制器；其中，校准信息用于作为波束控制器标校的参考标准信息。可以最大限度地消除最终的系统误差，雷达天线可以安装在整机上进行标校，可避免在安装成整机过程中产生误差，从而进行再次拆装重新标校节约时间，具有操作方便、数据重复性高、标校时间短、标校效率高、降低了批产难度、标校成本低、只需一个人即可完成整个标校流程等优点，相比较现有标校方法具有很大优势。
25.为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
26.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。
27.图1为本技术实施例提供的标校系统的连接示意图；
28.图2为本技术实施例提供的双线性插值示意图；
29.图3为本技术实施例提供的电子设备的结构示意图；
30.图4为本技术实施例提供的雷达整机系统标校方法的流程示意图；
31.图5为本技术实施例提供的s102的子步骤示意图；
32.图6为本技术实施例提供的s102-1的子步骤示意图；
33.图7为本技术实施例提供的s101的子步骤示意图；
34.图8为本技术实施例提供的雷达整机系统标校装置的单元示意图。
35.图中：10-处理器；11-存储器；12-总线；13-通信接口；100-上位机；200-转台；300-目标模拟器；400-待标校系统；401-波束控制器，402-雷达天线；501-信息收发单元；502-处理单元。
具体实施方式
36.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
37.因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
38.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
39.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
40.在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须
具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
41.在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
42.下面结合附图，对本技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
43.有源相控阵雷达天线的角度标校工作直接影响雷达的探测精度。雷达角度标校包括标定和校准两部分，标定用于获取有源相控阵雷达天线系统的误差系数，校准用于采取措施减小或消除有源相控阵雷达天线系统的误差。实际中，标定和校准两部分工作往往是结合在一起进行的，统称为角度标校。通过角度标校可以达到提高雷达系统角度测量精度的目的，标校雷达天线的安装误差(零位校正)、标校天线指向误差、测试雷达天线成品的指向精度。
44.现有雷达天线后续在整机上进行安装、使用、修后等各个环节，有一定的误差的形成和积累，直接影响雷达的探测精度，雷达天线重复性安装需要更多时间，本技术方案旨在提供了一种目标跟踪的自动标校方法，动态标校方法与实际使用状态相近，理论上能最大限度地消除最终的系统误差，雷达天线可以安装在整机上进行标校，可避免在安装成整机过程中产生误差，从而进行再次拆装重新标校节约时间，本技术方案具有操作方便、数据重复性高、标校时间短、标校效率高、降低了批产难度、标校成本低、只需一个人即可完成整个标校流程等优点，相比较现有标校方法具有很大优势。
45.现有角标校技术一般都是雷达天线分机单独进行标校，后面在整机上进行安装、使用、修后等各个环节，有一定的误差的形成和积累，会直接影响雷达的探测精度，在进行整机测试上面发现测角精度不够，就需要对雷达天线重复性拆装，重新进行标校，从而需要更多时间。或者只能用于标校相控阵天线，标校成本高，标校速度慢，时间长，效率低，加大了系统批产的难度。
46.通过本技术所提供的方案可以使雷达天线安装在整机上面进行动态自动标校，可避免后续在整机上面测试精度不够，雷达天线不需要进行拆装后再次进行标校，从而节约时间，动态自动标校方法与实际使用状态更加贴近，理论上讲能最大限度地消除最终的系统误差，相对比现有技术具有操作方便、数据重复性高、标校时间短、标校效率高、降低了批产难度、标校成本低、只需一个人即可完成整个标校流程等优点。
47.为了克服以上问题，本技术实施例还提供了一种标校系统，请参考图1，图1为本技术实施例提供的标校系统的连接示意图。如图1所示，标校系统包括上位机100、转台200以及目标模拟器300，上位机100与转台200和待标校系统400中的波束控制器401通信连接，待标校系统400为已部署雷达天线402和波束控制器401的终端设备，待标校系统400固定于转台。
