一种耐压测试装置的制作方法

1.本技术涉及继电器制造技术领域，尤其设计一种耐压测试装置。


背景技术：

2.在继电器的生产中，需要对继电器进行测试，以判断继电器的电性能和机械性能是否达到要求，其中包括耐压测试。对继电器进行耐压测试时，需要对产品进行触点之间耐压测试，反向触点之间耐压测试，以及触点与线圈之间耐压测试等，步骤较多，触点之间易于混淆，容易漏测和误测。


技术实现要素：

3.鉴于上述问题，本技术实施例提供了一种耐压测试装置，具有测试效率较高和测试准确率较高的有益效果。
4.本技术提供的一种耐压测试装置，包括工作台、采样组件、支撑件和升降组件；工作台具有采样区域，采样区域用于放置继电器；采样组件位于所述采样区域上方；支撑件固定于工作台上方；升降组件包括旋转件、连接件和升降轴，旋转件转动连接在支撑件上，连接件两端分别转动连接在升降轴和旋转件上，升降轴远离连接件的一端与采样组件连接；旋转件上设有把手，把手用于受力带动旋转件在支撑件上转动，并通过连接件带动升降轴升降，采样组件随升降轴升降而接触或远离继电器的待测触点，以对待测触点进行耐压测试。
5.通过采用上述方案：当继电器放置在采样区域时，继电器与采样组件在上下方向上互相正对，通过操作把手，带动旋转件在支撑件上转动，旋转件通过连接件带动升降轴升降，从而带动采样组件接触或远离继电器的待测触点，以对待测触点进行耐压测试。采样组件的结构一旦固定，沿特定轨迹下降后，能够接触到继电器的特定位置，从而检测特定的待测触点之间的电压，减小触点之间相互混淆导致的漏测和误测的概率。此外，由于采用把手带动旋转件转动，并由此带动采样组件升降，因此，采样组件升降的速度和幅度均由操作把手的人员来控制，相比于通过电机或者气缸等驱动升降的方式，手动驱动的方式更加可控，能够防止采样组件下降时速度过快或者下降幅度过大而导致继电器的触点受损。
6.在一些实施例中，支撑件包括第一限位部，旋转件包括第一抵接部，在升降组件带动采样组件下降至与待测触点接触后，第一抵接部用于与第一限位部抵接而限制采样组件的下降位置。
7.通过采用上述方案：第一抵接部与第一限位部抵接能够防止采样组件下降至特定位置后继续下降，防止人员操作不当导致的采样组件下降过多而损坏继电器的触点，同时，还能防止采样组件下降不到位而导致采样组件与待测触点未接触或者接触不良的情况发生，进一步减小误测的概率，提升测试结果的准确性。
8.在一些实施例中，支撑件包括第二限位部，旋转件包括第二抵接部，在升降组件带动采样组件上升至与待测触点脱离接触后，第二抵接部与第二限位部抵接而限制旋转件的
转动。
9.通过采用上述方案：第二抵接部与第二限位部的抵接能够限制旋转件的旋转角度，防止旋转件转动角度过大而在转过最高点后又开始向下旋转，并由此导致升降轴先向上移动再向下移动，从而防止升降轴在向下的过程中再次触碰到继电器的触点而导致误测。
10.在一些实施例中，在第二限位部和第二抵接部相互抵接时，第二抵接部还被配置为在采样组件和升降组件的重力作用下抵压第二限位部。
11.通过采用上述方案：当旋转件转动至第二抵接部与第二限位部接触时，人员可以松开把手，使得第二抵接部仅在采样组件和升降组件的重力作用下抵压第二限位部，从而限制旋转件的转动，在此过程中无需人员对旋转件始终施力来使采样组件始终保持在远离继电器的位置，装置的操作更加方便。
12.在一些实施例中，继电器测试装置还包括悬架，悬架的一端安装于工作台，另一端设于工作台上方以安装支撑件，支撑件与悬架之间设有安装调节结构，安装调节结构用于将支撑件安装于悬架，并用于调节支撑件在悬架上的安装位置。
13.通过采用上述方案：安装调节结构不仅能够将支撑件安装于悬架，还能在继电器的规格变化时，调整支撑件安装在悬架上的位置，以此来调整采样组件下降过程中与继电器的待测触点接触的位置，使得采样组件能够对新的规格的继电器进行耐压测试，测试装置的适应性更强。
14.在一些实施例中，安装调节结构包括背板、支撑板、第一紧固件和第二紧固件，背板安装于悬架上，支撑板安装于支撑件上，支撑板与背板中的一者上设有腰型孔，另一者上设有连接孔，第一紧固件依次穿过连接孔和腰型孔，并在穿出端连接第二紧固件，以将支撑板固定在背板上。
15.通过采用上述方案：当需要测试不同规格的继电器时，松开第二紧固件，将支撑板沿腰型孔的长度方向移动到需要的位置，然后重新将第二紧固件连在第一紧固件上，使得支撑板固定在调整后的位置。相应地，支撑件、升降组件和采样组件也随着支撑板移动，以适应新规格的继电器的尺寸和待测触点的位置，安装调节结构的安装方法和调整方法简单，方便操作。
