用于光源测试的多点自动拉力测试机的制作方法

1.本实用新型专利涉及发光芯片光源测试的技术领域，具体而言，涉及用于光源测试的多点自动拉力测试机。


背景技术：

2.发光芯片固晶在基板上后，并对发光芯片与基板之间进行焊接金线，进行电性连接，布置好发光芯片后，需要测试发光芯片与基板之间连接的稳固性，一般会对发光芯片施加拉力，测试在设定范围的拉力作用下，发光芯片是否会与基板之间出现错位移动。
3.但是由于基板上设有多个发光芯片，每次只能单个单个测试发光芯片与基板之间是否出现错位移动，耗时较长，效率低，不利于生产连续作业。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供用于光源测试的多点自动拉力测试机，通过在拉板上设置一排测试板，通过接触部与拉板实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业，旨在解决现有技术中由于基板上设有多个发光芯片，每次只能单个单个测试发光芯片与基板之间是否出现错位移动，耗时较长，效率低，不利于生产连续作业的问题。
5.本实用新型是这样实现的，用于光源测试的多点自动拉力测试机，包括底座，所述底座的顶端一侧设置有拉力机构，所述拉力机构的输出端延伸至底座顶端另一侧的基板平台，所述基板平台的顶端中部设置有置物槽，所述置物槽用于放置基板，所述拉力机构的输出端上设置有拉板，所述拉板延伸至置物槽中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动。
6.进一步地，所述置物槽的两侧底壁上均设置有扣口，所述扣口实现与基板的两侧相扣接实现固定。
7.进一步地，所述拉板的下部侧壁上均匀设置有多个测试板，所述测试板的底部设置有接触部，所述接触部与基板上的发光芯片相抵触。
8.进一步地，所述测试板的下部一侧设置有铰链，所述铰链固定在拉板上，在所述拉力机构拉伸时，所述测试板在铰链作用下无阻力，在所述拉力机构收缩时，所述测试板与发光芯片相抵触进行错位测试。
9.进一步地，所述拉力机构包括设置伺服电机，所述伺服电机的输出端连接有联轴器，所述联轴器设置在轴架上。
10.进一步地，所述轴架的一侧设置有底板，所述底板间设置有支撑座，所述支撑座内设置有丝杠，所述丝杠上滑动设置有滑块。
11.进一步地，所述滑块的两侧均设置有连接片，所述连接片上设置有螺钉，所述螺钉穿过连接片与固定杆相固定。
12.进一步地，所述固定杆延伸至基板平台上且末端设置有杆座，所述杆座的中部设
置有固定螺栓。
13.进一步地，所述固定螺栓依次穿过杆座、拉板，所述杆座与拉板在固定螺栓作用下实现抵接固定。
14.进一步地，所述拉板的上部两侧均嵌套有固定套，所述固定套与固定螺栓相适配。
15.与现有技术相比，本实用新型提供的用于光源测试的多点自动拉力测试机，具备以下有益效果：
16.1、通过在拉板上设置一排测试板，且测试板采用塑胶制成，在对发光芯片进行拉力测试时，若未出现错位移动在弹性力作用下自动从接触部滑出至第二排的发光芯片上进行测试，通过接触部与拉板实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业；
17.2、通过设置的拉力机构实现对拉板的收缩与拉伸，拉力机构通过伺服电机进行传动，利用联轴器实现带动丝杠转动，丝杠带动滑块移动，滑块在固定杆的作用下带动拉板实现移动，并且测试板在拉伸时由于铰链作用，不会产生抵触力，而进行收缩时抵触发光芯片进行测试，扣口实现对基板进行固定，保证基板在测试时不会移动，以提升测试结果的精准性。
附图说明
18.图1为本实用新型提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机的结构示意图；
19.图2为本实用新型提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中拉板的结构示意图；
20.图3为本实用新型提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中基板平台的结构示意图；
21.图4为本实用新型提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中测试板的结构示意图。
