对插装置、测试设备及测试载具的制作方法

1.本技术属于显示技术领域，更具体地说，是涉及一种对插装置、测试设备及测试载具。


背景技术：

2.对于cob(chip on board，板上芯片封装)模组、smd(surface mounted devices，表面贴装器件)模组等显示单元，在生产后，往往需要进行光学处理，其中，光学处理包括多种处理，例如，显示单元校正、显示单元均匀性评测、显示单元缺陷评测等等。对显示单元进行处理时往往需要多次点亮测试。当前显示单元在每次处理处理测试时，均需要将对插件与显示单元对位，以与显示单元的插口插接，导致处理效率低。


技术实现要素：

3.本技术实施例的目的在于提供一种对插装置，以解决现有技术中存在的显示单元在处理测试时，需要经常定位插接，处理测试效率低的问题。
4.为实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案是：提供一种对插装置，包括：
5.定位机构，用于对显示单元进行定位；
6.插接机构，用于支撑测试载具，并推动所述测试载具移动以使所述测试载具上的接插件与所述显示单元的插口插接相连，所述测试载具上设有显示单元用于与显示单元控制器连接的测试触点，所述接插件与所述测试触点电连接；以及，
7.移送机构，用于将所述定位机构定位后的所述显示单元移动至所述插接机构上支撑的所述测试载具上。
8.在一个可选实施例中，所述插接机构包括顶升组件，所述顶升组件包括用于定位与支撑所述测试载具的定位支板和驱动所述定位支板升降移动的顶升器，所述定位支板安装于所述顶升器的驱动端。
9.在一个可选实施例中，所述插接机构还包括分别支撑所述测试载具相对两端的两套传送组件、支撑所述传送组件的支架和驱动所述传送组件运行的驱动结构，所述驱动结构安装于所述支架上，所述顶升组件设于两套所述传送组件之间。
10.在一个可选实施例中，所述插接机构还包括驱动所述支架升降移动的升降驱动器和支撑所述升降驱动器的立板，所述支架滑动安装于所述立板上，所述顶升器安装于所述支架上。
11.在一个可选实施例中，所述定位机构包括定位板、用于配合支撑与定位所述显示单元边缘的多个定位块和用于推顶所述显示单元相邻两侧的两个定位气缸，各所述定位块及各所述定位气缸均安装于所述定位板上。
12.在一个可选实施例中，所述移送机构包括用于吸附所述显示单元的吸附件、驱动所述吸附件升降移动的升降器和驱动所述吸附件往返于所述定位机构与所述插接机构的直线移动机构，所述吸附件安装于所述升降器上，所述升降器安装于所述直线移动机构上。
13.在一个可选实施例中，所述直线移动机构包括横跨所述定位机构设置的滑板、支撑并驱动所述滑板一端直线移动的直线移动器、支撑所述滑板另一端的支座和引导所述支座直线移动的滑轨，所述滑轨平行于所述直线移动器的行进方向设置，所述升降器安装于所述滑板上。
14.本技术实施例的另一目的在于提供一种测试设备，包括：
15.如上任一实施例所述的对插装置；以及，
16.测试机构，包括用于定位所述测试载具边缘的定位框，所述定位框上安装有用于接触所述测试载具上的所述测试触点的测试探针。
17.在一个可选实施例中，所述测试机构还包括分别支撑所述定位框的相对两端的支撑座和配合夹持定位所述测试载具相对两端的夹持气缸，两个所述夹持气缸安装于两个所述支撑座上。
18.在一个可选实施例中，所述测试设备还包括推顶机构，所述推顶机构用于支撑并推动所述测试载具上升以使所述测试载具上的所述测试触点与所述测试探针接触，所述推顶机构设于所述定位框的下方。
19.本技术实施例的又一目的在于提供一种测试载具，包括呈矩形框状的架体，所述架体的中间设置有中位支架，所述中位支架设置有接插件以及第一插接件，所述架体的相对两端分别形成第一支架和第二支架，所述第一支架与所述第二支架上均设置有第二插接件和测试触点，所述接插件与所述第一插接件电连接，各所述第二插接件与对应所述测试触点为电连接，所述接插件用于与显示单元的插口插接相连，所述第一插接件用于与所述第一支架上的第二插接件和所述第二支架上的第二插接件之一电连接，所述测试触点用于与显示单元控制器电连接。
20.在一个可选实施例中，所述接插件和所述测试触点的朝向相同；和/或，
21.所述第一插接件的相对两侧均设有插接口，各所述第二插接件均朝向所述中间架体的方向设置；和/或，
22.所述第一插接件和所述第二插接件的类型为排线插接件；和/或，
