一种跌落测试系统、方法及控制设备与流程

1.本技术实施例涉及试验设备技术领域，尤其涉及一种跌落测试系统、方法及控制设备。


背景技术：

2.电子设备的跌落可靠性是电子设备的重要性能，电子设备接触地面时的速度为落地速度，如果电子设备具有同样的落地速度，电子设备的损伤程度越低，跌落可靠性越高。电子设备的损伤程度越高，跌落可靠性越低。
3.跌落测试系统用于测试电子设备的跌落可靠性。跌落测试系统通过夹具夹持待测试的电子设备，并在同步带的带动下上升至指定的测试高度。夹具在该测试高度处放松电子设备，以令电子设备以该测试高度处为起点，做初始速度为0的自由落体运动。根据自由落体运动的计算公式，电子设备的落地速度与测试高度相关，由此，通过调整测试高度，可以测试电子设备在不同的落地速度下的跌落可靠性。
4.跌落测试系统的同步带的长度有限，因此，跌落测试系统所能够测试的落地速度的范围较小。而且，所要测试的落地速度越大，电子设备需要到达的测试高度越高，相应的，电子设备上升至该测试高度的时间越长。这就导致当所要测试的落地速度较大时，电子设备的上升过程耗时较长，令整体的测试时间较长，测试效率较低。


技术实现要素：

5.本技术实施例提供了一种跌落测试系统、方法及控制设备，通过该跌落测试系统可以有效扩展能够测试的落地速度的范围，并且可以缩短在测试相同落地速度时所需的测试高度，从而有效提高测试效率。
6.第一方面，本技术实施例提供了一种跌落测试系统。该跌落测试系统包括：支撑框架、传动装置、第一夹持装置和控制设备。支撑框架用于支撑传动装置和第一夹持装置。第一夹持装置用于夹持待测试设备。传动装置用于在第一夹持装置夹持待测试设备的状态下，带动第一夹持装置和待测试设备做加速下落运动。第一夹持装置还用于在加速下落运动的过程中释放待测试设备，使待测试设备由加速下落运动变为自由落体运动。控制设备用于获取测试目标和测试条件，测试目标包括：目标落地速度和目标跌落高度。测试条件包括预设的待测试设备的第一下落高度或者预设的待测试设备的第一下落加速度。控制设备还用于根据测试目标和测试条件配置系统参数。其中：如果测试条件包括第一下落高度，系统参数包括根据目标跌落高度和第一下落加速度确定的第二下落加速度。如果测试条件包括第一下落加速度，系统参数包括根据目标跌落高度和第一下落高度确定的第二下落高度。第二下落高度为待测试设备做加速下落运动的第一高度与做自由落体运动的第二高度的总高度。
7.根据上述跌落测试系统，可以令待测试设备提供先做加速下落运动，后做自由落体运动，以为待测试设备在有限的可上升高度的范围内，提供更宽泛的可测试的落地速度
的范围，以及在测试相同的落地速度时，缩短待测试设备的上升高度，提高测试效率。
8.在一种实现方式中，控制设备根据目标跌落高度和测试条件，确定系统参数，还用于：如果测试条件包括第一下落高度，根据第一下落高度，确定第一高度和第二高度。根据目标跌落高度、第一高度和第二高度，确定第二下落加速度。其中，第二下落加速度满足传动装置的加速度范围。根据上述跌落测试系统，在下落高度的范围相同时，可以提供更宽泛的可测试的落地速度的范围，即可以测试待测试设备在更多目标跌落速度下的跌落可靠性。
9.在一种实现方式中，控制设备根据目标跌落高度和所述测试条件，确定系统参数，还用于：如果测试条件包括第一下落加速度，根据第一下落加速度和目标跌落高度，确定第一高度和第二高度。其中，第一高度与第二高度的加和满足传动装置的传动高度范围。根据第一高度和第二高度，确定第二下落高度。根据上述跌落测试系统，在目标跌落速度或者目标跌落高度相同时，可以有效缩短待测试设备的下落高度，即可以有效缩短待测试设备的上升高度。相应的，待测试设备的上升过程所耗费的时间更短，待测试设备的整体测试时间更短，测试效率更高。
10.在一种实现方式中，跌落测试系统还包括：距离传感器，距离传感器用于测量待测试设备与地面之间的距离。控制设备还用于获取待测试设备与地面之间的第三高度。控制设备还用于在传动装置带动第一夹持装置的上升过程中，当第三高度等于第二下落高度时，控制开启传动装置带动第一夹持装置以第二下落加速度加速下落。控制设备还用于在传动装置带动第一夹持装置的加速下落过程中，当第三高度等于第二高度时，控制第一夹持装置释放待测试设备。根据上述跌落测试系统，通过距离传感器可以实时测量待测试设备与地面的距离，进而准确控制待测试设备的落地速度。
11.在一种实现方式中，跌落测试系统还包括：缓冲装置，缓冲装置用于降低第一夹持装置的落地速度。根据上述跌落测试系统，可以避免第一夹持装置与地面之间的剧烈冲撞，进而保护第一夹持装置和跌落测试系统的底部。
12.在一种实现方式中，第一夹持装置用于以第一轴为旋转轴带动待测试设备旋转，第一轴垂直于待测试设备的运动轨迹所在的平面。测试目标还包括：目标落地部位，目标落地部位为待测试设备与地面接触的部位。测试条件还包括：放置面，放置面为第一夹持装置带动待测试设备旋转之前，待测试设备朝向地面的表面。系统参数还包括：第一夹持装置的第一旋转角，第一旋转角包括第一旋转方向和第一角度，第一角度等于放置面与地面所呈的角度。根据上述跌落测试系统，可以通过旋转第一夹持装置，调节待测试设备与地面所呈的角度，从而控制待测试设备的落地部位。
13.在一种实现方式中，控制设备根据测试目标和测试条件配置系统参数，还用于：根据目标落地部位和放置面，确定第一旋转角。根据上述跌落测试系统，控制设备可以根据设定的测试目标和测试条件，自动配置第一夹持装置的第一旋转角，进而准确控制待测试设备的落地部位。
14.在一种实现方式中，跌落测试系统还包括：第二夹持装置。第二夹持装置设置于第一夹持装置的下方，用于放置待测试设备，以及以第二轴为旋转轴带动待测试设备旋转，第二轴垂直于地面。系统参数还包括：第二夹持装置的第二旋转角，第二旋转角包括第二旋转方向和第二角度，第二角度等于放置面与待测试设备的运动轨迹所在的面所呈的角度。根
据上述跌落测试系统，可以通过第一夹持装置和第二夹持装置的旋转配合，扩展测试时可以实现的待测试设备的落地部位。
15.在一种实现方式中，控制设备根据测试目标和测试条件配置系统参数，还用于：根据目标落地部位和放置面，确定第一旋转角和第二旋转角。根据上述跌落测试系统，控制设备可以根据设定的测试目标和测试条件，自动配置第一夹持装置的第一旋转角以及第二夹持装置的第二旋转角，进而准确控制待测试设备的落地部位。
16.在一种实现方式中，第一夹持装置包括以下至少一种类型：吸盘和夹板。其中，第一夹持装置的类型是根据待测试设备的设备类型和目标落地部位确定的。根据上述跌落测试系统，可以灵活选择第一夹持装置的类型，进而保证对待测试设备的夹紧效果，避免由第一夹持装置对测试过程产生的影响。
17.在一种实现方式中，跌落测试系统还包括：电容，电容用于为传动装置供电。控制设备还用于在待测试设备与地面之间的距离等于第二高度时，控制传动装置将第一夹持装置产生的动能转换为电能，并将电能存储至所述电容中。根据上述跌落测试系统，可以有效利用第一夹持装置下落时的动能，起到能量循环利用的效果。
