一种芯片电路测试装置及芯片测试系统的制作方法

1.本发明涉及芯片电路测试技术领域，具体为一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。


背景技术：

2.简单来说,芯片测试就是使用专用的自动测试设备(ate)检查制造出来的芯片其功能和性能是否满足一定的要求。因此,芯片测试会包含多方面的内容,可以分为直流参数测试,功能测试,混合信号参数测试,不同类型的芯片对测试会有不同的要求。
3.传统测试一般通过人工进行，在通路较多的情况下，人工测试容易遗漏，出现断路点不容易被发现，此外芯片测试后，由于引脚插入引脚槽导致取下芯片较为麻烦，基于此，我们提出一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。


技术实现要素：

4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，解决了人工进行检测存在效率低下，准确度不高，取下芯片难度大的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种芯片电路测试装置，包括底座，所述底座两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板，两块所述侧向支撑板上端面靠近前后端位置处均套设有气缸，位于两侧的所述气缸上端面分别固定连接有一号支撑架和二号支撑架，所述一号支撑架和二号支撑架相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽和限位滑槽，所述调节滑槽前后内壁之间转动连接有调节丝杆，所述限位滑槽前后内壁之间固定连接有限位滑杆，所述调节丝杆外壁上螺纹套接有调节滑块，所述限位滑杆外壁上滑动套接有限位滑块，所述调节滑块和限位滑块之间固定连接有桁架，所述桁架下端面固定开设有横向滑槽，所述横向滑槽两侧内壁之间固定连接有滑动支撑板，所述滑动支撑板上端面靠近两侧前后处均固定开设有限位轮槽，四个所述限位轮槽内均设置有支撑滑轮，位于同一侧的两个所述支撑滑轮内端固定套接有横轴，两个所述横轴前后端转动套接有吊架，两个所述吊架下端均固定连接有安装架，两个所述安装架下端面分别固定连接有超声检测仪和射线检测仪；
8.所述底座上端面固定连接有测试平台，所述测试平台上端面中部固定开设有凹槽，所述凹槽内活动设置有放置平台，所述凹槽下端面两侧均固定开设有矩形滑槽，所述矩形滑槽内端滑动套设有矩形滑块，所述矩形滑块内端螺纹套接有升降丝杆，所述升降丝杆下端面固定连接有t型转轴，所述测试平台内端固定开设有齿轮槽，所述齿轮槽两侧内壁之间转动连接有驱动杆，所述驱动杆两侧外壁上均固定套接有二号主动齿轮，所述底座上分别固定设置有信号参数测试电路、存储功能测试电路和芯片测试终端设备。
9.优选的，两个所述吊架后端面上均固定连接有驱动电机，所述驱动电机输出端固
定连接有一号主动齿轮，所述横轴后端贯穿吊架并固定连接有一号从动齿轮，所述一号从动齿轮与一号主动齿轮啮合。
10.优选的，两个所述t型转轴下端均贯穿齿轮槽并固定连接有二号从动齿轮，两个所述二号从动齿轮分别与两个二号主动齿轮啮合，所述驱动杆一端贯穿测试平台并固定连接有摇杆。
11.优选的，所述测试平台上端面固定开设有多个引脚槽。
12.优选的，所述一号支撑架后端面固定连接有调节电机，所述调节电机输出端贯穿调节滑槽并与调节丝杆固定连接。
13.优选的，所述信号参数测试电路和存储功能测试电路均与芯片测试终端设备电性连接。
14.优选的，所述矩形滑块与矩形滑槽滑动贴合设置。
15.一种芯片测试系统，包括以下测试流程：
16.s1.首先通过调节电机带动调节丝杆转动，实现带动调节滑块移动，进一步带动桁架进行前后移动；
17.s2.然后通过驱动电机带动一号主动齿轮转动，进一步带动一号从动齿轮转动，实现通过横轴带动支撑滑轮转动，进一步通过吊架带动安装架移动，进一步实现带动超声检测仪和射线检测仪对芯片整体扫描，找出断路点；
18.s3.通过信号参数测试电路和存储功能测试电路连接芯片测试终端设备进行芯片信号和存储功能测试。
19.(三)有益效果
20.本发明提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。具备以下有益效果：
21.1、本发明提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置通过采用驱动电机带动一号主动齿轮转动进一步带动一号从动齿轮转动，进一步带动横轴转动，进一步带动支撑滑轮转动，进一步使得超声检测仪和射线检测仪能够进行移动，配合调节电机带动桁架移动，实现对芯片电路板的整体扫描，并反馈到终端，能够测试出断路位置，以此快速判断电路板的合格情况，，同时利用芯片测试终端设备对信号参数测试电路和存储功能测试电路进行测试，极大的提升了检测效率。
22.2、本发明提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置在测试完芯片电路板后可以利用摇杆带动驱动杆转动，进一步带动二号主动齿轮转动，进一步带动二号从动齿轮转动，进一步通过t型转轴带动升降丝杆转动，从而实现带动矩形滑块升降运动，从而能够通过放置平台上升带动芯片引脚从引脚槽内脱出，方便检测完毕后取下芯片，十分方便。
23.3、本发明提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置整体结构设计合理，使用方便，不仅能够对芯片电路进行高效全面的检测，而且能够方便检测完毕后工人取下芯片，降低劳动强度，节省时间。