23.所述架体上设置有第一pcb板、第二pcb板和第三pcb板，所述第一pcb板设置于所述中位支架上，所述第一pcb板与所述接插件和所述第一插接件电连接，所述第二pcb板设于所述第一支架上，所述第三pcb板设于所述第二支架上，所述第一支架上的所述第二插接件及所述测试触点与所述第二pcb板电连接，所述第二支架上的所述第二插接件及所述测试触点与所述第三pcb板电连接。
24.本技术实施例提供的对插装置的有益效果在于：与现有技术相比，本技术实施例的对插装置，设置定位机构将显示单元进行定位，通过移送机构将定位后的显示单元移动到插接机构处，通过插接机构驱动测试载具升降，以使测试载具上的接插件与显示单元的插口插接相连，一方面测试载具上具有接插件，使得后续如果想点亮显示单元可以通过测试载具上的测试触点进行点亮，无需对显示单元上的插口反复对插，能够以提升插接的精度与效率，进而提升处理测试效率；另外，在测试载具上设置与接插件电连接的测试触点，从而测试机构可以通过测试触点来与显示单元电连接，以进行测试点亮，这样只需一次对插接，可以通过测试载具实现多次测试点亮，以更好的保护显示单元的插口，提升处理测试效率。
25.本技术实施例提供的测试设备的有益效果在于：与现有技术相比，本技术实施例的测试设备，使用了上述实施例的对插装置，测试效率高，并且可以良好保护显示单元的插口。
26.本技术实施例提供的测试载具的有益效果在于：与现有技术相比，本技术实施例的测试载具，设置矩形框状的架体，并在架体的中间设置中位支架，而架体的两端形成第一支架和第二支架，在中位支架上设置接插件和第一插接件，在第一支架和第二支架上均设置第二插接件和测试触点，在使用时，可以将插接件与显示单元的插口插接，而测试触点可以与显示单元控制器电连接，以进行测试点亮，这样只需一次对插接，可以通过测试载具实现多次测试点亮，以更好的保护显示单元的插口，提升处理测试效率。
附图说明
27.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
28.图1为本技术实施例提供的对插装置的结构示意图；
29.图2为本技术实施例提供的定位机构的结构示意图；
30.图3为本技术实施例提供的移送机构的结构示意图；
31.图4为测试载具支撑于插接机构上的结构示意图；
32.图5为本技术实施例提供的测试载具的结构示意图；
33.图6为本技术实施例提供的插接机构的结构示意图一；
34.图7为本技术实施例提供的插接机构的结构示意图二；
35.图8为本技术实施例提供的测试设备的俯视结构示意图；
36.图9为本技术实施例提供的测试机构与推顶机构组合的结构示意图；
37.图10为本技术实施例提供的测试载具安装于测试机构中的结构示意图。
38.其中，图中各附图主要标记：
39.1000-测试设备；
40.100-对插装置；
41.10-机架；
42.20-定位机构；21-定位板；211-凹槽；212-避让开口；22-定位块；221-阶梯槽；23-定位气缸；231-推块；
43.30-移送机构；31-吸附件；32-升降器；33-直线移动机构；331-直线移动器；332-滑板；333-支座；334-滑轨；
44.40-插接机构；41-顶升组件；411-定位支板；4111-定位销；412-顶升器；42-传送组件；43-驱动结构；431-驱动轴；432-驱动电机；433-传动组件；44-支架；45-升降驱动器；46-立板；47-竖向轨；
45.50-测试载具；51-架体；511-第一支架；512-第二支架；513-中位支架；514-定位套；521-接插件；522-第一插接件；531-第二插接件；532-测试触点；541-第一pcb板；542-第二pcb板；543-第三pcb板；
46.60-测试机构；61-定位框；611-定位轴；62-测试探针；63-缓冲器；64-支撑座；65-夹持气缸；651-支撑块；
47.70-推顶机构；71-推顶板；72-推顶器；
48.91-显示单元。
具体实施方式
49.为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
50.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
51.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。
52.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
53.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
