一种芯片管脚开短路测试系统及开短路测试方法与流程

本技术涉及芯片管脚开短路测试领域，特别是涉及一种芯片管脚开短路测试系统及开短路测试方法。

背景技术：

1、管脚，又称引脚，就是从集成电路（芯片）内部电路引出与外围电路的接线，所有的引脚就构成了这块芯片的接口，引线末端的一段，通过软钎焊使这一段与印制板上的焊盘共同形成焊点。

2、随着我国科技行业的不断发展，芯片在日常生活中广泛使用，因此芯片行业得到快速的发展，芯片从生产到变成成品需要经历多到工序，而其中芯片的测试是其中不可或缺的一环。

3、针对芯片的检测，以芯片管脚开短路测试为例，现有针对芯片的生产现有的测试方法效率相对较低，加之某些现有的软件测试流程不透明，且造价高昂；只能在既定的框架下使用其软件，灵活性较差，不能快速适应瞬息万变的外界条件，已不能满足当下生产需求。

4、现有技术中，如专利号为cn214173186u的中国专利，涉及一种用于芯片管脚的测试装置，包括测试机箱，测试机箱的底端面内侧固定连接有测试台，测试机箱的顶端面内侧固定连接有控制机箱，测试机箱的顶端面内侧固定连接有液压推杆，液压推杆的另一端固定连接有安装架，安装架的内侧固定连接有直线导轨；在进行测试时，可通过控制机箱控制设备工作，能利用液压推杆移动安装架的位置，方便了调节测试笔的高度；在不测试时，也可将其升起，避免占据较大的空间；在测试时，可通过直线导轨调节左右两方的测试笔的位置，并且还会带动读数指针在刻度尺一侧滑动，此设置能根据芯片管脚的尺寸进行精准调节，防止出现调节偏差从而导致测试数据出现误差，提高了测试的准确度。

5、现有技术中，通过测试笔对芯片的管脚进行测试，其需要针对芯片的管脚进行一一测试，其不仅测试的时间长，而且此时需要消耗大量的时间，因此其效率较低。

6、其次现有技术中，对芯片的管脚进行测试时，仅仅能够针对一种尺寸的芯片管脚进行测试，当遇到不同尺寸的芯片时，需要更换不同尺寸的模具，因此设备的适用性较差，并且设备无法针对不同尺寸以及不同间距的管脚进行芯片管脚开短路测试。

7、然后现有技术中，在对芯片的管脚进行开短路测试时，芯片的管脚与测试的装置进行接触时，容易发生接触不良的情况，因此导致芯片测试的结果出现偏差。

技术实现思路

1、为了能够实现对芯片管脚开短路的批量化自动测试，本技术提供一种芯片管脚开短路测试系统及开短路测试方法。

2、第一方面，本技术提供的一种芯片管脚开短路测试系统，采用如下的技术方案：

3、一种芯片管脚开短路测试系统，包括固定架以及输送装置，所述输送装置包括两组输送机构，固定架的上端设有一组输送机构，用于输送待测试的芯片，固定架内部的右下端设有另外一组输送机构，用于输送完成检测的芯片，位于所述固定架上端的输送机构上设有夹持机构用于对芯片进行夹持，所述固定架的内侧且位于固定架上端的输送机构的正下方设有对芯片管脚进行开短路检测的测试机构。

4、所述测试机构包括固定架内部设置的四组伸缩板，四组伸缩板依次收尾固定连接，且四组伸缩板呈矩形分布，每组伸缩板的内侧等间距设有若干金属触片，通过金属触片与芯片管脚进行接触测试，金属触片的上方设有抵触组件，金属触片上设有针对不同尺寸的芯片进行位置调节的第一调节组件。

5、优选的，所述输送装置包括输送架、输送带、输送辊以及输送电机，输送架上转动连接有两个左右对称的输送辊，两个输送辊上共同套设有两个前后对称的输送带，输送架的侧端通过电机座固定连接有输送电机，输送电机的输出端与输送辊相连。

6、所述固定架上端设置的输送机构中，位于固定架左侧的输送辊上连接有活动框，活动框通过活动弹簧杆固定在固定架的右侧内壁上。

7、所述固定架后侧壁设有执行架，执行架上固定有执行电动推杆，执行电动推杆的输出端朝下。

8、优选的，所述夹持机构包括两个输送带的上端沿周向方向等间距连接的固定板，固定板的上端固定连接有限位杆，固定板上前后滑动安装有两个相对运动的夹持板，且夹持板滑动套设在限位杆上，夹持板与固定板之间连接有夹持弹簧。

9、两个所述夹持板的左侧端铰接有居中杆，两个居中杆远离夹持板的一端共同铰接在居中块上，居中块滑动安装在居中柱上，居中柱与固定板的左侧壁固定连接，固定板的内侧设有联动组件用于控制夹持板的开合。