18.第二方面，本技术实施例提供了一种跌落测试方法，应用于上述各方面及其各个实现方式中的跌落测试系统，该方法包括：控制设备获取测试目标和测试条件，测试目标包括：目标落地速度和目标跌落高度，所述测试条件包括预设的所述待测试设备的第一下落高度或者预设的所述待测试设备的第一下落加速度控制设备根据测试目标和测试条件配置系统参数，其中：如果测试条件包括第一下落高度，系统参数包括根据目标跌落高度和第一下落加速度确定的第二下落加速度。如果测试条件包括第一下落加速度，系统参数包括根据目标跌落高度和第一下落高度确定的第二下落高度。第二下落高度为待测试设备做加速下落运动的第一高度与做自由落体运动的第二高度的总高度。
19.根据上述跌落测试方法，可以令待测试设备提供先做加速下落运动，后做自由落体运动，以为待测试设备在有限的可上升高度的范围内，提供更宽泛的可测试的落地速度的范围，以及在测试相同的落地速度时，缩短待测试设备的上升高度，提高测试效率。
20.在一种实现方式中，控制设备根据目标跌落高度和测试条件，确定系统参数，包括：如果测试条件包括第一下落高度，根据第一下落高度，确定第一高度和第二高度。根据目标跌落高度、第一高度和第二高度，确定第二下落加速度。其中，第二下落加速度满足传动装置的加速度范围。根据上述跌落测试方法，在下落高度的范围相同时，可以提供更宽泛的可测试的落地速度的范围，即可以测试待测试设备在更多目标跌落速度下的跌落可靠性。
21.在一种实现方式中，控制设备根据目标跌落高度和测试条件，确定系统参数，包括：如果测试条件包括第一下落加速度，根据第一下落加速度和目标跌落高度，确定第一高度和第二高度。其中，第一高度与第二高度的加和满足传动装置的传动高度范围。根据第一高度和第二高度，确定第二下落高度。根据上述跌落测试方法，在目标跌落速度或者目标跌落高度相同时，可以有效缩短待测试设备的下落高度，即可以有效缩短待测试设备的上升高度。相应的，待测试设备的上升过程所耗费的时间更短，待测试设备的整体测试时间更短，测试效率更高。
22.在一种实现方式中，该方法还包括：控制设备获取待测试设备与地面之间的第三
高度。控制设备在传动装置带动第一夹持装置的上升过程中，当第三高度等于第二下落高度时，控制开启传动装置带动第一夹持装置以第二下落加速度加速下落。以及，控制设备在传动装置带动第一夹持装置的加速下落过程中，当第三高度等于第二高度时，控制第一夹持装置释放待测试设备。根据上述跌落测试方法，通过距离传感器可以实时测量待测试设备与地面的距离，进而准确控制待测试设备的落地速度。
23.在一种实现方式中，该方法还包括：控制设备在待测试设备与地面的距离等于自由落体距离时，控制开启缓冲装置。根据上述跌落测试方法，可以避免第一夹持装置与地面之间的剧烈冲撞，进而保护第一夹持装置和跌落测试系统的底部。
24.在一种实现方式中，测试目标还包括：目标落地部位，目标落地部位为待测试设备与地面接触的部位。测试条件还包括：放置面，放置面为第一夹持装置带动待测试设备旋转之前，待测试设备朝向地面的表面。系统参数还包括：第一夹持装置的第一旋转角，第一旋转角包括第一旋转方向和第一角度，第一角度等于放置面与地面所呈的角度。根据上述跌落测试方法，可以通过旋转第一夹持装置，调节待测试设备与地面所呈的角度，从而控制待测试设备的落地部位。
25.在一种实现方式中，控制设备根据测试目标和测试条件配置系统参数，还包括：根据目标落地部位和放置面，确定第一旋转角。根据上述跌落测试方法，控制设备可以根据设定的测试目标和测试条件，自动配置第一夹持装置的第一旋转角，进而准确控制待测试设备的落地部位。
26.在一种实现方式中，系统参数还包括：第二夹持装置的第二旋转角，第二旋转角包括第二旋转方向和第二角度，第二角度等于放置面与待测试设备的运动轨迹所在的面所呈的角度。根据上述跌落测试方法，可以通过第一夹持装置和第二夹持装置的旋转配合，扩展测试时可以实现的待测试设备的落地部位。
27.在一种实现方式中，根据目标落地部位和放置面，确定第一旋转角和第二旋转角。根据上述跌落测试方法，控制设备可以根据设定的测试目标和测试条件，自动配置第一夹持装置的第一旋转角以及第二夹持装置的第二旋转角，进而准确控制待测试设备的落地部位。
28.在一种实现方式中，该方法还包括：控制设备根据待测试设备的设备类型和目标落地部位确定第一夹持装置的类型，第一夹持装置包括以下至少一种类型：吸盘和夹板。根据上述跌落测试方法，可以灵活选择第一夹持装置的类型，进而保证对待测试设备的夹紧效果，避免由第一夹持装置对测试过程产生的影响。
29.在一种实现方式中，该方法还包括：控制设备在待测试设备与地面之间的距离等于第二高度时，控制传动装置将第一夹持装置产生的动能转换为电能，并将电能存储至电容中。根据上述跌落测试方法，可以有效利用第一夹持装置下落时的动能，起到能量循环利用的效果。
30.第三方面，本技术实施例提供了一种控制设备，包括：处理器和存储器；存储器存储有程序指令，当程序指令被处理器执行时，使得控制设备执行上述各方面及其各个实现方式中的方法。
31.第四方面，本技术实施例还提供了一种芯片系统，该芯片系统包括处理器和存储器，存储器存储有程序指令，当程序指令被处理器执行时，使得芯片系统执行上述各方面及
其各个实现方式中的方法。例如，生成或处理上述方法中所涉及的信息。
32.第五方面，本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有程序指令，当程序指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面及其各个实现方式中的方法。
附图说明
33.图1是本技术实施例提供的跌落测试系统100的结构示意图；
34.图2是本技术第一个实施例提供的跌落测试系统200的结构示意图；
35.图3是本技术第一个实施例提供的控制设备25的结构示意图；
36.图4是本技术第一个实施例提供的控制设备25确定系统参数的方法400的流程图；
37.图5是本技术第一个实施例提供的控制设备25确定系统参数的方法500的流程图；
38.图6是本技术第一个实施例提供的跌落测试系统200的另一结构示意图；
39.图7是本技术第一个实施例提供的跌落测试系统200的另一结构示意图；
40.图8是本技术第一个实施例提供的跌落测试系统200的测试过程800的流程图；
41.图9是本技术第二个实施例提供的夹板900的结构示意图；
42.图10是本技术第二个实施例提供的吸盘1000的结构示意图；
43.图11是本技术第二个实施例提供的跌落测试系统200的结构示意图；
44.图12是本技术第二个实施例提供的手机1200的结构示意图；
45.图13是本技术第二个实施例提供的控制设备25确定第一旋转角的方法1300的流程图；
46.图14是本技术第二个实施例提供的跌落测试系统200的测试过程1400的流程图；
47.图15是本技术第三个实施例提供的跌落测试系统200的结构示意图；
48.图16是本技术第三个实施例提供的跌落测试系统200的另一结构示意图；
