一种量子芯片测试盒及测试装置的制作方法

1.本技术属于量子计算技术领域，特别是一种量子芯片测试盒及测试装置。


背景技术：

2.量子芯片是量子计算机必不可少的核心部件，为了保障量子芯片的良品率，在量子芯片制备完成后，需要对量子芯片进行测试，通常采用芯片测试组件与量子芯片上的量子电路形成电学连接，从而对量子电路进行检测，以实现对量子芯片的测试。
3.量子芯片在测试过程中，对振动噪声较为敏感，现有技术中，在对量子芯片进行测试操作时，外界振动噪声容易传递至量子芯片，使量子芯片振动从而产生信号扰动，从而影响量子芯片测试结果的准确性。
4.需要说明的是，公开于本技术背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本技术一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。


技术实现要素：

5.本技术的目的是提供一种量子芯片测试盒，以解决现有技术中的不足，它提供了一种量子芯片测试盒及测试装置。
6.本技术的一个实施例提供了一种量子芯片测试盒，包括：
7.用于装载量子芯片的盒体，所述盒体上设置有接线端子；
8.测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。
9.如上所述的量子芯片测试盒，其中，还包括固定于所述盒体内部的电路板，所述量子芯片固定于所述电路板上。
10.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述测试电路包括：
11.位于电路板上的信号传输线，所述信号传输线的第一端与所述量子电路电连接；
12.连接线，所述连接线的第一端与所述信号传输线的第二端电连接，所述连接线的第二端与所述接线端子电连接，所述连接线与所述盒体固定。
13.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体的内壁具有限位槽，所述连接线嵌入所述限位槽内。
14.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体的内部设置有压线板，所述压线板覆盖所述连接线并与所述盒体的内壁固定。
15.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述信号传输线的第一端通过键合线与所述量子电路电连接。
16.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体上设置有用于连接抽气装置的抽气口。
17.如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体包括可拆卸的盒盖与盒身，所述盒盖
与盒身密封连接。
18.本技术的另一实施例还提供了一种测试装置，包括：
19.上述量子芯片测试盒；
20.用于承载所述盒体的隔振平台；
21.芯片测试组件，所述芯片测试组件与所述接线端子电连接；
22.抽气装置，与所述盒体连通。
23.与现有技术相比，本技术提供了一种量子芯片测试盒，包括用于装载量子芯片的盒体，所述盒体上设置有接线端子；以及测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。本技术中，当需要对量子芯片进行测试时，将量子芯片置于量子芯片测试盒内，将测试电路与所述量子电路连接，利用盒体为量子芯片提供封闭的测试环境，使量子芯片与外界环境隔离，可以阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
附图说明
24.图1为本技术提供的一种量子芯片测试盒的立体图；
25.图2为本技术提供的一种量子芯片测试盒中电路板的俯视图。
26.附图标记说明：
27.1－盒体，2－抽气口，3－电路板，4－接线端子，5－连接线，6－安装板，7－压线板；
28.11－盒身，12－盒盖。
具体实施方式
29.下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能解释为对本技术的限制。
30.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本技术各实施例中，为了使读者更好地理解本技术而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本技术所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本技术的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
31.另外，应该理解的是，当层(或膜)、区域、图案或结构被称作在衬底、层 (或膜)、区域和/或图案“上”时，它可以直接位于另一个层或衬底上，和/ 或还可以存在插入层。另外，应该理解，当层被称作在另一个层“下”时，它可以直接位于另一个层下，和/或还可以存在一个或多个插入层。另外，可以基于附图进行关于在各层“上”和“下”的指代。
32.量子芯片是量子计算机必不可少的核心部件，为了保障量子芯片的良品率，在量子芯片制备完成后，需要对量子芯片进行测试，量子芯片在测试过程中，对振动噪声较为敏感，现有技术中，在对量子芯片进行测试操作时，外界振动噪声容易传递至量子芯片，使量子芯片振动从而产生信号扰动，从而影响量子芯片测试结果的准确性。
33.图1为本技术提供的一种量子芯片测试盒的立体图。
34.结合附图1所示，本技术实施例提供的一种量子芯片测试盒，包括：
35.用于装载量子芯片的盒体1，所述盒体1上设置有接线端子4；
36.测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子4电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接，所述量子芯片上的量子电路与所述测试电路连接，当需要对量子芯片进行测试时，利用盒体1为量子芯片提供一个封闭的测试环境，将量子芯片与外部环境隔离开，阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动。
37.本实施例中，当需要对量子芯片进行测试时，将待测试的量子芯片置于量子芯片测试盒内，将测试电路与所述量子电路连接，利用盒体1为量子芯片提供封闭的测试环境，使量子芯片与外界环境隔离，可以阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