48.需要说明的是，转台200也可以用机械臂进行替代。目标模拟器300可以包括喇叭，喇叭用于对目标模拟器300所产生的信号进行发射，并接收其他终端发送的信号。喇叭与雷达天线402的极化方向一致。在标校系统上电后，目标模拟器300发出目标回波信号，雷达天
线402用于对目标回波信号进行跟踪，获取对应的方位角和俯仰角。
49.转台200用于驱动待标校系统400转动，用于改变待标校系统400的俯仰角和方位角，在目标模拟器300保持不变的情况下，若待标校系统400的俯仰角和方位角发生变化，待标校系统400所跟踪到的目标回波信号的监测角度也会发生变化。
50.待标校系统400用于监测目标模拟器300相对于待标校系统的位姿信息，波束控制器401用于将获取到的位姿信息传输给上位机100。
51.可选地，位姿信息包括波束方位指向角和波束俯仰指向角。应理解，雷达天线402在监测到目标模拟器300发出的目标回波信号后，可以将监测到的目标回波信号传输给波束控制器401，波束控制器401可以对目标回波信号进行分析处理，以获得波束方位指向角和波束俯仰指向角，波束控制器401还可以将波束方位指向角和波束俯仰指向角传输给上位机100。
52.上位机100用于获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，目标位姿信息为待标校系统400在目标时间段内所监测到的目标模拟器300相对于待标校系统400的位姿信息，转台角度信息为在目标时间段内转台200的实时角度信息。
53.应理解，转台200设置有对应的控制器，可以控制转台200的转动速度、转动幅度以及转动时间等等。转台200的控制器可以向上位机实时上报转台的当前角度信息，或者将实时角度与对应的时间点进行关联，形成实时角度信息，再将实时角度信息传输给上位机100。
54.上位机100还用于依据目标位姿信息和转台角度信息确定校准信息，并将校准信息传输给波束控制器401。
55.其中，校准信息用于作为波束控制器401标校的参考标准信息。
56.可选地，波束控制器401可以依据校准信息对雷达天线402进行校准。
57.本技术实施例提供的标校系统，可以最大限度地消除最终的系统误差，雷达天线可以安装在整机上进行标校，可避免在安装成整机过程中产生误差，从而进行再次拆装重新标校节约时间，具有操作方便、数据重复性高、标校时间短、标校效率高、降低了批产难度、标校成本低、只需一个人即可完成整个标校流程等优点，相比较现有标校方法具有很大优势。
58.在一种可能的实现方式中，校准信息为校准矩阵，校准矩阵包括在各个角度下待标校系统400的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度，目标模拟器300相对于待标校系统400的位姿信息为待标校系统监测到的波束指向角，包括波束方位指向角和波束俯仰指向角。
59.上位机100还用于依据目标位姿信息构建量测矩阵，其中，量测矩阵包括待标校系统400在目标时间段内所监测到的目标模拟器300的波束指向角。
60.上位机100还用于基于量测矩阵中的每一个波束指向角的采集时间，筛选与采集时间匹配的转台角度信息构建转台角度矩阵。
61.上位机100还用于基于转台角度矩阵和量测矩阵获取校准矩阵。
62.可选地，在系统视场(-azimuth,-elevation,+azimuth,+elevation)范围内以角速度v转动转台200，并通过待标校系统400测量的波束指向角(azimuth_measure_i,elevation_measure_i)，测量时间间隔为t，同时记录转台的实时角度(azimuth_calibrate_i,elevation_calibrate_i)，其中，azimuth为导引头方位向最大指向角，
elevation为导引头俯仰向最大指向角，azimuth_measure_i为导引头第i次测量的波束方位向指向角，elevation_measure_i为导引头第i次测量的波束俯仰向指向角，azimuth_calibrate_i为第i次测量时转台200的方位角度，elevation_calibrate_ii为第i次测量时转台200的俯仰角度。
63.在获得目标时间段内待标校系统400测量的波束指向角(azimuth_measure_i,elevation_measure_i)和目标时间段内转台的实时角度(azimuth_calibrate_i,elevation_calibrate_i)的基础上，可以构建量测矩阵，具体如下表1。
[0064][0065]
表1
[0066]
如表1所示，可以将目标时间段内获取到的位姿信息构建为量测矩阵。同理，也可以构建转台角度矩阵。需要说明的是，转台角度矩阵和量测矩阵中的元素的采集时间相同。例如，(azimuth_measure_ik,elevation_measure_ik)与(azimuth_calibrate_ik,elevation_calibrate_ik)的采集时间相同，其中，(azimuth_measure_ik,elevation_measure_ik)为量测矩阵中的任意一个元素，(azimuth_calibrate_ik,elevation_calibrate_ik)为转台角度矩阵中的任意一个元素，0≤i≤m，0≤k≤n。
