集成电路测试电路及装置的制作方法

本申请涉及集成电路测试，尤其涉及一种集成电路测试电路及装置。

背景技术：

1、数字集成电路在电子工厂量化生产中得到广泛地应用。为了提高工人的实践创新能力和实践动手能力，很多企业都会进行开设一些数字电路实验课程。在这些实验教学课程中，需要使用大量的数字集成芯片。然而，在实验教学过程中，由于工人对实验数字集成芯片使用不当，而造成芯片损坏数量越来越大。目前市场上的专用的数字集成电路测试仪，不仅体积庞大，而且价格昂贵，不可在电子工厂里中普及与应用。

2、因此，设计快速高效和成本低廉的集成电路测试电路，具有重要的实现意义。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于提供一种集成电路测试电路及装置，旨在解决电子厂在培训过程中或者量化生产测试功率器件时，现有集成电路测试装置体积庞大价格贵、测试效率低的技术难题。

2、为实现上述目的，本申请实施例提供了一种集成电路测试电路，用于测试程控电源、功率器件之间是否正常，其包括第一逻辑门模块、第二逻辑门模块、集成控制模块、开关模块、上拉电路模块；

3、第一逻辑门模块、分别与所述集成控制模块、开关模块连接，用于逻辑运算控制所述开关模块和所述集成控制模块给所述功率器件测试功率信号；

4、第二逻辑门模块，分别与所述集成控制模块、上拉电路模块连接，用于逻辑运算控制所述集成控制模块给所述功率器件测试供电信号。

5、可选地，集成控制模块，分别与所述程控电源、第一逻辑门模块、开关模块连接，用于控制所述程控电源给所述第一逻辑门模块、所述第二逻辑门模块输出预设控制电平；

6、开关模块，分别与所述程控电源以及所述集成控制模块连接，用于在集成运算模块的控制下，连接或断开所述程控电源与所述第一逻辑门模块之间的通路。

7、可选地，所述第一逻辑门模块包括与门电路、第五电阻，所述集成控制模块包括集成控制芯片，所述集成控制芯片包括第一输出管脚，所述开关模块包括二极管；

8、所述与门电路的两个输入端分别与所述第一输出管脚、二极管的正极连接，所述与门电路的输出端连接测试功率信号，并通过所述第五电阻接地。

9、可选地，包括功率检测模块，所述功率检测模块与所述与门电路的输出端和所述第五电阻连接。

10、可选地，包括供电检测模块，所述第二逻辑门模块包括与非门电路，所述集成控制模块包括第二输出管脚，所述与非门电路的两个输入端分别与所述第二输出管脚、上拉电路模块连接，所述与非门电路的输出端连接所述供电检测模块测试供电信号。

11、可选地，所述上拉电路模块包括第二电阻，所第二电阻的一端与所述与非门电路的输入端连接，所述第二电阻的另一端连接预设电压源。

12、可选地，所述集成控制芯片包括第三电平输出管脚，所述开关模块包括开关管，第三电阻以及第四电阻，所述开关管的源极分别与所述二极管的极以及所述程控电源连接，所述开关管的栅极分别与所述第三电阻的一端连接，所述开关管的漏极与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端与所述电平输出管脚连接，所述第一电阻r3的另一端接地。

13、可选地，所述集成控制芯片包括电源管脚、接地管脚，所述电源管脚分别与所述程控电源和所述开关模块连接，所述接地管脚接地。

14、可选地，当所述程控电源通过所述集成控制模块给所述功率器件测试功率信号时，所述开关模块连接所述第一逻辑门模块控制所述功率器件之间的通路；

15、当所述程控电源未给所述功率器件测试功率信号时，所述开关模块断开所述第一逻辑门模块控制所述功率器件之间的通路，输出预设控制电平至所述第二逻辑门模块测试供电信号。

