双弯折型半导体测试探针的制作方法

本发明属于半导体检测，具体涉及一种双弯折型半导体测试探针。

背景技术：

1、半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。

2、双头半导体测试探针一般由针管以及位于针管两端的两个针头组成。双头半导体测试探针使用时其一端的针头与测试机连接，另一端的针头与待测产品连接，由于两个针头一般是同轴装配在一起的，因此如果测试机的接触点和待测产品无法处于同轴布置的时候，将难以通过两个针头进行电连接测试。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种双弯折型半导体测试探针，解决若测试机的接触点和待测产品之间无法满足同轴布置的时候，现有半导体测试探针使用时难以实现电连接测试的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管，所述弯折式针管的一端设置有第一针管，第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧，第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，弯折式针管的另一端设置有第二针管，第二针管内设置有第二针头和第二弹簧，所述第二弹簧位于第二针头的尾部和第二针管的底部之间。

3、本发明的技术方案，还具有以下特点：

4、作为本发明的一种优选方案，所述弯折式针管的两端设置有插孔，所述第一针管和第二针管分别布置在两个所述插孔中。

5、作为本发明的一种优选方案，所述插孔的端口形成有缩口，所述第一针管和第二针管均限制在所述缩口内。

6、作为本发明的一种优选方案，所述第一针管的端口和第二针管的端口均形成有缩口，所述第一针头的尾部和所述第二针头的尾部限制在所述缩口内。

7、作为本发明的一种优选方案，所述弯折式针管包含横向部，所述横向比的两端分别设置有向下弯折和向上弯折的竖向部，所述第一针管和第二针管分别设置在两个竖向部中。

8、与现有技术相比：本发明的一种双弯折型半导体测试探针，在使用过程中，可以根据测试机的触发点与待测产品的间距的不同调整双折弯式针管的折弯形状以达到适用所需的测试环境，从而保证测试精度，确保半导体测试探针的测试性能，因此该双折弯型半导体测试探针具有非常广阔的适用前景。

技术特征：

1.一种双弯折型半导体测试探针，其特征在于，包括弯折式针管(1)，所述弯折式针管(1)的一端设置有第一针管(2)，第一针管(2)的内设置有第一针头(3)和第一弹簧(4)，第一弹簧(4)位于第一针头(3)的尾部和第一针管(2)的底部之间，弯折式针管(1)的另一端设置有第二针管(5)，第二针管(5)内设置有第二针头(6)和第二弹簧(7)，所述第二弹簧(7)位于第二针头(6)的尾部和第二针管(5)的底部之间。

2.根据权利要求1所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述弯折式针管(1)的两端设置有插孔，所述第一针管(2)和第二针管(5)分别布置在两个所述插孔中。

3.根据权利要求2所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述插孔的端口形成有缩口，所述第一针管(2)和第二针管(5)均限制在所述缩口内。

4.根据权利要求3所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述第一针管(2)的端口和第二针管(5)的端口均形成有缩口，所述第一针头(3)的尾部和所述第二针头(6)的尾部限制在所述缩口内。

5.根据权利要求4所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述弯折式针管(1)包含横向部，所述横向比的两端分别设置有向下弯折和向上弯折的竖向部，所述第一针管(2)和第二针管(5)分别设置在两个竖向部中。

技术总结
本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管，所述弯折式针管的一端设置有第一针管，第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧，第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，弯折式针管的另一端设置有第二针管，第二针管内设置有第二针头和第二弹簧，所述第二弹簧位于第二针头的尾部和第二针管的底部之间。该双弯折型半导体测试探针，解决了若测试机的接触点和待测产品之间无法满足同轴布置的时候，现有半导体测试探针使用时难以实现电连接测试的问题。

技术研发人员：丁崇亮,张飞龙
受保护的技术使用者：渭南木王智能科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15