一种硅片检测自动对焦结构的制作方法

本技术涉及硅片检测，具体为一种硅片检测自动对焦结构。

背景技术：

1、硅片是太阳能电池片的载体，硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低，因此需要对来料硅片进行检测，该工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量，这些参数主要包括硅片表面不平整度、少子寿命、电阻率、p/n型和微裂纹等。该组设备分自动上下料、硅片传输、系统整合部分和四个检测模块。

2、公开号为cn216082451u的专利公开了一种硅片检测自动对焦装置，涉及硅片检测技术领域，包括矩形框架，还包括：安装在所述矩形框架上的观察机构；和安装在所述矩形框架上的第一移动组件；和安装在所述第一移动组件上的第二移动组件；和安装在所述第二移动组件上的第三移动组件；所述观察机构包括凸透镜，所述凸透镜两端固定连接第一驱动轴，本实用新型的有益效果是：通过设置观察机构，能够实现凸透镜的升降和旋转，便于进行快速对焦，加快检测速度，大大提升了检测效率，通过设置第一移动组件、第二移动组件和第三移动组件，实现了硅片的全方位移动，便于对硅片进行全方位检测，大大提升了检测效率。

3、上述专利是通过可通过旋转第一旋套带动凸透镜进行旋转，从而完成凸透镜的对焦，然而第一旋套带动凸透镜进行旋转后无法固定，而聚焦后的工作是一个长时间的过程，所以即使在聚焦后，也无法长时间保持聚焦的状态，从而影响到硅片检测效果。

4、为此，我们提出一种硅片检测自动对焦结构。

技术实现思路

1、鉴于上述和/或现有一种硅片检测自动对焦结构中存在的问题，提出了本实用新型。

2、因此，本实用新型是在支撑板的表面设置驱动组件，利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动，并带动伸缩杆上下移动，从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动，通过连杆带动连接块进行上下移动，使凸透镜的一个角进行升降，从而调节凸透镜的角度，完成聚焦，以解决上述背景技术中提出的聚焦后无法长时间保持住的问题。

3、一种硅片检测自动对焦结构，包括底座、支撑板、硅片以及凸透镜，所述支撑板固定连接在底座的上表面，所述支撑板的顶端连接有能够调节凸透镜角度的驱动组件，所述驱动组件的底端与凸透镜外表面相连接。

4、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述驱动组件包括螺纹杆，所述螺纹杆有三个，所述螺纹杆的表面与支撑板的顶端转动连接。

5、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述螺纹杆的顶端延伸至支撑板的上方，所述螺纹杆位于支撑板下方位置的表面螺纹连接有螺纹套筒。

6、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述螺纹套筒的外壁固定连接有升降板，所述升降板的底端固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的输出端固定连接有连接板。

7、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述连接板远离伸缩杆的一端转动连接有连杆，所述凸透镜的表面固定连接有连接块。

8、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述连接块有三个，所述连接块远离凸透镜的一端与连杆转动连接。

9、作为本实用新型的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案，其中所述底座上表面位于支撑板下方的位置固定连接有质物板，所述质物板的上表面开设有质物槽，所述硅片放置在质物槽的内壁。

10、与现有技术相比的优点：

11、1、通过设置驱动组件，利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动，并带动伸缩杆上下移动，从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动，通过连杆带动连接块进行上下移动，使凸透镜的一个角进行升降，从而调节凸透镜的角度；

12、2、通过设置伸缩杆，利用伸缩杆的伸缩，补足凸透镜倾斜式在水平方向上的长度差，避免凸透镜倾斜后，被连接块损坏。

技术特征：

1.一种硅片检测自动对焦结构，包括底座(1)、支撑板(2)、硅片(24)以及凸透镜(5)，其特征在于，所述支撑板(2)固定连接在底座(1)的上表面，所述支撑板(2)的顶端连接有能够调节凸透镜(5)角度的驱动组件，所述驱动组件的底端与凸透镜(5)外表面相连接。

2.根据权利要求1所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述驱动组件包括螺纹杆(61)，所述螺纹杆(61)有三个，所述螺纹杆(61)的表面与支撑板(2)的顶端转动连接。

3.根据权利要求2所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述螺纹杆(61)的顶端延伸至支撑板(2)的上方，所述螺纹杆(61)位于支撑板(2)下方位置的表面螺纹连接有螺纹套筒(62)。

4.根据权利要求3所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述螺纹套筒(62)的外壁固定连接有升降板(63)，所述升降板(63)的底端固定连接有伸缩杆(67)，所述伸缩杆(67)的输出端固定连接有连接板(64)。

5.根据权利要求4所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述连接板(64)远离伸缩杆(67)的一端转动连接有连杆(65)，所述凸透镜(5)的表面固定连接有连接块(66)。

6.根据权利要求5所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述连接块(66)有三个，所述连接块(66)远离凸透镜(5)的一端与连杆(65)转动连接。

7.根据权利要求1所述的一种硅片检测自动对焦结构，其特征在于，所述底座(1)上表面位于支撑板(2)下方的位置固定连接有质物板(3)，所述质物板(3)的上表面开设有质物槽(31)，所述硅片(24)放置在质物槽(31)的内壁。

技术总结
本技术公开了一种硅片检测自动对焦结构，包括底座、支撑板、硅片以及凸透镜，所述支撑板固定连接在底座的上表面，所述支撑板的顶端连接有能够调节凸透镜角度的驱动组件，所述驱动组件的底端与凸透镜外表面相连接，涉及硅片检测技术领域，与现有技术相比的优点是通过设置驱动组件，利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动，并带动伸缩杆上下移动，从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动，通过连杆带动连接块进行上下移动，使凸透镜的一个角进行升降，从而调节凸透镜的角度，通过设置伸缩杆，利用伸缩杆的伸缩，补足凸透镜倾斜式在水平方向上的长度差，避免凸透镜倾斜后，被连接块损坏。

技术研发人员：查霞明
受保护的技术使用者：苏州奥维斯智能门窗有限公司
技术研发日：20221227
技术公布日：2024/1/14