样品测试箱和样品测试方法与流程

本申请涉及材料测试，特别是涉及一种样品测试箱和样品测试方法。

背景技术：

1、随着5g通讯行业的高速发展和电子信息材料的更新加快，为了保证电子信息材料在实际应中的可靠性，出现了针对电子信息材料介电性能的样品测试箱。目前的样品测试箱，通过对样品测试箱中的待测样品施加不同谐振信号，能够确定待测样品在不同谐振信号下的介电性能。

2、然而，在实际应用中，待测样品随着时间的推移会发生老化，与此同时待测样品的介电性能也随之发生改变。目前的样品测试箱，并未考虑到待测样品在老化过程中的介电性能的变化，导致测量出待测样品的介电性能与实际不符，在实际应用中容易出现故障，亟需改进。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确测量待测样品老化过程中介电性能变化的样品测试箱和样品测试方法。

2、第一方面，本申请提供了一种样品测试箱，其特征在于，样品测试箱包括：箱体和控制器；箱体设置有环境调节装置，且环境调节装置与控制器连接；箱体内部设置有样本放置台，用于放置待测样品；

3、控制器，用于在获取到样品老化事件的情况下，调节环境调节装置，为待测样品创建老化环境，以加速待测样品老化；

4、样品放置台与外部介电测试装置连接，用于在待测样品老化的过程中，通过外部介电测试装置对待测样品的介电性能进行测试。

5、在其中一个实施例中，其特征在于，样品放置台由介电测试夹具和温度绝缘支架组成；其中，待测样品放置于介电测试夹具的两个夹板之间，且介电测试夹具与控制器连接；控制器，还用于在对待测样品进行介电性能测试之前，对介电测试夹具进行加压，以去除两个待测样品中的残留空气。

6、在其中一个实施例中，其特征在于，介电测试夹具置于温度绝缘支架之上；温度绝缘支架内的内部传输线的一端与外部介电测试装置连接，另一端放置于两个待测样品之间，用于向两个待测样品传递外部介电测试装置激发的谐振信号。

7、在其中一个实施例中，其特征在于，介电测试夹具为带状线夹具。

8、在其中一个实施例中，其特征在于，外部介电测试装置向待测样品传递的谐振信号的频率范围为1ghz-30ghz。

9、在其中一个实施例中，其特征在于，环境调节装置包括加热装置和制冷装置；加热装置设置于箱体的保温壳的内底部，制冷装置设置于保温壳的内顶部，保温壳设置于所述箱体的外部。

10、在其中一个实施例中，其特征在于，箱体内部还设置有温度传感器，用于采集箱体的内部温度；控制器，还用于根据内部温度，调节加热装置或制冷装置，为待测样品创建老化环境中的温度环境。

11、在其中一个实施例中，其特征在于，环境调节装置还包括风扇，风扇设置于箱体的内壁；箱体内部还设置有氧气传感器，用于采集箱体的内部氧气浓度；控制器，还用于根据箱体内的内部氧气浓度，调节风扇的工作模式，为待测样品创建老化环境中的氧化环境。

12、在其中一个实施例中，其特征在于，箱体内部还设置有预警装置，用于在箱体的内部温度高于温度阈值时，输出预警信号。

13、第二方面，本申请还提供了一种样品测试方法。所述方法包括：

14、响应于样品老化事件，通过样品测试箱中的控制器，调节环境调节装置，为待测样品创建老化环境，以加速待测样品老化；

15、在待测样品老化的过程中，通过与样品测试箱中的样品放置台连接的外部介电测试装置，对待测样品的介电性能进行测试。

16、上述样品测试箱和样品测试方法，在控制器在获取到样品老化事件的情况下，通过调节环境调节装置，为待测样品创建老化环境，能够加速待测样品老化；与此同时，样品放置台与外部介电测试装置连接，在待测样品老化的过程中，通过外部介电测试装置对待测样品的介电性能进行测试，能够测量待测样品在老化过程中介电性能的变化，使测量到的待测样品的介电性能变化更符合实际应用中待测样品的介电性能变化，进而保证待测样品在实际应用中的安全性和可靠性。

技术特征：

1.一种样品测试箱，其特征在于，所述样品测试箱包括：箱体和控制器；所述箱体设置有环境调节装置，且所述环境调节装置与所述控制器连接；所述箱体内部设置有样本放置台，用于放置待测样品；

2.根据权利要求1所述的样品测试箱，其特征在于，所述样品放置台由介电测试夹具和温度绝缘支架组成；其中，所述待测样品放置于所述介电测试夹具的两个夹板之间，且所述介电测试夹具与所述控制器连接；

3.根据权利要求2所述的样品测试箱，其特征在于，所述介电测试夹具置于所述温度绝缘支架之上；

4.根据权利要求2或3所述的样品测试箱，其特征在于，所述介电测试夹具为带状线夹具。

5.根据权利要求3所述的样品测试箱，其特征在于，所述外部介电测试装置向所述待测样品传递的谐振信号的频率范围为1ghz-30ghz。

6.根据权利要求1所述的样品测试箱，其特征在于，所述环境调节装置包括加热装置和制冷装置；所述加热装置设置于所述箱体的保温壳的内底部，所述制冷装置设置于所述保温壳的内顶部，所述保温壳设置于所述箱体的外部。

7.根据权利要求6所述样品测试箱，其特征在于，所述箱体内部还设置有温度传感器，用于采集所述箱体的内部温度；

8.根据权利要求6所述的样品测试箱，其特征在于，所述环境调节装置还包括风扇，所述风扇设置于所述箱体的内壁；

9.根据权利要求6所述的样品测试箱，其特征在于，所述箱体内部还设置有预警装置，用于在所述箱体的内部温度高于温度阈值时，输出预警信号。

10.一种样品测试方法，应用于权利要求1-9中任一项所述的样品测试箱，其特征在于，所述方法包括：

技术总结
本申请涉及材料测试技术领域，特别是涉及一种样品测试箱和样品测试方法。所述样品测试箱包括：箱体和控制器，其中，箱体设置有环境调节装置，且环境调节装置与控制器连接，箱体内部设置有样本放置台，用于放置待测样品，控制器用于在获取到样品老化事件的情况下，调节环境调节装置，为待测样品创建老化环境，以加速待测样品老化，样品放置台与外部介电测试装置连接，用于在待测样品老化的过程中，通过外部介电测试装置对待测样品的介电性能进行测试。采用上述样品测试箱，能够测量待测样品老化过程中介电性能的变化。

技术研发人员：赵振博,刘沛江,徐焕翔,赵昊,孙朝宁,戴宗倍,金志利
受保护的技术使用者：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13