测试治具的制作方法

1.本实用新型涉及测试技术领域，具体涉及一种测试治具。


背景技术：

2.现有技术的测试治具通过在上治具和下治具四周涂抹硅胶，待硅胶固化后达到密封的作用，然而在涂抹硅胶时很容易不均匀或涂抹不到位而导致产生缺陷而造成漏气，在使用过程中若测试治具漏气，修理周期较长，而且需要刮掉硅胶再重新涂抹，很是不方便，而且现有中测试治具的探针一般与测试板焊接连接，若测试板或单个探针故障时，无法单独拆卸维修，只能整体更换导致测试治具拆卸维修不便。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种测试治具，密封效果好，且拆卸和维修方便。
4.根据本实用新型实施例的测试治具包括上治具，所述上治具包括探针定位板、测试板和压板，所述探针定位板用于固定多个探针，所述多个探针的一端从所述探针定位板伸出，所述多个探针的另一端对应连接至所述测试板，所述压板与所述探针定位板连接以将所述测试板固定在所述压板与所述探针定位板之间，并与所述多个探针连接接触；下治具，所述下治具包括底板和用于放置测试部件的放置板，所述放置板固定在所述底板上；所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间中的至少一处设有密封件。
5.根据本实用新型的一些实施例，所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间均设有密封件。
6.根据本实用新型的一些实施例，所述探针定位板包括探针主定位板和探针辅定位板，所述多个探针穿设在所述探针主定位板上，所述探针辅定位板设有多个探针孔，所述探针主定位板与所述探针辅定位板连接且所述多个探针穿过所述多个探针孔与所述测试板连接接触。
7.根据本实用新型的一些实施例，所述探针定位板与所述测试板之间设有第一密封件，所述探针辅定位板设有环绕所述多个探针孔的凹槽，所述第一密封件位于所述凹槽内。
8.根据本实用新型的一些实施例，所述探针辅定位板设有暴露所述多个探针孔的安装槽，所述测试板和所述压板至少部分位于所述安装槽内以与所述探针辅定位板固定连接。
9.根据本实用新型的一些实施例，所述上治具和所述下治具之间设有第二密封件，所述第二密封件形成为环绕所述多个探针的环形密封圈。
10.根据本实用新型的一些实施例，所述探针定位板和所述底板中的一个上设有定位槽，所述第二密封件设在所述定位槽内。
11.根据本实用新型的一些实施例，所述底板与所述放置板之间设有第三密封件，所
述底板设有容纳所述第三密封件的容纳槽，所述第三密封件沿所述放置板的外边缘延伸且压紧在所述放置板与所述底板之间。
12.根据本实用新型的一些实施例，所述放置板包括板体和加热装置，所述加热装置设在所述板体内以为位于所述放置板上的所述测试部件提供测试温度。
13.根据本实用新型的一些实施例，所述加热装置包括多个加热棒和热电偶，所述多个加热棒沿所述板体的长度方向均匀间隔设置，所述热电偶设在所述板体上以用于检测测试温度。
14.由此根据本实用新型实施例的测试治具，通过压板将测试板与探针定位板压紧固定，使得多个探针与测试板连接接触，从而不需要将探针与测试板焊接，每个探针可单独拆卸，单个探针测试故障或测试板损坏时，可分别单独拆卸维修，而不需要将探针定位板和测试板整体更换，维修方便且能够减少成本。
15.而且测试治具的各部件之间通过密封件密封，而不需要通过涂抹硅胶，装配方便且操作要求低，也能够避免硅胶涂抹不均匀导致的漏气，在进行维修时，也不需要将硅胶刮掉重新涂抹，方便拆卸和维修。
附图说明
16.图1为根据本实用新型实施例的测试治具的上治具的结构示意图；
17.图2为根据本实用新型实施例的测试治具的下治具的结构示意图；
18.图3为根据本实用新型实施例的测试治具的放置板的结构示意图。
19.附图标记：
20.10：上治具，20：下治具；
21.1：探针定位板，11：探针主定位板，12：探针辅定位板，13：探针，14：凹槽，15：安装槽，16：容纳槽；2：测试板，3：压板；
22.4：底板，5：放置板，51：板体，52：加热装置，53：热电偶，54：加热棒，55：走线槽；
23.61：第一密封件，62：第二密封件，63：第三密封件，64：第四密封件；7：测试部件。
具体实施方式
24.以下结合附图和具体实施方式对本实用新型提出的一种测试治具作进一步详细说明。
25.下面参考附图1-图3描述根据本实用新型实施例的测试治具，所述测试治具可用于对pcb板以及传感器等进行检测。
26.根据本实用新型实施例的测试治具可以包括上治具10和下治具20，下治具20和上治具10分别位于测试部件7的两侧，测试部件7位于上治具10和下治具20之间以进行测试，其中上治具10可位于下治具20的上方，也可位于下治具20的下方，下治具20和上治具10可根据需要设置，为了方便描述本实施例中以上治具10位于下治具20的上方为例进行描述。