54.在本技术说明书中描述的参考“一个实施例”、“一些实施例”或“实施例”意味着在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。此外，在一个或多个实施例中，可以以任何合适的方式组合特定的特征、结构或特性。
55.本技术中还使用到的英文缩写对应的中文及英语原文如下：
56.pcb，英文：printed circuit board；中文：印刷电路板或印刷线路板。
57.请参阅图1、图4和图5，现对本技术提供的对插装置100进行说明。所述对插装置100，包括定位机构20、测试载具50、插接机构40和移送机构30。其中，
58.定位机构20用于对显示单元91进行定位。通过定位机构20对显示单元91定位，以提升对插的精度与准确性，并且方便对插，提升效率。
59.测试载具50用于支撑显示单元91，并且测试载具50上有接插件521和测试触点
532，测试触点532与接插件521电连接，而接插件521与显示单元91的插口插接，以实现将测试触点532与显示单元91电连接。另外，当接插件521与显示单元91的插口插接后，显示单元91可以支撑在测试载具50上，这样将测试载具50与显示单元91形成一体。在后序测试时，可以通过接触测试载具50的测试触点532，以连接显示单元91电连接，进而在测试时，无需与显示单元91进行对插，这样可以仅插装一次，以保护显示单元91的插口；由于仅需要对插一次，这样可以提升处理测试的效率。
60.插接机构40用于支撑测试载具50，并且插接机构40还推动测试载具50移动，以使测试载具50上的接插件521与显示单元91的插口插接相连。移送机构30用于将定位机构20定位后的显示单元91移动至插接机构40上支撑的测试载具50上。
61.该对插装置100在使用时，测试载具50支撑在插接机构40上，而显示单元91置于定位机构20上，通过定位机构20对显示单元91进行定位，然后移送机构30将定位机构20中定位好的显示单元91移动到插接机构40，插接机构40推动测试载具50移动，以使测试载具50上的接插件521与显示单元91的插口插接相连，实现测试载具50与显示单元91的快速、精准、自动对插连接，提升对插效率，以便后序进行点亮测试，进而提升显示单元91的处理测试效率。
62.本技术实施例提供的对插装置100，与现有技术相比，本技术实施例的对插装置100，设置定位机构20将显示单元91进行定位，通过移送机构30将定位后的显示单元91移动到插接机构40处，通过插接机构40驱动测试载具50升降，以使测试载具50上的接插件521与显示单元91的插口插接相连，一方面测试载具50上具有接插件521，使得后续如果想点亮显示单元91可以通过测试载具50上的测试触点532进行点亮，无需对显示单元90上的插口反复对插，能够以提升插接的精度与效率，进而提升处理测试效率；另外，在测试载具50上设置与接插件521电连接的测试触点532，从而测试机构60可以通过测试触点532来与显示单元91电连接，以进行测试点亮，这样只需一次对插接，可以通过测试载具50实现多次测试点亮，以更好的保护显示单元91的插口，提升处理测试效率。
63.在一个实施例中，请参阅图1，对插装置100还包括机架10，定位机构20、插接机构40和移送机构30均安装在机架10上，以通过机架10来支撑定位机构20、插接机构40和移送机构30，方便该对插装置100的安装使用。
64.在一个实施例中，请参阅图1和图2，定位机构20包括定位板21、多个定位块22和两个定位气缸23。各定位块22及各定位气缸23均安装于定位板21上，通过定位板21来支撑定位块22与定位气缸23。在定位时，显示单元91的边缘支撑在定位块22上，通过多个定位块22来配合支撑显示单元91，而两个定位气缸23推动显示单元91的相邻两侧，以实现与定位块22配合来对显示单元91进行定位。使用多个定位块22来配合支撑显示单元91，可以将显示单元91悬置，避免定位板21碰撞到显示单元91的插口。而使用两个定位气缸23推动显示单元91的相邻两侧来定位显示单元91，以降低成本，提升效率。
65.可以理解地，也可以设置四个定位气缸23，分别推顶显示单元91的四侧，以定位显示单元91。
66.在一个实施例中，可以在定位板21上设置凹槽211，而定位块22可以设置在凹槽211的边缘，在定位块22支撑显示单元91时，显示单元91的插口可以置于凹槽211中，以更好的避开显示单元91的插口。
67.在一个实施例中，可以在定位板21上对应于显示单元91的插口的位置开设避让开口212，以避免碰撞到显示单元91的插口。
