一种非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法及平台与流程

本技术涉及电场装置检测，具体而言，涉及非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法及平台。

背景技术：

1、验电装置是电场电路检测的常用设备，其检测通常包括对其外观检测、机械性能检测和功能测试，功能测试一般包括启动电压测试、干扰电场测试、耐压测试等，但通常对验电装置的检测一般通过电场加载设备进行测试，再对测试得到的数据进行记录和校核、计量，但缺少一种可对验电装置进行电场加载激励、数据处理校准以及检测数据校核的智能化检测技术，同时也缺乏可实现智能化自动检测技术的平台，也不具备可通过对测试数据结合采集信息获取的干扰数据进行偏差校核的检测偏差度识别技术。

2、针对上述问题，目前亟待有效的技术解决方案。

技术实现思路

1、本技术实施例的目的在于提供一种非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法及平台，可以实现通过平台对验电装置进行干扰激励测试、处理和校准获得装置综合测校偏差数据，判断验电装置的测试结果偏差度是否合规，实现对验电装置的抗干扰能力的测试结果偏差度进行校验判断的技术和平台。

2、本技术实施例还提供了非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法，包括以下步骤：

3、采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据并标记，所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据；

4、采集所述干扰激励数据对应测试时间节点的环控影响数据，包括温湿度数据、气压数据以及磁场屏蔽数据；

5、获取验电装置的型号信息数据，并获取所述验电装置在所述自动测试平台进行激励测试的检测数据集，所述检测数据集包括若干个检测数据，检测数据包括启动电压数据、沿面耐压数据、工频击穿数据以及漏电数据；

6、根据所述干扰激励数据与对应测试时间节点的环控影响数据进行处理获得检测干扰因子；

7、根据所述型号信息数据对应的检测基准数据与所述检测数据进行数据偏差处理，获得干扰偏检数据，包括启动电压偏检数据、沿面耐压偏检数据、工频击穿偏检数据以及漏电偏检数据；

8、根据所述检测干扰因子对对应测试时间节点的所述干扰偏检数据进行系统性偏差修正，获得装置系统偏差数据；

9、根据所述预设测试时间段内若干个检测数据对应的所述装置系统偏差数据进行集合，并结合对应所述型号信息数据进行加权修正获得装置测试综合偏差数据；

10、根据所述装置综合测校偏差数据与预设测校偏差阈值进行阈值对比，判断所述验电装置的抗干扰能力的测试校验的合格性。

11、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据并标记，所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据，包括：

12、采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据；

13、根据所述干扰激励数据在所述预设测试时间段内的测试时间节点进行标记，分别标记为第一干扰激励数据至第n干扰激励数据；

14、其中，标记的所述干扰激励数据至少包括高压干扰激励数据和低压干扰激励数据；

15、所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据。

16、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述获取验电装置的型号信息数据，并获取所述验电装置在所述自动测试平台进行激励测试的检测数据集，所述检测数据集包括若干个检测数据，检测数据包括启动电压数据、沿面耐压数据、工频击穿数据以及漏电数据，包括：

17、获取被测试的验电装置的型号信息数据；

18、将所述验电装置放置在所述自动测试平台中，通过所述干扰激励数据进行激励测试，并获取测试的检测数据集；

19、所述检测数据集包括根据所述第一干扰激励数据至第n干扰激励数据，按照所述验电装置的预设测试项目进行激励测试，获得的对应若干个检测数据；

20、所述检测数据包括启动电压数据、沿面耐压数据、工频击穿数据以及漏电数据。

21、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述根据所述干扰激励数据与对应测试时间节点的环控影响数据进行处理获得检测干扰因子，包括：

22、根据所述干扰激励数据与对应测试时间节点的环控影响数据进行干扰因子计算，获得检测干扰因子，具体包括：

23、根据所述测试时间节点的温湿度数据、气压数据以及磁场屏蔽数据与对应所述电压电场数据和电势分布数据进行计算处理获得检测干扰因子；

24、其中，所述检测干扰因子的计算程序为：

25、

26、其中，χf为检测干扰因子，wr为电压电场数据，kc为电势分布数据，dt为温湿度数据，r0为气压数据、cs为磁场屏蔽数据，ε为平台系统误差系数，η、γ为预设系数。

27、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述根据所述型号信息数据对应的检测基准数据与所述检测数据进行数据偏差处理，获得干扰偏检数据，包括启动电压偏检数据、沿面耐压偏检数据、工频击穿偏检数据以及漏电偏检数据，包括：

28、根据所述验电装置的型号信息数据获得对应的预设检测基准数据；

29、根据所述检测数据与所述检测基准数据进行数据偏差处理，获得干扰偏检数据；

30、所述干扰偏检数据包括启动电压偏检数据、沿面耐压偏检数据、工频击穿偏检数据以及漏电偏检数据。

31、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述根据所述检测干扰因子对对应测试时间节点的所述干扰偏检数据进行系统性偏差修正，获得装置系统偏差数据，包括：

