一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构的制作方法

本技术属于电子元件检测，涉及一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构。

背景技术：

1、随着微电子产业和计算机技术的不断改进与发展，为电子制造产业带来前所未有的发展机会。其中，电子产品批量生产之前的首件检测通常是采用探测针进行检测，探测针检测是通过两条探测针导线去检测电子产品。

2、例如，检测电子元件为电阻，将一探测针导线连接在电阻的一端，另一探测针导线连接在电阻的另一端，然后进行检测，由于连接的导线存在引线电阻，引线电阻的大小与导线的材质和长度的因素有关，因此引线电阻会增加检测的该电阻的误差，对于低电阻(如小于1欧的电阻)的检测，其检测误差较大，而且现有的探测针结构采用焊接固定的方式，与探测针连接的块为实体钢结构，使得探测针的针头端部在触接电阻的两端面时未能弹性缓冲，造成探测针的针头端部的崩裂损坏，导致更换非常麻烦。

3、因此，有必要进一步改进优化探测针结构。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，旨在解决目前的两线探测针对电子元件的检测存在电子误差，造成检测精度低，以及探测针是固定焊接在实体结构的钢块上，使得探测针的针头端部在触接电阻的两端面时未能弹性缓冲，造成探测针的针头端部的崩裂损坏，导致更换非常麻烦的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，包括：相同结构成对分开设置的测试组件，每一所述测试组件包括竖直设置的针座板、与所述针座板下端连接的2个连接臂、与每一所述连接臂末端连接的探测针，以形成每组2线作用于电子元件两端的四线检测探测针，所述探测针之间均互不连接绝缘设置，每一所述探测针的底部均设有用于触接电子元件的凸形部。

3、优选地，所述连接臂包括第一连接块、第二连接块、第一连接条和第二连接条，所述第一连接块与第二连接块之间设有第一连接条和第二连接条，所述第一连接条位于第二连接条的一侧，形成中心空架的连接臂以减少重量，所述第一连接块上设有若干第一螺丝孔，所述第二连接块上设有若干第二螺丝孔，所述第一连接块与第二连接块、第一连接条、第二连接条为一体成型的连体件。

4、优选地，所述针座板下端设有若干第三螺丝孔，所述第一螺丝孔通过螺丝与第三螺丝孔对应连接，以使所述第一连接块紧固连接于针座板。

5、优选地，所述探测针上部设有第四螺丝孔，所述第二螺丝孔通过螺丝与第四螺丝孔对应连接，以使所述探测针紧固连接于连接臂。

6、优选地，所述探测针位于第四螺丝孔上侧设有用于导线连接的接孔。

7、优选地，所述针座板上部设有固定安装的若干第五螺丝孔。

8、本实用新型相对于现有技术的有益效果：

9、本实用新型提供一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，采用2组4线的探测针以成对分开互为绝缘的设置方式，每1组为两条探测针触接于电子元件的左右两侧端，相对于传统两线探测针在在的引线电阻误差问题，4线探测针能够减少引线的电阻影响，提升4线检测结果和检测精度，且采用peek材料的连接臂具有能够弹性缓冲优点，启到保护探测针的针头端部，结构更为简单。

10、为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。

技术特征：

1.一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，包括：相同结构成对分开设置的测试组件，每一所述测试组件包括竖直设置的针座板、与所述针座板下端连接的2个连接臂、与每一所述连接臂末端连接的探测针，以形成每组2线作用于电子元件两端的四线检测探测针，所述探测针之间均互不连接绝缘设置，每一所述探测针的底部均设有用于触接电子元件的凸形部。

2.根据权利要求1所述的用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，所述连接臂包括第一连接块、第二连接块、第一连接条和第二连接条，所述第一连接块与第二连接块之间设有第一连接条和第二连接条，所述第一连接条位于第二连接条的一侧，形成中心空架的连接臂以减少重量，所述第一连接块上设有若干第一螺丝孔，所述第二连接块上设有若干第二螺丝孔，所述第一连接块与第二连接块、第一连接条、第二连接条为一体成型的连体件。

3.根据权利要求2所述的用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，所述针座板下端设有若干第三螺丝孔，所述第一螺丝孔通过螺丝与第三螺丝孔对应连接，以使所述第一连接块紧固连接于针座板。

4.根据权利要求2所述的用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，所述探测针上部设有第四螺丝孔，所述第二螺丝孔通过螺丝与第四螺丝孔对应连接，以使所述探测针紧固连接于连接臂。

5.根据权利要求4所述的用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，所述探测针位于第四螺丝孔上侧设有用于导线连接的接孔。

6.根据权利要求2所述的用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，其特征在于，所述针座板上部设有固定安装的若干第五螺丝孔。

技术总结
本技术公开了一种用于电子元件自动化测量设备的四线探测针机构，属于电子元件检测技术领域，包括相同结构成对分开设置的测试组件，每一所述测试组件包括竖直设置的针座板、与所述针座板下端连接的2个连接臂、与每一所述连接臂末端连接的探测针，以形成每组2线作用于电子元件两端的四线检测探测针，所述探测针之间均互不连接绝缘设置，每一所述探测针的底部均设有用于触接电子元件的凸形部。本技术采用2组4线的探测针以成对分开互为绝缘的设置方式，每1组为两条探测针触接于电子元件的左右两侧端，能够减少引线电阻的影响，提升检测精度，且中心空架的连接臂结构简单，也减少了大部分的重量，使用更为灵活便捷。

技术研发人员：郑建华,王鸿祥,郑泽楠,吴朝辉
受保护的技术使用者：深圳捷登智能有限公司
技术研发日：20220919
技术公布日：2024/1/13