68.在一个实施例中，定位块22为四个，四个定位块22用于配合支撑显示单元91的四角，以方便支撑与定位显示单元91。如可以使用四个l型的定位块22，以支撑住显示单元91的四角，并且在定位气缸23推动显示单元91的相邻两侧时，远离两个定位气缸23的定位块22可以作为定位基准，以进行定位。可以理解地，也可以设置四个长条状的块状件，以分别支撑与定位显示单元91的四侧。
69.在一个实施例中，可以在定位块22上设置阶梯槽221，通过阶梯槽221的底面来支撑显示单元91，而阶梯槽221的侧面来定位显示单元91。
70.在一个实施例中，各定位气缸23的驱动端安装有推块231，以便推动显示单元91，并且还可以起到保护显示单元91的作用。
71.在一个实施例中，可以将定位板21安装在机架10上，以将定位机构20安装在机架10上。
72.在一个实施例中，请参阅图1和图3，移送机构30包括吸附件31、升降器32和直线移动机构33，吸附件31安装于升降器32上，升降器32安装于直线移动机构33上。直线移动机构33驱动升降器32往复于定位机构20与插接机构40，进而带动吸附件31往返于定位机构20与插接机构40。而吸附件31用于吸附显示单元91，以便移动显示单元91。升降器32驱动吸附件31升降移动。这样当定位机构20将显示单元91定位后，直线移动机构33驱动升降器32及吸附件31移动至定位机构20处的显示单元91的上方，升降器32驱动吸附件31下降至显示单元91，以吸附显示单元91，然后升降器32驱动吸附件31带动显示单元91上升，以与定位机构20分离，之后直线移动机构33驱动升降器32及吸附件31移动至插接机构40，升降器32驱动吸附件31下降，以带动显示单元91下降，而插接机构40推动测试载具50上升，以支撑显示单元91，并使测试载具50的接插件521与显示单元91的插口插接，从而实现显示单元91的自动定位移动，保证插接的效率与准确性。
73.在一个实施例中，吸附件31可以为吸盘、吸板等可附件显示单元91的结构件。
74.在一个实施例中，升降器32可以使用气缸。当然，升降器32也可以使用直线电机、丝杆螺母机构等线性模块。
75.在一个实施例中，直线移动机构33包括滑板332、直线移动器331、支座333和滑轨334，滑轨334平行于直线移动器331的行进方向设置，而滑板332横跨定位机构20设置，滑板332的两端分别支撑在支座333和直线移动器331上，以稳定支撑住滑板332，升降器32安装在滑板332上，以平稳支撑滑板332。支座333滑动安装在滑轨334上，通过滑轨334来引导支座333移动，而直线移动器331驱动滑板332一端直线移动，以带动升降器32直线移动。该直线移动机构33可以平稳支撑与带动升降器32直线移动。可以理解地，直线移动机构33也可以仅使用直线移动器331，以驱动升降器32直线移动。
76.在一个实施例中，直线移动器331可以为直线电机、丝杆螺母机构、齿轮齿条机构、直线气缸等线性模块。
77.在一个实施例中，可以将直线移动器331和滑轨334安装在机架10上，以将移送机构30安装在机架10上。
78.在一个实施例中，请参阅图1、图5和图7，插接机构40包括顶升组件41，顶升组件41
用于推动测试载具50升降移动，以便当移送机构30将显示单元91移动到插接机构40处时，顶升组件41可以推动测试载具50向显示单元91移动，以将测试载具50上的接插件521与显示单元91的插口对插连接。
79.在一个实施例中，请参阅图4、图6和图7，顶升组件41包括定位支板411和顶升器412，定位支板411用于定位测试载具50，并且支撑测试载具50，以便推动测试载具50升降移动。定位支板411安装于顶升器412的驱动端，以通过顶升器412驱动定位支板411升降移动，进而带动定位支板411上的测试载具50升降移动。该顶升组件41结构简单，成本低，插接效率高。
80.在一个实施例中，顶升器412可以使用气缸。当然，顶升器412也可以使用直线电机、丝杆螺母机构等线性模块。
81.在一个实施例中，请参阅图4、图5和图6，测试载具50上设有定位套514，而定位支板411上设有定位销4111，在将测试载具50置于定位支板411上时，定位销4111插入对应定位套514中，以对测试载具50进行定位，定位方便，也便于拆卸。可以理解地，也可以在定位支板411上设置定位凸，而在测试载具50上设置定位槽，以配合实现定位。
