本技术涉及检测光源,尤其涉及一种环形光源检测装置及检测系统。
背景技术:
1、在一些小型电子元器件的外观表面缺陷检测中,需要通过光源装置配合取像装置来对小型电子元器件的表面进行取像,从而检测外观是否存在缺陷问题。
2、现有技术中的检测方式通常为,将电子元器件放置于检测平台上,采用一自上而下的光源对电子元器件进行光源供给并取像;这种方式的缺点在于,由于小型电子元器件的结构本身较小,而常规的检测光源体积较大,与电子元器件本身并不适配,导致供给光线的效果较差,影响检测精度。
3、鉴于此,需要对现有技术中的检测装置加以改进,以解决检测光源与工件不适配,影响检测精度的技术问题。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种环形光源检测装置及检测系统,解决以上的技术问题。
2、为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:
3、一种环形光源检测装置,包括光源主体,所述光源主体的一端面开设有安装槽,所述安装槽的中部设置有用于容置工件的安装工位;
4、所述安装槽的侧壁上设有环形光源组件,所述环形光源组件包括若干个环绕于所述安装工位设置的发光体,若干个所述发光体发出环形光线并照射至所述工件的外侧壁上。
5、可选的,所述环形光源组件包括电路板,所述电路板为环形;
6、若干个所述发光体分别设于所述电路板的内侧壁上,所述电路板贴合于安装槽的侧壁设置。
7、可选的,所述安装槽为圆形槽,所述安装槽的内侧壁上设有定位部,所述定位部设于所述安装工位的至少一侧。
8、可选的,所述安装槽贯通于所述光源主体的两端面设置,分别形成有开口部和底口部。
9、可选的,所示环形光源检测装置还包括底板,所述光源主体设于所述底板上;
10、所述底板上设有贯穿孔,所述贯穿孔与所述安装槽连通。
11、可选的,所述光源主体的数量为多个,多个所述光源主体依次排布于所述底板上。
12、可选的,所述底板上沿其长度方向设置有若干个限位凸台,每个所述光源主体分别卡接于对应的所述限位凸台上。
13、可选的,所述发光体为灯珠体,若干个所述灯珠体依次朝向所述安装槽的圆心设置。
14、本发明还提供了一种检测系统,包括如上所述的环形光源检测装置。
15、可选的,所示检测系统还包括检测相机,所述检测相机正对于所述安装槽的开口处,用于对所述安装工位的工件进行取像。
16、与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:工作时,将待检测工件放置于安装工位,环形光源组件运行,若干个发光体分别以形成环形光线照射至安装工位的待检测工件,本光源装置能够提供一个与工件尺寸相适配的安装槽,通过设于安装槽侧壁上的若干个发光体发出的光线,来构建一个与工件相适配的环形照射空间,提高对工件的照射效果,从而有利于提高对工件的检测精度。
1.一种环形光源检测装置,其特征在于,包括光源主体(1),所述光源主体(1)的一端面开设有安装槽(2),所述安装槽(2)的中部设置有用于容置工件的安装工位(3);
2.根据权利要求1所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述环形光源组件(4)包括电路板(6),所述电路板(6)为环形;
3.根据权利要求1所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述安装槽(2)为圆形槽,所述安装槽(2)的内侧壁上设有定位部(7),所述定位部(7)设于所述安装工位(3)的至少一侧。
4.根据权利要求3所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述安装槽(2)贯通于所述光源主体(1)的两端面设置,分别形成有开口部和底口部。
5.根据权利要求4所述的环形光源检测装置,其特征在于,还包括底板(8),所述光源主体(1)设于所述底板(8)上;
6.根据权利要求5所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述光源主体(1)的数量为多个,多个所述光源主体(1)依次排布于所述底板(8)上。
7.根据权利要求6所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述底板(8)上沿其长度方向设置有若干个限位凸台(10),每个所述光源主体(1)分别卡接于对应的所述限位凸台(10)上。
8.根据权利要求3所述的环形光源检测装置,其特征在于,所述发光体(5)为灯珠体,若干个所述灯珠体依次朝向所述安装槽(2)的圆心设置。
9.一种检测系统,其特征在于,包括如权利要求1至8任一项所述的环形光源检测装置。
10.根据权利要求9所述的检测系统,其特征在于,还包括检测相机(11),所述检测相机(11)正对于所述安装槽(2)的开口处,用于对所述安装工位(3)的工件进行取像。