一种芯片测试同轴插座防脱落结构的制作方法

本技术涉及芯片测试同轴插座，具体为一种芯片测试同轴插座防脱落结构。

背景技术：

1、实际上，芯片测试座，其实定义没有那么复杂，它只是为了满足某种芯片某种测试需求的内联器，它是一个ic和pcb之间的静态连接器，它会让芯片的更换测试更为方便，不用一直焊接和取下芯片，这样的话，就不会损伤芯片和pcb，从而达到快速高效的测试，同时也被称为芯片测试同轴插座，表面一般都是多孔结构，用于插芯片测试同轴插座固定使用。

2、但是，现有芯片测试同轴插座在打孔后，由于打孔产生的挤压力和震动力，里面的塑料结构和金属孔结构容易出现脱落分离的现象，导致打孔后固定不稳定；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种芯片测试同轴插座防脱落结构。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种芯片测试同轴插座防脱落结构，以解决上述背景技术中提出的现有芯片测试同轴插座在打孔后，由于打孔产生的挤压力和震动力，里面的塑料结构和金属孔结构容易出现脱落分离的现象，导致打孔后固定不稳定的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试同轴插座防脱落结构，包括：芯片测试同轴插座主体，所述芯片测试同轴插座主体的中心处设置有安装腔，所述安装腔的内部设置有测试座，所述测试座的中心处设置有一体成型的测试腔，所述测试腔的中心处设置有芯片摆放区域；

3、还包括：

4、螺栓孔，其设置在所述芯片测试同轴插座主体的拐角处，且螺栓孔贯穿芯片测试同轴插座主体；

5、金属孔座，其设置在螺栓孔的内部，所述金属孔座的一端外壁设置有限位凸边，且限位凸边与金属孔座为一体结构；

6、连通槽，其设置在所述螺栓孔的两侧，所述连通槽的内部设置有防脱落插柱，所述防脱落插柱的一端设置有防脱落球柱，且防脱落球柱与防脱落插柱为一体结构。

7、优选的，所述防脱落插柱的另一端设置有螺纹固定板，所述连通槽的上端设置有连接孔槽，且连接孔槽与芯片测试同轴插座主体为一体结构，所述防脱落插柱通过螺纹固定板与连接孔槽螺纹连接，所述螺纹固定板的上表面设置有凹陷中心把手。

8、优选的，所述芯片测试同轴插座主体的内部设置有塑料层，所述塑料层的下端设置有金属层，所示金属层的内部设置有防脱落插槽，且防脱落插槽与连通槽互通，所述防脱落插槽的下端设置有防脱落限位槽。

9、优选的，所述金属孔座的内部设置有六角螺栓。

10、优选的，所述限位凸边的上端面设置有单头紧固件，所述限位凸边通过单头紧固件与螺栓孔内壁螺纹连接。

11、优选的，所述安装腔的四周外部均设置有贯穿孔，且贯穿孔贯穿芯片测试同轴插座主体。

12、优选的，所述测试座的上端面设置有固定孔，所述固定孔的内部设置有十字螺栓，且测试座通过十字螺栓与芯片测试同轴插座主体固定。

13、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

14、1、本实用新型通过在螺栓孔的两侧和贯穿孔的一侧均设置具有连接孔槽的连通槽，在金属层内部设置具有防脱落限位槽的防脱落插槽，将防脱落插柱从连通槽下端往具有连接孔槽的一端插入，直到螺纹固定板位于连接孔槽内部，与连接孔槽螺纹固定，实现防脱落插柱固定，然后将防脱落球柱插入金属层的防脱落限位槽内部，利用防脱落限位槽和防脱落插槽的直径差，从而对塑料层和金属层起到固定稳定防脱落效果，这样在打孔的时候，塑料层和金属层就不易脱落。

15、2、通过在螺栓孔内部设置具有限位凸边的金属孔座，将具有限位凸边的金属孔座插入螺栓孔内部，限位凸边利用单头紧固件与螺栓孔内壁固定，从而实现塑料结构与金属孔结构不脱落。

技术特征：

1.一种芯片测试同轴插座防脱落结构，包括芯片测试同轴插座主体(1)，所述芯片测试同轴插座主体(1)的中心处设置有安装腔(2)，所述安装腔(2)的内部设置有测试座(3)，所述测试座(3)的中心处设置有一体成型的测试腔(4)，所述测试腔(4)的中心处设置有芯片摆放区域(5)；

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述防脱落插柱(18)的另一端设置有螺纹固定板(12)，所述连通槽(20)的上端设置有连接孔槽(11)，且连接孔槽(11)与芯片测试同轴插座主体(1)为一体结构，所述防脱落插柱(18)通过螺纹固定板(12)与连接孔槽(11)螺纹连接，所述螺纹固定板(12)的上表面设置有凹陷中心把手(13)。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述芯片测试同轴插座主体(1)的内部设置有塑料层(14)，所述塑料层(14)的下端设置有金属层(15)，所示金属层(15)的内部设置有防脱落插槽(16)，且防脱落插槽(16)与连通槽(20)互通，所述防脱落插槽(16)的下端设置有防脱落限位槽(17)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述金属孔座(22)的内部设置有六角螺栓(7)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述限位凸边(23)的上端面设置有单头紧固件(21)，所述限位凸边(23)通过单头紧固件(21)与螺栓孔(6)内壁螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述安装腔(2)的四周外部均设置有贯穿孔(8)，且贯穿孔(8)贯穿芯片测试同轴插座主体(1)。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试同轴插座防脱落结构，其特征在于：所述测试座(3)的上端面设置有固定孔(9)，所述固定孔(9)的内部设置有十字螺栓(10)，且测试座(3)通过十字螺栓(10)与芯片测试同轴插座主体(1)固定。

技术总结
本技术公开了一种芯片测试同轴插座防脱落结构，涉及芯片测试同轴插座技术领域，为解决现有芯片测试同轴插座在打孔后，由于打孔产生的挤压力和震动力，里面的塑料结构和金属孔结构容易出现脱落分离的现象，导致打孔后固定不稳定的问题。所述芯片测试同轴插座主体的中心处设置有安装腔，所述安装腔的内部设置有测试座，所述测试座的中心处设置有一体成型的测试腔，所述测试腔的中心处设置有芯片摆放区域；还包括：螺栓孔，其设置在所述芯片测试同轴插座主体的拐角处，且螺栓孔贯穿芯片测试同轴插座主体；金属孔座，其设置在螺栓孔的内部，所述金属孔座的一端外壁设置有限位凸边，且限位凸边与金属孔座为一体结构。

技术研发人员：王全章,王强,金永斌,贺涛,丁宁,朱伟
受保护的技术使用者：蓝泽半导体科技（芜湖）有限公司
技术研发日：20221228
技术公布日：2024/1/13