一种EBSD试样镶样工装的制作方法

本技术涉及金属检测设备，具体涉及一种ebsd试样镶样工装。

背景技术：

1、现有技术采用自动设备制备ebsd试样在经过镶样、预磨、抛光，再进行震动抛光等步骤制备出符合ebsd观测要求的试样表面，要进行ebsd观测还需要将试样从镶料中取出，目前将试样从包裹试样的镶料中取出时由于镶料具备一定的强度和硬度，取出样品的过程通常比较困难，破坏了镶料的完整状态的同时往往会损伤试样并污染表面，影响试样的观测效果。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种ebsd试样镶样工装，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种ebsd试样镶样工装，包括空心的镶样套筒，所述空心的镶样套筒内腔套设有镶样内柱，所述镶样套筒与所述镶样内柱具有高度差，所述镶样套筒的尺寸与镶样机内腔尺寸配合。

4、进一步优选的，所述镶样套筒的高度小于镶样内柱的高度，所述镶样内柱套设在所述镶样套筒内腔形成中部高两端低的凸台。

5、优选的，所述镶样套筒的高度大于镶样内柱的高度，所述镶样内柱套设在所述镶样套筒内腔形成中部低两端高的凹槽。

6、优选的，所述镶样套筒与镶样内柱采用过渡配合。

7、优选的，所述镶样套筒与镶样内柱合为一体通过一体成型，且镶样套筒顶部外沿设有倒角。

8、优选的，所述镶样套筒直径为25mm。

9、优选的，所述镶样套筒直径为30mm。

10、优选的，所述镶样套筒直径为40mm。

11、本实用新型具有的有益效果：

12、1.本实用新型采用在镶样时增加一套可反复使用的工装，将通常倒置式镶样(样品的观测面向下)改为正置式镶样(样品的观测面向上)，镶样套筒与镶样内柱具有一定高度差，形成一个凸台或凹槽，镶料凝固后与工装的凸台或凹槽紧密连接并且在水平方向受到工装的阻力，此阻力可以让所镶的试样在使用自动磨抛机和震动抛光设备时不发生位移，并且工装还可以作为夹持部位，不会破坏镶料的完整，在制备的试样满足ebsd观测需要后，可以方便的将样品取出，并且由于采用正置式镶样还保证了观测面与样品背面的平行，利于保证ebsd要求试样观测倾角70度要求。

13、2.本实用新型采用在镶样时增加一套可反复使用的工装，工装本身具有一定的体积，镶样时可以节省镶料的使用。

技术特征：

1.一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：包括空心的镶样套筒(1)，所述空心的镶样套筒(1)内腔套设有镶样内柱(2)，所述镶样套筒(1)与所述镶样内柱(2)具有高度差，所述镶样套筒(1)的尺寸与镶样机内腔尺寸配合。

2.根据权利要求1所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)的高度小于镶样内柱(2)的高度，所述镶样内柱(2)套设在所述镶样套筒(1)内腔形成中部高两端低的凸台。

3.根据权利要求1所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)的高度大于镶样内柱(2)的高度，所述镶样内柱(2)套设在所述镶样套筒(1)内腔形成中部低两端高的凹槽。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)与镶样内柱(2)采用过渡配合。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)与镶样内柱(2)合为一体通过一体成型，且镶样套筒(1)顶部外沿设有倒角。

6.根据权利要求1-3任意一项所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)直径为25mm。

7.根据权利要求1-3任意一项所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)直径为30mm。

8.根据权利要求1-3任意一项所述的一种ebsd试样镶样工装，其特征在于：所述镶样套筒(1)直径为40mm。

技术总结
本技术公开了一种EBSD试样镶样工装，属于金属检测设备技术领域，包括空心的镶样套筒，所述空心的镶样套筒内腔套设有镶样内柱，所述镶样套筒与所述镶样内柱具有高度差，所述镶样套筒的尺寸与镶样机内腔尺寸配合。本技术采用在镶样时增加一套可反复使用的工装，将通常倒置式镶样(样品的观测面向下)改为正置式镶样(样品的观测面向上)，所镶的试样适合用自动磨抛机和震动抛光设备制样，在制备的试样满足EBSD观测需要后，可以方便的将样品取出，并且由于采用正置式镶样还保证了观测面与样品背面的平行，利于保证EBSD要求试样观测倾角70度要求。

技术研发人员：李卫军
受保护的技术使用者：李卫军
技术研发日：20221201
技术公布日：2024/1/15