一种电子元件测值装置的制作方法

1.本实用新型涉及测值针相关技术领域，尤其涉及一种电子元件测值装置。


背景技术：

2.电子元件生产加工过程中，要求对覆膜包装的电子元件(电阻、电容、电感)进行测值检测，防止错料，主要应用在不撕膜的情况下对电子元件进行测试，保证被测试元件合格，从而保证工厂的产品品质。
3.在覆膜元件测试中，最重要的部件为测值针，只有提高测值针的测量精度，才能保证装置的实用性，一般的测值针使用单针强度不够，则容易发生断裂或折弯的情况，只用单杆结构容易发生卡在台阶部位，从而测量值不准确，为了防止出现卡在台阶部位的发生，且现有的测针机构难以调整单组或单个测值针的间距，因此需要对机构进一步地改进。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种电子元件测值装置，以克服现有技术中存在的不足。
5.为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种电子元件测值装置，包括感应片安装底座、横向调整机构及垂直调整机构，所述横向调整机构可拆装式设有测值针及测值针组，所述测值针组的下方设有光源，所述测值针及测值针组均位于横向调整机构的一端。
7.优选的，所述测值针组至少由两根测值针组成，所述测值针包括用于固定测值针的测针安装位及用于装针治具定位的测针治具定位孔，测值针还包括切膜刀口、切膜刀尖及台阶内斜。
8.优选的，所述横向调整机构包括前测针电机、测值针组电机、电机固定架、若干个丝杆及横向延长杆，若干个所述丝杆分别与前测针电机及测值针组电机转动式配合连接，横向延长杆贯穿所述垂直调整机构并与其活动式连接，横向延长杆与丝杆的一端固定连接，所述前测针电机及测值针组电机均通过电机固定架固定设置在垂直调整机构的侧面。
9.优选的，所述垂直调整机构包括原点感应器、限位感应器、上下感应片、中继座、升降丝杆及升降电机，所述横向延长杆贯穿中继座，所述升降丝杆与升降电机转动式连接，原点感应器及限位感应器均固定设置在感应片安装底座的侧面，所述原点感应器位于限位感应器的上方，升降电机固定设置在感应片安装底座的底端，所述中继座的末端与升降丝杆固定连接，感应片安装底座的侧壁还装设有滑轨，中继座通过滑轨与感应片安装底座活动式连接。
10.优选的，所述横向延长杆的末端固定设有至少两个装针治具。
11.与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
12.本实用新型能够快速调整单组测值针的横向距离及竖直方向的距离，提高测值针的精确度，提高装置的空间利用率，装置的结构简单，测值针的装针、换针更加方便，不容易
卡位而导致装置发生误差。
附图说明
13.图1为测值针组拆件立体示意图；
14.图2为测值针的立体结构示意图；
15.图3为测值针组的侧视图；
16.图4为测值针的侧视图；
17.图5为本实用新型立体图；
18.图6为本实用新型后视图。
19.附图标注说明：
20.1-测针安装位，2-测针治具定位孔，3-切膜刀口，4-第一台阶，5-第二台阶，6-第三台阶，7-第四台阶，8-台阶内斜，9-切膜刀尖，10-感应片安装底座，11-测值针，12-测值针组，14-光源，15-前测针电机，16-测值针组电机，17-电机固定架，18-丝杆，19-横向延长杆，20-原点感应器，21-限位感应器，22-上下感应片，23-中继座，24-升降丝杆，25-升降电机，26-滑轨，27-装针治具。
具体实施方式
21.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
22.需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。当一个元件的数目被称为有“多个”，它可以为两个或两个以上的任意数目。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
23.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
24.下面结合附图所示的各实施方式对本实用新型进行详细说明：
25.如图1-3所示，在本实施例中提供了一种电子元件测值装置，包括感应片安装底座10、横向调整机构及垂直调整机构，横向调整机构可拆装式设有测值针11、测值针组12，这里说的测值针11是单独安装在装针治具27上的单边测值针11，而测值针组12则是采用了对称的测值针组12合一起了为防止采用单个针会卡在检测的电子元件中，测值针组12的下方为了检测电子元件时候传输到位而设有光源14，测值针组12和测值针11均位于横向调整机构的一端。
26.测值针组12至少由两根测值针组12成，测值针11包括用于固定测值针11的测针安
装位1及用于装针治具27定位的测针治具定位孔2，测值针还包括切膜刀口3、切膜刀尖9及台阶内斜8，切膜刀尖9用于刺破覆膜料带刀口5度 至175度容易刺破覆膜及具有一定的耐磨性，切膜刀口3的刀尖宽度需要保持在0.01mm至2.0mm宽度越小越易于划开覆膜,设置台阶内斜8是为了防止拍照成像时候形成阴影反光；切膜刀口3的上方设置了一系列用于坐标定位补偿的台阶，其中包括了第一台阶4用于y坐标定位补偿，第二台阶5用于左x坐标定位补偿，第三台阶6用于右x坐标定位补偿，第四台阶7用于左右x坐标定位补偿。
27.横向调整机构包括前测针电机15、测值针组电机、电机固定架17、若干个丝杆18及横向延长杆19，横向延长杆19与丝杆18的一端需要固定连接，若干个所述丝杆18分别与前测针电机15及测值针组电机16转动式配合连接，前测针电机15与测值针组电机16都是通过旋转丝杆18，使丝杆18产生横向的进给运动，从而拉动横向延长杆19的横向延长杆19左右平移，贯穿垂直调整机构并与其活动式连接，前测针电机15及测值针组电机16均通过电机固定架17固定设置在垂直调整机构的侧面，电机是带动测值针组12及测针左右平移的主要部件。
28.可以通过单独控制前测针电机15或测值针组电机16，来分别控制单个测值针11或测值针组12的测量间距，提高测值的机动性。
29.垂直调整机构包括原点感应器20、限位感应器21、上下感应片22、中继座23、升降丝杆24及升降电机25，横向延长杆19系贯穿中继座23，而升降丝杆24与升降电机25转动式连接，原点感应器20及限位感应器21均固定设置在感应片安装底座10的侧面用于感应是否发生了测值针11及测值针组12是否发生了上下的升降动作，原点感应器20位于限位感应器21的上方当测值部件位于被测单元上方时候为该测值部件的原点，感应片此时靠近原点感应器20的一侧面；当升降电机25动作时候将控制升降丝杆24向下动作从而带动中继座23向下动作，下降到一定程度的时候，感应片将与限位感应器21靠近，升降电机25停止动作，测值部件不再向下运动，防止发生碰撞。升降电机25固定设置在感应片安装底座10的底端，中继座23的末端与升降丝杆24固定连接，感应片安装底座10的侧壁还装设有滑轨26，中继座23通过滑轨26与感应片安装底座10活动式连接；横向延长杆19的末端固定设有至少两个装针治具27。
30.本实用新型，主要是利用测值针组12及单个测值针11在不撕开电子元件覆膜的情况下，从电子元件两端测面向下扎刺破覆膜向内夹，接触电子元件并测值，得到电子元件的电学参数。
31.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
32.以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。