一种半导体芯片的检测器的制作方法

1.本实用新型涉及检测器技术领域，尤其涉及一种半导体芯片的检测器。


背景技术：

2.半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件。半导体芯片是高精密的元器件，被广泛应用于手机、电脑、汽车、航天等领域。
3.半导体芯片在产线生产时需要进行检验，将抽取的芯片带回检测室，使用检测器对其电气性能进行检测。检测室远离产线，无法做到即时检测，因距离较远，且产线在不停机的状态下，检测的结果反馈时间较长，因此，一旦发生不良品，就会增大批量报废的数量，进而增加生产成本。
4.因此，有必要提供一种半导体芯片的检测器解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.针对上述情况，为克服现有技术缺陷，本实用新型提供了一种半导体芯片的检测器能够对产线上的半导体芯片进行即时检测，减少不良品数量。
6.为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
7.半导体芯片的检测器，包括：小车，所述小车上设有箱体，所述箱体内设有蓄电池和检测电路板，所述箱体的顶部设有检测台，所述检测台上开设有转接槽，所述转接槽内设有卡接的转接座，所述检测台上设有键盘和显示屏，键盘、显示屏与检测电路板连接，蓄电池给检测电路板供电，转接座通过检测台与检测电路板连接。
8.优选的，所述转接座的顶部设有卡槽和压板，所述卡槽内设由多个插槽，卡槽的大小与芯片大小适配，芯片的引脚与插槽相适配。
9.优选的，所述转接座的底部设有多个转接柱，转接柱与插槽连接，所述转接槽的底部设有与所述转接柱相适配的触点，触点通过排线与检测电路板连接。
10.优选的，所述转接槽底部设有两个限位槽，两个限位槽设于靠近转接槽的两侧边缘，所述转接座的底部设有与所述限位槽相适配的限位板。
11.优选的，所述限位板上设有第一限位孔，所述限位槽的一侧设有第二限位孔，第二限位孔开设于检测台的一侧并与限位槽相连通，所述第一限位孔与所述第二限位孔内设有限位销。
12.优选的，所述转接座的两侧均设有提拉槽，所述提拉槽的高度为1.5-2cm，其宽度6-8cm，可以容纳成人三指插入。
13.与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：
14.(1)本实用新型通过设置小车、箱体、检测台、转接座、键盘和显示屏，能够方便对产线上的半导体芯片进行初步的即时检测，减少不良品数量，通过卡接安装的转接座，方便更换转接座的同时，能够适配不同的半导体芯片，提高检测器的适用性；
15.(2)本实用新型通过设置卡槽、压板、插槽、转接柱和触点，能够方便固定芯片和对
芯片进行通电检测；
16.(3)本实用新型通过设置限位槽、限位板、第一限位孔、第二限位孔和限位销，能够方便的将转接座与检测台进行卡接固定，同时也方便更换转接座；
17.(4)本实用新型通过设置提拉槽，方便提起转接座，进而方便拆卸转接座。
附图说明
18.图1为本实用新型提供的半导体芯片的检测器的结构示意图；
19.图2为图1所示的半导体芯片的检测器中检测台与转接座的装配示意图；
20.图3为图1所示的半导体芯片的检测器中检测台的结构示意图；
21.图4为图1所示的半导体芯片的检测器中转接座的结构示意图；
22.图5为图1所示的半导体芯片的检测器中转接座的结构示意图。
23.其中，附图标记对应的名称为：1-小车，2-箱体，3-检测台，4-转接座，5-键盘，6-显示屏，7-转接槽，8-插槽，9-卡槽，10-转接柱，11-触点，12-限位槽，13-限位板，14-第一限位孔，15-第二限位孔，16-限位销，17-提拉槽，18-压板。
具体实施方式
24.下面结合附图说明和实施例对本实用新型作进一步说明，本实用新型的方式包括但不仅限于以下实施例。
25.实施例1：
