本发明属于集成电路，尤其涉及一种集成电路温度测试系统。
背景技术：
1、在制造电气设备之前，通常先要测试设备，以确定其是否是按设计构建或工作的。通常，该测试由自动电路测试系统。
2、为了使测试系统的结果有意义，系统需要被校准。就是说，测试系统在测试期间可能引入的固有系统误差必须被量化，并且由经校准的比较器读取的信号可以与预期信号相比较以确定它们之间的偏离。一般使用驱动器和比较器在内的经校准的测试头顺序耦合到测试系统的每个信号引脚。但是这样机械公差难以维持，且信号会导致衰减。
技术实现思路
1、为了解决相关技术中的问题，本申请提供了一种集成电路温度测试系统可以保证信号强度，提高校准精度。
2、技术方案如下：
3、一种集成电路温度测试系统，包括：
4、功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；
5、直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；
6、第一校准单元，设置在多个驱动器和比较器之间；
7、第二校准单元，所述第二校准单元包括根据第二组连接关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径；
8、串联的led指示灯和电阻，所述led指示灯的阳极与工件测试位电连接，所述led指示灯的阴极通过所述电阻接地。
9、进一步地，方程组是通过将与信号路径中包括所述驱动器之一的一条参考路径相关联的定时误差设置为缺省值来部分地求解的。
10、进一步地，还包括利用机器人系统将所述第一校准单元和所述第二校准单元放置在所述多个驱动器和比较器之间，以及从所述多个驱动器和比较器之间移除所述第一校准单元和所述第二校准单元。
11、进一步地，所述直流测试模块包括保护子模块和保护电阻，所述保护电阻分别与所述第一校准单元和所述第二校准单元。
12、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。
1.一种集成电路温度测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，方程组是通过将与信号路径中包括所述驱动器之一的一条参考路径相关联的定时误差设置为缺省值来部分地求解的。
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括利用机器人系统将所述第一校准单元和所述第二校准单元放置在所述多个驱动器和比较器之间，以及从所述多个驱动器和比较器之间移除所述第一校准单元和所述第二校准单元。
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述直流测试模块包括保护子模块和保护电阻，所述保护电阻分别与所述第一校准单元和所述第二校准单元。