49.图17是本技术第三个实施例提供的控制设备25确定第一旋转角和第二旋转角的方法1700的流程图；
50.图18是本技术第三个实施例提供的跌落测试系统200的测试过程1800的流程图。
具体实施方式
51.本技术说明书和权利要求书及附图说明中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于限定特定顺序。
52.在本技术实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作示例、例证或说明。本技术实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
53.本技术的实施方式部分使用的术语仅用于对本技术的具体实施例进行解释，而非旨在限定本技术，下面将结合附图对本技术的实施例进行详细描述。
54.电子设备的跌落可靠性是电子设备的重要性能，电子设备接触地面时的速度为落地速度，如果电子设备具有同样的落地速度，电子设备的损伤程度越低，跌落可靠性越高。电子设备的损伤程度越高，跌落可靠性越低。
55.跌落测试系统用于测试电子设备的跌落可靠性。以图1所示的跌落测试系统100为例，对测试待测试设备11的跌落可靠性的过程进行说明。如图1所示，跌落测试系统100包括：支撑框架12、同步带13、夹具14和控制设备15。在测试时，如图1所示，将夹具14置于同步带13的底部，将待测试设备11固定于夹具14内。通过控制设备15控制同步带13启动，同步带13带动夹具14上升至指定的下落高度。跌落测试系统100用于测试待测试设备11在自由落体状态下的跌落可靠性，当夹具14到达该指定的下落高度，控制设备15控制同步带13停止传动，并控制夹具14释放待测试设备11，以令待测试设备11以初始速度为0，从该指定的下落高度处做自由落体运动。观察待测试设备11在该指定的下落高度对应的落地速度下的跌落损伤程度，以评估待测试设备11在该落地速度下的跌落可靠性。
56.根据自由落体运动的计算公式，如公式(1)：
[0057][0058]
其中，vh代表待测试设备11的落地速度，h代表下落高度。
[0059]
在自由落体运动中，待测试设备11的落地速度只与指定高度相关。由此，可以通过设定夹具14的下落高度，以改变所要测试跌落可靠性的落地速度。具体地，所要测试跌落可靠性的落地速度越大，下落高度越高。所要测试跌落可靠性的落地速度越小，下落高度越小。
[0060]
跌落测试系统100的同步带13的长度有限，由此，可以到达的下落高度有限，该最大的下落高度小于等于同步带13的长度。因此，跌落测试系统100所能够测试跌落可靠性的落地速度范围有限，且范围较小。而且，同步带13的运转速度较慢，因此，通过同步带13提升夹具14的速度较慢，耗时较长，这就导致如果指定的下落高度较高，同步带13提升夹具14的耗时更长，整体的测试时间较长，测试效率较低。
[0061]
为了解决上述问题，本技术实施例提供了一种跌落测试系统，结合以下实施例对该跌落测试系统进行说明。
[0062]
实施例1
[0063]
在本实施例中，跌落测试系统可以令待测试设备提供先做加速下落运动，后做自由落体运动，以为待测试设备在有限的可上升高度的范围内，提供更宽泛的可测试的落地速度的范围，以及在测试相同的落地速度时，缩短待测试设备的上升高度，提高测试效率。
[0064]
图2是本技术第一个实施例提供的跌落测试系统200的示意图，该跌落测试系统200用于测试待测试设备21在目标落地速度下的跌落可靠性。如图2所示，跌落测试系统200包括：支撑框架22、传动装置23、第一夹持装置24和控制设备25。
[0065]
其中，支撑框架22用于支撑传动装置23和第一夹持装置24，以保证传动装置23和第一夹持装置24的稳定性，进而保证测试结果的准确性。
[0066]
在一些实施例中，支撑框架22之间可以包括透明外壳，如透明的亚克力玻璃。通过该透明外壳可以隔绝支撑框架22内部各组件与外界环境的接触，以避免测试过程受到外界环境的干扰。并且，透明外壳可以便于测试人员观察测试情况。
[0067]
在一些实施例中，支撑框架22的底部可以安装有移动部件，如万向轮和防滑脚杯等。可以通过万向轮更加方便、省力地移动支撑框架22，并且可以通过防滑脚杯，提高支撑框架22在静止时的稳定性。
[0068]
传动装置23用于在第一夹持装置24夹持待测试设备21的状态下，带动第一夹持装
置24和待测试设备21做加速下落运动。在一些实施例中，如图2所示的跌落测试系统200，传动装置23可以包括：轨道231、连接件232和电机233。
[0069]
其中，轨道231用于限制连接件232的运动轨迹。轨道231为直线轨道，且轨道231垂直于地面设置。由此，轨道231可以限制连接件232按照垂直于地面的直线运动轨迹运动。
[0070]
连接件232设置于轨道231内，用于固定有第一夹持装置24，并带动第一夹持装置24在轨道231内滑动。由于轨道231为直线轨道，第一夹持装置24在连接件232的带动下，也按照垂直于地面的直线运动轨迹运动。由此，电机233提供的动力可以完全作用于竖直方向上，不会被分散至水平方向，从而可以有效保证电机233的传动高效性。并且，可以保证待测试设备21在向下运动的过程中，仅具有竖直向下的速度，不存在水平方向的速度。进而可以保证待测试设备21在脱离第一夹持装置24之后做竖直向下的自由落体运动，而不是抛物线运动，从而保证待测试设备21的落地角度的可控性、以及落地速度的可控性。
[0071]
在一些实施例中，传动装置23可以为电磁加速装置，即通过电磁感应带动第一夹持装置24运动。此时，轨道231包括由绝缘材料制成的导向滑轨，以及至少一个电感线圈(图上未示出)，该至少一个电感线圈分部于导向滑轨的外侧。连接件232为金属连接件，连接件232位于导向滑轨的内侧，并且可以在导向滑轨内滑动。该至少一个电感线圈与电机233连接，由电机233为这些电感线圈提供电能，并令这些电感线圈产生交变磁场。这些交换磁场与连接件232上被感生出来的电流发生电磁作用，以令连接件232在电磁作用下在导向滑轨内运动，进而带动第一夹持装置24沿导向滑轨运动。
[0072]
第一夹持装置24用于夹持待测试设备21，并在传动装置23的带动下带动待测试设备21运动。其中，第一夹持装置24在开启状态下，提供夹紧力，以夹持待测试设备21。第一夹持装置24在关闭的状态下，呈放松状态，即不提供夹紧力，以释放待测试设备21。
[0073]
其中，第一夹持装置24在传动装置23的带动下在垂直于地面的方向上运动的过程包括：在传动装置23的带动下做竖直向上运动的上升过程，以及在传动装置23的带动下做竖直向下运动的加速下落运动的过程。其中，第一夹持装置24在加速下落过程中，具有向下加速度(下落加速度)，以在更短的下落高度，达到指定的落地速度。
[0074]
第一夹持装置24还用于在加速下落运动的过程中释放待测试设备21，使待测试设备21由加速下落运动变为自由落体运动。