22.图中：1-底座、2-拉力机构、3-伺服电机、4-联轴器、5-轴架、6-底板、7-支撑座、8-丝杠、9-滑块、10-连接片、11-固定杆、12-杆座、13-拉板、14-测试板、15-铰链、16-接触部、17-基板平台、18-置物槽、19-扣口。
具体实施方式
23.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
24.以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细的描述。
25.本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本实用新型的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
26.参照图1-4所示，用于光源测试的多点自动拉力测试机，包括底座1，底座1的顶端一侧设置有拉力机构2，拉力机构2的输出端延伸至底座1顶端另一侧的基板平台17，基板平台17的顶端中部设置有置物槽18，置物槽18用于放置基板，拉力机构2的输出端上设置有拉板13，拉板13延伸至置物槽18中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动，拉板13的下部侧壁上均匀设置有多个测试板14，测试板14的底部设置有接触部16，接触部16与基板上的发光芯片相抵触，通过在拉板13上设置一排测试板14，且测试板14采用塑胶制成，在受到外力挤压时会发生形变，从而从发光芯片上滑出，在对发光芯片进行拉力测试时，若未出现错位移动在弹性力作用下自动从接触部16滑出至第二排的发光芯片上进行测试，通过接触部16与拉板13实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性。
27.在本实施例中，置物槽18的两侧底壁上均设置有扣口19，扣口19实现与基板的两侧相扣接实现固定，扣口19实现对基板进行固定，保证基板在测试时不会移动，以提升测试结果的精准性。
28.在本实施例中，测试板14的下部一侧设置有铰链15，铰链15固定在拉板13上，在拉力机构2拉伸时，测试板14在铰链15作用下无阻力，在拉力机构2收缩时，测试板14与发光芯片相抵触进行错位测试，测试板14在拉伸时由于铰链15作用，不会产生抵触力，而进行收缩时抵触发光芯片进行测试。
29.在本实施例中，拉力机构2包括设置伺服电机3，伺服电机3的输出端连接有联轴器4，联轴器4设置在轴架5上，轴架5的一侧设置有底板6，底板6间设置有支撑座7，支撑座7内设置有丝杠8，丝杠8上滑动设置有滑块9，滑块9的两侧均设置有连接片10，连接片10上设置有螺钉，螺钉穿过连接片10与固定杆11相固定，固定杆11延伸至基板平台17上且末端设置有杆座12，杆座12的中部设置有固定螺栓，固定螺栓依次穿过杆座12、拉板13，杆座12与拉板13在固定螺栓作用下实现抵接固定，拉板13的上部两侧均嵌套有固定套，固定套与固定螺栓相适配，拉力机构2通过伺服电机3进行传动，利用联轴器4实现带动丝杠8转动，丝杠8带动滑块9移动，滑块9在固定杆11的作用下带动拉板13实现移动，拉板13带动测试板14进行发光芯片固晶后的稳固性测试。
30.本技术方案在使用时，拉力机构2通过伺服电机3进行传动，利用联轴器4实现带动丝杠8转动，丝杠8带动滑块9移动，滑块9在固定杆11的作用下带动拉板13实现移动，通过在拉板13上设置一排测试板14，且测试板14采用塑胶制成，在受到外力挤压时会发生形变，从而从发光芯片上滑出，在对发光芯片进行拉力测试时，若未出现错位移动在弹性力作用下自动从接触部16滑出至第二排的发光芯片上进行测试，通过接触部16与拉板13实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业，扣口19实现对基板进行固定，保证基板在测试时不会移动，以提升测试结果的精准性。
31.本实施例中，整个操作过程可由电脑控制，加上plc等等，实现自动化运行控制，且在各个操作环节中，可以通过设置传感器，进行信号反馈，实现步骤的依序进行，这些都是目前自动化控制的常规知识，在本实施例中则不再一一赘述。
32.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型
的保护范围之内。