点灯测试治具的制作方法

1.本实用新型总体上涉及显示面板技术领域，具体的，涉及一种点灯测试治具。


背景技术：

2.随着电子技术的不断发展，生活中越来越多的应用场景都需要使用到显示装置，在制备显示装置的过程中，需要对显示装置进行点灯测试，以查看显示装置中的电路是否存在缺陷。
3.基于此，如何保证点灯测试的可靠性，是目前需要解决的问题。


技术实现要素：

4.为了解决上述问题或其他问题，本实用新型提供了以下技术方案。
5.第一方面，本实用新型提供了一种点灯测试治具，所述点灯测试治具至少包括：
6.固定机构，所述固定机构上设置有多个测试探针，所述多个测试探针被配置为与待测显示面板上的多个测试端子对应耦接，以根据测试信号对所述待测显示面板进行点灯测试；以及，
7.滚筒毛刷，所述滚筒毛刷被配置为在所述点灯测试之前，移动至所述多个测试探针所在的位置，以对所述多个测试探针进行清洁。
8.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述多个测试探针排列成多组，所述滚筒毛刷的数量等于所述组的数量。
9.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述点灯测试治具还包括离子风扇，其中：
10.所述离子风扇被配置为对所述多个测试探针进行静电消除。
11.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述离子风扇还被配置为在所述清洁之前开启，并在所述清洁之后关闭。
12.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述离子风扇设置于所述固定机构上，且位于所述多个测试探针旁边。
13.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述滚筒毛刷还被配置为在所述清洁之后，从所述多个测试探针所在的位置移开。
14.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述点灯测试治具还包括可移动机构，其中：
15.所述可移动机构被配置为承载所述待测显示面板。
16.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述可移动机构还被配置为在所述清洁之后，将承载的所述待测显示面板移动至所述多个测试探针所在的位置。
17.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述点灯测试治具还包括驱动芯片，所述驱动芯片被配置为提供所述测试信号。
18.根据本实用新型一实施例的点灯测试治具，所述滚筒毛刷还被配置为每隔预设周
期，进行所述清洁，其中：
19.所述预设周期与等待时间以及完成所述点灯测试的所述待测显示面板的数量其中至少之一相关。
20.本实用新型的有益效果为：本实用新型提供了一种点灯测试治具，点灯测试治具至少包括固定机构和滚筒毛刷，其中，固定机构上设置有多个测试探针，多个测试探针被配置为与待测显示面板上的多个测试端子对应耦接，以根据测试信号对待测显示面板进行点灯测试，滚筒毛刷被配置为在点灯测试之前，移动至多个测试探针所在的位置，以对多个测试探针进行清洁，本实用新型通过在点灯测试治具上增设滚筒毛刷，在进行上述点灯测试之前，先对点灯测试治具中的多个测试探针进行清洁，避免了因微颗粒污垢附着在上述测试探针上而对点灯测试的可靠性造成影响。
附图说明
21.为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对根据本实用新型而成的各实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1是根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具的结构示意图。
23.图2是根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具的进一步结构示意图。
24.图3是根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具进行点灯测试的应用场景示意图。
25.图4是根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具在进行点灯测试时有微颗粒污垢附着在测试探针上的示意图。
具体实施方式
26.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
27.在本实用新型的描述中，术语例如“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“竖直”、“水平”、“顶”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
28.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地
连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
29.下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
30.请参阅图1，图1示出了根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具100的结构示意图，从图中可以很直观的看到根据本实用新型而成的实施例的各组成部分，以及各组成部分的相对位置关系。
