一种光测试装置及方法与流程

本发明涉及传感器测试领域，特别是涉及一种光测试装置及方法。

背景技术：

1、随着技术的发展，光电传感器在各类设备当中的应用越来越多，在光电传感器的研发与应用当中，标定与检测是必不可少的重要步骤；由于光电传感器的标定与检测对光照环境有很高要求，一般需要在一个特定的暗室环境当中进行。

2、传统的光电传感器标定检测设备，其待测光电传感器的放置部和光源都设置在暗室当中的固定位置，在测试时，由于需要保持暗室的避光，在测试过程当中无法调节待测光电传感器与光源之间的距离，不利于提高测试条件的多样性。

技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种光测试装置，能够在保证测试时暗室环境避光的同时，适应多种不同的测试要求。

2、本发明的光测试装置，包括：基座；箱体，设置在基座上，箱体内开设有用于测试的暗室；放置部，设置在箱体内，放置部位于暗室底壁，放置部用于放置待测元件；光源装置，设置在暗室内，光源装置位于放置部上方；升降机构，设置在暗室内，升降机构用于驱动光源装置升降。

3、根据本发明的一些实施例，升降机构包括：升降电机，设置在箱体内；升降丝杆，设置在箱体内，升降丝杆沿上下方向延伸，升降电机用于驱动升降丝杆转动；升降螺母，与升降丝杆螺纹配合；升降架，与升降螺母固定连接，光源装置设置在升降架上。

4、根据本发明的一些实施例，升降机构还包括：第二滑轨，固定设置在箱体内；第二滑块，与第二滑轨滑动配合，第二滑块与升降架固定连接。

5、根据本发明的一些实施例，光源装置包括：第一光源组件和第二光源组件；切换机构，设置在升降机构上，第一光源组件和第二光源组件均设置在切换机构上，切换机构用于将第一光源组件或第二光源组件移动至放置部上方。

6、根据本发明的一些实施例，切换机构包括：转动电机，设置在升降机构上；转动架，转动设置在升降机构上，第一光源组件和第二光源组件分别设置在转动架的两端，转动电机用于驱动转动架转动。

7、根据本发明的一些实施例，切换机构还包括：转动轴，设置在升降机构上，转动电机与转动轴驱动连接，转动架与转动轴固定连接。

8、根据本发明的一些实施例，转动轴为空心轴，转动轴侧壁开设有镂空部，镂空部与转动轴的空腔连通。

9、根据本发明的一些实施例，切换机构还包括设置在升降机构上的转动检测装置，转动检测装置用于检测转动架的转动位置。

10、根据本发明的一些实施例，光测试装置还包括设置在暗室当中的光线传感器和距离传感器，光线传感器和距离传感器均设置在放置部一侧，光线传感器用于检测光源装置的光线参数，距离传感器用于检测光源装置与放置部之间的距离。

11、根据本发明的一些实施例，基座上设置有容纳部，容纳部用于放置电器元件。

12、本发明还提供一种光测试方法，运用上述光测试装置对待测元件进行测试，包括如下步骤：s100、将待测元件放置在放置部上；s200、控制升降机构带动光源装置升降，使得光源装置升降至与放置部保持指定距离，开启光源装置开始测试。

13、根据本发明的一些实施例，在步骤s200当中，切换装置将第一光源组件或第二光源组件移动至放置部上方，对放置部上放置的待测元件进行测试。

14、应用上述光测试装置，在测试过程当中，可以将待测元件放置在放置部当中，然后保证暗室密闭，控制光源装置发出光线照射待测元件，对待测元件进行测试，同时升降机构能够控制光源装置升降，调节光源装置相对于放置部的垂直距离，提供不同的光源测试距离，适应包括不同测试距离的多种测试条件的要求；同时光源升降的调节能够在密闭的暗室当中进行，有效防止外部光线进入暗室，保证了暗室环境避光的要求。

15、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

技术特征：

1.一种光测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光测试装置，其特征在于，所述升降机构包括：

3.根据权利要求2所述的光测试装置，其特征在于，所述升降机构还包括：

4.根据权利要求1所述的光测试装置，其特征在于，所述光源装置包括：

5.根据权利要求4所述的光测试装置，其特征在于，所述切换机构包括：

6.根据权利要求5所述的光测试装置，其特征在于，所述切换机构还包括：

7.根据权利要求6所述的光测试装置，其特征在于，所述转动轴(250)为空心轴，所述转动轴(250)侧壁开设有镂空部(251)，所述镂空部(251)与所述转动轴(250)的空腔连通。

8.根据权利要求6所述的光测试装置，其特征在于，所述切换机构还包括设置在所述升降机构上的转动检测装置，所述转动检测装置用于检测所述转动架(210)的转动位置。

9.根据权利要求1所述的光测试装置，其特征在于，还包括设置在所述暗室当中的光线传感器(140)和距离传感器(150)，所述光线传感器(140)和所述距离传感器(150)均设置在所述放置部(130)一侧，所述光线传感器(140)用于检测所述光源装置的光线参数，所述距离传感器(150)用于检测所述光源装置与所述放置部(130)之间的距离。

10.根据权利要求1所述的光测试装置，其特征在于，所述基座(100)上设置有容纳部，所述容纳部用于放置电器元件。

11.一种光测试方法，运用权利要求1所述的光测试装置对待测元件进行测试，其特征在于，包括如下步骤：

12.根据权利要求11所述的测试方法，其特征在于，在步骤s200当中，切换装置将第一光源组件(220)或第二光源组件(230)移动至放置部(130)上方，对放置部(130)上放置的待测元件进行测试。

技术总结
本发明公开了一种光测试装置，包括：基座；箱体，设置在基座上，箱体内开设有用于测试的暗室；放置部，设置在箱体内，放置部位于暗室底壁，放置部用于放置待测元件；光源装置，设置在暗室内，光源装置位于放置部上方；升降机构，设置在暗室内，升降机构用于驱动光源装置升降；能够在保证测试时暗室环境避光的同时，适应包括不同测试距离的多种测试条件的要求；本发明还公开一种光测试方法。

技术研发人员：黄尚银,黄金明,黄鹏,陈永东,郑泽鹏,余伟杰
受保护的技术使用者：珠海精实测控技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13