一种集成电路测试用偏压测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及集成电路的测试设备领域，具体是一种集成电路测试用偏压测试装置。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，偏压测试便是对整体回路中的某个点进行测试，测试它相对某个基准点的电压，一般通过将与测试器电性连接的探针放置在测试基准点处，以此来对该处的基准点进行测试。
3.由于部分集成电路体积较小，此时在对探针进行放置时极为不便，同时探针需工作人员对齐进行手持处理，此时容易在测试时出现偏移的现象，将会影响集成电路芯片测试时的准确性。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试用偏压测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种集成电路测试用偏压测试装置，包括放置台，所述放置台的顶部开设有放置槽，所述放置台的外侧分布有用于对集成电路进行测试的测试机构，所述测试机构包括有焊接固定于所述放置台两侧的支撑杆，所述支撑杆的外侧通过轴承转动连接有转盘，所述转盘的外侧焊接固定有限位块，所述限位块的一侧设置有贯穿至所述限位块另一侧的导向杆，所述导向杆的一侧焊接固定有位于所述放置台上方的连接板，所述连接板的底部通过转轴转动连接有转块，所述转块的底部设置有探针，所述转块与所述连接板连接的转轴外侧设置有扭力弹簧；
7.所述支撑杆的顶部设置有用于对所述探针的位置进行观察的观察机构。
8.作为本实用新型再进一步的方案：所述观察机构包括有焊接固定于所述支撑杆顶部的放置架，所述放置架的内侧设置有位于所述放置台上方的放大镜镜片。
9.作为本实用新型再进一步的方案：所述放大镜镜片的直径大于所述放置槽的长度、宽度，所述放大镜镜片与所述放置架进行卡槽进行连接。
10.作为本实用新型再进一步的方案：所述限位块的数量设置有两个，且两个所述限位块沿着所述转盘的竖向中轴线对称设置，所述限位块的内侧设置有与所述导向杆相契合的通孔。
11.作为本实用新型再进一步的方案：所述导向杆的长度大于所述放置槽的宽度，所述限位块的内侧与所述导向杆接触的位置处设置有防滑垫。
12.作为本实用新型再进一步的方案：所述连接板的底部、所述转块的内侧分别设置
有与所述扭力弹簧两端相契合的卡槽。
13.作为本实用新型再进一步的方案：所述扭力弹簧处于未收卷状态时，所述探针与所述连接板之间的夹角为三十度。
14.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
15.1、通过设置测试机构，在对集成电路进行测试时可先将需测试的集成电路放置在放置槽的内侧，以此来对集成电路板进行限位，之后工作人员可通过观察机构来对集成电路板上的测试点进行观看，随后移动探针，在此过程中可通过移动导向杆来对探针的左右方向进行调节，之后可通过转盘的转动来对探针的前后方向进行调节，如此便可将探针的一端放置在测试点处，此时扭力弹簧复原，如此便可使探针的一端与集成电路板上的测试点贴合，以此来增加探针的稳定性，从而提高了测试的准确性；
16.2、通过设置观察机构，在将探针放置在测试点后，可通过放大镜镜片来对集成电路进行观看，由于放大效果，使得工作人员可更加清晰的对集成电路上的测试点进行观看，由此便可对探针进行精准的放置，从而为集成电路的测试提供了便利。
附图说明
17.图1为一种集成电路测试用偏压测试装置的结构示意图；
18.图2为一种集成电路测试用偏压测试装置的转块与连接板的连接示意图；
19.图3为一种集成电路测试用偏压测试装置的转盘与支撑杆的连接示意图。
20.图中：1、放置台；2、放置槽；3、测试机构；301、支撑杆；302、转盘；303、导向杆；304、限位块；305、连接板；306、转块；307、探针；308、扭力弹簧；4、观察机构；401、放大镜镜片；402、放置架。
具体实施方式
