一种故障检测方法、装置、设备及存储介质与流程

本技术实施例涉及计算机，具体而言，涉及一种故障检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、pcie(peripheral component interconnect express，高速串行计算机扩展总线标准)是一种支持高带宽，高灵活性的计算机扩展总线标准，广泛应用于各种网络设备中，pcie卡就是其中的一种主要设备。在pcie卡的应用过程中，有时会出现pcie设备无法被识别的情况，现有技术中当pcie设备无法被识别时，常规的故障检测方法包查看链路设计原理图，看设计是否合理；排查器件是否故障；检测pcie信号质量；更换pcie卡查看是否可识别。

2、现有的故障检测方法都需要进行链路的具体分析，无法快速判断出故障的具体原因，当链路出现断路时，也无法快速定位故障的位置。

技术实现思路

1、本技术实施例提供一种故障检测方法、装置、设备及存储介质，旨在快速确定pcie设备无法识别时,pcie链路上的的故障位置以及故障类型。

2、本技术实施例第一方面提供一种故障检测方法，所述方法包括：

3、当pcie设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号分别引入示波器中；

4、当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路的pcie发射信号引入时域反射计中；

5、根据所述时域反射计中显示的所述pcie发射信号的阻抗波形图，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

6、可选地，所述方法还包括：

7、根据所述故障位置以及所述故障类型，生成对应的故障记录信息；

8、将所述故障记录信息记录在故障日志中。

9、可选地，所述通过测试链路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号分别引入示波器中，所述测试线路的创建过程包括：

10、通过连接器，将所述中央处理器与pcie卡板相连接，所述pcie卡板上安装有所述pcie插槽；

11、将pcie治具接入所述pcie插槽中；

12、将所述pcie治具与所述示波器相连。

13、可选地，所述当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路的pcie发射信号引入时域反射计中，包括：

14、当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路确定为故障链路；

15、将所述故障链路的所述pcie发射信号传输至所述时域反射计中。

16、可选地，所述根据所述时域反射计中显示的所述pcie发射信号的阻抗波形图，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型，包括：

17、获取所述pcie插槽上的正常pcie链路的正常阻抗波形图；

18、将所述pcie发射信号的阻抗波形图与所述正常阻抗波形图进行对比，确定所述pcie发射信号的阻抗波形图中的异常区域；

19、根据所述异常区域，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

20、可选地，在获取所述pcie插槽上的正常pcie链路的正常阻抗波形图之前，所述方法还包括：

21、将所述pcie插槽上的正常pcie链路的pcie发射信号传输至所述时域反射计中，得到所述正常阻抗波形图；

22、将所述正常阻抗波形图存储至波形图存储空间中。

23、可选地，所述根据所述异常区域，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型，包括：

24、获取所述异常区域中的具体波形，得到异常区域波形图；

25、根据预先设置的故障判断规则，对所述异常区域波形图进行故障判断，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

26、本技术实施例第二方面提供一种故障检测装置，所述装置包括：

27、第一信号测试模块，用于当pcie设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号分别引入示波器中。

28、第二信号测试模块，用于当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路的pcie发射信号引入时域反射计中。

29、故障检测模块，用于根据所述时域反射计中显示的所述pcie发射信号的阻抗波形图，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

30、可选地，所述装置还包括：

31、故障记录信息生成模块，用于根据所述故障位置以及所述故障类型，生成对应的故障记录信息；

32、故障信息记录模块，用于将所述故障记录信息记录在故障日志中。

33、可选地，所述通过测试链路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号分别引入示波器中，所述测试线路的创建过程包括：

34、通过连接器，将所述中央处理器与pcie卡板相连接，所述pcie卡板上安装有所述pcie插槽；

35、将pcie治具接入所述pcie插槽中；

36、将所述pcie治具与所述示波器相连。

37、可选地，所述第二信号测试模块包括：

38、故障链路确定子模块，用于当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路确定为故障链路；

39、信号传输子模块，用于将所述故障链路的所述pcie发射信号传输至所述时域反射计中。

40、可选地，所述故障检测模块包括：

41、正常阻抗波形图获取子模块，用于获取所述pcie插槽上的正常pcie链路的正常阻抗波形图；

42、异常区域确定子模块，用于将所述pcie发射信号的阻抗波形图与所述正常阻抗波形图进行对比，确定所述pcie发射信号的阻抗波形图中的异常区域；

43、故障检测子模块，用于根据所述异常区域，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

44、可选地，所述故障检测模块还包括：

45、正常阻抗波形图确定子模块，用于将所述pcie插槽上的正常pcie链路的pcie发射信号传输至所述时域反射计中，得到所述正常阻抗波形图；

46、波形图存储子模块，用于将所述正常阻抗波形图存储至波形图存储空间中。

47、可选地，所述故障检测子模块包括：

48、异常区域波形图获取子模块，用于获取所述异常区域中的具体波形，得到异常区域波形图；

49、故障判断子模块，用于根据预先设置的故障判断规则，对所述异常区域波形图进行故障判断，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。

50、本技术实施例第三方面提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，实现如本技术第一方面所述的方法中的步骤。

51、本技术实施例第四方面提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现本技术第一方面所述的方法的步骤。

52、采用本技术提供的故障检测方法，当pcie设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号分别引入示波器中；当所述示波器无法显示所述pcie插槽上的某条pcie链路的pcie发射信号的波形图时，将所述pcie链路的pcie发射信号引入时域反射计中；根据所述时域反射计中显示的所述pcie发射信号的阻抗波形图，确定所述pcie链路的故障位置以及故障类型。本技术中，当pcie设备无发被中央处理器识别时，开始进行pcie链路的故障检测，通过测试线路，将pcie插槽上的每个pcie链路的pcie发射信号引入示波器中，进而测试pcie链路上的pcie发射信号的完整性，当示波器中无法显示该pcie链路的波形图时，说明该pcie链路发生了故障，在确定pcie链路发生故障之后，将pcie链路的信号引入时域反射计中，通过时域反射计来测试整个pcie链路的阻抗，得到pcie链路的阻抗波形图，进而根据阻抗波形图，确定pcie链路的故障位置以及故障类型，当pcie设备无法被中央处理器识别时，可以快速的确定故障pcie链路，并对故障pcie链路中的故障位置和故障类型进行判定，帮助维修人员进行故障修复，提升了pcie故障链路的修复效率。