一种芯片的可视化测试方法、系统、装置及存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片的可视化测试方法、系统、装置及存储介质。

背景技术：

1、芯片测试会产生大量的测试数据，再根据生成的测试数据对芯片进行各类分析和决策。但是现有技术中芯片测试方法获取的测试数据通过手动提取数据和对数据进行筛选，测试数据可读性差，手动提取耗时耗力。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种芯片的可视化测试方法、系统、装置及存储介质，自动提取芯片测试的测试数据并提高测试数据的可读性。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种芯片的可视化测试方法，包括以下步骤：

3、测试数据获取芯片的测试数据，通过预设指标对所述测试数据进行筛选和分组处理；

4、将所述筛选和所述分组处理的结果通过终端界面进行实时显示；

5、通过所述终端界面显示不同指标的坐标系图像，其中，同一个坐标系显示一个和/或多个指标；

6、响应在所述坐标系图像上放置的鼠标，并在所述鼠标的放置处生成对应的数据块的坐标值和属性信息，其中，所述纵坐标表征样本数据的数据块值，横坐标表征所述数据块的指标数值；

7、根据所述属性信息和对应关系显示所述数据块的数据类型，其中，所述对应关系表征所述属性信息和所述数据类型之间的对应关系；

8、响应点击播放按键的点击动作动态播放所述坐标系图像的指标生成图像；

9、响应所述鼠标的滑动显示所述坐标系图像的不同横坐标区间。

10、可选地，所述通过预设指标对所述测试数据进行筛选和分组处理，具体包括：

11、根据所述预设指标筛选包含所述预设指标的所述测试数据得到筛选数据；

12、获取分组信息，根据所述分组信息将所述筛选数据分成不同的数据组。

13、可选地，所述通过所述终端界面显示不同指标的坐标系图像，具体包括：

14、获取指标选择信息，根据所述指标选择信息选择数据块，其中，所述指标选择信息表征一种指标类型的选择信息或多种指标类型的选择信息；

15、根据所述指标选择信息、所述数据块和预设的坐标系生成规则生成所述坐标系图像。

16、可选地，所述响应在所述坐标系图像上放置的鼠标，并在所述鼠标的放置处生成对应的数据块的坐标值和属性信息，具体包括：

17、获取所述坐标系图像上所述鼠标的放置信息；

18、根据所述放置信息确定所述坐标系图像的选定数据块；

19、在所述鼠标的放置处生成一个显示框，并在所述显示框内显示所述选定数据块的坐标值和属性信息。

20、可选地，所述根据所述属性信息和对应关系显示所述数据块的数据类型，具体包括：

21、基于所述属性信息确定所述数据块的坐标颜色，其中，所述坐标颜色表征所述坐标系图像中所述数据块的指标坐标点的显示颜色；

22、根据所述坐标颜色和对应关系确定所述数据块的数据类型，其中，所述对应关系表征所述坐标颜色和所述数据类型之间的对应关系。

23、可选地，所述响应点击播放按键的点击动作动态播放所述坐标系图像的指标生成图像，具体包括：

24、获取所述鼠标的点击信号；

25、获取点击位置的位置信息，将所述位置信息和播放按键的预设位置信息进行对比；

26、若比对成功则动态播放所述坐标系图像的指标生成图像，其中，所述指标生成图像表征所述数据块的指标坐标点以及所述坐标点之间的关联过程。

27、可选地，所述响应所述鼠标的滑动显示所述坐标系图像的不同横坐标区间，具体包括：

28、获取所述鼠标的滑动信息和所述鼠标的位置信息；

29、根据所述鼠标的位置信息确定所述鼠标的位置；

30、若所述鼠标的位置归属于所述坐标系图像的位置，则根据所述滑动信息显示所述坐标系图像的不同横坐标区间，其中，所述横坐标区间越小，所述数据块的值越连续。

31、第二方面，本发明实施例提供了一种芯片的可视化测试系统，包括：

32、第一模块，用于测试数据获取芯片的测试数据，通过预设指标对所述测试数据进行筛选和分组处理；

33、第二模块，用于将所述筛选和所述分组处理的结果通过终端界面进行实时显示；

34、第三模块，用于通过所述终端界面显示不同指标的坐标系图像，其中，同一个坐标系显示一个和/或多个指标；

