一种激光芯片老化测试用夹具的制作方法

本技术涉及芯片，具体为一种激光芯片老化测试用夹具。

背景技术：

1、在生产激光芯片时，为了实现激光芯片的高效生产，需要将激光芯片固定在相适配的夹具中配合外部仪器对夹具中固定的激光芯片进行加工老化测试。其中芯片老化测试用夹具是一种用于将加工得到的独立芯片进行固定，以便检测仪器对其进行测试的设备，其在芯片测试的领域中得到了广泛的使用。

2、经检索，中国专利授权号为cn211292976u的专利，公开了一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条，解决了目前芯片测试夹具结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高的问题。但是该装置还存在不足之处在于，该装置中通过驱动装置中的第一丝杆和第二丝杆近离第一绝缘条的一端的螺纹的旋向均与远离第一绝缘条的一端的螺纹的旋向相反，实现绝缘托条上芯片夹持的目的，其中第一绝缘条与第二绝缘条之间通过驱动装置之间的调节，对绝缘托条上的芯片进行夹持为硬性夹持，若第一绝缘条与第二绝缘条之间通过驱动装置调节的受力过大时，容易对第一绝缘条与第二绝缘条之间夹持的芯片造成受损，严重影响芯片测试效率低的问题，若第一绝缘条与第二绝缘条之间通过驱动装置调节的受力过小时，又会导致第一绝缘条与第二绝缘条之间夹持的芯片固定效果不好。

3、因此我们提出了一种激光芯片老化测试用夹具来解决上述问题。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种激光芯片老化测试用夹具，解决了上述背景技术中所提出的问题。

3、(二)技术方案

4、本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案：

5、一种激光芯片老化测试用夹具，包括托板，所述托板的顶部设有两个对称的移动槽，所述移动槽的内侧壁固定连接有一号弹簧，所述一号弹簧的另一端固定连接有与移动槽内壁相互贴合的移动块，所述移动块的顶部与托板的顶部均固定连接有形状大小等同的一号夹板，两个所述一号夹板相对应的一面均设有凹型状的夹槽，所述夹槽的内壁贴合有二号夹板，所述二号夹板的顶部固定连接有连接杆，所述连接杆的另一端贯穿至一号夹板的顶部，且固定连接有与一号夹板顶部贴合的限位板，所述二号夹板的顶部与夹槽的内顶壁之间固定连接有二号弹簧，所述二号弹簧套接在连接杆的表面上。

6、进一步地，所述移动块的顶部与托板的顶部保持平齐，所述托板的底部固定连接有四个对称的支撑柱。

7、进一步地，所述移动槽的内侧壁固定连接有导向杆，所述导向杆的另一端贯穿至移动块的另一侧，所述一号弹簧套接在导向杆的表面上。

8、进一步地，所述导向杆位于移动块贯穿的一端固定连接有固定块，所述固定块的表面与移动槽相对应的内壁固定连接。

9、进一步地，所述二号夹板的顶部固定连接有两个对称的伸缩杆，所述伸缩杆的另一端与夹槽的内顶壁固定连接。

10、进一步地，所述限位板的表面设有连通的开口槽，所述开口槽的形状呈方形结构。

11、(三)有益效果

12、与现有技术相比，本实用新型提供了一种激光芯片老化测试用夹具，具备以下有益效果：

13、1、本实用新型，通过移动槽、一号弹簧、移动块、一号夹板和夹槽的设计，并再与托板顶部设计的一号夹板之间的相互配合下，是为了便于对不同尺寸的激光芯片进行夹持，使该夹具对激光芯片老化测试的固定效果较好，同时移动块顶部设计的一号夹板在一号弹簧的作用力下，还能有效避免激光芯片因硬性夹持的夹持力过大发生受损，影响激光芯片老化测试效率低的问题。

14、2、本实用新型，通过二号夹板、连接杆、限位板和二号弹簧的设计，是为了进一步对两个一号夹板之间且对应夹槽之间限位的激光芯片的顶部进行限位，这样能进一步提高激光芯片的固定效果，使其两个一号夹板之间限位的激光芯片位置精确不会移动，有助于检测仪器更稳定对其该夹具限位的激光芯片进行老化测试。

技术特征：

1.一种激光芯片老化测试用夹具，包括托板(1)，其特征在于：所述托板(1)的顶部设有两个对称的移动槽(2)，所述移动槽(2)的内侧壁固定连接有一号弹簧(3)，所述一号弹簧(3)的另一端固定连接有与移动槽(2)内壁相互贴合的移动块(4)，所述移动块(4)的顶部与托板(1)的顶部均固定连接有形状大小等同的一号夹板(5)，两个所述一号夹板(5)相对应的一面均设有凹型状的夹槽(6)，所述夹槽(6)的内壁贴合有二号夹板(7)，所述二号夹板(7)的顶部固定连接有连接杆(8)，所述连接杆(8)的另一端贯穿至一号夹板(5)的顶部，且固定连接有与一号夹板(5)顶部贴合的限位板(9)，所述二号夹板(7)的顶部与夹槽(6)的内顶壁之间固定连接有二号弹簧(10)，所述二号弹簧(10)套接在连接杆(8)的表面上。

2.根据权利要求1所述的一种激光芯片老化测试用夹具，其特征在于：所述移动块(4)的顶部与托板(1)的顶部保持平齐，所述托板(1)的底部固定连接有四个对称的支撑柱(11)。

3.根据权利要求1所述的一种激光芯片老化测试用夹具，其特征在于：所述移动槽(2)的内侧壁固定连接有导向杆(12)，所述导向杆(12)的另一端贯穿至移动块(4)的另一侧，所述一号弹簧(3)套接在导向杆(12)的表面上。

4.根据权利要求3所述的一种激光芯片老化测试用夹具，其特征在于：所述导向杆(12)位于移动块(4)贯穿的一端固定连接有固定块(13)，所述固定块(13)的表面与移动槽(2)相对应的内壁固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种激光芯片老化测试用夹具，其特征在于：所述二号夹板(7)的顶部固定连接有两个对称的伸缩杆(14)，所述伸缩杆(14)的另一端与夹槽(6)的内顶壁固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种激光芯片老化测试用夹具，其特征在于：所述限位板(9)的表面设有连通的开口槽(15)，所述开口槽(15)的形状呈方形结构。

技术总结
本技术属于芯片技术领域，尤其为一种激光芯片老化测试用夹具，包括托板，所述托板的顶部设有两个对称的移动槽，所述移动槽的内侧壁固定连接有一号弹簧，所述一号弹簧的另一端固定连接有与移动槽内壁相互贴合的移动块，所述移动块的顶部与托板的顶部均固定连接有形状大小等同的一号夹板。本技术通过移动槽、一号弹簧、移动块、一号夹板和夹槽的设计，并再与托板顶部设计的一号夹板之间的相互配合下，是为了便于对不同尺寸的激光芯片进行夹持，使该夹具对激光芯片老化测试的固定效果较好，同时移动块顶部设计的一号夹板在一号弹簧的作用力下，还能有效避免激光芯片因硬性夹持的夹持力过大发生受损，影响激光芯片老化测试效率低的问题。

技术研发人员：刘志华,李宁,方力
受保护的技术使用者：无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
技术研发日：20221121
技术公布日：2024/1/11