光测量装置及光测量方法与流程

本公开涉及光测量装置。

背景技术：

1、在对象物的成分分析及检查中广泛地使用分光解析。在分光解析中，将测量光向对象物照射，测量照射的结果得到的物体光的波谱。并且，基于物体光的波谱与测量光的波谱的关系，能够得到反射特性(波长依存性)或透射特性等的光学特性。

2、分光解析被分类为将对象物的透射光作为物体光的透射型和将反射光作为物体光的反射型。反射型适合于反射率较高的对象物的测量，但得到的光学信息并不限定于对象物的表面附近的信息。因而，在以精密的工业制品、从动植物采取的检样、人摄取到体内的物质、由生产车间制造的液体或气体等为对象物的测量中，不能说有足够的精度。

3、透射型由于能够得到不仅是对象物的表面还包括较深的部分的光学特性，所以适合于以食品或饮料(以下统称作饮食品)等为对象物的情况。在专利文献1、2中公开了透射型的制品检查装置。该制品检查装置具备向制品(检查对象)的表面照射脉冲光的照射光学系统，以及设在制品的背面侧、将透射过制品的光受光的受光器。

4、现有技术文献

5、专利文献

6、专利文献1：日本特开2020－159971号公报

7、专利文献2：日本特开2020－159973号公报

技术实现思路

1、发明要解决的课题

2、本发明人对透射型的检查装置进行了研究，结果认识到以下的课题。在以往的检查装置中，当不存在对象物时，测量光直接入射到受光器。在以饮食品等透射率较低的制品为检查对象的情况下，为了确保充分的s/n比而需要提高测量光的强度，但在不存在检查对象时，非常高强度的测量光入射到受光器内的光传感器(光电变换元件)中，根据情况而成为光传感器故障的原因。因此，需要用来保护光传感器的对策。

3、作为用来解决该问题的对策，可以考虑：(i)与检查对象的存在与否同步，以时间划分对光源的动作/停止进行控制；(ii)设置光开闭器(或减光器)，与检查对象的存在与否同步，将测量光遮光(或减光)等。但是，在想要高速地检查大量的制品的情况下，与检查对象的存在与否同步的控制变得困难。此外，光开闭器等零件的追加成为成本上升的原因，或者对检查装置导入新的不确切性，因此不优选。

4、本公开是鉴于该课题而做出的，关于其某个技术方案的例示性的目的之一，在于提供能够保护光传感器的光测量装置及光测量方法。

5、用来解决课题的手段

6、本公开的一技术方案涉及光测量装置。光测量装置具备：照明装置，将波长随着时间经过而变化的测量光向规定区域照射；以及受光装置，包括检测位于规定区域的对象物的扩散透射光的光传感器。受光装置构成为，使对象物的扩散透射光中的被向从测量光的光轴错开的方向放射的成分向光传感器入射。

7、本公开的另一技术方案是一种光测量方法。该方法具备：生成波长随着时间经过而变化的测量光的步骤；将一定强度的测量光向规定区域反复照射的步骤；将对象物输送以使其经过规定区域的步骤；以及由光传感器检测对象物的扩散透射光的步骤。进行检测的步骤以在规定区域中有对象物时的光传感器的受光量比在规定区域中没有对象物时的光传感器的受光量大的方式进行。

8、另外，将以上的构成要素任意地组合的形态，将本公开的构成要素或表现在方法、装置、系统等之间相互替换者作为本公开的技术方案也是有效的。

9、发明效果

10、根据本公开的一技术方案，能够保护光传感器。

技术特征：

1.一种光测量装置，其特征在于，

2.如权利要求1所述的光测量装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的光测量装置，其特征在于，

4.如权利要求2所述的光测量装置，其特征在于，

5.如权利要求2所述的光测量装置，其特征在于，

6.如权利要求1所述的光测量装置，其特征在于，

7.如权利要求1所述的光测量装置，其特征在于，

8.如权利要求1～7中任一项所述的光测量装置，其特征在于，

9.一种光测量方法，其特征在于，

技术总结
提供一种能够保护光传感器的光测量装置及光测量方法。照明装置(200)将波长随着时间经过而变化的测量光(S<subgt;IN</subgt;)向规定区域(10)照射。受光装置(300)包括检测位于规定区域(10)的对象物(OBJ的扩散透射光(S<subgt;OBJ</subgt;)的光传感器(302)。受光装置(300)构成为，使对象物(OBJ)的扩散透射光(S<subgt;OBJ</subgt;)中的被向从测量光(S<subgt;IN</subgt;)的光轴(OA2)错开的方向放射的成分(S<subgt;θ</subgt;)向光传感器(302)入射。

技术研发人员：横山拓马,渡边胜也
受保护的技术使用者：优志旺电机株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16