接触式探针的触针的制作方法

本公开涉及一种接触式探针的触针。

背景技术：

1、专利文献1公开了一种用于测量利用机床加工的加工产品的形状及尺寸的探测装置。该装置具备：触针，其构成为与加工产品的表面接触来测量加工产品；以及输送装置，其构成为保持触针并使其移动。在触针的前端设置有大致球形状的触头(前端尖头)。输送装置使触针接近加工产品，获取触头与加工产品接触时的位置，从而测量加工产品的形状及尺寸。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开2021-181132号公报

技术实现思路

1、(一)要解决的技术问题

2、本公开说明一种接触式探针的触针，其强度优良且能够测量复杂形状的加工产品。

3、(二)技术方案

4、接触式探针的触针的一例具备：基端部，其呈沿着规定的第一方向延伸的柱形状；以及前端部，其连接于基端部。前端部呈随着从基端部朝向前端部的前端侧而尺寸收缩的三棱柱形状，且包含：沿着第一方向延伸的第一主面、在与第一方向正交的第二方向上位于第一主面的相反侧且相对于第一方向倾斜延伸的第二主面、以及位于前端的触头。第一主面与第二主面所成的倾斜角是锐角。当从与第一方向及第二方向双方正交的第三方向观察时，触头的表面呈圆弧状。触头中的第一主面侧的部分相对于第一主面而言向从第二主面朝向第一主面的方向突出。

5、(三)有益效果

6、根据本公开的接触式探针的触针，强度优良且能够测量复杂形状的加工产品。

技术特征：

1.一种接触式探针的触针，具备：

2.根据权利要求1所述的触针，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的触针，其特征在于，

4.根据权利要求1～3的任一项所述的触针，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的触针，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的触针，其特征在于，

技术总结
本公开说明一种接触式探针的触针，其强度优良且能够测量复杂形状的加工产品。接触式探针的触针具备：基端部，其呈沿着规定的第一方向延伸的柱形状；以及前端部，其连接于基端部。前端部呈随着从基端部朝向前端部的前端侧而尺寸收缩的三棱柱形状，包含：沿着第一方向延伸的第一主面、在与第一方向正交的第二方向上位于第一主面的相反侧且相对于第一方向倾斜延伸的第二主面、以及位于前端的触头。第一主面与第二主面所成的倾斜角是锐角。关于触头的表面，当从与第一方向及第二方向双方正交的第三方向观察时呈圆弧状。触头中的第一主面侧的部分相对于第一主面而言向从第二主面朝向第一主面的方向突出。

技术研发人员：永田淳士
受保护的技术使用者：株式会社三井高科技
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15