16.在一些实施例中，悬架上设有导套，升降轴穿过导套，以沿导套的导向方向升降。
17.通过采用上述方案：升降轴在随着旋转件的转动而升降的过程中受到导套的限位，不会在水平方向上产生偏移，而只会竖直升降，从而带动采样组件沿竖直方向接触或远离待测触点，防止损坏触点，且有利于提高测试结果的准确性。
18.在一些实施例中，继电器测试装置还包括托盘，托盘上设有多个安装槽，安装槽用于安装继电器，托盘设于采样区域；采样组件用于同时与多个安装槽内的继电器接触，以同时对多个继电器进行耐压测试。
19.通过采用上述方案：多个继电器安装在同一托盘上的安装槽之后，只需要将托盘定位在采样区域，即可在采样组件下降的时候同时采集多个继电器的待测触点间的耐压数据，不仅提高了继电器在测试时的安装效率，还能一次性实现对多个继电器的测试，当需要测试的继电器较多时，能够显著提高继电器的测试效率。
20.在一些实施例中，采样区域设有多个，每个采样区域上方均设有一个采样组件、一
个支撑件和一个升降组件；工作台上设有沿多个采样区域的排布方向设置的滑道，托盘滑移设置在滑道上，以沿滑道滑移而带动继电器依次经过对应的采样区域。
21.通过采用上述方案：托盘在每个采样区域时，位于该采样区域上方的采样组件能够同时对位于该托盘内的多个继电器的待测触点进行耐压数值，当一个采样区域对应的采样组件采集完之后，继电器无需从托盘卸下来，托盘可直接沿轨道滑移至另一个采样区域，并在另一个采样区域由采样组件对继电器执行上述采样动作，以采集继电器上另外的待测触点间的耐压数值。上述多个采样区域及滑道的设置使得继电器的测试只需进行一次安装和一次拆卸，并通过不同采样区域对应的采样组件逐次对继电器的不同触点进行耐压测试，在减少误测、漏测和误判的同时，使继电器的测试效率进一步提高。
22.在一些实施例中，托盘上设有限位槽，工作台上滑移设置有限位件，限位件设于采样区域一侧，限位件用于在托盘移动至采样区域时朝托盘滑移而卡入限位槽。
23.通过采用上述方案：限位件卡入限位槽后，能够为托盘起到定位的作用，防止托盘在采样区域的停留位置不准而导致误测或漏测；同时该设置也能对托盘起到限位的作用，防止在采样组件接触待测触点的过程中，托盘受力发生偏移，导致采样组件与待测触点接触不稳，进而导致测量结果出现偏差。
24.在一些实施例中，采样组件包括固定件和设于固定件上的多个探针；固定件与升降轴连接，以带动多个探针同时升降；探针用于接触待测触点，以采集任意两个待测触点间的耐压数据；探针伸缩设置。
25.通过采用上述方案：探针的伸缩设置能够很好地保护待测触点不被压坏，又能紧密接触触点，防止出现误判现象。
26.上述说明仅是本技术实施例技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术实施例的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术实施例的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
附图说明
27.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
28.图1为本技术一实施例中的继电器测试装置的整体结构示意图。
29.图2为本技术一实施例中的继电器测试装置的升降组件在第一种状态的结构示意图。
30.图3为本技术一实施例中的继电器测试装置的升降组件在第二种状态的结构示意图。
31.图4为本技术一实施例中的安装调节结构的爆炸图。
32.图5为本技术另一实施例中的继电器测试装置的整体结构示意图。
33.图6为图5中a处的放大图。
34.图7为本技术一实施例中的采样组件的结构示意图。
35.附图标记说明：1、工作台；11、采样区域；2、采样组件；21、固定件；22、探针；3、支撑
件；31、第一限位部；32、第二限位部；4、升降组件；41、旋转件；411、第一抵接部；412、第二抵接部；42、连接件；43、升降轴；44、把手；5、悬架；6、安装调节结构；61、背板；62、支撑板；63、腰型孔；64、连接孔；65、第一紧固件；66、第二紧固件；7、导套；8、托盘；81、安装槽；82、限位槽；9、滑道；10、限位件；200、继电器。
