一种子母板芯片的测试方法及系统与流程

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种子母板芯片的测试方法及系统。

背景技术：

1、目前，随着lpddr4内存芯片的制程逐渐在增加，对于一些比较隐性的问题难以在短时间暴露出来，需要长时间的老化测试。老化测试系统按子板+母板的结构设计，在以往的测试方式中，子板和母板搭配使用，一套子板就需要配一套母板，不能做到兼容设计，测试成本高；且将母板和子板集成在一起，通过子板嵌入芯片然后进行逐一测试，测试速度慢，子板和母板之间容易互相影响导致测试精度低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种子母板芯片的测试方法及系统，能够兼容测试不同的芯片类型，测试精度高，测试速度快。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种子母板芯片的测试方法。该方法应用于子母板芯片的测试系统的子板端，所述子母板芯片的测试系统还包括母板，所述子板包括iot模块和测试模块，所述子板端的芯片在测试模块进行测试、并通过所述iot模块与母板在iot信道进行通信，所述测试模块包括多个测试端点，每个测试端点均可接入相同和/或不同类型的芯片，多个测试端点可同时测试芯片，所述方法包括：

3、获取芯片的第一确认信息，将所述第一确认信息发送至所述iot信道，其中，所述第一确认信息包括芯片类型信息和测试进度信息；

4、以使所述母板在所述iot信道接收所述芯片类型信息和所述测试进度信息，并根据所述芯片类型信息和预设的对应关系生成选择信息，将所述选择信息和所述测试进度信息发送至上位机，其中，所述对应关系表征所述芯片类型信息和所述选择信息之间的对应关系；

5、以使所述上位机根据所述选择信息选择测试程序和根据所述测试进度信息选择测试时间，在所述测试时间内运行所述测试程序并发送运行信息给所述母板，以使所述母板生成驱动信息并发送至所述iot信道；

6、所述子板接收所述驱动信号，所述子板根据所述驱动信号驱动所述测试模块的测试端点对芯片进行测试。

7、可选地，所述获取芯片的第一确认信息，将所述第一确认信息发送至所述iot信道，具体包括：

8、所述子板通过所述测试模块与所述芯片连接；

9、向所述芯片发送第三电信号，以使所述芯片发送第一确认信息至所述测试模块；

10、所述测试模块将所述第一确认信息发送至所述iot模块，所述iot模块将所述第一确认信息发送至所述iot信道。

11、可选地，所述并根据所述芯片类型信息和预设的对应关系生成选择信息，具体包括：

12、所述母板接收到所述芯片类型信息后调用存储的关系列表，并在所述关系列表中搜索与所述第一确认信息相对应的选择信息。

13、可选地，所述以使所述上位机根据所述选择信息选择测试程序和根据所述测试进度信息选择测试时间，在所述测试时间内运行所述测试程序并发送运行信息给所述母板，具体包括：

14、所述上位机根据所述选择信息调用对应芯片类型的程序包，并将所述程序包的所述测试程序复制到运行区；

15、所述上位机根据所述测试进度信息选择所述测试时间，所述上位机运行所述测试程序直到所述测试时间结束；

16、所述上位机生成所述运行信号、并将所述运行信号发送至所述母板。

17、可选地，所述子板根据所述驱动信号驱动所述测试模块的测试端点对芯片进行测试，具体包括：

18、所述子板接收到所述驱动信号后选择所述测试模块的芯片测试端点，其中，所述芯片测试端点表征对所述芯片进行测试的所述测试端点；

19、根据所述驱动信号驱动所述芯片测试端点测试所述芯片。

20、可选地，所述并通过子板测试端点对芯片进行测试之后，还包括：

21、所述母板测试端点与所述子板测试端点进行通信，并将测试结果发送至所述上位机。

22、可选地，所述方法还包括：

23、所述子板将所述测试端点输入所述芯片输入管脚的第一电信号、以及接收所述芯片输出管脚的第二电信号并通过所述iot信道发送至所述母板；

24、以使所述母板将所述第一电信号和所述第二电信号发送至所述上位机，以使所述上位机根据所述第一电信号和所述第二电信号生成测试图。

25、可选地，所述以使所述上位机根据所述第一电信号和所述第二电信号生成测试图之后，还包括：

26、所述上位机根据第一时间内的所述测试图和所述测试时间内的所述测试图生成测试报告，并将所述测试报告保存后生成测试二维码，其中，扫描所述测试二维码便能得到所述测试报告。

27、可选地，所述方法还包括：

28、所述上位机获取程序包指令，并根据所述程序包指令调用预设程序；

29、运行所述预设程序并发送子板选择信息给所述母板，其中，所述子板选择信息表征子板的测试端点信息和芯片类型信息；

30、以使所述母板根据所述子板选择信息选择母板测试端点，并通过所述母板测试端点发送母板电信号至所述子板；

31、以使所述子板根据所述母板电信号选择子板测试端点、并通过子板测试端点对芯片进行测试。

32、第二方面，本发明实施例提供了一种子母板芯片的测试系统，包括：

33、子板、母板和上位机，所述子板和所述母板均包括iot模块，所述iot模块用于所述子板和所述母板在iot信道进行通信；所述子板有多个，每个所述子板有多个子板测试端点，每个子板测试端点可测试相同和/或不同类型的芯片；所述母板有多个母板测试端点，每个母板测试端点可单独测试所述子板端点的所述芯片；

34、所述子板，用于获取芯片的第一确认信息，将所述第一确认信息发送至所述iot信道，其中，所述第一确认信息包括芯片类型信息和测试进度信息；

35、所述母板，用于在所述iot信道接收所述芯片类型信息和所述测试进度信息，并根据所述芯片类型信息和预设的对应关系生成选择信息，将所述选择信息和所述测试进度信息发送至上位机，其中，所述对应关系表征所述芯片类型信息和所述选择信息之间的对应关系；

36、所述上位机，用于根据所述选择信息选择测试程序和测试时间，在所述测试时间内运行所述测试程序并发送运行信息给所述母板；

37、所述母板，用于生成驱动信息并发送至所述iot信道；

38、所述子板，用于接收所述驱动信号，根据所述驱动信号驱动所述测试模块的测试端点对芯片进行测试。

39、实施本发明实施例包括以下有益效果：本发明实施例提供一种子母板芯片的测试方法，包括：获取芯片的第一确认信息，将所述第一确认信息发送至所述iot信道，其中，所述第一确认信息包括芯片类型信息和测试进度信息；以使所述母板在所述iot信道接收所述芯片类型信息和所述测试进度信息，并根据所述芯片类型信息和预设的对应关系生成选择信息，将所述选择信息和所述测试进度信息发送至上位机，其中，所述对应关系表征所述芯片类型信息和所述选择信息之间的对应关系；以使所述上位机根据所述选择信息选择测试程序和根据所述测试进度信息选择测试时间，在所述测试时间内运行所述测试程序并发送运行信息给所述母板，以使所述母板生成驱动信息并发送至所述iot信道；所述子板接收所述驱动信号，所述子板根据所述驱动信号驱动所述测试模块的测试端点对芯片进行测试。通过iot信道传输信号可将子板和母板分离并且互不干扰，通过子板的测试端点可以测试多种类型的芯片，兼容性高，且子板的测试端点有多个，可同时测试，测试速度快，测试效率高。