27.上治具10包括多个探针13、探针定位板1、测试板2和压板3，探针定位板1用于固定多个探针13，多个探针13的一端从探针定位板1伸出，多个探针13的另一端对应连接至测试板2，压板3与探针定位板1连接以将测试板2固定在压板3与探针定位板1之间，并与多个探针13连接接触。
28.如图1所示，多个探针13呈阵列分布穿设在探针定位板1上，多个探针13的下端伸出探针定位板1以适于与放置在下治具20的测试部件7连接，测试板2位于多个探针13的上方并与探针定位板1固定连接，多个探针13的上端与测试板2连接接触，压板3设在测试板2上并将测试板2与探针定位板1压紧固定。可选地，压板3、测试板2和探针定位板1可通过螺纹紧固件连接，例如可通过螺钉穿过压板3、测试板2和探针定位板1以将压板3、测试板2和探针定位板1固定连接，从而使得探针13能够与测试板2紧密接触，防止探针13与测试板2接触不良而导致测试结果不准确，同时不需要将探针13与测试板2焊接，使得每个探针13均能够单独拆卸，也方便测试治具的维修和探针13的更换，在探针13与测试板2出现故障时，可不需要将探针定位板1、探针13以及测试板2整体更换，也能够减少成本。进一步地，探针13可以为双头探针13。
29.下治具20包括底板4和用于放置测试部件7的放置板5，放置板5固定在底板4上，下治具20可用于承载测试部件7，以为测试部件7提供测试平台和测试环境，在对测试部件7进行测试时，上治具10与下治具20结合以为测试部件7提供密封的测试空间，使得测试探针13和测试部件7位于一定压力测试环境内，例如，上治具10可压紧下治具20，多个探针13的下端与测试部件7接触，多个探针13和测试部件7位于上治具10和下治具20的密封环境内进行测试，以提高测试的准确性。
30.具体地，上治具10与下治具20之间、压板3与测试板2之间、测试板2与探针定位板1之间、底板4和放置板5之间中的至少一处设有密封件，也就是说，上治具10与下治具20之间、压板3与测试板2之间、测试板2与探针定位板1之间、底板4和放置板5之间中的一处、两处、三处或均都可以设置密封件以密封多个部件之间的装配间隙，这样通过密封件对测试治具各部件之间进行密封，能够防止探针13和测试部件7的测试环境受外界干扰，同时也能够避免测试治具发生漏气导致测试环境压力不稳，而影响测试结果。其中所述密封件可以为环形封闭的密封圈，以提高密封效果。
31.由此根据本实用新型实施例的测试治具，通过压板3将测试板2与探针定位板1压紧固定，使得多个探针13与测试板2连接接触，从而不需要将探针13与测试板2焊接，每个探针13可单独拆卸，单个探针13测试故障或测试板2损坏时，可分别单独拆卸维修，而不需要将探针定位板1和测试板2整体更换，维修方便且能够减少成本。
32.而且测试治具的各部件之间通过至少一个密封件密封，不仅能够提高密封效果，而且可不需要通过涂抹硅胶进行密封，装配方便且操作要求低，也能够避免硅胶涂抹不均匀导致的漏气，在进行维修时，也不需要将硅胶刮掉重新涂抹，方便拆卸和维修。
33.在本实用新型的一些实施例，上治具10与下治具20之间、压板3与测试板2之间、测试板2与探针定位板1之间、底板4和放置板5之间均设有密封件，从而能够进一步地提高测试治具的密封效果，以为测试部件7和探针13提供更好的密封环境，防止测试治具漏气而影响测试效果。在结合图1和图2所示的示例中，探针定位板1与测试板2之间设有第一密封件61，上治具10和下治具20之间设有第二密封件62，底板4与放置板5之间设有第三密封件63，压板3与测试板2之间设有第四密封件64，其中，第一密封件61、第二密封件62、第三密封件63和第四密封件64均形成为封闭环形密封圈。
34.在本实用新型的一些实施例，探针定位板1包括探针主定位板11和探针辅定位板12，多个探针13穿设在探针主定位板11上，探针辅定位板12设有多个探针孔，探针主定位板
11与探针辅定位板12连接且多个探针13穿过多个探针孔与测试板2连接接触。具体地，探针主定位板11设有多个定位孔，多个探针13穿设在定位孔内并与探针定位板1可拆卸连接，探针13辅助定位板设有多个与探针13一一对应的探针孔，探针主定位板11与探针辅定位板12，以使得多个探针13一一穿过对应探针孔并与测试板2连接，由此通过探针主定位板11能够对多个探针13进行定位安装，测试板2与探针辅定位板12固定，通过探针辅定位板12从而使得探针13能够与测试板2位置对应连接接触，防止探针13与测试板2连接发生偏差。