[0067]
可选地，上位机用于依据量测矩阵和转台角度矩阵进行双线性差值处理，以获取各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度。
[0068]
可选地，双线性插值形式为：f(x,y)＝ax+by+cxy+d，其中，a、b、c以及d均为常数。
[0069]
双线性插值是线性插值在二维时的推广，在两个方向上共做了三次线性插值。定义了一个双曲抛物面与四个已知点拟合。具体操作为在x方向上进行两次线性插值计算，然后在y方向上进行一次插值计算，具体请参考图2，图2为本技术实施例提供的双线性插值示意图。
[0070]
如果选择一个坐标系统使得f的四个已知点的坐标分别为(0,0)，(0,1)，(1,0)以及(1,1)则：
[0071]
d＝f(0,0)；
[0072]
a＝f(1,0)-f(0,0)；
[0073]
b＝f(0,1)-f(0,0)；
[0074]
c＝f(1,1)-f(1,0)-f(0,1)-f(0,0)。
[0075]
f(x,y)为二元函数，假设知道f(x0,y0)，(x1,y1)，f(x0,y1)以及f(x1,y0)四个点的值。这四个点确定一个矩形，通过插值得到矩形内任意点的函数值。
[0076]
例如，先在x方向上进行两次线性插值，得到：
[0077]
[0078]
再在y方向上进行一次线性插值，得到：
[0079][0080]
综合起来，就是双线性插值的结果：
[0081][0082]
其中，x表示在索引(x,y)处待插值的方位值，y表示在索引(x,y)处待插值的俯仰值，x0表示在索引(x0,y0)处的方位值，y0表示在索引(x0,y0)处的俯仰值，x1表示在索引(x1,y1)处的方位值，y1表示在索引(x1,y1)处的俯仰值。
[0083]
通过上述双线插值处理，以获取各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度。
[0084]
上位机100还用于依据各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度构建校准矩阵。
[0085]
可选地，校准矩阵的形式与表1所示的量测矩阵的形式类同，在此不做赘述。
[0086]
在一种可能的实现方式中，目标位姿信息包括方位标校位姿信息和俯仰标校位姿信息。
[0087]
可选地，喇叭和待标校系统需保持相应的极性，待标校系统设置有top面，按照top面进行安装，此时待标校系统做水平横移就是方位变化，俯仰不动，喇叭对应待标校系统进行安装，保持统一极性，此时是待标校系统是进行方位标校(若极性不统一，标校出来的得数据会异常)，喇叭和待标校系统进行旋转90度(顺时针和逆时针都可以)，待标校系统做水平横移就是俯仰上做变化，方位不动，此时待标校系统是进行俯仰标校。
[0088]
上位机100还用于获取在待标校系统400与目标模拟器300处于方位角校准姿态下所采集到的位姿信息，作为方位标校位姿信息；
[0089]
上位机100还用于获取在待标校系统400与目标模拟器300处于俯仰角校准姿态下所采集到的位姿信息，作为俯仰标校位姿信息。
[0090]
上位机100还用于接收转台200上传的转台角度信息。
[0091]
本技术实施例提供了一种电子设备，可以是电脑设备或服务器设备，电子设备可以作为标校系统中的上位机。请参照图3，电子设备的结构示意图。电子设备包括处理器10、存储器11、总线12。处理器10、存储器11通过总线12连接，处理器10用于执行存储器11中存储的可执行模块，例如计算机程序。
[0092]
处理器10可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，雷达整机系统标校方法的各步骤可以通过处理器10中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器10可以是通用处理器，包括中央处理器(central processing unit，简称cpu)、网络处理器(network processor，简称np)等；还可以是数字信号处理器(digital signal processor，简称dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，简称asic)、现场可编程门阵列(field－programmable gate array，
简称fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
[0093]