附图说明
24.图1为本发明的主结构示意图；
25.图2为本发明的局部结构正剖示意图；
26.图3为图2中a处结构放大示意图；
27.图4为本发明的支撑板处局部结构侧视示意图；
28.图5为本发明的底座上端俯视图；
29.图6为本发明的放置平台底部连接局部结构示意图。
30.其中，1、底座；2、侧向支撑板；3、气缸；4、一号支撑架；5、二号支撑架；6、调节滑槽；7、限位滑槽；8、调节丝杆；9、限位滑杆；10、调节滑块；11、限位滑块；12、桁架；13、横向滑槽；14、滑动支撑板；15、限位轮槽；16、支撑滑轮；17、横轴；18、吊架；19、安装架；20、超声检测仪；21、射线检测仪；22、一号从动齿轮；23、驱动电机；24、一号主动齿轮；25、测试平台；26、凹槽；27、放置平台；28、矩形滑槽；29、矩形滑块；30、升降丝杆；31、t型转轴；32、齿轮槽；33、二号从动齿轮；34、驱动杆；35、二号主动齿轮；36、摇杆；37、引脚槽；38、信号参数测试电路；39、存储功能测试电路；40、芯片测试终端设备；41、调节电机。
具体实施方式
31.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
32.实施例：
33.如图1-6所示，本发明实施例提供一种芯片电路测试装置，包括底座1，底座1两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板2，两块侧向支撑板2上端面靠近前后端位置处均套设有气缸3，位于两侧的气缸3上端面分别固定连接有一号支撑架4和二号支撑架5，一号支撑架4和二号支撑架5相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽6和限位滑槽7，调节滑槽6前后内壁之间转动连接有调节丝杆8，限位滑槽7前后内壁之间固定连接有限位滑杆9，调节丝杆8外壁上螺纹套接有调节滑块10，限位滑杆9外壁上滑动套接有限位滑块11，调节滑块10和限位滑块11之间固定连接有桁架12，桁架12下端面固定开设有横向滑槽13，横向滑槽13两侧内壁之间固定连接有滑动支撑板14，滑动支撑板14上端面靠近两侧前后处均固定开设有限位轮槽15，四个限位轮槽15内均设置有支撑滑轮16，位于同一侧的两个支撑滑轮16内端固定套接有横轴17，两个横轴17前后端转动套接有吊架18，两个吊架18下端均固定连接有安装架19，两个安装架19下端面分别固定连接有超声检测仪20和射线检测仪21，利用驱动电机23带动一号主动齿轮24转动，进一步带动一号从动齿轮22转动，实现通过横轴17带动支撑滑轮16转动，进一步通过吊架18带动安装架19移动，进一步实现带动超声检测仪20和射线检测仪21横向移动，配合调节电机41带动调节丝杆8转动，实现带动调节滑块10移动，进一步带动桁架12进行前后移动，实现对芯片整体扫描。
34.底座1上端面固定连接有测试平台25，测试平台25上端面中部固定开设有凹槽26，凹槽26内活动设置有放置平台27，凹槽26下端面两侧均固定开设有矩形滑槽28，矩形滑槽28内端滑动套设有矩形滑块29，矩形滑块29内端螺纹套接有升降丝杆30，升降丝杆30下端面固定连接有t型转轴31，测试平台25内端固定开设有齿轮槽32，齿轮槽32两侧内壁之间转动连接有驱动杆34，驱动杆34两侧外壁上均固定套接有二号主动齿轮35，通过摇杆36带动驱动杆34转动，进一步带动二号主动齿轮35转动，进一步带动二号从动齿轮33转动，进一步
带动t型转轴31转动，进一步带动升降丝杆30转动，进一步控制矩形滑块29上升，带动放置平台27上升顶起芯片电路板，辅助芯片从引脚槽内脱出，底座1上分别固定设置有信号参数测试电路38、存储功能测试电路39和芯片测试终端设备40。
35.两个吊架18后端面上均固定连接有驱动电机23，驱动电机23输出端固定连接有一号主动齿轮24，横轴17后端贯穿吊架18并固定连接有一号从动齿轮22，一号从动齿轮22与一号主动齿轮24啮合，通过驱动电机23带动一号从动齿轮22转动，进一步带动一号主动齿轮24转动，进一步带动横轴17转动。
36.两个t型转轴31下端均贯穿齿轮槽32并固定连接有二号从动齿轮33，两个二号从动齿轮33分别与两个二号主动齿轮35啮合，驱动杆34一端贯穿测试平台25并固定连接有摇杆36，利用摇杆36可以带动驱动杆34转动，此外摇杆36可以采用伺服马达替换成电动操作。
37.测试平台25上端面固定开设有多个引脚槽37，引脚槽37分布设置在测试平台25边侧位置上。
38.一号支撑架4后端面固定连接有调节电机41，调节电机41输出端贯穿调节滑槽6并与调节丝杆8固定连接，利用调节电机41带动调节丝杆8转动可以带动调节滑块10移动。
39.信号参数测试电路38和存储功能测试电路39均与芯片测试终端设备40电性连接。
40.矩形滑块29与矩形滑槽28滑动贴合设置，避免矩形滑块29跟随升降丝杆30运动时出现抖动情况。
41.该一种芯片测试系统，包括以下测试流程：
42.s1.首先通过调节电机41带动调节丝杆8转动，实现带动调节滑块10移动，进一步带动桁架12进行前后移动；
43.s2.然后通过驱动电机23带动一号主动齿轮24转动，进一步带动一号从动齿轮22转动，实现通过横轴17带动支撑滑轮16转动，进一步通过吊架18带动安装架19移动，进一步实现带动超声检测仪20和射线检测仪21对芯片整体扫描，找出断路点；
44.s3.通过信号参数测试电路38和存储功能测试电路39连接芯片测试终端设备40进行芯片信号和存储功能测试。
45.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。