10、优选的，所述联动组件包括两个夹持板的右侧端均铰接的联动杆，两个联动杆远离夹持板的一侧共同铰接有联动板，联动板与固定板之间连接有联动弹簧，固定架的上端且位于两个输送带的中间位置通过扭簧铰接有拆卸块，拆卸块与联动板相对应。

11、优选的，所述第一调节组件包括四组伸缩板上四个拐角处均固定连接的l形支撑框，l形支撑框上铺设有绝缘橡胶层，l形支撑框上设置有倒角，四组伸缩板的右上角连接有伸缩电动推杆，伸缩电动推杆与固定架的内壁固定连接，四组伸缩板的内侧壁均设置有第二调节组件。

12、每组所述伸缩板包括一号固定板和二号固定板，二号固定板滑动设置在一号固定板上开设的伸缩槽内，四组所述伸缩板围成的矩形的左下角固定在水平板上，四组所述伸缩板围成的矩形的右上角滑动设置在水平板上，水平板固定安装在固定架的内壁。

13、优选的，所述第二调节组件包括四组伸缩板的内侧均固定连接的伸缩匚形架，伸缩匚形架上开设有活动槽，若干金属触片通过滑动的方式设置在伸缩匚形架内，若干金属触片的底部设置有剪叉组件，剪叉组件的上端设有驱使金属触片进行间距调节的间距调节模块，金属触片上设有导线与测试机进行连接，若干金属触片中最外侧的金属触片上设置有三角块。

14、优选的，所述间距调节模块包括四组伸缩匚形架上均安装的牵引辊，位于固定架前侧的伸缩匚形架上固定有调节板，调节板上固定连接有调节弹簧，调节弹簧上通过支架转动连接有张紧轮，若干牵引辊与张紧轮之间共同套设有牵引绳，牵引绳的四周均固定连接有调节齿条，调节齿条滑动设置在伸缩匚形架上开设的牵引槽内。

15、位于四组剪叉组件的交接点处固定连接有两个执行块，一侧的执行块上转动安装有调节齿轮，另外一侧的执行块上固定连接有伸缩齿条，伸缩齿条与调节齿轮相互啮合，调节齿条与调节齿轮远离伸缩齿条的一端啮合。

16、所述固定架的内部固定有驱动齿条，驱动齿条上啮合有驱动轮，驱动轮与靠近伸缩电动推杆一端的牵引辊相连。

17、优选的，所述抵触组件包括一号固定板和二号固定板的外侧壁上通过圆柱共同铰接的l形抵触板，l形抵触板为伸缩结构，l形抵触板的内侧等间距固定连接有抵触弹簧，抵触弹簧远离l形抵触板的一端共同安装可往复伸缩的抵触块，抵触块上包裹有绝缘橡胶层，l形抵触板靠近圆柱的一侧共同设有驱使四组抵触块同步移动的驱动件。

18、优选的，所述驱动件包括圆柱的外侧固定连接的一号带轮，一号带轮的下方通过同步带连接有二号带轮，二号带轮固定在同步齿轮上，同步齿轮转动安装在一号固定板的侧壁上。

19、四组所述伸缩板所围成测试区域的中部上下滑动设置有垂直柱，垂直柱的外侧壁固定连接有倒置的锥形块，垂直柱的下端与水平板之间固定连接有垂直弹簧，锥形块沿其周向方向抵触有四组与同步齿轮相互对应的直角板，直角板远离锥形块的一端连接有同步齿条，同步齿条与同步齿轮相互啮合，同步齿条以及直角板水平滑动在固定架的内部。

20、第二方面，本发明还提供一种芯片管脚开短路测试方法，其芯片管脚开短路测试方法如下：

21、s1、产品固定：首先操作人员将芯片逐一安装在输送带上端等间距设置的夹持板上并对其进行固定，随着输送带的转动，将待测试的芯片输送至专门测试的区域；

22、s2、放置调节：在输送待检测的芯片时，通过第一次调节组件来调节伸缩板的长度，使得待检测的芯片能够放置到检测装置上；

23、s3、触点调节：当伸缩板的长度调节的同时，通过第二次调节组件来调节金属触片的间距，并且保证金属触片与芯片的管脚一一对应；

24、s4、收集作业：当待测试的芯片完成测试之后，通过联动组件将芯片从夹持板上分离，并通过固定架内部的输送带对其进行等间距输送，同时对不符合要求的芯片进行剔除。

25、综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：

26、1.本发明能够通过输送带和夹持机构的配合实现芯片的批量化输送和固定，保证设备测试的高效，提高芯片测试的效率。

27、2.本发明能够实现针对不同尺寸的芯片进行夹持固定，并且针对不同尺寸的芯片进行测试，提高其适用性。

28、3.本发明能够实现针对不同间距的管脚进行等间距检测，保证设备的适用性。

29、4.本发明能够通过抵触块和l形抵触板的配合，对芯片的管脚进行挤压，使得芯片的管脚与测试机的金属触片进行紧密接触，避免芯片管脚与金属触片之间出现接触不良的情况。