圆盘式芯片测试座的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试领域，特别是涉及一种圆盘式芯片测试座。


背景技术：

2.芯片在封装制造及出厂前，均需经过多重的测试程序，以筛选、淘汰瑕疵品，维护其芯片产品的品质，避免增加后续产品维修的成本。现有芯片的连接通常采用焊接的方式，而在测试中若采用这种方式，会影响芯片的外观，且测试后的更换也较为麻烦。特别是芯片脚环绕式设置的芯片。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种结构简单，待测芯片安装固定方便，且固定效果好的圆盘式芯片测试座。
4.本实用新型所提供的一种圆盘式芯片测试座，包括主体，所述主体包括底座和圆环形的上盖，上盖套设在底座上，两者之间可上下移动，上盖上设有卡槽，底座上设有与卡槽配合的卡钩，底座外侧设有安装槽，安装槽底部设有伸出孔，安装槽上设有电连接器，电连接器从上到下包括v型夹和伸出脚，伸出脚穿设在伸出孔上，v型夹包括内边和外边，内边与安装槽侧壁抵接，外边朝向外侧，外边上设有动作边，上盖内侧壁上设有收纳槽，动作边设置在收纳槽内。
5.为了动作更稳定可靠，所述收纳槽上设有斜面，且动作边与斜面抵接。
6.为了便于上盖下压到位，所述底座上设有阻挡环，阻挡环设置在上盖下方。
7.为了更便于芯片脚插入，所述内边顶部设有向内侧的折边，安装槽上设有与折边配合的斜坡。
8.为了减轻重量，所述底座底部设有减重槽。
9.为了更美观，所述上盖侧表面上设有凹槽，卡槽设置在凹槽内。
10.本实用新型得到的一种圆盘式芯片测试座，具有以下优点：结构简单，待测芯片安装固定方便，且固定效果好，测试座组装简单，使用效果好，不会对待测芯片的外观造成损伤，且更换待测芯片方便。
附图说明
11.图1是本实用新型实施例1的结构示意图；
12.图2是本实用新型实施例1的俯视图；
13.图3是图2中的a-a截面图。
14.图中：主体1、底座2、上盖3、卡槽4、卡钩5、安装槽6、伸出孔7、电连接器8、v型夹9、伸出脚10、内边11、外边12、动作边13、收纳槽14、斜面15、阻挡环16、折边17、斜坡18、减重槽19、凹槽20。
具体实施方式
15.为更进一步阐述本实用新型为实现预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
16.实施例1：
17.本实施例提供的一种圆盘式芯片测试座，如图1、图2、图3所示，包括主体1，所述主体1包括底座2和圆环形的上盖3，上盖3套设在底座2上，两者之间可上下移动，上盖3上设有卡槽4，底座2上设有与卡槽4配合的卡钩5，卡槽4和卡钩5配合设计，能使得上盖3和底座2组装后，上盖3不会从上端脱出，底座2外侧设有安装槽6，安装槽6用于安装电连接器8，安装槽6底部设有伸出孔7，伸出孔7用于伸出脚10的安装，安装槽6上设有电连接器8，电连接器8从上到下包括v型夹9和伸出脚10，伸出脚10穿设在伸出孔7上，伸出脚10便于和测试设备连接，v型夹9包括内边11和外边12，内边11与安装槽6侧壁抵接，外边12朝向外侧，内边11与侧壁抵接贴合，便于芯片脚的插入，外边12上设有动作边13，动作边13用于推动外边12向内边11方向运动，上盖3内侧壁上设有收纳槽14，动作边13设置在收纳槽14内，收纳槽14在上下运动时，会将动作边13向内推动。本实施例中卡槽4绕上盖3中心均等设置四个，安装槽6设置16个，底座2为与上盖3配合的圆盘形设计，外形简洁美观。
18.为了动作更稳定可靠，所述收纳槽14上设有斜面15，且动作边13与斜面15抵接。斜面15能使得动作边13在斜面15上移动更稳定顺畅，进而使得v型夹9的闭合更稳定，对芯片脚的夹持更好。
19.为了便于上盖3下压到位，所述底座2上设有阻挡环16，阻挡环16设置在上盖3下方。阻挡环16能在上盖3下压到位后起到阻挡作用，减少冲击，且增大了底座2的底面积，使得底座2的放置更加平稳。
20.为了更便于芯片脚插入，所述内边11顶部设有向内侧的折边17，安装槽6上设有与折边17配合的斜坡18。折边17的设计扩大了芯片脚的进入口，且起到一定的导向作用，能够使芯片脚的插入更轻松，斜坡18用于放置折边17。
21.为了减轻重量，所述底座2底部设有减重槽19。减重槽19能减轻底座2的重量，节约材料，降低成本。
22.为了更美观，所述上盖3侧表面上设有凹槽20，卡槽4设置在凹槽20内。凹槽20的设计，能将卡槽4和卡钩5隐藏在内部，外观上更加美观。
23.通过上述设计，使用时，先将待测芯片的芯片脚对准安装槽6插入，再将上盖3下压，使得上盖3上的收纳槽14将动作边13推出，动作边13会推动外边12，进而使得v型夹9压缩夹住芯片脚，固定住芯片，且使得信号能够传输到伸出脚10上，通过伸出脚10再传递给测试设备。
24.该装置结构简单，待测芯片安装固定方便，且固定效果好，测试座组装简单，使用效果好，不会对待测芯片的外观造成损伤，且更换待测芯片方便。
25.以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据
本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简介修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。