32、根据测试时间节点的所述检测干扰因子对对应的所述干扰偏检数据进行系统性偏差修正，获得装置系统偏差数据；

33、所述获得装置系统偏差数据的校准公式为：

34、

35、其中，fv为装置系统偏差数据，为启动电压偏检数据，为沿面耐压偏检数据，为工频击穿偏检数据、为漏电偏检数据。

36、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法中，所述根据所述预设测试时间段内若干个检测数据对应的所述装置系统偏差数据进行集合，并结合对应所述型号信息数据进行加权修正获得装置测试综合偏差数据，包括：

37、根据所述预设测试时间段内第一干扰激励数据至第n干扰激励数据进行激励测试获得的对应若干个所述装置系统偏差数据进行集合；

38、根据集合获得的装置系统偏差数据集结合所述型号信息数据对应的型号修正因子进行修正，获得装置综合测校偏差数据。

39、第二方面，本技术实施例提供了非接触验电装置抗干扰能力的自动测试平台，该自动测试平台包括：

40、激励模块：发出干扰激励的电场信号给被测的验电装置；

41、采集模块：采集电场信号的若干个干扰激励数据，测试控制环境的环控影响数据；

42、读取模块：读取被测的验电装置的型号信息数据和检测数据；

43、测试校验模块：包括处理器，处理器执行以下处理程序：

44、根据采集的干扰激励数据与环控影响数据进行处理获得检测干扰因子；

45、根据读取的型号信息数据对检测数据进行数据偏差处理，获得干扰偏检数据；

46、根据检测干扰因子对干扰偏检数据进行校准处理，获得装置系统偏差数据，并进行加权修正获得装置测试综合偏差数据；

47、根据装置综合测校偏差数据进行判断被测验电装置的合格性；

48、存储模块：包括存储器，存储器存储来自采集模块、读取模块以及测试校验模块的数据，以及用于非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法的程序。

49、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试平台中，所述非接触验电装置抗干扰能力的自动测试平台在执行自动测试时实现以下步骤：

50、采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据并标记，所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据；

51、采集所述干扰激励数据对应测试时间节点的环控影响数据，包括温湿度数据、气压数据以及磁场屏蔽数据；

52、获取验电装置的型号信息数据，并获取所述验电装置在所述自动测试平台进行激励测试的检测数据集，所述检测数据集包括若干个检测数据，检测数据包括启动电压数据、沿面耐压数据、工频击穿数据以及漏电数据；

53、根据所述干扰激励数据与对应测试时间节点的环控影响数据进行处理获得检测干扰因子；

54、根据所述型号信息数据对应的检测基准数据与所述检测数据进行数据偏差处理，获得干扰偏检数据，包括启动电压偏检数据、沿面耐压偏检数据、工频击穿偏检数据以及漏电偏检数据；

55、根据所述检测干扰因子对对应测试时间节点的所述干扰偏检数据进行系统性偏差修正，获得装置系统偏差数据；

56、根据所述预设测试时间段内若干个检测数据对应的所述装置系统偏差数据进行集合，并结合对应所述型号信息数据进行加权修正获得装置测试综合偏差数据；

57、根据所述装置综合测校偏差数据与预设测校偏差阈值进行阈值对比，判断所述验电装置的抗干扰能力的测试校验的合格性。

58、可选地，在本技术实施例所述的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试平台中，所述采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据并标记，所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据，包括：

59、采集自动测试平台在预设测试时间段内的若干个干扰激励数据；

60、根据所述干扰激励数据在所述预设测试时间段内的测试时间节点进行标记，分别标记为第一干扰激励数据至第n干扰激励数据；

61、其中，标记的所述干扰激励数据至少包括高压干扰激励数据和低压干扰激励数据；

62、所述干扰激励数据包括电压电场数据和电势分布数据。

63、由上可知，本技术实施例提供的非接触验电装置抗干扰能力的自动测试方法及平台，通过采集若干个干扰激励数据和时间节点的环控影响数据，并获取验电装置的检测数据集，根据干扰激励数据与环控影响数据进行处理获得检测干扰因子，根据检测基准数据对检测数据进行数据偏差处理获得干扰偏检数据，再根据检测干扰因子对干扰偏检数据进行校准获得装置系统偏差数据并集合，以及修正获得装置综合测校偏差数据，再与预设测校偏差阈值进行阈值对比判断测试校验的合格性；从而通过平台对验电装置进行干扰激励测试处理和干扰因子偏差处理、校准获得检测数据，并结合与环控影响数据处理获得的检测干扰因子进行偏差处理和校准获得装置系统偏差数据，最后修正获得装置综合测校偏差数据，以进行验电装置的测试结果偏差度的合规判断，实现对验电装置的抗干扰能力的测试结果偏差度进行校验判断的技术和平台。

64、本技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术实施例了解。本技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。