检查方法与流程

本发明涉及检查方法。

背景技术：

1、用于液晶显示装置、有机el显示装置等的偏振板一般以偏振片被两片保护膜夹持的方式构成。为了将偏振板粘贴于显示装置，在一侧的保护膜上层叠粘合剂层，进一步地在粘合剂层上层叠剥离膜。另外，在另一侧的保护膜也贴合保护其表面的剥离膜(表面保护膜)的情况较多。偏振板在如此地层叠有剥离膜的状态下流通搬送，在显示装置的制造工序中贴合于显示装置时，剥离膜被剥离。

2、然而，偏振板在其制造阶段中，有时会在偏振片与保护膜之间混入异物或残留气泡，或者在保护膜具有相位差膜的功能的情况下，在内部存在取向缺陷(以下，有时将这些异物、气泡及取向缺陷统称为“缺陷”)。在将存在缺陷的偏振板贴合于显示装置的情况下，有时该缺陷的部位被视觉辨认为亮点，或者在缺陷的部位观察到图像扭曲。特别是被视觉辨认为亮点的缺陷在该显示装置显示黑色时容易被视觉辨认到。

3、因此，在将偏振板贴合于显示装置的前阶段(具备剥离膜的状态的偏振板)，进行用于检测该偏振板的缺陷的检查。该缺陷的检查一般是利用偏振板的偏振轴的光检查。具体而言，如专利文献1所示，在作为被检查物的偏振板与光源之间设置偏振滤光片，并且使该偏振板或偏振滤光片在平面方向旋转，使它们各自的偏振轴方向成为特定的关系。在偏振轴方向彼此相互正交的情况(即构成正交尼科尔棱镜(日文：クロスニコル)的配置的情况)下，从偏振滤光片通过后的直线偏振光无法通过偏振板。然而，如果偏振板存在缺陷，则直线偏振光在该部位透过，因此，通过检测该光来判明缺陷的存在。另一方面，在偏振板与偏振滤光片的偏振轴方向彼此平行的情况下，从偏振滤光片通过后的直线偏振光从偏振板透过。然而，如果在偏振板存在缺陷，则直线偏振光在该部位被阻断，因此，通过检测不到该光来判明缺陷的存在。检查者通过目视来检测从偏振板透过来的光、或者通过将ccd相机和图像处理装置组合而得到的图像分析处理值来自动地检测，由此能够进行偏振板有无缺陷的检查。

4、现有技术文献

5、专利文献

6、专利文献1：日本特开平9-229817号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的问题

2、在偏振板为圆偏振板且剥离膜包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂(pet系树脂)的情况下，将与该pet系树脂的波长分散在一定程度上相符的相位差滤光片(相当于上述偏振滤光片)用于该偏振板的检查。此处，在将圆偏振板与相位差滤光片以构成正交尼科尔棱镜的方式配置的情况下，根据上述原理，缺陷会被视觉辨认为亮点，但是对于圆偏振板所具有的相位差膜的取向缺陷、针孔等相位差值低的区域而言，亮点缺陷有时会被视觉辨认为黑点，在该情况下，与被检测为亮点相比，检测判断更困难。特别是在圆偏振板含有包含聚合性液晶化合物的固化物的相位差膜的情况下，该倾向显著。

3、另外，专利文献1所示的检查方法的原理是观察从被检查物透过的光。在该原理中，在被检查物存在变形缺陷(例如，在圆偏振板的裁切时产生的褶皱)的情况下，光路长度在正常部分与变形缺陷部分几乎不会变化，因此，难以在光学上检测变形缺陷。

4、另外，如上所述，在偏振板具备剥离膜的情况下，圆偏振板的偏振特性被该剥离膜所具有的双折射阻碍，因此，通过现有的检查装置，无法以良好的精度对偏振板中存在的亮点等缺陷进行检测。