31.如图1所示，点灯测试治具100至少包括固定机构110和滚筒毛刷120，接下来，结合图1，对点灯测试治具100中的各部件进行详细说明。
32.固定机构110上设置有多个测试探针111，多个测试探针111被配置为与待测显示面板200上的多个测试端子210对应耦接，以根据测试信号对待测显示面板200进行点灯测试。
33.滚筒毛刷120被配置为在上述点灯测试之前，移动至多个测试探针111所在的位置，以对多个测试探针111进行清洁。
34.具体的，滚筒毛刷120可以以滚动的方式进行上述清洁。
35.进一步地，请参阅图2所示出的根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具的进一步结构示意图。
36.如图2所示，在本实用新型实施例中，多个测试探针111排列成多组，滚筒毛刷120的数量等于多个测试探针111排列成多组的数量，示例性的，多个测试探针111排列成4组，滚筒毛刷120对应有4个。
37.进一步地，请继续参阅图2，如图2所示，点灯测试治具100还包括离子风扇130，其中，离子风扇130被配置为对多个测试探针111进行静电消除，以防止静电炸伤点灯测试治具100和待测显示面板200。
38.需要说明的是，为了保证离子风扇130进行静电消除的可靠性，因此，在本实用新型实施例中，离子风扇130还被配置为在清洁之前开启，并在清洁之后关闭。
39.具体的，在本实用新型实施例中，如图2所示，离子风扇130设置于固定机构上，且位于多个测试探针111旁边。
40.进一步地，在本实用新型实施例中，如图2所示，离子风扇130的数量亦等于多个测试探针111排列成多组的数量，示例性的，多个测试探针111排列成4组，滚筒毛刷120对应有4个。
41.需要说明的是，由于滚筒毛刷120的体积较大，因此，为了保证滚筒毛刷120不会对上述点灯测试造成影响，在本实用新型实施例中，滚筒毛刷120还被配置为在上述清洁之后，从多个测试探针111所在的位置移开。
42.进一步地，请继续参阅图2，在本实用新型实施例中，点灯测试治具100还包括可移
动机构140，其中，可移动机构140被配置为承载待测显示面板200。
43.具体的，可移动机构140还被配置为在上述清洁之后，才将承载的待测显示面板200移动至多个测试探针111所在的位置，以进行后续的点灯测试。
44.进一步地，请继续参阅图2，在本实用新型实施例中，点灯测试治具100还包括驱动芯片(未示出)，驱动芯片被配置为提供指示固定机构110对待测显示面板200进行点灯测试的测试信号。
45.具体的，为了保证进行上述清洁不会占用显示面板工艺流程太多的时间，因此，可以选择使上述清洁周期性进行，也即，滚筒毛刷120还被配置为每隔预设周期进行上述清洁，其中，预设周期与等待时间以及完成点灯测试的待测显示面板200的数量其中至少之一相关。
46.具体的，在本实用新型实施例中，上述点灯测试治具100是全接触测试治具(full contact)。
47.进一步地，请参阅图3所示出的根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具100进行点灯测试的应用场景示意图。
48.需要说明的是，在点灯测试治具100进行点灯测试时，待测显示面板200的多个测试端子210(bonding lead)首先会进行排线(alignment)，为了节省时间，在进行上述排线的过程中，滚筒毛刷120和离子风扇130会进行上述清洁和静电消除，当上述清洁和静电消除执行完毕后，可移动机构140会将承载的待测显示面板200移动至多个测试探针111所在的位置，然后，使其多个测试端子210与点灯测试治具100的多个测试探针111一一对应耦接，如图3所示，然后，驱动芯片发出测试信号，以使固定机构110对待测显示面板200进行点灯测试。
49.进一步地，请参阅图4所示出的根据本实用新型而成的实施例所提供的点灯测试治具100在进行点灯测试时有微颗粒污垢x附着在测试探针111上的示意图，如图4所示，当这种情况出现时，微颗粒污垢x会使点灯测试治具100的测试探针111与待测显示面板200的测试端子210之间接触不良，从而影响信号的传输，本实用新型实施例中的滚筒毛刷120可以对该微颗粒污垢x进行清洁，保证了固定机构110对待测显示面板200进行点灯测试的可靠性。
50.根据前述内容，本实用新型实施例提供了一种点灯测试治具100，点灯测试治具100至少包括固定机构110和滚筒毛刷120，其中，固定机构110上设置有多个测试探针111，多个测试探针111被配置为与待测显示面板200上的多个测试端子210对应耦接，以根据测试信号对待测显示面板200进行点灯测试，滚筒毛刷120被配置为在上述点灯测试之前，移动至多个测试探针111所在的位置，以对多个测试探针111进行清洁，本实用新型通过在点灯测试治具100上增设滚筒毛刷120，在进行上述点灯测试之前，先对点灯测试治具100中的多个测试探针111进行清洁，从而，避免了因微颗粒污垢附着在上述测试探针111上而对点灯测试的可靠性造成影响。
51.除上述实施例外，本实用新型还可以有其他实施方式。凡采用等同替换或等效替换形成的技术方案，均落在本实用新型要求的保护范围。
52.综上所述，虽然本实用新型已将优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本实用新型，本领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，均可作
各种更动与润饰，因此本实用新型的保护范围以权利要求界定的范围为准。