[0075]
控制设备25可以是计算机、控制器等，如可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)。图3为本技术实施例的控制设备25的结构示意图。如图3所示，控制设备25可以包括：显示屏301、存储器302、处理器303和通信模块304。上述各器件可以通过一个或多个通信总线305连接。显示屏301可以包括显示面板3011和触摸传感器3012，其中，显示面板3011用于显示图像，触摸传感器3012可以将检测到的触摸操作传递给应用处理器，以确定触摸事件类型，通过显示面板3011提供与触摸操作相关的视觉输出。处理器303可以包括一个或多个处理单元，例如：处理器303可以包括应用处理器，调制解调处理器，图形处理器，图像信号处理器，控制器，视频编解码器，数字信号处理器，基带处理器，和/或神经网络处理器等。其中，不同的处理单元可以是独立的器件，也可以集成在一个或多个处理器中。存储器302与处理器303耦合，用于存储各种软件程序和/或计算机指令，存储器302可包括易失性存储器和/或非易失性存储器。当处理器执行计算机指令时，控制设备可执行上述方法实施例中手机执行的各个功能或者步骤。
[0076]
控制设备25用于获取测试目标和测试条件。
[0077]
测试目标包括：待测试设备21的目标落地速度和目标跌落高度，目标落地速度与目标跌落高度满足公式(1)。例如：如果预先设定的测试目标为目标跌落速度，控制设备25可以根据获取到的目标跌落速度，利用公式(1)计算对应的目标跌落高度。例如，目标跌落速度为6m/s，根据公式(1)(为了便于示意，在本技术中重力加速度g＝10m/s2)，目标跌落高度为1.8m。测试目标为预先设定的，可以是目标落地速度，也可以是目标跌落高度。
[0078]
测试条件包括：待测试设备21的第一下落高度或者待测试设备21的第一下落加速度。待测试设备21的第一下落高度是预先设定的待测试设备21在测试时的下落高度。待测试设备21的第一下落加速度是预先设定的待测试设备21在下落过程中的加速度。
[0079]
在一种实现方式中，测试目标和测试条件由测试人员输入，控制设备25接收测试人员输入的测试目标和测试条件。在另一种实现方式中，控制设备25可以根据待测试设备21的设备信息，如设备参数(产品种类、重量等)、历史测试信息等，自动设定测试目标和测试条件。
[0080]
控制设备25还用于根据测试目标和测试条件配置系统参数。
[0081]
系统参数包括：待测试设备21的第二下落高度或者待测试设备21的第二下落加速度。待测试设备21的第二下落高度是待测试设备21在测试过程中实际的下落高度，待测试设备21的第二下落加速度是待测试设备21在测试过程中实际的加速度。待测试设备21的第二下落高度和待测试设备21的第二下落加速度均是由控制设备25根据预先设定的测试目标和测试条件确定的。第二下落高度为待测试设备21做加速下落运动的第一高度与做自由落体运动的第二高度的总高度。第二高度为待测试设备21开始做自由落体运动时距地面的高度，第一高度为待测试设备21在测试过程中上升到的最高点距开始做自由落体运动时的高度。
[0082]
其中，如果测试条件为第一下落高度，系统参数包括根据目标跌落高度和该第一下落高度确定的第二下落加速度。如果测试条件为第一下落加速度，系统参数包括根据目标跌落高度和该第一下落加速度确定的第二下落高度。
[0083]
目标跌落高度、测试条件以及系统参数之间满足如下公式组(2)：
[0084][0085]
其中，v1代表待测试设备21加速下落后具备的速度，a代表待测试设备21的落加速度，h1代表第一高度，h代表目标跌落高度，且h满足公式(1)，h2代表第二高度。
[0086]
控制设备25根据目标跌落高度和预先设定的测试条件，利用公式组(2)确定相应的系统参数。
[0087]
在一种实现方式中，如果预设的测试条件为待测试设备21的第一下落高度，即待测试设备21从固定的下落高度开始测试，控制设备25可以按照如图4所示的方法400确定相应的系统参数，方法400包括以下步骤s401-步骤s402：
[0088]
步骤s401，根据第一下落高度，确定第一高度与第二高度。
[0089]
根据公式组(2)，h1与h2的加和固定，且h1与h2的加和等于该第一下落高度。将公式组(2)进行变形，可以得到公式(3)：
[0090][0091]
控制设备25可以在待测试设备21的第二下落加速度满足传动装置23可以支持的加速度的范围，灵活调整h1与h2。
[0092]
步骤s402，根据目标跌落高度、第一高度与第二高度，确定待测试设备的第二下落加速度。
[0093]
其中，待测试设备21的第二下落高度等于第一下落高度。根据目标跌落高度、第一高度和第二高度，利用公式(3)，可以确定待测试设备21的第二下落加速度。
[0094]
由上述过程可知，相较于全程为自由落体过程的跌落测试系统，如跌落测试系统100，在下落高度的范围相同时，本技术所提供的跌落测试系统，如跌落测试系统200，可以提供更宽泛的可测试的落地速度的范围，即可以测试待测试设备21在更多目标跌落速度下的跌落可靠性。
[0095]
在一种实现方式中，如果预设的测试条件为待测试设备21的第一下落加速度，即待测试设备21在测试的过程中使用固定的下落加速度，控制设备25可以按照如图5所示的方法500确定相应的系统参数，方法500包括以下步骤s501-步骤s502：
[0096]
步骤s501，根据待测试设备的第一下落加速度和目标跌落高度，确定第一高度和第二高度。
[0097]
根据公式组(2)，a固定，且a＝第一下落加速度。控制设备25在满足传动装置23的传动范围，即待测试设备21可以达到的上升高度的范围内，灵活调整h1与h2，即h1与h2的加和满足传动装置23的传动高度范围。
[0098]
步骤s502，根据第一高度和第二高度，确定待测试设备的第二下落高度。
[0099]
待测试设备21的第二下落高度等于第一高度与第二高度的加和。
[0100]
由上述过程可知，相较于全程为自由落体过程的跌落测试系统，如跌落测试系统100，在目标跌落速度或者目标跌落高度相同时，本技术所提供的跌落测试系统，如跌落测试系统200，可以有效缩短待测试设备21的下落高度，即可以有效缩短待测试设备21的上升高度。相应的，待测试设备21的上升过程所耗费的时间更短，待测试设备21的整体测试时间更短，测试效率更高。
[0101]
如图2所示的跌落测试系统200还可以包括距离传感器，以通过该距离传感器自动测量待测试设备21与地面之间的距离，即第三高度。距离传感器可以为超声波距离传感器、红外距离传感器等。
[0102]
在一种实现方式中，距离传感器可以设置于第一夹持装置24的上方，距离传感器可以测量本身与待测试设备21之间的第一距离，以及本身与地面之间的第二距离，并通过计算第二距离与第一距离的差值，得到第三高度。
[0103]