具体实施方式
36.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
37.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。
38.本技术的说明书和权利要求书及附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖而不排除其它的内容。单词“一”或“一个”并不排除存在多个。
39.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语“实施例”并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
40.下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向，并不是对本技术的继电器测试装置的具体结构进行限定。例如，在本技术的描述中，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
41.此外，诸如x方向、y方向以及z方向等用于说明本实施例的继电器测试装置的各构件的操作和构造的指示方向的表述不是绝对的而是相对的，且尽管当电池包的各构件处于图中所示的位置时这些指示是恰当的，但是当这些位置改变时，这些方向应有不同的解释，以对应所述改变。
42.此外，本技术的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序，可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
43.在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指两个以上(包括两个)，同理，“多组”指的是两组以上(包括两组)。
44.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，机械结构的“相连”或“连接”可以是指物理上的连接，例如，物理上的连接可以是固定连接，例如通过固定件固定连接，例如通过螺丝、螺栓或其它固定件固定连接；物理上的连接也可以是可拆卸连接，例如相互卡接或卡合连接；物理上的
连接也可以是一体地连接，例如，焊接、粘接或一体成型形成连接进行连接。电路结构的“相连”或“连接”除了可以是指物理上的连接，还可以是指电连接或信号连接，例如，可以是直接相连，即物理连接，也可以通过中间至少一个元件间接相连，只要达到电路相通即可，还可以是两个元件内部的连通；信号连接除了可以通过电路进行信号连接外，也可以是指通过媒体介质进行信号连接，例如，无线电波。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
45.继电器上一般有多个触点，以继电器上有4个触点为例，四个触点分别为触点a、触点b、触点c和触点d，在进行耐压测试时，需要测试不同触点间的耐压性能，例如，需要测量触点a与触点b之间的耐压性能，触点b与触点c之间的耐压性能，以及触点c和触点d之间的耐压性能，此过程中，就需要在不同触点之间进行接线测试。通常在对继电器进行耐压测试时，存在以下问题：1、不同触点之间易于混淆，导致测试得到的结果并非目标触点间的实际耐压数据；2、接线不良导致测试结果不准；3、漏测，即遗漏对某两个触点的测试；4、每个继电器需要进行多次测试，测试效率低。
46.为了解决上述至少一方面的问题，如图1所示，本技术提供了一种耐压测试装置，包括工作台1、采样组件2、支撑件3和升降组件4；工作台1具有采样区域11，采样区域11用于放置继电器200；采样组件2位于所述采样区域11上方；支撑件3固定于工作台1上方；升降组件4包括旋转件41、连接件42和升降轴43，旋转件41转动连接在支撑件3上，连接件42两端分别转动连接在升降轴43和旋转件41上，升降轴43远离连接件42的一端与采样组件2连接；旋转件41上设有把手44，把手44用于受力带动旋转件41在支撑件3上转动，并通过连接件42带动升降轴43升降，采样组件2随升降轴43升降而接触或远离继电器200的待测触点，以测试待测触点间的耐压性能。