38.图2为本技术提供的一种量子芯片测试盒中电路板3的俯视图。
39.结合附图2所示，在本技术的一些实施例中，还包括固定于所述盒体1 内部的电路板3，所述量子芯片固定于所述电路板3上，利用电路板3为量子芯片提供有效固定，由于量子芯片与所述电路板3紧密连接，且电路板3固定于所述盒体1内部，从而在对量子芯片进行测试时，即便量子芯片测试盒受到外力而产生不希望的振动，量子芯片仍然能够在电路板3的固定作用下保持稳定，避免量子芯片在盒体1内部振动，提高了量子芯片的稳定性。
40.本实施例中，通过在盒体1内部设置电路板3，并且电路板3与所述盒体 1固定连接，利用承载量子芯片，量子芯片固定安装于电路板3上，利用电路板3实现量子芯片的有效固定，避免量子芯片在盒体1内部振动，提高了量子芯片的稳定性，从而进一步避免在测试过程中量子芯片产生振动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
41.在本技术的一些实施例中，所述测试电路包括：
42.位于电路板3上的信号传输线，所述信号传输线的第一端与所述量子电路电连接，示例性的，一种具体的方式为，所述信号传输线为形成于所述电路板 3上的共面波导传输线，所述共面波导传输线通过键合线与所述量子电路电连接；
43.连接线5，所述连接线5的第一端与所述信号传输线的第二端电连接，所述连接线5的第二端与所述接线端子4电连接，所述连接线5与所述盒体1 固定，在对量子芯片进行测试的过程中，利用信号传输线、连接线5传输测试信号，由于信号传输线设置于固定于盒体1的电路板3上，且所述连接线5 与所述盒体1固定，因此在量子芯片测试过程中，信号传输线、连接线5均能够保持足够的稳定性，当盒体1受到外力而产生不希望的振动时，连接线5、信号传输线始终能够保持与盒体1的相对固定，避免连接线5、信号传输线随着盒体1的振动而在盒体1内部晃动，以免影响量子芯片的稳定性，从而保证了量子芯片测试结果的准确性。
44.本实施例中，在对量子芯片进行测试的过程中，利用信号传输线、连接线 5传输测试信号，由于信号传输线设置于固定于盒体1的电路板3上，且所述连接线5与所述盒体1固定，因此在量子芯片测试过程中，信号传输线、连接线5均能够保持足够的稳定性，当盒体1受到外力而产生不希望的振动时，连接线5、信号传输线始终能够保持与盒体1的相对固定，从而保证了量子芯片测试结果的准确性。
45.在本技术的一些实施例中，所述盒体1的内壁具有限位槽，所述连接线 5嵌入所述限位槽内，利用限位槽固定所述连接线5，使连接线5与盒体1始终保持相对固定，大大提高了连接线5的稳定性。
46.在本技术的一些实施例中，所述盒体1的内部设置有压线板，所述压线板覆盖所述连接线5并与所述盒体1的内壁固定，利用压线板将连接线5牢牢固定在盒体1的内壁上，防止连接线5从盒体1的内壁上脱落，进一步提高了连接线5的稳定性，具体实施时，所述压线板通过螺栓固定于所述盒体1的内壁上。
47.在本技术的一些实施例中，所述盒体1上设置有用于连接抽气装置的抽气口2，在对量子芯片进行测试前，利用抽气装置将盒体1的内部抽至真空状态，示例性的，所述抽气装置为分子泵，利用分子泵使盒体1内的真空度达到 1e－6torr，以达到为量子芯片提供封闭的真空测试环境的目的，由于盒体1 内部抽至真空，声波不能在真空环境中传递，因而可以更好地杜绝外界振动噪声传递至量子芯片，保证了量子芯片测试结果的准确性。
48.在本技术的一些实施例中，所述盒体1包括可拆卸的盒盖12与盒身11，通过设置可分离的盒盖12与盒身11，便于取放量子芯片，示例性的，一种具体的方式为，所述盒盖12可通过不同的方式固定在所述盒身11上，包括但不限于：通过螺钉穿过所述盒盖12，利用螺钉将盒盖12固定在所述盒身11上，为实现此种固定，可在所述盒盖12和所述盒身11上对应设置用于固定的螺纹孔，并且，需要特别说明的是，所述盒盖12与盒身11密封连接，为了提高盒盖12与盒身11之间的密封性，在盒盖12与盒身11之间的连接处设置有密封圈，以使得在对量子芯片测试盒进行抽真空时，阻止外界空气进入量子芯片测试盒内部。
49.本实施例中，通过设置可分离的盒盖12与盒身11，在对量子芯片进行测试前以及测试作业完成后，便于取放量子芯片，并且，为了提高量子芯片测试盒的密封性能，在盒盖12与盒身11之间的连接处设置密封圈，以使得在对量子芯片测试盒进行抽真空时，阻止外界空气进入量子芯片测试盒内部。
50.本技术的实施例还提供了一种测试装置，包括：
51.如上所述的量子芯片测试盒，所述量子芯片测试盒包括用于装载量子芯片的盒体1，所述盒体1上设置有接线端子4，所述量子芯片测试盒还包括测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子4电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接；
52.用于承载所述量子芯片测试盒的隔振平台，所述量子芯片测试盒固定安装于所述隔振平台上，示例性的，一种具体的方式为，所述量子芯片测试盒的地步设置有安装板6，利用螺栓实现安装板6与隔振平台的固定，为了实现此种固定，可在所述安装板6和所述隔振平台上对应设置用于固定的螺纹孔；
53.芯片测试组件，所述芯片测试组件与所述接线端子4电连接，示例性的，在对量子芯片测试中，所述芯片测试组件产生测试电流以对量子芯片进行测试；
54.抽气装置，与所述量子芯片测试盒连通，示例性的，一种具体的方式为，所述抽气装置为分子泵，利用分子泵可以将所述盒体1抽至真空状态，具体的，在实际芯片测试操作中，利用分子泵使盒体1内的真空度达到1e－6torr，以达到为量子芯片提供封闭的真空测试环境的目的。
55.本实施例中，利用量子芯片测试盒为量子芯片提供封闭的测试环境，阻止外界振
动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，利用隔振平台使盒体1 在测试过程中始终保持稳定，从而使盒体1内的量子芯片保持稳定，利用抽气装置将盒体1内部抽至真空，从而达到进一步隔绝外界振动噪声的效果，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
56.以上依据图式所示的实施例详细说明了本技术的构造、特征及作用效果，以上所述仅为本技术的较佳实施例，但本技术不以图面所示限定实施范围，凡是依照本技术的构想所作的改变，或修改为等同变化的等效实施例，仍未超出说明书与图示所涵盖的精神时，均应在本技术的保护范围内。