一种PCB板的测试机构的制作方法

本技术涉及pcb板测试，尤其涉及一种pcb板的测试机构。

背景技术：

1、随着电子技术的迅猛发展，其功能也日益强大，这就要求其具有稳定的性能。pcb板是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，其电性能的好坏直接影响到电子产品功能的稳定性。因此，在pcb板的生产过程中，需要对其进行电性能方面的测试。

2、现有技术中，通常在基板上设置探针，利用探针抵接pcb板的电子元件以测试电子元件的电性能。然而，当pcb板的电子元件较小较密时，对应的进行测试的基板上的探针之间的间隙也会很小，导致基板在探针与探针之间的部位强度不足而容易开裂。而若要防止基板开裂，则需要选择小尺寸的探针，从而增大探针与探针之间的间隙，而小尺寸的探针在测试时，又会因接触面积小而导致接触性差和导通电阻增高等问题，影响测试的准确性。

3、针对上述问题，需要开发一种pcb板的测试机构，以解决上述问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提出一种pcb板的测试机构，能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

2、为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

3、一种pcb板的测试机构，包括：

4、探针组件，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；

5、支撑板，所述支撑板与所述固定基板固定连接。

6、优选地，所述固定孔的孔径小于所述测试探针的外径。

7、优选地，多个所述固定孔呈阵列排布。

8、优选地，所述支撑板朝向所述固定基板的一侧设置有金属走线，所述金属走线与若干个所述测试探针抵接以对所述测试探针供电。

9、优选地，所述支撑板设置有多条所述金属走线，每条所述金属走线均抵接部分所述测试探针。

10、优选地，所述固定基板与所述支撑板通过胶粘接固定。

11、优选地，所述测试机构还包括底座与定位组件，所述支撑板沿竖直方向滑动设置于所述底座，所述定位组件设置于所述底座上，所述定位组件被配置为对pcb板进行定位。

12、优选地，所述定位组件包括两个滑动设置于所述底座上的定位件，两个所述定位件能够相互靠近或远离。

13、优选地，所述支撑板设置有导向柱，所述底座开设有导向孔，所述导向柱插入所述导向孔内。

14、优选地，所述支撑板设置有限位柱，所述限位柱被配置为与所述底座抵接。

15、本实用新型的有益效果：

16、本实用新型提供了一种pcb板的测试机构。该测试机构中，测试探针贯穿固定基板，使测试探针能够抵接pcb板的电子元件以对电子元件进行测试，由于固定基板是由弹性材料制成的，故能够开设间隔很小的孔来固定测试探针，既能够保持固定基板不开裂，又能够匹配尺寸较大的测试探针以保证测试探针与电子元件接触稳定且接触面积充足。

17、该测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

技术特征：

1.一种pcb板的测试机构，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述固定孔的孔径小于所述测试探针(12)的外径。

3.根据权利要求1所述的pcb板的测试机构，其特征在于，多个所述固定孔呈阵列排布。

4.根据权利要求1所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)朝向所述固定基板(11)的一侧设置有金属走线(3)，所述金属走线(3)与若干个所述测试探针(12)抵接以对所述测试探针(12)供电。

5.根据权利要求4所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有多条所述金属走线(3)，每条所述金属走线(3)均抵接部分所述测试探针(12)。

6.根据权利要求4所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述固定基板(11)与所述支撑板(2)通过胶粘接固定。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述测试机构还包括底座(4)与定位组件(5)，所述支撑板(2)沿竖直方向滑动设置于所述底座(4)，所述定位组件(5)设置于所述底座(4)上，所述定位组件(5)被配置为对pcb板进行定位。

8.根据权利要求7所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述定位组件(5)包括两个滑动设置于所述底座(4)上的定位件(51)，两个所述定位件(51)能够相互靠近或远离。

9.根据权利要求7所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有导向柱(21)，所述底座(4)开设有导向孔(41)，所述导向柱(21)插入所述导向孔(41)内。

10.根据权利要求7所述的pcb板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有限位柱(22)，所述限位柱(22)被配置为与所述底座(4)抵接。

技术总结
本技术公开了一种PCB板的测试机构，涉及PCB板测试技术领域。该测试机构包括探针组件及支撑板，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；所述支撑板与所述固定基板固定连接。该PCB板的测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

技术研发人员：周世权,吕长荣,嵇长友,袁江天,李俊青
受保护的技术使用者：立讯智造科技（常熟）有限公司
技术研发日：20221228
技术公布日：2024/1/15