47.采样区域11是工作台1上的特定区域，用于放置继电器200，由于采样组件2位于采样区域11上方，所以当继电器200放置在采样区域11时，采样组件2下降后能够接触到继电器200的待测触点，从而对待测触点的耐压性能进行测试。
48.采样组件2至少包括用于接触待测触点的导电部分和用于与升降轴43连接的连接部分，通过连接部分带动导电部分下降，以接触待测触点，并进行耐压测试。可选地，带电部分位于采样组件2的下方，用于直接接触待测触点。
49.支撑件3固定于工作台1上方，起到支撑升降组件4的作用，支撑件3可以直接或间接的连接在工作台1上，例如，在一些实施例中，支撑台上设置有悬架5，支撑件3连接在悬架5上，以使工作台1间接的承受支撑件3的力。
50.当继电器200放置在采样区域11时，继电器200与采样组件2在上下方向上互相正对，通过操作把手44，带动旋转件41在支撑件3上转动，旋转件41通过连接件42带动升降轴43升降，从而带动采样组件2接触或远离继电器200的待测触点，以采集待测触点间的耐压数据。
51.以图1中的耐压测试装置所示的状态为例，当把手44沿r方向受力转动时，带动旋转件41也沿r方向围绕设置在旋转件41与支撑件3之间的第一转轴受力转动，当旋转件41转动时，带动连接件42向上移动，连接件42与旋转件41转动连接的一端(图中上端)随着旋转件41的转动而围绕第一转动轴做圆周运动；受到连接件42的牵引，升降轴43也会向上移动，且在没有任何限制的情况下，升降轴43的运动轨迹为与第一转动轴相同的圆弧轨迹；在升
降轴43的带动下，采样组件2的运动轨迹也成圆弧形，但是采样组件2的金属部分始终处于采样组件2的下方。
52.连接件42可以在旋转件41和升降轴43之间起到连接的作用，以将旋转件41的运动传递到升降轴43，由于连接件42的一端与旋转件41转动连接，另一端与升降轴43转动连接，因此，连接件42可以沿任意方向转动，以改变升降轴43的位置，而且升降轴43可以始终保持在竖直状态，以便于使采样组件2保持方向不变。
53.通过采用上述方案，采样组件2的结构一旦固定，则采样组件2沿特定轨迹下降后，能够接触到继电器200的特定位置，从而对特定的待测触点进行耐压测试，减小触点之间相互混淆导致的漏测和误测的概率。此外，由于采用把手44带动旋转件41转动，并由此带动采样组件2升降，因此，采样组件2升降的速度和幅度均由操作把手44的人员来控制，相比于通过电机或者气缸等驱动升降的方式，手动驱动的方式更加可控，能够防止采样组件2下降时速度过快或者下降幅度过大而导致继电器200的触点受冲击损坏。
54.如图2所示，在一些实施例中，支撑件3包括第一限位部31，旋转件41包括第一抵接部411，在升降组件4带动采样组件2下降至与待测触点接触后，第一抵接部411用于与第一限位部31抵接而限制采样组件2的下降位置。
55.第一限位部31可以是限位面、限位凸起，或者限位槽82等，第一抵接部411可以与第一限位部31的部分接触，也可以与第一限位部31整体接触，只要能够通过二者的配合限制旋转件41的转动，最终达到限制采样组件2继续下降的目的即可。
56.示例性的，图2所示的实施例中，第一限位部31被配置为位于支撑件3上的平面，第一抵接部411被配置为位于旋转件41上的平面，当旋转件41转动到两个平面相接触时，便不能再继续转动，从而使升降组件4停留在对应的位置处，人员也可以停止向把手44施力。其中，当旋转件41受到第一限位部31和第一抵接部411的限位而不能继续转动时，采样组件2所处的位置一般为采样组件2与继电器200的待测触点稳定接触的位置。
57.第一抵接部411与第一限位部31的抵接能够防止采样组件2下降至特定位置后继续下降，防止人员操作不当导致的采样组件2下降过多而损坏继电器200的触点，同时，还能防止采样组件2下降不到位而导致采样组件2与待测触点未接触或者接触不良的情况发生，进一步减小误测的概率，提升测量结果的准确性。
58.如图3所示，在一些实施例中，支撑件3包括第二限位部32，旋转件41包括第二抵接部412，在升降组件4带动采样组件2上升至与待测触点脱离接触后，第二抵接部412与第二限位部32抵接而限制旋转件41的转动。
59.第二限位部32可以与第一限位部31的结构相类似，第二抵接部412的结构也可以与第一抵接部411的结构相类似，此处不再赘述。
