屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品与流程

本发明实施例涉及显示屏测试，尤其涉及一种屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品。

背景技术：

1、液晶屏(lcd/oled)凭借其超薄、节能、画质清晰、辐射低等诸多优点，在可穿戴电子设备领域有着十分广泛的应用。现在的智能穿戴设备、智能手持终端等，为了降低显示功耗，通常需要根据周围光强度来调整屏幕亮度，这就需要使用到屏下光传感器感应环境光强度。

2、为了能够根据环境光强度调整屏幕的亮度，需要对屏下的光传感器的感光漏光性能进行测试，现有技术中，屏下光传感器的测试系统不能实现对屏下光传感器的组装位置检测，测试功能存在不足。

技术实现思路

1、本发明提供一种屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品，实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加了测试功能，提高了测试效率。

2、第一方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试方法，屏下光传感器的测试方法，包括：

3、获取待测显示屏的显示区域平面的xy坐标系；

4、根据xy坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，其中，每个感光子区域面积相等；并且在xy坐标系的x方向和y方向上的感光子区域个数相等，个数为2n+1个，n大于0且为整数；

5、控制待测显示屏在第一分割线y方向的一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第一发光强度；控制待测显示屏在第一分割线y方向的反方向一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第二发光强度；控制待测显示屏在第二分割线的x方向的反方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第三发光强度；控制待测显示屏在第二分割线方向的x方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第四发光强度；其中，第一分割线与x方向平行，第二分割线与y方向平行，并均经过光传感器感光区域的中心；

6、根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在x轴上的坐标。

7、可选的，由屏下光传感器的测试系统执行，系统包括主控单元和屏下光传感器测试设备；屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上；主控单元通过主控板分别与测试光源、照度单元和待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；照度单元用于检测遮光箱内的光照强度；主控单元用于执行的屏下光传感器的测试方法。

8、可选的，根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在y轴上的坐标，包括：

9、分别计算每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度的比值；

10、将x方向上同一行的每一感光子区域的比值与第一预设比值率相比获得第一比值参数；

11、并根据显示区域y方向的长度和第一比值参数表示光传感器的中心在y轴上的坐标。

12、可选的，根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在x轴上的坐标，包括：

13、分别计算每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度的比值；

14、将y方向上同一列的每一感光子区域的比值与第二预设比值率相比获得第二比值参数；

15、并根据显示区域x方向的长度和第二比值参数表示光传感器的中心在x轴上的坐标。

16、可选的，在根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在x轴上的坐标，之后，包括：

17、将第一分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第五发光强度；并根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器在x轴上的修正坐标；

18、将第二分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第六发光强度；根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器在y轴上的修正坐标；

19、根据x轴上的修正坐标和y轴上的修正坐标分别对光传感器的中心在x轴上的坐标和光传感器的中心在y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点。

20、可选的，根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器在x轴上的修正坐标，包括：

21、通过第一计算公式获取x轴上的修正坐标，第一计算公式包括：

22、

23、其中，xk为x轴上的修正坐标，xp为第一分割线上的第p个感光子区域的发光强度，p大于0，且小于n为整数；其中，第一分割线上的第1个感光子区域为与y轴相邻的感光子区域。

24、可选的，根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器在y轴上的修正坐标，包括：

25、通过第二计算公式获取y轴上的修正坐标，第二计算公式包括：

26、

27、其中，yk为y轴上的修正坐标，ym为第二分割线上第m个感光子区域的发光强度，m大于0，且小于n为整数；其中，第二分割线上的第1个感光子区域为远离x轴的感光子区域。

28、可选的，在根据x轴上的修正坐标和y轴上的修正坐标分别对光传感器的中心在x轴上的坐标和光传感器的中心在y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点，之后，还包括：

29、控制待测显示屏形成至少四个发光区域，其中，发光区域围绕光传感器设置；每个发光区域的中点与实际坐标点的距离相同，且每个发光区域的形状和面积相同；

30、获取每个发光区域的发光强度；

31、根据发光强度判断光传感器的安装水平度。

32、可选的，在根据发光强度判断光传感器的安装水平度，之后，还包括：

33、控制待测显示屏不发光，并控制测试光源依次递增光照强度进行发光，同步检测测试光源的光照强度；

34、获取屏下光传感器的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器进行精度校准。

35、可选的，在获取屏下光传感器的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器进行精度校准，之后，还包括：

36、控制测试光源不发光，控制待测显示屏围绕屏下光传感器的组装位置以不同像素面积进行发光；

37、获取各个像素面积下的屏下光传感器的检测强度，并根据各个像素面积下的屏下光传感器的检测强度，获得每个像素区域内每个像素点的漏光值。

38、可选的，在获取待测显示屏的显示区域平面的xy坐标系，之前，包括：

39、控制测试光源与待测显示屏均不发光；

40、根据照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验。

41、可选的，在根据照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验，之后，还包括：

42、控制测试光源以不同占空比发光；

43、根据照度单元检测的光照强度进行光源校准。

44、第二方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试系统，包括：主控单元和屏下光传感器测试设备；

45、屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；

46、抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上；

47、主控单元通过主控板分别与测试光源、照度单元和待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；照度单元用于检测遮光箱内的光照强度；

48、主控单元用于执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

49、第三方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器测试设备，包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；

50、抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上。

51、可选的，测试光源包括：白光源、红光源、绿光源和蓝光源；其中，测试光源以白光源、红光源、绿光源和蓝光源的顺序循环设置为环状平面灯板。

52、可选的，的屏下光传感器测试设备，还包括扩散板；扩散板设置在测试光源与均匀导光板之间。

53、第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，电子设备包括：

54、至少一个处理器；以及

55、与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

56、存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

57、第五方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

58、第六方面，本发明实施例提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

59、本发明实施例通过将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，控制所述待测显示屏在以第一分割线和第二分割线在不同区域内进行发光，利用光传感器的感光强度与距离相关的关系，依据第一发光强度和第二发光强度的比例关系，和第三发光强度和第四发光强度的比例关系，可以推算光传感器的组装位置，从而实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加测试功能，同时在后续的感光漏光检测中，无需再次取出待测试显示屏，提高了测试效率。