技术特征：
1.一种圆盘式芯片测试座，包括主体(1)，其特征在于所述主体(1)包括底座(2)和圆环形的上盖(3)，上盖(3)套设在底座(2)上，上盖(3)上设有卡槽(4)，底座(2)上设有与卡槽(4)配合的卡钩(5)，底座(2)外侧设有安装槽(6)，安装槽(6)底部设有伸出孔(7)，安装槽(6)上设有电连接器(8)，电连接器(8)从上到下包括v型夹(9)和伸出脚(10)，伸出脚(10)穿设在伸出孔(7)上，v型夹(9)包括内边(11)和外边(12)，内边(11)与安装槽(6)侧壁抵接，外边(12)朝向外侧，外边(12)上设有动作边(13)，上盖(3)内侧壁上设有收纳槽(14)，动作边(13)设置在收纳槽(14)内。2.根据权利要求1所述的一种圆盘式芯片测试座，其特征是：所述收纳槽(14)上设有斜面(15)，且动作边(13)与斜面(15)抵接。3.根据权利要求2所述的一种圆盘式芯片测试座，其特征是：所述底座(2)上设有阻挡环(16)，阻挡环(16)设置在上盖(3)下方。4.根据权利要求3所述的一种圆盘式芯片测试座，其特征是：所述内边(11)顶部设有向内侧的折边(17)，安装槽(6)上设有与折边(17)配合的斜坡(18)。5.根据权利要求4所述的一种圆盘式芯片测试座，其特征是：所述底座(2)底部设有减重槽(19)。6.根据权利要求5所述的一种圆盘式芯片测试座，其特征是：所述上盖(3)侧表面上设有凹槽(20)，卡槽(4)设置在凹槽(20)内。

技术总结
本实用新型涉及一种圆盘式芯片测试座，包括主体，所述主体包括底座和圆环形的上盖，上盖套设在底座上，两者之间可上下移动，上盖上设有卡槽，底座上设有与卡槽配合的卡钩，底座外侧设有安装槽，安装槽底部设有伸出孔，安装槽上设有电连接器，电连接器从上到下包括V型夹和伸出脚，伸出脚穿设在伸出孔上，V型夹包括内边和外边，内边与安装槽侧壁抵接，外边朝向外侧，外边上设有动作边，上盖内侧壁上设有收纳槽，动作边设置在收纳槽内。本实用新型得到的一种圆盘式芯片测试座，具有以下优点：结构简单，待测芯片安装固定方便，且固定效果好，测试座组装简单，使用效果好，不会对待测芯片的外观造成损伤，且更换待测芯片方便。且更换待测芯片方便。且更换待测芯片方便。


技术研发人员：殷凌一
受保护的技术使用者：宁波芯测电子科技有限公司
技术研发日：2022.02.17
技术公布日：2022/7/18