60.示例性的，在图3所示的实施例中，第二限位部32被配置为位于支撑件3上的平面，第二抵接部412被配置为位于旋转件41上的平面，当旋转件41转动到两个平面相接触时，便不能再继续转动，从而使升降组件4停留在对应的位置处，人员也可以停止向把手44施力。
61.上述第二限位部32与第二抵接部412的限位结构能够防止旋转件41转动角度过大的情况，从而防止旋转件41转过最高点后又开始向下旋转较大行程，并减小由此导致的升降轴43先向上移动后再向下移动较大行程，且在向下的过程中再次触碰到继电器200的触点而导致误测的概率。
62.如图3所示，在一些实施例中，在第二限位部32和第二抵接部412相互抵接时，第二抵接部412还被配置为在采样组件2和升降组件4的重力作用下抵压第二限位部32。
63.示例性的，可以使旋转部在转过最高点之后，第二限位部32再和第二抵接部412接触，这样一来，旋转部在采样组件2和升降组件4的重力作用下的转动趋势应该是向下的，从而能够使第二抵接部412抵压第二限位部32。
64.上述设置使得旋转件41转动至第二抵接部412与第二限位部32接触时，人员可以松开把手44，使第二抵接部412仅在采样组件2和升降组件4的重力作用下抵压第二限位部32，从而限制旋转件41的转动，在此过程中无需人员对旋转件41始终施力来使采样组件2始终保持在远离继电器200的位置，装置的操作更加方便。
65.可以理解的是，第一限位部31和第一抵接部411也可以被配置为当第一限位部31和第一抵接部411相互抵接时，第一抵接部411在采样组件2和升降组件4的重力作用下抵压第一限位部31。这样一来，当采样组件2下降到与继电器200的待测触点稳定接触时，人员可以松开把手44，停止向旋转件41继续施力，使第一抵接部411在采样组件2和升降组件4的重力作用下抵压第一限位部31，以实现限位。
66.由于在实际生产过程中，不止生产一种规格的继电器200，而不同规格的继电器200的尺寸大小和触点位置可能存在差异，因此，当更换不同规格的继电器200进行测试时，可能需要调节采样组件2的下降后的高度，使得采样组件2能够与更换规格后的继电器200的待测触点稳定接触，且不会损坏继电器200。
67.为了解决上述问题，如图1至图3所示，在一些实施例中，继电器测试装置还包括悬架5，悬架5的一端安装于工作台1，另一端设于工作台1上方以安装支撑件3，支撑件3与悬架5之间设有安装调节结构6，安装调节结构6用于将支撑件3安装于悬架5，并用于调节支撑件3在悬架5上的安装位置。
68.安装调节结构6需要满足两个条件，一是能够将支撑件3稳定的连接在悬架5上，二是要便于拆装，以便于更换支撑件3在悬架5上的连接位置。通过改变支撑件3在悬架5上的安装位置，使得升降组件4的结构和行程无需变化，即可使采样组件2下降后能够对新的规格的继电器200进行测试，测试装置的适应性更强。
69.如图4所示，在一些实施例中，安装调节结构6包括背板61、支撑板62、第一紧固件65和第二紧固件66，背板61安装于悬架5上，支撑板62安装于支撑件3上，支撑板62与背板61中的一者上设有腰型孔63，另一者上设有连接孔64，第一紧固件65依次穿过连接孔64和腰型孔63，并在穿出端连接第二紧固件66，以将支撑板62固定在背板61上。
70.其中，连接孔64为通孔，第一紧固件65可以是螺钉、螺栓等，第二紧固件66可以是螺母。当然，第一紧固件65和第二紧固件66也可以是其他能够相互配合的结构，只要能够实现背板61与支撑板62之间的相对固定即可。
71.腰型孔63的长度方向可以沿水平方向设置，以使支撑件3沿腰型孔63的长度方向移动时，能够调整采样组件2在水平方向上的位置，以适应继电器200的放置位置；腰型孔63也可以沿竖直方向设置，以使支撑件3沿腰型孔63的长度方向移动时，能够调整采样组件2在竖直方向上的下降高度，以适应待测触点的高度；腰型孔63也可以倾斜设置，以使支撑件3沿腰型孔的长度方向移动时，能够同时调整采样组件2在水平方向和竖直方向上的位置，以适应继电器200触点的高度和放置位置。
72.采用上述方案，当需要调整采样组件2的位置时，首先松开第一紧固件65与第二紧固件66的连接，将支撑件3、支撑板62、升降组件4和采样组件2一起沿腰型孔63的长度方向移动至新的位置处，然后将第一紧固件65依次穿过连接孔64和腰型孔63，并在穿出的一端连接第二紧固件66，使第一紧固件65与第二紧固件66相配合而将支撑板62抵压在背板61上，从而实现对支撑件3的连接和固定，当支撑件3固定好之后，采样组件2下降的位置也随即确定。