存储器11可能包含高速随机存取存储器(ram：random access memory)，也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。
[0094]
总线12可以是isa(industry standard architecture)总线、pci(peripheral component interconnect)总线或eisa(extended industry standard architecture)总线等。图3中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线12或一种类型的总线12。
[0095]
存储器11用于存储程序，例如雷达整机系统标校装置对应的程序。雷达整机系统标校装置包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器11中或固化在电子设备的操作系统(operating system，os)中的软件功能模块。处理器10在接收到执行指令后，执行所述程序以实现雷达整机系统标校方法。
[0096]
可能地，本技术实施例提供的电子设备还包括通信接口13。通信接口13通过总线与处理器10连接。电子设备可以通过通信接口13与转台200和波束控制器401通信连接。
[0097]
应当理解的是，图3所示的结构仅为电子设备的部分的结构示意图，电子设备还可包括比图3中所示更多或者更少的组件，或者具有与图3所示不同的配置。图3中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。
[0098]
本技术实施例提供的一种雷达整机系统标校方法，可以但不限于应用于图3所示的电子设备，即标校系统中的上位机100，具体的流程，请参考图4，雷达整机系统标校方法：s101、s102以及s103，具体阐述如下。
[0099]
s101，上位机获取目标位姿信息和转台角度信息。
[0100]
其中，目标位姿信息为待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息，转台角度信息为在目标时间段内转台的实时角度信息。
[0101]
s102，上位机依据目标位姿信息和转台角度信息确定校准信息。
[0102]
s103，上位机将校准信息传输给波束控制器。
[0103]
其中，校准信息用于作为波束控制器标校的参考标准信息。
[0104]
综上所述，本技术实施例提供的雷达整机系统标校方法，上位机获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，目标位姿信息为待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息，转台角度信息为在目标时间段内转台的实时角度信息；上位机依据目标位姿信息和转台角度信息确定校准信息，并将校准信息传输给波束控制器；其中，校准信息用于作为波束控制器标校的参考标准信息。可以最大限度地消除最终的系统误差，雷达天线可以安装在整机上进行标校，可避免在安装成整机过程中产生误差，从而进行再次拆装重新标校节约时间，具有操作方便、数据重复性高、标校时间短、标校效率高、降低了批产难度、标校成本低、只需一个人即可完成整个标校流程等优点，相比较现有标校方法具有很大优势。
[0105]
在一种可能的实现方式中，校准信息为校准矩阵，校准矩阵包括在各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度，目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息为待标校系统监测到的波束指向角。
[0106]
在此基础上，对于图4中s102中的内容，本技术实施例还提供了一种可能的实现方式，请参考图5，s102包括：s102-1、s102-2以及s102-3，具体阐述如下。
[0107]
s102-1，上位机依据目标位姿信息构建量测矩阵。
[0108]
其中，量测矩阵包括待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器的波束指向角。
[0109]
s102-2，上位机基于量测矩阵中的每一个波束指向角的采集时间，筛选与采集时间匹配的转台角度信息构建转台角度矩阵。
[0110]
s102-3，上位机基于转台角度矩阵和量测矩阵获取校准矩阵。
[0111]
在图5的基础上，对于s102-3中的内容，本技术实施例还提供了一种可能的实现方式，请参考图6，s102-3包括：s102-3a和s102-3b，具体阐述如下。
[0112]
s102-3a，上位机依据量测矩阵和转台角度矩阵进行双线性差值处理，以获取各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度。
[0113]
