波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统的制作方法

文档序号:31815800发布日期:2022-10-14 22:20阅读:37来源:国知局
波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统的制作方法

1.本实用新型涉及光通信领域,特别是涉及波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统。


背景技术:

2.多通道光源产品对使用的dfb芯片的波长精度和功率大小有较高的要求,但是芯片的实际波长和功率与标定的波长和功率之间并不能确保都能满足需求,多通道光源产品内部又使用了较多的芯片,个别芯片的光功率或波长的不合格,会增加调制的难度,如果误差过大甚至会导致整个模块产品的不合格。


技术实现要素:

3.本实用新型的目的是提供一种波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统。
4.本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:一种波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,包括装有芯片的分区热沉,用于放置装有芯片的分区热沉的卡槽,装有芯片的分区热沉通过带有弹簧探针的夹具进行压紧,芯片与直流电源连接,芯片连接有测试设备,liv测试设备内设有积分球,liv测试设备连接有电脑,芯片发出的光进入liv测试设备的积分球内。
5.进一步的,将跳线和芯片之间简单耦合,能让光谱仪输出波形。
6.进一步的,直流电源为芯片的工作提供稳定供电,
7.进一步的,芯片发出的光进入liv测试设备的积分球内,从而能输出完整的liv特性曲线。
8.进一步的,liv特性曲线包括阈值电流、光功率、工作电压。
9.与现有技术相比,本实用新型波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统的有益效果是:通过将芯片贴装在合适的分区热沉上来实现加电,从而使芯片工作,再外接光谱仪和liv测试设备来进行波长和功率的测量,从而达到筛选的目的。
附图说明
10.图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
11.请参阅图1,一种波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,包括装有芯片1的分区热沉2,用于放置装有芯片1的分区热沉2的卡槽3,装有芯片1的分区热沉2通过带有弹簧探针5的夹具4进行压紧,芯片1与直流电源6连接,直流电源6为芯片1的工作提供稳定供电。
12.芯片1通过跳线7连接有光谱仪8,将跳线7和芯片1之间简单耦合,能让光谱仪输出波形,判别出中心波长即可。
13.芯片1连接有liv测试设备9,liv测试设备9内设有积分球10,liv测试设备9连接有电脑11,芯片1发出的光进入liv测试设备9的积分球10内,从而能输出完整的liv特性曲线,清楚地得出阈值电流、光功率、工作电压等关键数据。
14.本实用新型的工作原理为:
15.1、根据芯片的大小和极性选择合适的分区热沉,再定制与热沉尺寸合适的卡槽和夹具,利用弹簧探针稳定供电。
16.2、通电成功后,利用跳线连接光谱仪,测试出所有芯片的波长,剔除波长不合格的芯片。再连接liv测试设备,剔除光功率不合格的芯片。
17.3、测试过程中,需要探针与热沉之间保持稳定的接触,这样芯片才能稳定工作。
18.本实用新型可以测试各波段的芯片,主要优点如下:
19.1、在生产前将所有芯片进行预筛选,避免模块生产完成后因芯片无法调制到标定的数值,从而造成整个模块产品不合格的问题;
20.2、此筛选系统可以一次筛选16颗芯片,相比于此前单次只能测试一颗芯片的方案,大幅度提高了筛选速率,并且能系统地得出芯片的各种性能,便于研究人员进行各种选择和试验。
21.本实用新型通过将芯片贴装在合适的分区热沉上来实现加电,从而使芯片工作,再外接光谱仪和liv测试设备来进行波长和功率的测量,从而达到筛选的目的。
22.以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。


技术特征:
1.波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,其特征在于:包括装有芯片的分区热沉,用于放置装有芯片的分区热沉的卡槽,装有芯片的分区热沉通过带有弹簧探针的夹具进行压紧,芯片与直流电源连接,芯片连接有测试设备,liv测试设备内设有积分球,liv测试设备连接有电脑,芯片发出的光进入liv测试设备的积分球内。2.根据权利要求1所述的波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,其特征在于:将跳线和芯片之间简单耦合,能让光谱仪输出波形。3.根据权利要求1所述的波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,其特征在于:直流电源为芯片的工作提供稳定供电。4.根据权利要求1所述的波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,其特征在于:芯片发出的光进入liv测试设备的积分球内,从而能输出完整的liv特性曲线。5.根据权利要求4所述的波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,其特征在于:liv特性曲线包括阈值电流、光功率、工作电压。

技术总结
本实用新型为一种波分光源产品的全自动光谱测试及定标系统,包括装有芯片的分区热沉,用于放置装有芯片的分区热沉的卡槽,装有芯片的分区热沉通过带有弹簧探针的夹具进行压紧,芯片与直流电源连接,芯片连接有测试设备,LIV测试设备内设有积分球,LIV测试设备连接有电脑,芯片发出的光进入LIV测试设备的积分球内。本实用新型通过将芯片贴装在合适的分区热沉上来实现加电,从而使芯片工作,再外接光谱仪和LIV测试设备来进行波长和功率的测量,从而达到筛选的目的。从而达到筛选的目的。从而达到筛选的目的。


技术研发人员:刘壮 黄永光 赵文瑞 薛京谷 赵玲娟
受保护的技术使用者:江苏奥雷光电有限公司
技术研发日:2022.06.06
技术公布日:2022/10/13
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