16、此外，为实现上述目的，本发明实施例还提供一种集成电路测试装置，其包括使用上述集成电路测试电路。

17、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

18、本发明提供的集成电路测试电路及装置，用于测试程控电源、功率器件之间是否正常，其包括第一逻辑门模块、第二逻辑门模块、集成控制模块、开关模块、上拉电路模块；第一逻辑门模块、分别与所述集成控制模块、开关模块连接，用于逻辑运算控制所述开关模块和所述集成控制模块给所述功率器件测试功率信号；第二逻辑门模块，分别与所述集成控制模块、上拉电路模块连接，用于逻辑运算控制所述集成控制模块给所述功率器件测试供电信号，集成控制模块，分别与所述程控电源、第一逻辑门模块、开关模块连接，用于控制所述程控电源给所述第一逻辑门模块、所述第二逻辑门模块输出预设控制电平；开关模块，分别与所述程控电源以及所述集成控制模块连接，用于在集成运算模块的控制下，连接或断开所述程控电源与所述第一逻辑门模块之间的通路当所述程控电源通过所述集成控制模块给所述功率器件测试功率信号时，所述开关模块连接所述第一逻辑门模块控制所述功率器件之间的通路；当所述程控电源未给所述功率器件测试功率信号时，所述开关模块断开所述第一逻辑门模块控制所述功率器件之间的通路，输出预设控制电平至所述第二逻辑门模块测试供电信号。有效解决了现有集成电路测试装置体积庞大价格贵的技术难题，提高了测试效率。

技术特征：

1.一种集成电路测试电路，用于测试程控电源、功率器件之间是否正常，其特征在于，包括第一逻辑门模块、第二逻辑门模块、集成控制模块、开关模块、上拉电路模块；

2.如权利要求1所述的集成电路测试电路，其特征在于，

3.如权利要求2所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述第一逻辑门模块包括与门电路、第五电阻，所述集成控制模块包括集成控制芯片，所述集成控制芯片包括第一输出管脚，所述开关模块包括二极管；

4.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，包括功率检测模块，所述功率检测模块与所述与门电路的输出端和所述第五电阻连接。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，包括供电检测模块，所述第二逻辑门模块包括与非门电路，所述集成控制模块包括第二输出管脚，所述与非门电路的两个输入端分别与所述第二输出管脚、上拉电路模块连接，所述与非门电路的输出端连接所述供电检测模块测试供电信号。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述上拉电路模块包括第二电阻，所第二电阻的一端与所述与非门电路的输入端连接，所述第二电阻的另一端连接预设电压源。

7.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述集成控制芯片包括第三电平输出管脚，所述开关模块包括开关管，第三电阻以及第四电阻，所述开关管的源极分别与所述二极管的极以及所述程控电源连接，所述开关管的栅极分别与所述第三电阻的一端连接，所述开关管的漏极与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端与所述电平输出管脚连接，所述第一电阻r3的另一端接地。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述集成控制芯片包括电源管脚、接地管脚，所述电源管脚分别与所述程控电源和所述开关模块连接，所述接地管脚接地。

9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，当所述程控电源通过所述集成控制模块给所述功率器件测试功率信号时，所述开关模块连接所述第一逻辑门模块控制所述功率器件之间的通路；

10.一种集成电路测试装置，其特征在于，使用权利要求1-9中任一项的集成电路测试电路。

技术总结
本申请公开了一种集成电路测试电路及装置，用于测试程控电源、功率器件之间是否正常，其包括第一逻辑门模块、分别与集成控制模块、开关模块连接，用于逻辑运算控制开关模块和集成控制模块给功率器件测试功率信号；第二逻辑门模块，分别与集成控制模块、上拉电路模块连接，用于逻辑运算控制集成控制模块给功率器件测试供电信号，集成控制模块，分别与程控电源、第一逻辑门模块、开关模块连接，用于控制程控电源给第一逻辑门模块、第二逻辑门模块输出预设控制电平；开关模块，分别与程控电源以及集成控制模块连接，用于在集成运算模块的控制下，连接或断开该程控电源与第一逻辑门模块之间的通路，具有快速高效和成本低廉的有益效果。

技术研发人员：刘家星
受保护的技术使用者：深圳市恒锐无限科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14