在一种实现方式中，距离传感器可以设置于第一夹持装置24的下方，距离传感器可以测量本身与待测试设备21之间的第三距离，以及本身与地面之间的第四距离，并通过计算第三距离与第四距离的加和，得到第三高度。
[0104]
在一种实现方式中，距离传感器可以设置于第一夹持装置24上，通过直接测量本身与地面之间的第五距离，以通过该第五距离代表第三高度。
[0105]
以图6所示的跌落测试系统200为例，跌落测试系统200还包括：距离传感器26。距
离传感器26设置于第一夹持装置24上，且距离传感器26设置在与待测试设备21的同一侧。距离传感器26跟随第一夹持装置24运动，并实时测量与地面之间的第五距离。
[0106]
控制设备25获取距离传感器26传输的第五距离。当控制设备25监测到第五距离等于第一下落高度时，控制传动装置23终止上升过程，并启动传动装置23的加速下落过程。当控制设备25监测到第五距离等于自由落体距离时，控制第一夹持装置24释放待测试设备21，以令待测试设备21做自由落体运动。
[0107]
如图2或6所示的跌落测试系统200还可以包括缓冲装置。缓冲装置用于减小第一夹持装置24的落地速度，避免第一夹持装置24与地面之间的剧烈冲撞，进而保护第一夹持装置24和跌落测试系统200的底部。
[0108]
在一种实现方式中，缓冲装置可以为设置于第一夹持装置24下方的独立结构。以图7所示的跌落测试系统200为例，跌落测试系统200还包括缓冲装置27。缓冲装置27设置于第一夹持装置24的下方，例如，缓冲装置27落地设置于跌落测试系统200的底面上。缓冲装置27为弹性部件，可以靠弹性对下落的第一夹持装置24起缓冲作用。在本实现方式中，缓冲装置27具有一定的高度。其中，待测试设备21做自由落体运动的高度(即第二高度)大于缓冲装置27的高度，以避免缓冲装置27影响待测试设备21的自由落体过程。并且，第二高度与缓冲装置27的高度的差值大于或者等于高度阈值，以通过该高度阈值，保证第一夹持装置24的缓冲效果。
[0109]
在一种实现方式中，缓冲装置可以由传动装置23替代。控制设备25在传动装置23带动第一夹持装置24加速下落的过程中，当待测试设备21与地面之间的距离(即第三高度)等于第二高度时，控制传动装置23带动第一夹持装置24减速下落，以起到缓冲效果。以传动装置23为电磁感加速装置为例，通过控制电感线圈，以令交换磁场与连接件232上被感生出来的电流发生电磁作用，该电磁作用对连接件232产生竖直向上的力，以令连接件232在该力的作用下减速下滑，进而带动第一夹持装置24减速下落。
[0110]
图8为本实施例提供的跌落测试系统200的测试过程800的流程图，包括以下步骤s801-步骤s805：
[0111]
步骤s801，控制设备对跌落测试系统进行初始化。
[0112]
在测试之前，首先对跌落测试系统200进行初始化。该初始化过程包括：将第一夹持装置24调整至起始点，以为夹持待测试设备21做准备。对控制设备25内的测试程序进行初始化，例如：清除上一次测试的系统参数。
[0113]
步骤s802，控制设备为跌落测试系统配置系统参数。
[0114]
针对本次测试过程，设定测试目标和测试条件。控制设备25根据设定的测试目标和测试条件配置系统参数，该配置系统参数的过程可以参考步骤s401-步骤s402，以及步骤s501-步骤s502，此处不赘述。
[0115]
步骤s803，控制设备在检测到待测试设备放置于第一夹持装置内之后，控制第一夹持装置夹紧待测试设备，并根据第二下落高度，控制启动传动装置上升过程，以通过传动装置带动待测试设备竖直向上运动。
[0116]
步骤s804，控制设备在检测到第三高度等于第二下落高度时，控制关闭传动装置上升过程，并根据第一高度和第二下落加速度，开启传动装置的加速下落过程，以通过传动装置带动待测试设备以第二下落加速度竖直向下运动。
[0117]
步骤s805，控制设备在检测到第三高度等于第二高度时，控制关闭传动装置的加速下落过程，并控制第一夹持装置释放待测试设备，以令待测试设备做自由落体运动。
[0118]
在步骤s804-步骤s805中，均可以通过距离传感器测量第三高度，距离传感器可以参考上文所提及的距离传感器，此处不赘述。
[0119]
在步骤s805中，如果传动装置23是电磁加速装置，且由传动装置23起缓冲作用。控制设备25在检测到第三高度等于第二高度时，还控制开启传动装置23的减速下落过程，以减缓第一夹持装置24的下落速度。
[0120]
可以根据不同的测试需求，调整测试目标和测试条件，并重复执行上述步骤s801-步骤s805，以进行多次跌落测试。
[0121]
实施例2
[0122]
在实施例1的基础上，第一夹持装置24可以带动待测试设备21旋转，通过旋转第一夹持装置24，调节待测试设备21与地面所呈的角度，从而控制待测试设备21的落地部位。
[0123]
以图2所示的跌落测试系统200为例，第一夹持装置24以第一轴2401为旋转轴进行旋转，该第一轴2401垂直于待测试设备21的运动轨迹所在的平面。第一夹持装置24带动待测试设备21旋转，以令旋转后的待测试设备21与地面呈角度。
[0124]
第一夹持装置24可以为夹板或者吸盘。
[0125]
其中，夹板包括平行设置的第一平板和第二平板。可以参考图9所示的夹板900，夹板900包括：第一平板901和第二平板902，第一平板901和第二平板902相互平行。其中，第一平板901和第二平板902可以在控制设备25的控制下做相对运动或者反向运动。例如，可以通过气缸为第一平板901和第二平板902提供方向相对的推力。当控制设备25开启气缸时，第一平板901和第二平板902在气缸的推动下相对运动，在第一平板901和第二平板902均接触待测试设备21之后，气缸继续施加推力，以令第一平板901和第二平板902夹紧待测试设备21。当控制设备25关闭气缸时，第一平板901和第二平板902失去气缸施加的推力，从而不再对待测试设备21施加推力，以释放待测试设备21。在一些实施例中，第一平板901和第二平板902的表面中至少与待测试设备21接触的一侧为平面。由此，可以在第一平板901和第二平板902释放待测试设备21时，令待测试设备21可以无阻碍地脱离第一平板901和第二平板902，避免影响待测试设备21的下落速度。
[0126]
吸盘包括至少一个吸嘴。可以参考图10所示的吸盘1000，吸盘1000包括三个吸嘴1001。其中，三个吸嘴1001可以在控制设备25的控制下开启或者关闭。例如，当控制设备25控制开启吸嘴1001时，吸嘴1001对待测试设备21产生吸力，以通过该吸力固定待测试设备21。当控制设备25控制关闭吸嘴1001时，吸嘴1001不再对待测试设备21产生吸力，以释放待测试设备21。在一些实施例中，如果吸盘包括多个吸嘴，控制设备25可以分别控制每个吸嘴的开启和关闭。由此，控制设备25可以根据待测试设备21的尺寸、形状等，确定所要开启的吸嘴，以避免其它吸嘴对测试过程的影响。
[0127]