73.在另外一些实施例中，安装调节结构6也可以包括设置在支撑件3上的第一连接孔64和设置在悬架5上的多个第二连接孔64，利用螺栓等连接件42穿过第一连接孔64和其中一个第二连接孔64，实现将支撑件3固定在不同位置的目的，该结构同样能够实现对支撑件3的位置的调节，只不过相比于上述实施例中的结构，由于第二连接孔64的数量有限，所以支撑件3可调节的范围更小。
74.通过采用上述方案，安装调节结构6不仅能够将支撑件3安装于悬架5，还能在继电器200的规格变化时，调整支撑件3安装在悬架5上的位置，以此来调整采样组件2下降过程中与继电器200的待测触点接触的位置，使得采样组件2能够对新的规格的继电器200进行耐压测试，继电器测试装置的适应性更强。
75.如图1至图3所示，在一些实施例中，悬架5上设有导套7，升降轴43穿过导套7，以沿导套7的导向方向升降。
76.通过采用上述方案：升降轴43在随着旋转件41的转动而升降的过程中受到导套7的限位，从而不会在水平方向上产生偏移，而只会竖直升降，进而带动采样组件2沿竖直方向接触或远离待测触点。这样一来，采样组件2作用在待测触点上的力能够挤压待测触点，但不会施加使待测触点产生弯曲或者偏移的力，从而防止在测试过程中损坏触点，且有利于提高测试结果的准确性。
77.如图5所示，在一些实施例中，继电器测试装置还包括托盘8，托盘8上设有多个安装槽81，安装槽81用于安装继电器200，托盘8设于采样区域11；采样组件2用于同时与多个安装槽81内的继电器200接触，以采集多个继电器200的待测触点间的耐压数据。
78.在不设置托盘8时，当需要测试继电器200的两个待测触点之间的耐压数据时，需要先将一个继电器200固定在工作台1上的采样区域11，然后驱动采样组件2下降，对继电器200进行耐压测试，测试完成后，卸除该继电器200，再重复上述测试动作，以逐个对继电器200进行耐压测试。
79.采用托盘8之后，假设托盘8上有五个安装槽81，那么，可以将五个继电器200逐个放置在安装槽81内，然后将托盘8安装在工作台1上的采样区域11，接着通过升降组件4驱动采样组件2下降，对五个继电器200同时进行耐压测试，测试完成后，卸除托盘8，取出五个继电器200，再重新装入五个继电器200进行耐压测试。在该过程中，一次性可以对五个继电器200进行耐压测试，测试效率较高。
80.可以理解的是，托盘8也可以始终固定在采样区域11，只需要在测试之前将五个继电器200分别装入安装槽81，在测试完成之后将五个继电器200从安装槽81取出即可，这样一来，整个测试效率将进一步提高。
81.通过采用上述方案，多个继电器200安装在同一托盘8上的安装槽81之后，只需要将托盘8定位在采样区域11，即可在采样组件2下降的时候同时对多个继电器200的待测触
点进行耐压测试，提高了继电器200在测试时的安装效率，当需要测试的继电器200较多时，能够显著提高继电器200的测试效率。
82.如图5所示，在一些实施例中，采样区域11设有多个，每个采样区域11上方均设有一个采样组件2、一个支撑件3和一个升降组件4；工作台1上设有沿多个采样区域11的排布方向设置的滑道9，托盘8滑移设置在滑道9上，以沿滑道9滑移而带动继电器200依次经过对应的采样区域11。
83.滑道9可以是设置在工作台1上的凸出的轨道，托盘8底部设置滑槽，将托盘8放置在工作台1时，使滑槽与轨道配合，从而使轨道不仅能够用于定位托盘8，还能对托盘8的运动方向进行导向。
84.滑道9还可以是设置在工作台1上的长条形凹槽，托盘8底部设置有凸起，将托盘8放置在工作台1时，使凸起与凹槽配合。该设置同样能够实现滑道9对托盘8的定位和导向。
85.托盘8沿滑道9的滑移可以是手动驱动，也可以是气缸或者电机驱动，本技术实施例不做限制。
86.每个采样区域11上方的采样组件2可以分别用于不同触点之间的电连接，以对不同触点进行耐压测试，如此一来，当托盘8携带继电器200停在不同的采样区域11时，不同的采样组件2能够对继电器200的不同触点进行耐压测试。