82.在一个实施例中，请参阅图4、图6和图7，插接机构40还包括两套传送组件42、支架44和驱动结构43，传送组件42安装在支架44上，驱动结构43安装于支架44上，通过支架44来支撑驱动结构43与传送组件42，顶升组件41设于两套传送组件42之间。两套传送组件42间隔设置，用于支撑测试载具50的相对两端，而顶升组件41设于两套传送组件42之间，以方便推动测试载具50平稳升降移动。设置传送组件42，可以实现测试载具50的自动上料与自动下料，提升效率，也就是说，可以通过传送组件42将测试载具50传动到顶升组件41上方，以实现自动上料，而顶升组件41的顶升器412推动定位支板411上升，以定位与支撑测试载具50，再将测试载具50与移送机构30传送的显示单元91连接，然后顶升器412驱动定位支板411下降，而将测试载具50置于传送组件42上，然后传送组件42将测试载具50输送出，以实现自动下料。
83.在一个实施例中，传送组件42为带传送组件。可以理解地，传送组件42也可以使用链传送组件、同步滚轮组件、齿带组件等等。
84.在一个实施例中，请参阅图4、图6和图7，驱动结构43包括驱动电机432、驱动轴431和传动组件433，驱动轴431连接两套传送组件42，以带动两套传送组件42运行，而传动组件433连接驱动轴431与驱动电机432，以通过驱动电机432来带动驱动轴431转动，进而带动两个传送组件42运行，成本低，并且可以方便保持两个传送组件42同步运行。可以理解地，也可以设置两个驱动电机432，通过两个驱动电机432分别驱动两个传送组件42运行。使用传动组件433，以便驱动电机432连接驱动轴431，并且方便驱动电机432的位置布局。当然，也可以将驱动轴431直接与驱动电机432相连。驱动电机432安装在支架44上，以通过支架44来支撑住驱动电机432。
85.在一个实施例中，传动组件433可以使用带传动组件、链传动组件、齿轮组等等。
86.在一个实施例中，请参阅图4、图6和图7，插接机构40还包括升降驱动器45和立板46，升降驱动器45安装在立板46上，通过立板46来支撑升降驱动器45。顶升器412安装于支架44上。支架44滑动安装于立板46上，支架44与升降驱动器45的移动端相连，通过升降驱动器45来驱动支架44升降，进而带动传送组件42与顶升组件41升降移动，这样可以方便调整
传送组件42的高度，以便向传送组件42上下料。可以理解地，插接机构40也可以不设置升降驱动器45，这样直接使用传送组件42来上下料。相应地，顶升器412也可以直接支撑在机架10上。
87.在一个实施例中，升降驱动器45可以使用丝杆螺母机构。当然，升降驱动器45也可以使用直线电机、齿轮齿条机构、直线气缸等线性模块。
88.在一个实施例中，立板46上安装有竖向轨47，支架44滑动安装在竖向轨47上，以通过竖向轨47来平稳引导支架44升降移动。
89.本技术实施例的对插装置100，使用测试载具50来支撑与连接显示单元91，在点亮测试时，可以直接连接测试载具50，减少显示单元91的对插次数，以保护显示单元91，提升对插连接成功率，简化点亮方式，提升处理效率。
90.请参阅图8至图10，本技术实施例还提供一种测试设备1000，所述测试设备1000包括对插装置100和测试机构60。对插装置100为如上述实施例所述的对插装置100。测试机构60包括定位框61，定位框61用于定位测试载具50，并且定位框61定位测试载具50的边缘，以避免碰撞测试载具50上的显示单元91，并且在点亮测试时，方便检测显示单元91。定位框61上安装有测试探针62，在测试使用时，测试探针62与测试载具50上的测试触点532接触连接，进而与测试载具50上连接显示单元91相连，以便进行点亮测试，该测试无需将测试设备1000与显示单元91插接，测试方便效率高。
91.本技术实施例提供的测试设备1000，与现有技术相比，本技术实施例的测试设备1000，使用了上述实施例的对插装置100，测试效率高，并且可以良好保护显示单元91的插口。
92.在一个实施例中，测试载具50上设有定位套514，而定位框61上设有定位轴611，在测试载具50靠近定位框61时，定位轴611插入对应定位套514中，以实现对测试载具50进行定位。可以理解地，也可以在定位框61上设置定位凸，而在测试载具50上设置定位槽，以配合定位测试载具50。
93.在一个实施例中，测试机构60还包括两个支撑座64和两个夹持气缸65，两个支撑座64分别支撑定位框61的相对两端，以稳定支撑住定位框61。两个夹持气缸65分别安装在两个支撑座64上，也就是说，一个支撑座64上安装一个夹持气缸65，通过两个夹持气缸65来夹持测试载具50的相对两端，以支撑与定位测试载具50，便定位框61上的测试探针62与测试载具50上的测试触点532接触连接。
94.在一个实施例中，夹持气缸65上安装有支撑块651，以便夹持与支撑测试载具50。