夹板和吸盘可以为两个独立的结构，例如，如图9和10所示的两个独立结构，根据测试需求替换使用。在一些实施例中，夹板和吸盘可以为一个整体结构，可以参考图11所示的跌落测试系统200，其中，第一夹持装置24包括夹板241和吸盘242，夹板241包括第一平板2411和第二平板2412，吸盘242包括三个吸嘴2421。第一夹持装置24可以旋转，由此，控制设备25可以通过控制第一夹持装置24旋转，以选择所要使用的结构。例如，如果选择使用夹板
241，控制第一夹持装置24旋转，以令夹板241朝向待测试设备21。如果选择使用吸盘242，控制第一夹持装置24旋转，以令吸盘242朝向待测试设备21。其中，夹板241的工作过程可以参考夹板900，吸盘242的工作过程可以参考吸盘1000，此处均不再赘述。
[0128]
可以根据待测试设备21的类型和待测试设备21的落地部位，选择使用夹板或者吸盘。
[0129]
其中，待测试设备21包括第一类设备和第二类设备。第一类设备为包括大尺寸表面的待测试设备21，如手机、平板电脑等。第一类设备包括第一表面和第二表面。其中，第一表面为大尺寸表面，第二表面为其余表面。以待测试设备21为手机为例，手机的第一表面包括手机的后盖和手机的屏幕，手机的第二表面包括手机的四条边框。第二类设备为全部表面均为小尺寸表面的待测试设备21，如手表、耳机等。第二类设备包括第三表面，该第三表面即为各个小尺寸表面。
[0130]
待测试设备21的落地部位是待测试设备21跌落时与地面接触的部位，即所要测试跌落可靠性的部位。待测试设备21的落地部位可以为待测试设备21的任意部位。以图12所示的手机1200为例，手机1200的落地部位可以包括：下边框1201、左边框1202、右边框1203、后盖1204、屏幕1205、上边框1206、左上角1207、左下角1208、右下角1209和右上角1210。手机1200的落地部位还可以包括：边框与后盖1204或者屏幕1205之间的交界处。在一些实施例中，对于第二类设备，由于其各个表面的尺寸均较小，在落地时，难以控制落地部位，而且不同部位落地时所产生的损伤区别较小，可以无需区分落地部位。
[0131]
如果待测试设备21为第一类设备，且落地部位为第一部位，该第一部位为第一表面，即待测试设备21的大尺寸表面平行于地面跌落，采用夹板。如果待测试设备21为第一类设备，且落地部位为第二部位，该第二部位为待测试设备21中除第一部位中的其它部位，使用吸盘。如果待测试设备21为第二类设备，使用吸盘。
[0132]
在本实施例中，测试目标还包括：目标落地部位。测试条件还包括：放置面。系统参数还包括：第一夹持装置24的第一旋转角。
[0133]
其中，目标落地部位为指定待测试设备21落地的部位。放置面为待测试设备21在旋转之前朝向地面的表面。对于第一类设备，通常将靠近电池的一侧的表面设置为放置面。以手机1200为例，除落地部位为手机1200的屏幕1205，以将屏幕1205设定为放置面以外，对于其它落地部位，均以手机1200的后盖1204为放置面。第一旋转角是根据目标落地部位和放置面确定的。
[0134]
图13为本技术实施例提供的控制设备25确定第一旋转角的方法1300的流程图。如图13所示，方法1300包括以下步骤s1301-步骤s1302:
[0135]
步骤s1301，获取放置面和目标落地部位。
[0136]
在一种实现方式中，放置面可以为控制设备25默认的表面，测试人员根据控制设备25的提示，以默认的表面朝向地面，将待测试设备21夹紧于第一夹持装置24内。
[0137]
在一种实现方式中，放置面可以为测试人员自定义的表面，测试人员以待测试设备21中自定义的表面朝向地面，将待测试设备21夹紧于第一夹持装置24内，并向控制设备25输入该自定义的表面。控制设备25确定该自定义的表面为放置面。
[0138]
目标落地部位可以是测试人员自定义的落地部位，也可以是控制设备25根据待测试设备21的设备信息，自动设定的落地部位。
[0139]
步骤s1302，根据放置面和目标落地部位，确定第一旋转角。
[0140]
第一夹持装置24的第一旋转角包括第一旋转方向和第一角度。其中，第一角度等于放置面与地面所呈的角度，且第一角度小于或者等于90
°
，以有效控制第一夹持装置24的旋转进程。
[0141]
结合以下几个示例，对步骤s1301-步骤s1302进行说明：
[0142]
示例一，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的后盖1204为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为0
°
，即无需旋转夹板241。
[0143]
示例二，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的右边框1203为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为顺时针。
[0144]
示例三，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的左边框1202为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为逆时针。
[0145]
示例四，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的右边框1203与后盖1204的交界线为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为45
°
，第一旋转方向为顺时针。
[0146]
图14为本实施例提供的跌落测试系统200的测试过程1400的流程图，包括以下步骤s1401-步骤s1406：
[0147]
步骤s1401，控制设备对跌落测试系统进行初始化。
[0148]
在测试之前，首先对跌落测试系统200进行初始化。该初始化过程包括：将第一夹持装置24调整至起始点。其中，如果为如图11所述的跌落测试系统200，根据待测试设备21的设备类型和目标跌落部位，调整第一夹持装置24的朝向，以令相应的结构朝向待测试设备21，以为夹持待测试设备21做准备。对控制设备25内的测试程序进行初始化，例如：清除上一次测试的系统参数。
[0149]
步骤s1402，控制设备为跌落测试系统配置系统参数。
[0150]
针对本次测试过程，设定测试目标和测试条件。控制设备25根据设定的测试目标和测试条件配置系统参数，该配置系统参数的过程可以参考步骤s401-步骤s402、步骤s501-步骤s502，以及步骤s1301-步骤s1302，此处不赘述。
[0151]
步骤s1403，控制设备在检测到待测试设备放置于第一夹持装置内之后，控制第一夹持装置夹紧待测试设备，并根据第二下落高度，控制启动传动装置上升过程，以通过传动装置带动待测试设备竖直向上运动。
[0152]
步骤s1403可以参考步骤s803。其中，控制设备25控制第一夹持装置24夹紧待测试设备21之后，对第一夹持装置24进行第二次初始化。该第二次初始化为旋转第一夹持装置24，以令待测试设备21的放置面平行于地面。