21.请参阅图1～3，本实用新型实施例中，一种集成电路测试用偏压测试装置，包括放置台1，放置台1的顶部开设有放置槽2，放置台1的外侧分布有用于对集成电路进行测试的测试机构3，测试机构3包括有焊接固定于放置台1两侧的支撑杆301，支撑杆301的外侧通过轴承转动连接有转盘302，转盘302的外侧焊接固定有限位块304，限位块304的一侧设置有贯穿至限位块304另一侧的导向杆303，导向杆303的一侧焊接固定有位于放置台1上方的连接板305，连接板305的底部通过转轴转动连接有转块306，转块306的底部设置有探针307，转块306与连接板305连接的转轴外侧设置有扭力弹簧308；
22.支撑杆301的顶部设置有用于对探针307的位置进行观察的观察机构4。
23.该种测试装置，在对集成电路进行测试时可先将需测试的集成电路放置在放置槽2的内侧，以此来对集成电路板进行限位，之后工作人员可通过观察机构4来对集成电路板上的测试点进行观看，随后移动探针307，在此过程中可通过移动导向杆303来对探针的左右方向进行调节，之后可通过转盘302的转动来对探针307的前后方向进行调节，之后便可向上拨动探针307，使得探针307位于测试点的上方，之后松开探针307，扭力弹簧308复原，如此便可使探针307的一端与集成电路板上的测试点贴合，以此来增加探针307的稳定性，从而提高了测试的准确性。
24.在图1中：观察机构4包括有焊接固定于支撑杆301顶部的放置架402，放置架402的
内侧设置有位于放置台1上方的放大镜镜片401。
25.该种测试装置，在将探针307放置在测试点后，可通过放大镜镜片401来对集成电路进行观看，由于放大效果，使得工作人员可更加清晰的对集成电路上的测试点进行观看，由此便可对探针307进行精准的放置，从而为集成电路的测试提供了便利。
26.在图1中：放大镜镜片401的直径大于放置槽2的长度、宽度，放大镜镜片401与放置架402进行卡槽进行连接。
27.该种测试装置，通过设置此结构可使工作人员透过放大镜镜片401来对集成电路进行观看，以此来为探针307的放置提供了便利，同时还可对放大镜镜片401进行更换。
28.在图1、3中：限位块304的数量设置有两个，且两个限位块304沿着转盘302的竖向中轴线对称设置，限位块304的内侧设置有与导向杆303相契合的通孔。
29.该种测试装置，通过设置此结构可使导向杆303相对限位块304发生移动，以此来对探针307的左右方向进行移动，同时可通过转盘302来对探针307的前后方向进行调节。
30.在图1中：导向杆303的长度大于放置槽2的宽度，限位块304的内侧与导向杆303接触的位置处设置有防滑垫。
31.该种测试装置，通过设置此结构可使探针307移至集成电路的不同位置处。
32.在图1、2中：连接板305的底部、转块306的内侧分别设置有与扭力弹簧308两端相契合的卡槽。
33.该种测试装置，通过设置此结构来使探针307相对连接板305发生转动时，扭力弹簧308发生收卷。
34.在图1、2中：扭力弹簧308处于未收卷状态时，探针307与连接板305之间的夹角为三十度。
35.该种测试装置，通过设置此结构可使工作人员透过放大镜镜片401对探针307的一端进行观看，以此来防止连接板305对探针307造成遮挡。
36.本实用新型的工作原理是：在对集成电路进行测试时可先将需测试的集成电路放置在放置槽2的内侧，以此来对集成电路板进行限位，在将探针307放置在测试点后，可通过放大镜镜片401来对集成电路进行观看，由于放大效果，使得工作人员可更加清晰的对集成电路上的测试点进行观看，由此便可对探针307进行精准的放置，随后移动探针307，在此过程中可通过移动导向杆303来对探针的左右方向进行调节，之后可通过转盘302的转动来对探针307的前后方向进行调节，如此便可将探针307的一端放置在测试点处，之后便可通过与探针307连接的测试机来对测试数据进行显示，此时扭力弹簧308复原，如此便可使探针307的一端与集成电路板上的测试点贴合，以此来增加探针307的稳定性，从而提高了测试的准确性。
37.以上所述的，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。