被覆活性物质粒子的评价方法和制造方法、以及电极的制造方法与流程

文档序号:35504559发布日期:2023-09-20 16:56阅读:32来源:国知局
被覆活性物质粒子的评价方法和制造方法、以及电极的制造方法与流程

本公开涉及被覆活性物质粒子的评价方法和制造方法、以及电极的制造方法。


背景技术:

1、作为全固体二次电池、液式二次电池等电池的制造中使用的活性物质,已知有在活性物质粒子(正极活性物质粒子或负极活性物质粒子)的表面设置被覆层而成的被覆活性物质粒子。

2、关于这样的被覆活性物质粒子,已知通过tem(透射型电子显微镜)像的图像解析、xps(x射线光电子能谱法)分析等来测定被覆活性物质粒子的表面的被覆状态(被覆率)的方法。

3、但是,tem像的图像解析是局部的(例如小于1μm见方的范围内的)观察,因此无法测定由大量的被覆活性物质粒子构成的电极(电极合材层)等的整体的被覆活性物质粒子的被覆状态。

4、另外,在xps分析中,由于测定从表面到3~10nm深度的范围的平均组成,因此即使存在活性物质粒子未被被覆的部分,只要局部地存在较厚的被覆层,则视为整体上活性物质粒子被被覆。因此,难以准确地测定被覆活性物质粒子的被覆状态。例如,对于xps分析而言,无法区分图7a和图7b的左侧和右侧的被覆状态。

5、如此,由于以往是基于局部信息(tem)或平均信息(xps)来测定被覆状态,因此无法正确地把握活性物质粒子的被覆状态。

6、另外,在日本特开2018-206619中,公开了一种使用低加速sem像的图像解析来测定被覆活性物质粒子的被覆状态(被覆率)的方法。


技术实现思路

1、根据日本特开2018-206619的方法,通过在sem观察中降低一次电子的加速电压,一次电子难以侵入被覆活性物质粒子的内部,由此能够得到反映了被覆活性物质粒子的表面的详细信息的sem像。

2、但是,本发明人发现,即使在如日本特开2018-206619那样使用低加速sem像的图像解析的情况下,根据正极活性物质和被覆层的材料、被覆层的厚度等,有时也难以测定被覆状态。具体而言,发现例如在正极活性物质和被覆层的构成材料中所含的元素的原子序数比较接近的情况下或被覆层的厚度极薄的情况下,通过低加速sem像的图像分析难以准确地测定被覆状态。

3、本公开的目的在于提高具备活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的被覆层的被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度。

4、(1)评价方法,是对具备活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的被覆层的被覆活性物质粒子的被覆状态进行评价的评价方法,其中,在对所述被覆活性物质粒子施加负电压的状态(减速模式)下,取得所述被覆活性物质粒子的sem像,基于该sem像中的对比度,检测所述活性物质粒子的表面上有无所述被覆层,对所述被覆状态进行评价。

5、根据上述(1)的评价方法,通过进行减速模式下的sem观察,向被覆活性物质粒子照射的一次电子的电压(照射电压)降低从而得到被覆活性物质粒子的表面的精密信息,因此不需要减少向被覆活性物质粒子照射的一次电子的量(参照图5)。因此,能够以高灵敏度得到被覆活性物质粒子的表面的精密的信息。因此,能够提高具备活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的被覆层的被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度。

6、(2)根据(1)所述的评价方法,其中,取得所述sem像时的一次电子的照射电压为0.1~1.0kv。

7、根据上述(2)的评价方法,能够更可靠地提高被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度。

8、(3)根据(1)或(2)所述的评价方法,其中,所述被覆层包含导电性材料。

9、根据上述(3)的评价方法,能够更可靠地提高被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度。

10、(4)被覆活性物质粒子的制造方法,是具有活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的至少一部分的被覆层的被覆活性物质粒子的制造方法,包括:

11、被覆工序,其中,在所述活性物质粒子的表面形成被覆层,从而得到所述被覆活性物质粒子;和

12、评价工序,其中,使用(1)~(3)中任一项所述的评价方法,对在所述被覆工序中得到的所述被覆活性物质粒子的被覆状态进行评价。

13、根据上述(4)的被覆活性物质粒子的制造方法,由于能够提高被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度,因此能够使用被覆状态的评价结果的信息,得到被覆状态良好的被覆活性物质粒子。

14、(5)电极的制造方法,是具备包含被覆活性物质粒子的电极合材层的电极的制造方法,该被覆活性物质粒子具有活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的至少一部分的被覆层,包括:

15、形成包含所述被覆活性物质粒子的所述电极合材层的工序,和

16、评价工序,其中,使用(1)~(3)中任一项所述的评价方法,对所述电极合材层中所含的所述被覆活性物质粒子的被覆状态进行评价。

17、根据上述(5)的电极的制造方法,由于能够提高被覆活性物质粒子的整体的被覆状态的测定精度,因此能够使用被覆状态的评价结果的信息,得到被覆活性物质粒子的被覆状态良好的电极。



技术特征:

1.评价方法,是对具备活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的被覆层的被覆活性物质粒子的被覆状态进行评价的评价方法,其中,在对所述被覆活性物质粒子施加负电压的状态下,取得所述被覆活性物质粒子的sem像,基于该sem像中的对比度,检测所述活性物质粒子的表面上有无所述被覆层,对所述被覆状态进行评价。

2.根据权利要求1所述的评价方法,其中,取得所述sem像时的一次电子的照射电压为0.1~1.0kv。

3.根据权利要求1或2所述的评价方法,其中,所述被覆层包含导电性材料。

4.被覆活性物质粒子的制造方法,是具有活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的至少一部分的被覆层的被覆活性物质粒子的制造方法,包括:

5.电极的制造方法,是具备包含被覆活性物质粒子的电极合材层的电极的制造方法,该被覆活性物质粒子具有活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的至少一部分的被覆层,包括:


技术总结
本发明涉及被覆活性物质粒子的评价方法和制造方法、以及电极的制造方法。本公开中的评价方法是对具备活性物质粒子和被覆该活性物质粒子的表面的被覆层的被覆活性物质粒子的被覆状态进行评价的方法。本公开中的评价方法是在对上述被覆活性物质粒子施加负的电压的状态(减速模式)下取得上述被覆活性物质粒子的SEM像,基于该SEM像中的对比度,检测上述活性物质粒子的表面上有无上述被覆层,评价上述被覆状态的评价方法。

技术研发人员:长野爱子
受保护的技术使用者:丰田自动车株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1