s102-3b，上位机依据各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度构建校准矩阵。
[0114]
在目标位姿信息包括方位标校位姿信息和俯仰标校位姿信息基础上，对于图4中s101的内容，本技术实施例还提供了一种可能的实现方式，请参考图7，s101包括：s101-1、s101-2以及s101-3，具体阐述如下。
[0115]
s101-1，上位机获取在待标校系统与目标模拟器处于方位角校准姿态下所采集到的位姿信息，作为方位标校位姿信息。
[0116]
s101-2，上位机获取在待标校系统与目标模拟器处于俯仰角校准姿态下所采集到的位姿信息，作为俯仰标校位姿信息。
[0117]
s101-3，上位机接收转台上传的转台角度信息。
[0118]
需要说明的是，本技术实施例并不限定s101-1、s101-2以及s101-3的执行顺序。一种可能的场景下，先执行s101-1，在s101-1执行完成后，将待标校系统400和目标模拟器300旋转90
°
，执行s101-2，以进行俯仰标校。
[0119]
需要说明的是，本实施例所提供的雷达整机系统标校方法，其可以执行上述标校系统实施例所示的功能用途，以实现对应的技术效果。为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考上述的实施例中相应内容。
[0120]
请参阅图8，图8为本技术实施例提供的一种雷达整机系统标校装置，可选的，该雷达整机系统标校装置被应用于上文所述的电子设备。
[0121]
雷达整机系统标校装置包括：信息收发单元501和处理单元502。
[0122]
信息收发单元501，用于上位机获取目标位姿信息和转台角度信息，其中，目标位姿信息为待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息，转台角度信息为在目标时间段内转台的实时角度信息；
[0123]
处理单元502，用于上位机依据目标位姿信息和转台角度信息确定校准信息。
[0124]
信息收发单元501还用于上位机将校准信息传输给波束控制器。
[0125]
其中，校准信息用于作为波束控制器标校的参考标准信息。
[0126]
可选地，校准信息为校准矩阵，校准矩阵包括在各个角度下待标校系统的方位角调校幅度和俯仰角调校幅度，目标模拟器相对于待标校系统的位姿信息为待标校系统监测到的波束指向角。
[0127]
处理单元502还用于上位机依据目标位姿信息构建量测矩阵，其中，量测矩阵包括待标校系统在目标时间段内所监测到的目标模拟器的波束指向角。
[0128]
处理单元502还用于上位机基于量测矩阵中的每一个波束指向角的采集时间，筛选与采集时间匹配的转台角度信息构建转台角度矩阵。
[0129]
处理单元502还用于上位机基于转台角度矩阵和量测矩阵获取校准矩阵。
[0130]
可选地，信息收发单元501可以执行上述的s101和s103，处理单元502可以执行上述的s102。
[0131]
需要说明的是，本实施例所提供的雷达整机系统标校装置，其可以执行上述方法流程实施例所示的方法流程，以实现对应的技术效果。为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考上述的实施例中相应内容。
[0132]
本技术实施例还提供了一种存储介质，该存储介质存储有计算机指令、程序，该计算机指令、程序在被读取并运行时执行上述实施例的雷达整机系统标校方法。该存储介质可以包括内存、闪存、寄存器或者其结合等。
[0133]
下面提供一种电子设备，可以是电脑设备或服务器设备，电子设备可以作为标校系统中的上位机。该电子设备如图3所示，可以实现上述的雷达整机系统标校方法；具体的，该电子设备包括：处理器10，存储器11、总线12。处理器10可以是cpu。存储器11用于存储一个或多个程序，当一个或多个程序被处理器10执行时，执行上述实施例的雷达整机系统标校方法。
[0134]
在本技术所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本技术的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
[0135]
另外，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
[0136]
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0137]
以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
[0138]
对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在
不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。