35.如图1所示，探针定位板1与测试板2之间可设有第一密封件61，探针辅定位板12设有环绕多个探针13孔的凹槽14，第一密封件61位于凹槽14内，通过凹槽14能够对第一密封件61进行限位，防止第一密封件61移动而影响密封效果，凹槽14可环绕多个探针13孔的外周延伸，使得第一密封件61环绕多个探针13孔密封多个探针13。
36.可选地，探针辅定位板12设有暴露多个探针13孔的安装槽15，测试板2和压板3至少部分位于安装槽15内以与探针辅定位板12固定连接，具体地，辅助定位板设有顶部敞开的安装槽15，多个探针13孔形成在安装槽15的底壁上，凹槽14形成在安装槽15内且环绕多个探针13孔设置，测试板2至少部分置于安装槽15内以便于与多个探针13对应连接，压板3压紧在测试板2上，由此不仅有利于测试板2、压板3和探针辅定位板12的安装，而且通过安装槽15能够有利于测试板2的预装配以限定测试板2的安装位置。
37.在本实用新型的一些实施例中，上治具10和下治具20之间设有第二密封件62，第二密封件62形成为环绕多个探针13的环形密封圈，这样通过第二密封件62可对上治具10和下治具20之间的间隙进行密封，具体地，上治具10朝向下治具20移动以将探针13与测试部件7连接测试时，第二密封件62压紧在上治具10和下治具20之间以在上治具10和下治具20之间提供稳定的密封环境。可选地，第二密封件62可具有一预设厚度，使得上治具10和下治具20之间通过第二密封件62压紧，而上治具10和下治具20之间不直接接触，这样，从而能够防止上治具10和下治具20压紧接触导致损坏，而且第二密封件62也能够起到一定的缓冲作用，使得探针13能够与测试部件7接触的同时，防止探针13与测试部件7之间压力过大而导致测试部件7或探针13损坏。
38.进一步地，探针定位板1和底板4中的一个上设有定位槽，第二密封件62设在定位槽内，换言之，探针定位板1朝向下治具20的一侧设有定位槽，或底板4朝向探针定位板1的一侧设有定位槽，第二密封件62固定在定位槽内，通过定位槽从而能够对第二密封件62定位固定，避免第二密封件62发生移动，其中定位槽可环绕多个探针13延伸设置，或者定位槽可环绕放置板5的外周延伸设置，以使得多个探针13和测试部件7位于第二密封件62内。
39.在本实用新型的一些实施例中，底板4与放置板5之间设有第三密封件63，底板4设有容纳第三密封件63的容纳槽16，第三密封件63沿放置板5的外边缘延伸且压紧在放置板5与底板4之间，由此，通过第三密封件63可对放置板5和底板4之间的装配间隙密封，以防止放置板5和底板4之间发生漏气，第三密封件63环绕放置板5用于放置测试部件7的区域设置，以使得测试部件7位于第三密封件63密封的环境内，第三密封件63的形状可与放置板5的外边缘的形状相适配，其中第三密封件63可略小于放置板5的外边缘，使得第三密封件63能够压紧在放置板5和底板4之间。
40.在本实用新型的一些实施例中，如图3所示，放置板5可以包括板体51和加热装置52，加热装置52设在板体51内以为位于放置板5上的测试部件7提供测试温度，具体地，通过
加热装置52可对测试部件7进行加热，使得测试部件7能够在一定温度下进行测试，其中加热装置52可嵌设在板体51内，加热装置52对板体51进行加热，测试部件7位于板体51上，通过板体51可向测试部件7传递热量，由此，通过加热装置52可为测试部件7提供测试温度，而密封件密封测试治具以为测试部件7提供密封的环境，通过向密封环境内通入气体可调整测试部件7所处环境的压力，从而能够为测试部件7提供具有一定压力和温度的测试环境。可选地，加热装置52的温度可调，例如通过调节加热装置52使得测试环境能够在2℃-100℃的温度环境下进行测试。
41.在本实用新型的一些具体示例中，加热装置52包括多个加热棒54和热电偶53，多个加热棒54用于产生热量，多个加热棒54沿板体51的长度方向均匀间隔设置，从而能够保证为测试部件7提供的测试温度的均匀性，多个加热棒54可嵌设在板体51内，板体51上形成有走线槽55，加热棒54的外接线束通过走线槽55与外部器件连接，热电偶53设在板体51上以用于检测测试温度，从而根据热电偶53检测的温度可调整加热棒54的加热效果，以能够为测试部件7提供特定测试温度。
42.在本实用新型的一些实施例中，测试治具还可以包括工作台和驱动装置，下治具20可固设在工作台上，驱动装置可与上治具10连接，以用于驱动上治具10在朝向下治具20和远离下治具20的方向移动，具体地，测试部件7置于放置板5上，驱动装置驱动上治具10朝向下治具20移动，并使得上治具10压设在下治具20上，驱动装置不仅能够驱动上治具10移动，也能够为上治具10提供压力以使得上治具10与下治具20之间紧密连接以为测试部件7提供密封的测试环境。可选地，驱动装置可驱动上治具10压紧在第二密封件62上。
43.以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。