[0153]
步骤s1404，控制设备在检测到第三高度等于第二下落高度时，控制关闭传动装置上升过程。并根据第一旋转角，旋转第一夹持装置。
[0154]
步骤s1405，控制设备在检测到第一夹持装置旋转完毕之后，根据第一高度和第二下落加速度，开启传动装置的加速下落过程，以通过传动装置带动待测试设备以第一下落加速度竖直向下运动。
[0155]
步骤s1405可以参考步骤s804，此处不赘述。
[0156]
步骤s1406，控制设备在检测到第三高度等于第二高度时，控制关闭传动装置的加速下落过程，并控制第一夹持装置释放待测试设备，以令待测试设备做自由落体运动。
[0157]
步骤s1406可以参考步骤s905，此处不赘述。
[0158]
实施例3
[0159]
在实施例1或2的基础上，跌落测试系统200还包括第二夹持装置，第二夹持装置也可以带动待测试设备21旋转。通过第一夹持装置24和第二夹持装置的旋转配合，可以扩展测试时可以实现的待测试设备21的落地部位。
[0160]
图15为本技术第三个实施例提供的跌落测试系统200，该跌落测试系统200还包括第二夹持装置28。第二夹持装置28设置于支撑框架21上，且第二夹持装置28设置于第一夹持装置24的下方。第二夹持装置28用于放置待测试设备21，测试人员只需要从上至下，以俯视的方式将待测试设备21放置于第二夹持装置28内，第一夹持装置24就可以夹取放置于第二夹持装置28内的待测试设备21。由此，测试人员无需从下至上，以仰视的方式将待测试设备21放置于第一夹持装置24内，更加便于测试人员的操作。
[0161]
在一些实施例中，第二夹持装置28具有限位部件。该限位部件可以为限位标记、限位框等。测试人员按照该限位部件，将待测试设备21放置于第二夹持装置28内，以令待测试设备21在第二夹持装置28中的指定位置按照指定的角度静止。
[0162]
在一种实现方式中，如果待测试设备21为第一类设备，可以通过限位框等限位部件，限制待测试设备21在第二夹持装置28内的位置和角度。如图15所示的第二夹持装置28，第二夹持装置28还包括四条限位框2801。以待测试设备21为手机1200为例，将手机1200放置于第二夹持装置28内，以通过限位框2801限制手机的位置和角度。
[0163]
在一些实施例中，如图15所示，限位框2801还设置有开口2802，该开口2802对应第一夹持装置24的夹板，便于夹板在开口2802处夹持待测试设备21，避免第二夹持装置28对夹板的夹持动作产生阻碍。
[0164]
在一种实现方式中，如果待测试设备21为第二类设备，可以通过限位标记等限位部件，限制待测试设备21在第二夹持装置28内的位置。
[0165]
以图15所示的跌落测试系统200为例，第二夹持装置28可以以第二轴2803为旋转轴进行旋转，该第二轴2803垂直于地面。第二夹持装置28带动待测试设备21旋转，以令旋转后的待测试设备21与待测试设备21的运动轨迹所在的平面呈角度。
[0166]
在本实施例中，系统参数还包括：第二夹持装置28的第二旋转角。第一夹持装置24的第一旋转角与第二夹持装置28的第二旋转角是根据目标落地部位和放置面确定的。
[0167]
跌落测试系统200还可以包括摇臂，摇臂用于带动第二夹持装置28转动。以图16所示的跌落测试系统200为例，跌落测试设备200还包括摇臂29。摇臂29以第三轴2901为旋转轴带动第二夹持装置28转动，以调节第二夹持装置28与传动装置23之间的距离和角度，第
三轴2901垂直于地面。例如：如果待测试设备21的尺寸较大，控制设备25可以控制摇臂29逆时针旋转，以令第二夹持装置28远离传动装置23，避免第二夹持装置28带动待测试设备21转动时，与传动装置发生碰撞。如果待测试设备21的尺寸较小，例如耳机，控制设备25可以控制摇臂29转动，以调节待测试设备21与第一夹持装置24之间的对应角度。以待测试设备21为耳机，第一夹持装置24为吸盘为例。控制设备25控制摇臂29转动，以令耳机位于吸嘴正下方，便于吸嘴吸附耳机。
[0168]
图17为本技术实施例提供的控制设备25确定第一旋转角和第二旋转角的方法1700的流程图。如图17所示，方法1700包括以下步骤s1701-步骤s1702：
[0169]
步骤s1701，获取放置面和目标落地部位。
[0170]
步骤s1701可以参考步骤s1301，此处不赘述。
[0171]
步骤s1702，根据放置面和目标落地部位，确定第一旋转角和第二旋转角。
[0172]
第一夹持装置24的第一旋转角包括第一旋转方向和第一角度。第二夹持装置28的第二旋转角包括第二旋转方向和第二角度。其中，第一角度等于放置面与地面所呈的角度，第二角度等于放置面与待测试设备21的运动轨迹所在面所呈的角度。
[0173]
结合以下几个示例，对步骤s1701-步骤s1702进行说明：
[0174]
示例五，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的上边框1206为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第二夹持装置28的第二旋转角的第二角度为90
°
，第二旋转方向为顺时针或者逆时针，第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为顺时针。
[0175]
示例六，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的右下角1209为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第二夹持装置28的第二旋转角的第二角度为45
°
，第二旋转方向为逆时针，第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为顺时针。
[0176]
示例七，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的左上角1207为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第二夹持装置28的第二旋转角的第二角度为45
°
，第二旋转方向为逆时针，第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为逆时针。
[0177]
示例八，以待测试设备21为手机1200，放置面为手机1200的后盖1204，手机1200的上边框1206靠近传动装置23摆放，目标落地部位为手机1200的右上角1210为例。控制设备25根据放置面和目标落地部位，可以确定第二夹持装置28的第二旋转角的第二角度为45
°
，第二旋转方向为顺时针，第一夹持装置24的第一旋转角的第一角度为90
°
，第一旋转方向为顺时针。
[0178]