95.在一个实施例中，测试设备1000还包括推顶机构70，推顶机构70设于定位框61的下方。推顶机构70用于支撑测试载具50，并且推顶机构70还推动测试载具50上升，以以使测试载具50上的测试触点532与测试探针62接触。使用推顶机构70来推动测试载具50升降移动，以使测试触点532与测试探针62接触，效率高，可以保证测试探针62与测试触点532更精准、稳定连接，测试更准确。
96.在一个实施例中，推顶机构70包括推顶板71和推顶器72，推顶板71安装于推顶器72的驱动端。推顶板71用于支撑测试载具50，当然，还可以通过推顶板71来定位测试载具50，以便推动测试载具50升降移动。推顶板71安装于推顶器72的驱动端，以通过推顶器72驱动推顶板71升降移动，进而带动推顶板71上的测试载具50升降移动。该推顶机构70结构简
单，成本低，插接效率高。
97.在一个实施例中，推顶器72可以使用气缸。当然，推顶器72也可以使用直线电机、丝杆螺母机构等线性模块。
98.在一个实施例中，定位框61上设有缓冲器63，当测试载具50靠近定位框61时，缓冲器63可以弹性止挡测试载具50，以起到保护作用，避免损伤测试探针62。
99.在一个实施例中，缓冲器63可以使用弹簧、弹性伸缩杆等。
100.请参阅图5，本技术实施例还提供一种测试载具50。测试载具50包括架体51，架体51呈矩形框状。架体51的相对两端分别形成第一支架511和第二支架512，架体51的中间设置有中位支架513。中位支架513上设置有接插件521以及第一插接件522，接插件521与第一插接件522电连接。第一支架511与第二支架512上均设置有第二插接件531和测试触点532，各第二插接件531与对应测试触点532电连接。接插件521用于与显示单元91的插口插接相连，测试触点532用于与第一支架511上的第二插接件531和第二支架512上的第二插接件531之一电连接，测试触点532用于与显示单元控制器电连接。在使用时，可以将显示单元91支撑于架体51上，而接插件521与显示单元532的插口插接相连，第一插接件522与第一支架511上的第二插接件531和第二支架512上的第二插接件531之一电连接，而进而与第一支架511上的测试触点532和第二支架512上的测试触点532之一电连接，以便显示单元控制器与显示单元91电连接，以便控制与测试显示单元。
101.本技术实施例提供的测试载具50，与现有技术相比，本技术实施例的测试载具50，设置矩形框状的架体51，并在架体51的中间设置中位支架513，而架体51的两端形成第一支架511和第二支架512，在中位支架513上设置接插件521和第一插接件522，在第一支架511和第二支架512上均设置第二插接件531和测试触点532，在使用时，可以将接插件521与显示单元91的插口插接，而测试触点532可以与显示单元控制器电连接，以进行测试点亮，这样只需一次对插接，可以通过测试载具50实现多次测试点亮，以更好的保护显示单元91的插口，提升处理测试效率。
102.在一个实施例中，接插件521和测试触点532的朝向相同，这样可以方便插接安装，如便于接插件521与显示单元91的插口连接，并且可以方便测试机构60上的测试探针62直接与测试触点532接触。
103.在一个实施例中，第一插接件522的相对两侧均设有插接口，各第二插接件531均朝向中位支架513的方向设置，这样可以方便第一插接件522与两个第二插接件531中的一个电连接。可以理解地，第一插接件522也可以朝向一个第二插接件531的方向设置。
104.在一个实施例中，第一插接件522和第二插接件531的类型为排线插接件，以便可以传导更多数据信息。
105.在一个实施例中，架体51上设置有第一pcb板541、第二pcb板542和第三pcb板543。第一pcb板541设置于中间架体51上，第二pcb板542设于第一支架511上，第三pcb板543设于第二支架512上。第一pcb板541与接插件521和第一插接件522电连接，进而使接插件521和第一插接件522与第一pcb板541电连接，以便支撑接插件521和第一插接件522。第一支架511上的第二插接件531及测试触点532与第二pcb板542电连接，第二支架512上的第二插接件531及测试触点532与第三pcb板543电连接，以便第二插接件531与对应测试触点532电连接。
106.在一个实施例中，第二pcb板542和第三pcb板543可以采用相同的结构，以降低成本。
107.以上所述仅为本技术的可选实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。