一种红外探测器稳定性筛选方法与流程

本发明涉及红外，特别是涉及一种红外探测器稳定性筛选方法。

背景技术：

1、红外热成像机芯由红外探测器、红外镜头、信号处理电路、图像处理电路等部分组成。红外探测器是红外热成像机芯的核心部件。红外探测器在使用过程中为了获得更好的成像效果，需要进行两点或者多点校正后，再加入光学及信号处理、图像处理部分，成出清晰的像。但是由于校正过程较为繁琐，通常情况下，红外整机只在出厂之前对不同温度的定标黑体进行两点或多点校正。在后续使用过程中根据探测目标温度，回调出厂前存储的各温度段校正参数，保证探测器工作在线性区间，获得最优的成像质量。所以有效保证红外探测器的稳定性成为了现在亟待需要解决的问题。

技术实现思路

1、本发明提供了一种红外探测器稳定性筛选方法，以解决现有技术中不能准确确定红外探测器的稳定的问题。

2、本发明提供了一种红外探测器稳定性筛选方法，所述方法包括：

3、步骤一、将红外探测器安装在预测测试板上，控制所述红外探测器制冷到预设温度，并控制所述预设测试板对所述红外探测器输入预设偏置电压使所述红外探测器正常工作；

4、步骤二、将所述红外探测器对准面源黑体，调节黑体温度，分别采集所述源黑体在第一温度t1和第二温度t2下的两点校正参数；

5、步骤三、调节所述源黑体温度到第三温度t3，从所述红外探测器的第一行第一列开始，取第一预设数量列数和第二预设数量行数的像元，其中每一次所取的像元数量为奇数，利用所述校正参数计算所取的像元的中值电平值，并获得所取的像元的中间位置的像元的电平值，将所述中值电平值与所述中间位置的像元的电平值的差值大于预设阈值，则判定所述中间位置的像元为坏元，间隔一列或一行像元划窗，依次获取第一预设数量列数和第二预设数量行数的像元，并再一次判断该次获取的像元的中间位置的像元是否为坏元，直到遍历所有像元，并对所有坏元进行标记和记录，其中，所述中值电平值为每一次所取的像元的电平值的中间值；

6、步骤四、控制所述红外探测器恢复到室温，然后执行所述步骤一、步骤二和步骤三，并再次遍历并记录所述红外探测器的坏元；

7、步骤五、重复执行所述步骤四，并计算所有遍历得到的所述红外探测器的坏元的总数量，当所述红外探测器的坏元的总数量与所述红外探测器的像元数量的比值超过预设坏元阈值，则确定所述红外探测器的稳定性差。

8、可选地，所述第一预设数量列数和所述第二预设数量行数均为奇数。

9、可选地，所述步骤三具体包括：调节所述源黑体温度到第三温度t3，从所述红外探测器的第一行第一列开始，取3行和3列像元，利用所述校正参数计算所取的像元的中值电平值，并获得所取的像元的中间位置的像元的电平值，将所述中值电平值与所述中间位置的像元的电平值的差值大于预设阈值，则判定所述中间位置的像元为坏元；

10、间隔一列像元，再取3行和3列像元，并再一次判断该次获取的像元的中间位置的像元是否为坏元，直到遍历所有像元，并对所有坏元进行标记和记录。

11、可选地，利用所述校正参数计算所取的像元的中值电平值，包括：

12、利用所述校正参数以及第三温度t3计算所取的每一个像元的电平值，并将计算得到的电平值按照大小顺序进行排序，取该电平值的中间值即为中值电平值。

13、可选地，所述计算所有遍历得到的所述红外探测器的坏元的总数量，包括：

14、将所有遍历得到的所述红外探测器的坏元进行叠加，其中对于不同遍历重复记录的坏元在叠加过程中仅计算一次。

15、可选地，所述对所有坏元进行标记，包括：

16、建立一个零矩阵，矩阵大小与像元规格相同，将根据遍历的坏元的位置在所述零矩阵中相应位置对所述坏元进行标记。7、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

17、所述预设阈值为根据所述红外探测器的使用条件进行设定。

18、可选地，所述预设坏元阈值为1％。

19、可选地，所述方法还包括：根据红外探测器的坏元的总数量与所述红外探测器的像元数量的比值、所述预设坏元阈值、因所述红外探测器的开关机方式引起的应力而导致的像元不稳定性，进行综合权重计算，以综合确定所述红外探测器的稳定性。

20、本发明有益效果如下：

21、本发明提供了一种新的评价红外探测器稳定性的方法，本发明通过对像元进行划窗计算，遍历计算每一次划窗以判断出坏元，从而可以筛选出稳定性好的红外焦平面探测器，对于识别探测器的稳定性具有重要指导意义。

22、上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

技术特征：

1.一种红外探测器稳定性筛选方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤三具体包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，利用所述校正参数计算所取的像元的中值电平值，包括：

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述计算所有遍历得到的所述红外探测器的坏元的总数量，包括：

6.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述对所有坏元进行标记，包括：

7.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，

8.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，

9.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

技术总结
本发明公开了一种红外探测器稳定性筛选方法，本发明通过对像元进行划窗计算，遍历计算每一次划窗以判断出坏元，从而可以筛选出稳定性好的红外焦平面探测器，对于识别探测器的稳定性具有重要指导意义。

技术研发人员：于元祯,陈彦冠,邢艳蕾,王晓龙,张小倩,张磊
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第十一研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15