图18为本实施例提供的跌落测试系统200的测试过程1800的流程图，包括以下步骤s1801-步骤s1807：
[0179]
步骤s1801，控制设备对跌落测试系统进行初始化。
[0180]
在测试之前，首先对跌落测试系统200进行初始化。该初始化过程包括：将第二夹
持装置28调整至指定的角度，例如尺寸较长的一边与待测试设备21的运动轨迹所在的面平行。
[0181]
将第一夹持装置24调整至起始点。其中，如果为如图15所述的跌落测试系统200，根据待测试设备21的设备类型和目标跌落部位，调整第一夹持装置24的朝向，以令相应的结构朝向待测试设备21，以为夹持待测试设备21做准备。对控制设备25内的测试程序进行初始化，例如：清除上一次测试的系统参数。
[0182]
步骤s1802，控制设备为跌落测试系统配置系统参数。
[0183]
针对本次测试过程，设定测试目标和测试条件。控制设备25根据设定的测试目标和测试条件配置系统参数，该配置系统参数的过程可以参考步骤s401-步骤s402、步骤s501-步骤s502，以及步骤s1701-步骤s1702，此处不赘述。
[0184]
步骤s1803，控制设备在检测到待测试设备放置于第二夹持装置内之后，控制第一夹持装置下落至待测试设备处，并夹紧待测试设备。
[0185]
步骤s1804，控制设备在检测到第一夹持装置夹紧待测试设备之后，根据第二下落高度，控制启动传动装置上升过程，以通过传动装置带动待测试设备竖直向上运动。
[0186]
步骤s1804可以参考步骤s1403，此处不赘述。
[0187]
步骤s1805，控制设备在检测到第三高度等于第二下落高度时，控制关闭传动装置上升过程。并根据第一旋转角，旋转第一夹持装置。
[0188]
步骤s1806，控制设备在检测到第一夹持装置旋转完毕之后，根据第一高度和第二下落加速度，开启传动装置的加速下落过程，以通过传动装置带动待测试设备以第二下落加速度竖直向下运动。
[0189]
步骤s1806可以参考步骤s804，此处不赘述。
[0190]
步骤s1807，控制设备在检测到第三高度等于第二高度时，控制关闭传动装置的加速下落过程，并控制第一夹持装置释放待测试设备，以令待测试设备做自由落体运动。
[0191]
步骤s1807可以参考步骤s805，此处不赘述。
[0192]
在本实施例中，如果目标落地部位为多个，可以按照一定的顺序进行测试。以手机1200为例，如果目标落地部位包括：下边框1201、左边框1202、右边框1203、后盖1204、屏幕1205、上边框1206、左上角1207、左下角1208、右下角1209和右上角1210，可以按照上述顺序进行测试。
[0193]
实施例4
[0194]
基于实施例1、2或3所提供的跌落测试系统200，跌落测试系统200还包括电容。电容为可充电，以通过该电容为传动装置23提供电能。
[0195]
控制设备25在传动装置23带动第一夹持装置24加速下落的过程中，当检测到待测试设备21与地面的距离等于自由落体距离时，控制传动装置23采集第一夹持装置24产生的动能，并将该动能转化为电能，以及将转化后的电能储存在电容内。控制设备25可以传动装置23在下一次测试过程中，通过电容供电。由此，可以有效利用第一夹持装置24下落时的动能，起到能量循环利用的效果。
[0196]
上述主要从控制设备的角度对本技术实施例提供的方案进行了介绍。可以理解的是，控制设备为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件模块。本领域技术人员应该很容易意识到，结合本技术所公开的实施例描述的各示例的一种拍摄
成片率的评估方法步骤，本技术能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是控制设备软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
[0197]
本技术实施例可以根据上述方法示例对上述控制设备进行功能模块或者功能单元的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能模块或者功能单元，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块或者功能单元的形式实现。其中，本技术实施例中对模块或者单元的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。
[0198]
本技术实施例还提供一种芯片系统，该芯片系统包括至少一个处理器和至少一个接口电路。处理器和接口电路可通过线路互联。例如，接口电路可用于从其它装置(例如控制设备的存储器)接收信号。又例如，接口电路可用于向其它装置发送信号。示例性的，接口电路可读取存储器中存储的指令，并将该指令发送给处理器。当所述指令被处理器执行时，可使得控制设备执行上述实施例中的各个步骤。当然，该芯片系统还可以包含其他分立器件，本技术实施例对此不作具体限定。
[0199]
本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质包括计算机指令，当所述计算机指令在上述控制设备(如图3所示的控制设备25)上运行时，使得该控制设备执行上述方法实施例中执行的各个功能或者步骤。
[0200]
本技术实施例还提供一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述方法实施例中控制设备执行的各个功能或者步骤。
[0201]
通过以上实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。
[0202]
在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0203]
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是一个物理单元或多个物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个不同地方。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0204]
另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
[0205]
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术实施例的技术方案本质上
或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0206]
以上内容，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何在本技术揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。