一种连接器通断检测方法、系统及装置与流程

文档序号:34267227发布日期:2023-05-26 19:10阅读:44来源:国知局
一种连接器通断检测方法、系统及装置与流程

本发明涉及低频连接器测试,特别涉及一种连接器通断检测方法、系统及装置。


背景技术:

1、在航天航空系统中,低频连接器有着广泛的用途,小型的低频连接器,例如ch26-4tkb-1.27等产品在电性能出厂检测时,导通测试都是采用单一导通手动测试,但是连接器的外形尺寸小,线芯间隙小,手工测量可靠性差、操作困难,工作效率低,不利于大规模检测。因此,一种自动高效的检测方法有十分重要的意义。


技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种连接器通断检测方法、系统及装置,用以解决现有技术中线芯较多的连接器测试效率低下,线芯间隙小手工测试操作困难,测试时,需要重复交替检测,费时费力的问题。

2、一方面,本发明实施例提供了一种连接器通断检测方法,包括:

3、连接被测连接器的出线到测试公共接口;

4、连接被测连接器的输入端到测试公座;

5、通过单片机控制单元向被测连接器发出测试电平信号;

6、通过单片机控制单元接收所述测试电平信号,根据所述测试电平信号判断被测连接器的通断情况;

7、通过所述单片机控制单元将通断情况发送到lcd显示单元。

8、在一种可能的实现方式中,所述测试电平信号输入被测连接器的每个线芯。

9、在一种可能的实现方式中,所述测试公座有多个,多个所述测试公座各有一个唯一公座编号。

10、另一方面,本发明实施例提供了一种连接器通断检测系统,包括:

11、单片机控制单元,用于将测试电平信号输入被测试连接器;

12、信号采集模块,用于采集被测试连接器中通过的测试电平信号,所述单片机控制单元根据所述测试电平信号判断被测连接器的通断情况;

13、lcd显示单元,用于显示被测连接器的通断结果。

14、在一种可能的实现方式中,所述单片机控制单元判断被测连接器的通断情况时,通过串口通信方式识别每一个通道的高低电平,实现通断的判断。

15、另一方面,本发明实施例提供了一种连接器通断检测装置,包括:通断测试器主体1,所述通断测试器主体上设置有测试公座、测试公共接口、单片机模块和lcd显示屏,所述lcd显示屏上设置有启动键和复位键,所述测试公座上设置有测试线芯,所述单片机模块分别与所述测试线芯、测试公共接口电连接和lcd显示屏电连接。

16、在一种可能的实现方式中,所述测试公座设置有多个,每个所述测试公座上都设置有多个测试线芯。

17、在一种可能的实现方式中,所述测试线芯按所属位置设置编号,所述单片机模块输出的测试电平信号根据编号依次通过所述测试线芯。

18、本发明中的一种连接器通断检测方法、系统及装置,具有以下优点:

19、(1)本发明有效减少了手工测量可靠性差、操作困难的问题。

20、(2)本发明实现了批量测试,方便携带,极大地提高了产品测试效率。



技术特征:

1.一种连接器通断检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种连接器通断检测方法,其特征在于,所述测试电平信号输入被测连接器的每个线芯。

3.根据权利要求1所述的一种连接器通断检测方法,其特征在于,所述测试公座有多个,多个所述测试公座各有一个唯一公座编号。

4.一种连接器通断检测系统,其特征在于,包括:

5.根据权利要求4所述的一种连接器通断检测系统,其特征在于,所述单片机控制单元判断被测连接器的通断情况时,通过串口通信方式识别每一个通道的高低电平,实现通断的判断。

6.一种连接器通断检测装置,其特征在于,包括:通断测试器主体(1),所述通断测试器主体(1)上设置有测试公座(2)、测试公共接口(3)、单片机模块(4)和lcd显示屏(5),所述lcd显示屏(5)上设置有启动键(6)和复位键(7),所述测试公座(2)上设置有测试线芯(21),所述单片机模块(4)分别与所述测试线芯(21)、测试公共接口(3)电连接和lcd显示屏(5)电连接。

7.根据权利要求6所述的一种连接器通断检测装置,其特征在于,所述测试公座(2)设置有多个,每个所述测试公座(2)上都设置有多个测试线芯(21)。

8.根据权利要求7所述的一种连接器通断检测装置,其特征在于,所述测试线芯(21)按所属位置设置编号,所述单片机模块(4)输出的测试电平信号根据编号依次通过所述测试线芯(21)。


技术总结
本发明公开了一种连接器通断检测方法、系统及装置,方法包括:连接被测连接器的出线到测试公共接口;连接被测连接器的输入端到测试公座;通过单片机控制单元向被测连接器发出测试电平信号;通过单片机控制单元接收所述测试电平信号,根据所述测试电平信号判断被测连接器的通断情况;通过所述单片机控制单元将通断情况发送到LCD显示单元。本发明有效减少了手工测量可靠性差、操作困难的问题,本发明实现了批量测试,极大地提高了产品测试效率。

技术研发人员:任永珊,朱颖,杨戈,韩少宸,周妤,周钰杰,王飞,陈平易,高辉,梁雪,李照,刘威,贺立龙
受保护的技术使用者:西安创联电气科技(集团)有限责任公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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