87.采用上述方案，托盘8在每个采样区域11时，位于该采样区域11上方的采样组件2能够对继电器200的待测触点进行耐压测试，当一个采样区域11对应的采样组件2采集完之后，继电器200无需从托盘8卸下来，托盘8可直接沿轨道滑移至另一个采样区域11，并在另一个采样区域11由采样组件2对继电器200执行上述采样动作，以对继电器200的其他触点进行耐压测试，当托盘8从滑道9的一端滑移至另一端后，继电器200需要被测试的多组触点均能够完成测试。
88.上述多个采样区域11及滑道9的设置使得继电器200的测试只需进行一次安装和一次拆卸，并通过不同采样区域11对应的采样组件2逐次对继电器200的不同触点进行耐压测试，在减少误测、漏测和误判的同时，使继电器200的测试效率进一步提高。
89.如图5和图6所示，在一些实施例中，托盘8上设有限位槽82，工作台1上滑移设置有限位件10，限位件10设于采样区域11一侧，限位件10用于在托盘8移动至采样区域11时朝托盘8滑移而卡入限位槽82。
90.如图5所示，当采样区域11设置有三个、对应的升降组件4和采样组件2设置有三组时，限位件10也可以设置有三个，每个限位件10位于一个采样区域11一侧，当限位件10与限位槽82配合时，托盘8刚好携带着继电器200位于采样区域11内，换句话说，限位件10卡入限位槽82后，能够为托盘8起到定位的作用，当限位件10无法与限位槽82相卡合时，说明托盘8没有停在特定位置，这样一来也能够防止托盘8在采样区域11的停留位置不准而导致误测或漏测。
91.此外，该设置也能对托盘8起到限位的作用，防止在采样组件2接触待测触点的过程中，托盘8受力发生偏移，导致采样组件2与待测触点接触不稳，进而导致测量数据出现偏差。
92.如图7所示，在一些实施例中，采样组件2包括固定件21和设于固定件21上的多个探针22；固定件21与升降轴43连接，以带动多个探针22同时升降；探针22用于接触待测触
点，以对任意两个待测触点进行耐压测试；探针22伸缩设置。
93.固定件21可以是非金属件，从而在起到固定探针22的作用的同时，不会导致多个探针22之间电连接。
94.探针22一旦连接在固定件21上，多个探针22之间便具有固定的位置关系，当升降轴43带动固定件21升降的时候，固定件21能够同时带动多个探针22同步升降，由于多个探针22之间的位置相对固定，所以，只要探针22分别对准待测触点，那么，固定件21带动多个探针22同时升降之后，多个探针22能够分别与其中一个待测触点接触，这样一来，可以通过在与相应的待测触点接触的探针22之间接线，便能够利用探针22与待测触点的接触来采集相应的待测触点之间的耐压数据，以实现对待测触点的耐压测试。
95.例如，需要测量继电器200的触点a和触点c之间的耐压数据，此时，将固定件21的位置调整到有两个探针22分别与触点a和触点c正对，这样，当固定件21带动多个探针22下降时，两个探针22分别与触点a和触点c接触，从而测量触点a和触点c之间的耐压数据。可以理解的是，当一次性测量多个继电器200的触点a和触点c之间的耐压数据时，可以在采样区域11放置多个继电器200，在固定件21上固定多个探针22，固定件21带动多个探针22同时下降，每个继电器200的触点a和触点c均能与对应的一个探针22接触，从而对多个继电器200的触点a和触点c同时进行。
96.探针22的伸缩设置可以通过设置弹性件实现，弹性件可以是弹簧等具有受力伸缩性能的部件。探针22的伸缩设置能够很好地保护待测触点不被压坏，又能紧密接触触点，防止出现误判现象。
97.在一些实施例中，探针22为金属件，探针22与固定件21之间设置有弹性件，这样一来，当探针22抵压待测触点时，探针22会挤压弹性件而发生回缩，并且，在弹性件的抵压作用下，探针22与待测触点之间紧密接触，不会出现接触不良现象，也能够防止损坏探针22或待测触点。
98.在一些实施例中，探针22为两段套接的金属件，两段金属件之间抵压设置有弹性件，当探针22抵压待测触点时，两段金属件会相互靠近而挤压弹性件，使弹性件发生回缩，探针22整体长度缩短，并且，在弹性件的抵压作用下，探针22与待测触点之间紧密接触，不会出现接触不良现象，也能够防止损坏探针22或待测触点。
99.本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本技术的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
100.以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。