双针单测式半导体测试探针的制作方法

本发明属于半导体检测，具体涉及一种双针单测式半导体测试探针。

背景技术：

1、近年，随着半导体产业的快速发展，电子产品的使用范围越来越广泛，使用数量也越来越大，半导体测试探针主要用于在将半导体与pcba板之间进行导通测试的工具，探针在使用时需要先进行组装，组装的过程主要为将探针的针头压装在针管上；传统的探针需要组装在模组再进行对pcba板测试，组装更换探针效率低，报废率高，测试误测率高。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种双针单测式半导体测试探针，解决传统探针组装更换探针效率低、报废率高、测试误测率高的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明公开了一种双针单测式半导体测试探针，包括固定块，所述固定块的上侧可转动地设置有齿轮，固定块内设置有两个上下布置的通孔，每个所述通孔中放置有弹簧，所述弹簧内放置有针杆，所述针杆的外壁上设置有与齿轮啮合的齿条，两个针杆分别位于齿轮的两侧，通孔的上侧设置有限位板。

3、本发明的技术方案，还具有以下特点：

4、作为本发明的一种优选方案，所述固定块的侧部设置有一对水平布置的安装孔。

5、作为本发明的一种优选方案，所述固定板上设置有一对耳板，所述齿轮通过销钉可转动地设置在所述的一对耳板之间。

6、作为本发明的一种优选方案，所述通孔的下端设置有下限位台阶，所述针杆上设置有上限位台阶，所述上限位台阶位于齿条的下方。

7、作为本发明的一种优选方案，所述限位板为u形板。

8、与现有技术相比：本发明的一种双针单测式半导体测试探针，其结构简单，装配较为方便，便于更换损坏的探针，装配两个探针可以依次对测试点进行测试，以便提高测试效率和准确率，及时发现损坏的探针并进行更换。

技术特征：

1.一种双针单测式半导体测试探针，其特征在于，包括固定块(1)，所述固定块(1)的上侧可转动地设置有齿轮(5)，固定块(5)内设置有两个上下布置的通孔(11)，每个所述通孔(11)中放置有弹簧(9)，所述弹簧(9)内放置有针杆(4)，所述针杆(4)的外壁上设置有与齿轮(5)啮合的齿条(3)，两个针杆(4)分别位于齿轮(5)的两侧，通孔(11)的上侧设置有限位板(2)。

2.根据权利要求1所述的双针单测式半导体测试探针，其特征在于，所述固定块(1)的侧部设置有一对水平布置的安装孔(6)。

3.根据权利要求2所述的双针单测式半导体测试探针，其特征在于，所述固定板(1)上设置有一对耳板(7)，所述齿轮(5)通过销钉(12)可转动地设置在所述的一对耳板(7)之间。

4.根据权利要求3所述的双针单测式半导体测试探针，其特征在于，所述通孔(11)的下端设置有下限位台阶，所述针杆(4)上设置有上限位台阶(8)，所述上限位台阶(8)位于齿条(3)的下方。

5.根据权利要求4所述的双针单测式半导体测试探针，其特征在于，所述限位板(2)为u形板。

技术总结
本发明公开了一种双针单测式半导体测试探针，包括固定块，所述固定块的上侧可转动地设置有齿轮，固定块内设置有两个上下布置的通孔，每个所述通孔中放置有弹簧，所述弹簧内放置有针杆，所述针杆的外壁上设置有与齿轮啮合的齿条，两个针杆分别位于齿轮的两侧，通孔的上侧设置有限位板。该双针单测式半导体测试探针，解决了传统探针组装更换探针效率低、报废率高、测试误测率高的问题。

技术研发人员：丁崇亮,井高飞
受保护的技术使用者：渭南木王智能科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16