35、第四模块，用于响应在所述坐标系图像上放置的鼠标，并在所述鼠标的放置处生成对应的数据块的坐标值和属性信息，其中，所述纵坐标表征样本数据的数据块值，横坐标表征所述数据块的指标数值；

36、第五模块，用于根据所述属性信息和对应关系显示所述数据块的数据类型，其中，所述对应关系表征所述属性信息和所述数据类型之间的对应关系；

37、第六模块，用于响应点击播放按键的点击动作动态播放所述坐标系图像的指标生成图像；

38、第七模块，用于响应所述鼠标的滑动显示所述坐标系图像的不同横坐标区间。

39、第三方面，本发明实施例提供了一种芯片的可视化测试装置，包括：

40、至少一个处理器；

41、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

42、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上所述的方法。

43、第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如上所述的方法。

44、实施本发明实施例包括以下有益效果：本发明实施例提供一种芯片的可视化测试方法，包括：测试数据获取芯片的测试数据，通过预设指标对所述测试数据进行筛选和分组处理；将所述筛选和所述分组处理的结果通过终端界面进行实时显示；通过所述终端界面显示不同指标的坐标系图像，其中，同一个坐标系显示一个和/或多个指标；响应在所述坐标系图像上放置的鼠标，并在所述鼠标的放置处生成对应的数据块的坐标值和属性信息，其中，所述纵坐标表征样本数据的数据块值，横坐标表征所述数据块的指标数值；根据所述属性信息和对应关系显示所述数据块的数据类型，其中，所述对应关系表征所述属性信息和所述数据类型之间的对应关系；响应点击播放按键的点击动作动态播放所述坐标系图像的指标生成图像；响应所述鼠标的滑动显示所述坐标系图像的不同横坐标区间。通过自动筛选和分组测试数据，然后通过终端显示界面进行显示，可直观的读取芯片的测试数据，从而使得测试数据经过处理显示后具有很强的可读性。

技术特征：

1.一种芯片的可视化测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过预设指标对所述测试数据进行筛选和分组处理，具体包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述终端界面显示不同指标的坐标系图像，具体包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应在所述坐标系图像上放置的鼠标，并在所述鼠标的放置处生成对应的数据块的坐标值和属性信息，具体包括：

5.根据权利要求1述的方法，其特征在于，所述根据所述属性信息和对应关系显示所述数据块的数据类型，具体包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应点击播放按键的点击动作动态播放所述坐标系图像的指标生成图像，具体包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应所述鼠标的滑动显示所述坐标系图像的不同横坐标区间，具体包括：

8.一种芯片的可视化测试系统，其特征在于，包括：

9.一种芯片的可视化测试装置，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

技术总结
本发明公开了一种芯片的可视化测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取第一页索引号集合并创建数据空间，将数据空间进行初始化并选择应用，获取第二页索引号集合并写入备份区；获取数据更新值并写入备份区，根据数据更新值对第二页索引号的数据列表进行更新并进行第一次掉电，上电复位后进行数据比对；若备份区的数据与目标区的数据不同，则进行第二次掉电，上电复位后将备份区的数据写入目标区，然后返回状态字；根据状态字选择检查数据的写入情况或者进行第三次掉电。通过选择应用对智能卡进行掉电测试，减少了终端的数据交互，测试速度快，测试周期短，测试精度高，可广泛应用于芯片测试技术领域。

技术研发人员：梁康,贺乐,赖鼐,龚晖
受保护的技术使用者：珠海妙存科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16