5、因此，本发明的目的在于，提供反射型的检查方法，该检查方法能够容易地判断圆偏振板有无缺陷。

6、用于解决问题的手段

7、本发明提供一种检查方法，其是判断膜状的被检查物有无缺陷的检查方法，上述被检查物具备偏振膜与相位差膜层叠而成的圆偏振板、及层叠于圆偏振板的相位差膜侧且包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的剥离膜，将光源、使规定波长的光透过的带通滤波器、第1偏振部、以及使剥离膜侧朝向第1偏振部侧的被检查物在光源发出的光的光路上依次排列，并且将第1偏振部和构成正交尼科尔棱镜的第2偏振部配置于经由被检查物反射的光的光路上，第1偏振部和第2偏振部均为左旋的圆偏振板或右旋的圆偏振板，并且从光源侧观察第1偏振部和第2偏振部时，第1偏振部所具有的偏振膜的吸收轴和第2偏振部所具有的偏振膜的吸收轴朝向相互正交的方向，使光源的光入射至带通滤波器，使光相对于被检查物的入射角变化以使剥离膜所具有的相位差的影响变小，从第2偏振部侧观察被被检查物反射的光来判断圆偏振板有无缺陷。

8、在该检查方法中，第1偏振部和第2偏振部以构成正交尼科尔棱镜的方式配置，因此，由被检查物的正常部分反射后的光(例如由剥离膜的表面反射后的光)被第2偏振部阻断，因此，能够使观察视野足够暗，在存在缺陷部分的情况下，容易将其观察为亮点。由在被检查物的内部产生的缺陷部分反射后的光、从缺陷部分通过后再反射后的光由于该缺陷而相位差与理想产生偏差(成为不期望的椭圆偏振光)，因此，仅以该偏差的程度透过第2偏振部，可以作为被检查物的缺陷部分而进行检测。此处，预想了由于剥离膜所具有的相位差，故观察视野整体的亮度增加，成为缺陷检测的障碍，但是在该检查方法中，使光相对于被检查物的入射角变化以使剥离膜所具有的相位差的影响变小，即，使光的入射角变化以使通过剥离膜展现的相位差接近入射光的波长的整数倍，因此，即使在剥离膜具有相位差的情况下，也能够使观察视野足够暗。另外，这样的反射型的检查方法与透射型的检查方法相比，被检查物中的光路更长，因此，难以通过透射型的检查方法检测出的变形缺陷也能够容易地检测出。由于如上的理由，通过本发明的检查方法，能够容易地判断圆偏振板有无缺陷。

9、在该检查方法中，捕捉来自多种膜的反射光，因此，采用各反射光的干涉变得比较强的波长作为检查光在缺陷检测上有利。从该观点考虑，优选在进行检查之前，根据相位差膜的平均折射率及厚度计算正面方向上的干涉反射光的波长依赖性，求出在波长500nm～600nm的范围中反射强度达到最大的波长，决定采用该波长±20nm以内的波长作为规定波长。

10、在该检查方法中，优选被检查物所具备的圆偏振板和第2偏振部以构成正交尼科尔棱镜的方式配置。如此地，能够使观察视野更暗。

11、相位差膜可以包含聚合性液晶化合物的固化物。在相位差膜包含聚合性液晶化合物的固化物的情况下，由于其一般的薄厚，因此观察到黑点缺陷的可能性提高。因此，适合作为应用本发明的对象。

12、发明效果

13、根据本发明，能够提供反射型的检查方法，该检查方法能够容易地判断圆偏振板有无缺陷。

技术特征：

1.一种检查方法，其是判断膜状的被检查物有无缺陷的检查方法，

2.根据权利要求1所述的检查方法，其中

3.根据权利要求1或2所述的检查方法，其中，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查方法，其中，

技术总结
本发明提供一种反射型的检查方法，其能够容易地判断圆偏振板有无缺陷。一种检查方法，其是判断膜状的被检查物(10)有无缺陷的检查方法，所述被检查物(10)具备：偏振膜(11)与相位差膜(14)层叠而成的圆偏振板(1)、以及层叠于圆偏振板(1)的相位差膜(14)侧且包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的剥离膜(16a)。配置光源(4)、使规定波长的光透过的带通滤波器(2)、第1偏振部(3A)、被检查物(10)以及第2偏振部(3B)，使光相对于被检查物(10)的入射角θ变化以使剥离膜(16a)所具有的相位差的影响变小。从第2偏振部(3B)侧观察被被检查物(10)反射的光来判断圆偏振板(1)有无缺陷。

技术研发人员：小林信次,松田俊介
受保护的技术使用者：住友化学株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14