26.如图1-5所示，为本实用新型提供的半导体芯片的检测器，包括：小车1，所述小车1上设有小车1，小车1底部安装有万向轮，方便移动，所述箱体2内设有蓄电池和检测电路板，所述箱体2的顶部设有检测台3，所述检测台3上开设有转接槽7，所述转接槽7内设有卡接的转接座4，所述检测台3上设有键盘5和显示屏6，键盘5、显示屏6与检测电路板连接，蓄电池给检测电路板供电，转接座4通过检测台3与检测电路板连接，使用时，小车1放置在产线旁边，需要检测时，将半导体芯片放置在转接座4上，然后通过键盘5进行检测参数的设定，检测电路板给转接座4上的半导体芯片引脚通电检测，检测内容包括阻值、电压等信息，检测电路板将结果进行处理后，显示在显示屏6上，方便初步判断该半导体芯片是否达标，若不达标，可以立刻进行停线处理，进而减少不良品的数量，若达标，还需将抽检样品待会检测室进行二次检测，防止错检，通过卡接的转接座4，可以方便对转接座4进行更换，以便适配不同型号芯片的检测，进而方便使用，本检测器仅作为初检使用，无需使用价格昂贵的精密零部件，整体造价低，适合在产线上推广。
27.通过设置小车1、箱体2、检测台3、转接座4、键盘5和显示屏6，能够方便对产线上的半导体芯片进行初步的即时检测，减少不良品数量，通过卡接安装的转接座4，方便更换转接座4的同时，能够适配不同的半导体芯片，提高检测器的适用性。
28.实施例2：
29.如图3-5所示，所述转接座4的顶部设有卡槽9和压板18，所述卡槽9内设由多个插槽8，卡槽9的大小与芯片大小适配，芯片的引脚与插槽8相适配，所述转接座4的底部设有多个转接柱10，转接柱10与插槽8连接，所述转接槽7的底部设有与所述转接柱10相适配的触点11，触点11通过排线与检测电路板连接，使用时，芯片放置在卡槽9内，并使芯片引脚插入
插槽8内，转动压板18，使压板18压在芯片上，检测电路板与触点11连接，触点11与转接柱10连接，转接柱10与插槽8连接，插槽8与芯片引脚连接，进而使检测电路板与芯片引脚连接，进而对芯片通电并检测。
30.通过设置卡槽9、压板18、插槽8、转接柱10和触点11，能够方便固定芯片和对芯片进行通电检测。
31.实施例3：
32.如图2-5所示，所述转接槽7底部设有两个限位槽12，两个限位槽12设于靠近转接槽7的两侧边缘，所述转接座4的底部设有与所述限位槽12相适配的限位板13，所述限位板13上设有第一限位孔14，所述限位槽12的一侧设有第二限位孔15，第二限位孔15开设于检测台3的一侧并与限位槽12相连通，所述第一限位孔14与所述第二限位孔15内设有限位销16，使用时，将限位板12对准限位槽12插入，然后使用限位销16插入第二限位孔15和第一限位孔14内，防止限位板13脱出限位槽12，进而对转接座4进行固定。
33.通过设置限位槽12、限位板13、第一限位孔14、第二限位孔15和限位销16，能够方便的将转接座4与检测台3进行卡接固定，同时也方便更换转接座4。
34.实施例4：
35.如图4所示，所述转接座4的两侧均设有提拉槽17，所述提拉槽17的高度为1.5-2cm，其宽度6-8cm，可以容纳成人三指插入，使用时，手指插入提拉槽17内向上用力，即可方便将转接座4提起。
36.通过设置提拉槽，方便提起转接座4，进而方便拆卸转接座4。
37.使用时，小车1放置在产线旁边，需要检测时，芯片放置在卡槽9内，并使芯片引脚插入插槽8内，转动压板18，使压板18压在芯片上，检测电路板与触点11连接，触点11与转接柱10连接，转接柱10与插槽8连接，插槽8与芯片引脚连接，进而使检测电路板与芯片引脚连接，进而对芯片通电并检测，检测内容包括阻值、电压等信息，检测电路板将结果进行处理后，显示在显示屏6上，方便初步判断该半导体芯片是否达标，若不达标，可以立刻进行停线处理，进而减少不良品的数量，若达标，还需将抽检样品待会检测室进行二次检测，防止错检；
38.将限位板12对准限位槽12插入，然后使用限位销16插入第二限位孔15和第一限位孔14内，防止限位板13脱出限位槽12，进而对转接座4进行固定，使转接座4卡接安装在检测台3上；
39.拆卸时，拔下限位销16，手指插入提拉槽17内向上用力，即可方便将转接座4提起，使转接座4与检测台3脱离。
40.上述实施例仅为本实用新型的优选实施方式之一，不应当用于限制本实用新型的保护范围，但凡在本实用新型的主体设计思想和精神上作出的毫无实质意义的改动或润色，其所解决的技术问题仍然与本实用新型一致的，均应当包含在本实用新型的保护范围之内。