微波器件测试组件、装置、方法及介质与流程

本申请涉及微波测试，尤其涉及一种微波器件测试组件、装置、方法及介质。

背景技术：

1、随着科技的快速发展和国际形势的复杂化，微波放大器需求量大批增加，而固态功率放大器在生产过程中的老炼试验和寿命试验是微波行业制造领域中的重要环节，微波放大器作为微波通信等装备系统的核心，其可靠性显得尤为重要。

2、国内设备生产企业目前主要采用人工进行单台逐一老炼筛选，对每台微波放大器逐个接电缆、安装、拆卸和人工记录测试数据，记录内容包括试验数据、时间、环境条件、产品编号等。微波放大器形状大小各异，产品连接电缆定义不一，螺钉装拆数量多，增加了操作工时；同时微波放大器老炼试验和寿命试验单项就要几十个小时，逐一老炼和人工随时跟踪并记录数据严重影响了测试效率。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种微波器件测试组件、装置、方法及介质，以改善相关技术中微波放大器进行老炼实验时效率较低的问题。

2、基于上述目的，本申请提供了一种微波器件测试组件，包括：

3、控制单元和多个串联设置的测试单元，每一所述测试单元包括串联设置的待测放大器、功率分配元件和电调衰减器，所述功率分配元件及所述电调衰减器均与控制单元连接；

4、其中，所述待测放大器用以接收测试信号并发送至所述功率分配元件；

5、所述功率分配元件用以将所述测试信号分配为主信号和校核信号，并将所述主信号发送至所述电调衰减器，将校核信号发送至控制单元；

6、所述控制单元用以根据所述测试信号和校核信号生成调控信号，并将所述调控信号发送至所述电调衰减器；

7、所述电调衰减器用以根据所述调控信号对所述主信号进行调制，生成调制信号，并将所述调制信号作为下一测试单元的测试信号。

8、进一步地，每一所述待测放大器均并联设有一直通电路，所述直通电路上设有一控制其通断状态的切换开关。

9、进一步地，所述直通电路包括与所述待测放大器连接的第一节点和第二节点，所述第一节点和/或所述第二节点上设有一切换开关。

10、进一步地，所述测试单元还包括：

11、信号转换模块，分别与所述功率分配元件和所述控制单元连接，所述信号转换模块用于将所述功率分配元件发出的校核信号转换为电压信号发送至所述控制单元。

12、进一步地，所述信号转换模块包括：

13、检波电路，与所述功率分配元件连接，所述检波电路用以接收校核信号并生成电压信号；

14、电压采集子模块，与所述检波电路连接，所述电压采集子模块用以采集电压信号并发送至控制单元；

15、所述控制单元还用于根据电压信号和功率分配元件的配置参数确定功率分配元件输出的校核信号，以根据校核信号和测试信号确定调控信号。

16、基于同一发明构思，本申请还提供了一种微波器件测试装置，包括如上任一项所述的微波器件测试组件，还包括：

17、信号发生单元，所述信号发生单元用于分别向多个所述测试组件发出测试信号。

18、基于同一发明构思，本申请还提供了一种微波器件测试方法，适用于如上所述的微波器件测试装置，包括：

19、待测放大器接收信号发生单元发出的测试信号，并发送至功率分配元件；

20、功率分配元件将接收的测试信号分配为主信号和校核信号，并向电调衰减器发出主信号，向控制单元发出校核信号；

21、控制单元根据测试信号和校核信号生成调控信号，并将调控信号发送至电调衰减器；

22、电调衰减器根据接收的调控信号对主信号进行调制，生成调制信号，并将调制信号作为下一测试单元的测试信号。

23、进一步地，所述测试单元包括电压采集子模块，所述电压采集子模块用于采集所述校核信号转换后的电压信号，并发送至控制单元；

24、所述控制单元根据测试信号和校核信号生成调控信号，包括：

25、控制单元获取校核信号和电压信号的映射关系数据库，所述映射关系数据库中的校核信号和电压信号一一对应；

26、控制单元根据接收的电压信号确定映射关系数据库中对应的校核信号，根据该校核信号和测试信号确定调控信号。

27、进一步地，每一所述待测放大器均并联设有一通断状态可调的直通电路，所述方法包括：

28、控制单元获取每一所述待测放大器的调试参数，所述调试参数包括待测放大器的输出增益限值和工作电流限值；

29、响应于控制单元确定一待测放大器的调试参数超出预设阈值区间，则控制该待测放大器对应的直通电路切换至通路状态。

30、基于同一发明构思，本公开还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的方法。

31、从上面所述可以看出，本申请提供的微波器件测试组件，包括多个串联设置的测试单元，每一所述测试单元包括串联设置的待测放大器、功率分配元件和电调衰减器，所述功率分配元件及所述电调衰减器均与控制单元连接，通过以上设置，每一测试单元的测试信号为上一测试单元中经过电调衰减器调制后的调制信号，每一测试单元中待测放大器均被通过测试信号进行测试工序，可以利用多个待测放大器串行同时进行老炼测试工作，节省硬件资源和空间；同时，测试信号被待测放大器放大后再次被电调衰减器衰减调制生成下一测试单元的测试信号，无需对各待测放大器一一发出测试信号，从而能够降低初始信号源的发生信号成本。

技术特征：

1.一种微波器件测试组件，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的微波器件测试组件，其特征在于，每一所述待测放大器均并联设有一直通电路，所述直通电路上设有一控制其通断状态的切换开关。

3.根据权利要求2所述的微波器件测试组件，其特征在于，所述直通电路包括与所述待测放大器连接的第一节点和第二节点，所述第一节点和/或所述第二节点上设有一切换开关。

4.根据权利要求1所述的微波器件测试组件，其特征在于，所述测试单元还包括：

5.根据根据权利要求4所述的微波器件测试组件，其特征在于，所述信号转换模块包括：

6.一种微波器件测试装置，其特征在于，包括如权利要求1至5中任一项所述的微波器件测试组件，还包括：

7.一种微波器件测试方法，其特征在于，适用于如权利要求6所述的微波器件测试装置，包括：

8.根据权利要求7所述的微波器件测试方法，其特征在于，所述测试单元包括电压采集子模块，所述电压采集子模块用于采集所述校核信号转换后的电压信号，并发送至控制单元；

9.根据权利要求7所述的微波器件测试方法，其特征在于，每一所述待测放大器均并联设有一通断状态可调的直通电路，所述方法包括：

10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，其特征在于，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求7至9任一所述方法。

技术总结
本发明提供一种微波器件测试组件、装置、方法及介质，属于微波测试技术领域，其中，微波器件测试组件包括控制单元和多个串联设置的测试单元，每一测试单元包括串联设置的待测放大器、功率分配元件和电调衰减器，待测放大器用以接收测试信号并发送至功率分配元件；功率分配元件用以将测试信号分配为主信号和校核信号；控制单元用以根据测试信号和校核信号生成调控信号，并将调控信号发送至电调衰减器；电调衰减器用以根据调控信号对主信号进行调制，生成调制信号，并将调制信号作为下一测试单元的测试信号。本发明提供的微波器件测试组件，能够对多个待测放大器串行进行老炼实验，节省硬件资源和空间。

技术研发人员：马帅帅,殷鹏毅,李静,康立鹏,苗仲菁
受保护的技术使用者：航天科工防御技术研究试验中心
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15