一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统与流程

本发明涉及数据处理领域，具体地，涉及一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统。

背景技术：

1、随着包装薄膜的广泛应用，包装薄膜的各项性能指标受到人们的广泛关注。磨损性能是包装薄膜的重要性能指标之一。现有技术中，存在针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题。

技术实现思路

1、本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统。解决了现有技术中针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题。达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果。

2、鉴于上述问题，本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统。

3、第一方面，本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法，其中，所述方法应用于一种包装薄膜的磨损测试分析系统，所述方法包括：读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质、尺寸、生产参数信息；读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；通过所述多场景测试方案，控制测试装置执行所述包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；基于所述验证测试信息对所述磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和所述验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果。

4、第二方面，本申请还提供了一种包装薄膜的磨损测试分析系统，其中，所述系统包括：薄膜信息获得模块，所述薄膜信息获得模块用于读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质、尺寸、生产参数信息；测试方案生成模块，所述测试方案生成模块用于读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；磨损测试模块，所述磨损测试模块用于通过所述多场景测试方案，控制测试装置执行所述包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；测试过程数据采集模块，所述测试过程数据采集模块用于基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；验证数据生成模块，所述验证数据生成模块用于通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；磨损测试分析模块，所述磨损测试分析模块用于基于所述验证测试信息对所述磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和所述验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果。

5、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

6、通过包装薄膜的基础信息和测试装置的测试控制信息进行场景测试分析，生成多场景测试方案；通过多场景测试方案，控制测试装置执行包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；通过图像采集装置和拉力测试装置分别对包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；通过验证测试信息对磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果。达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果。

7、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种包装薄膜的磨损测试分析方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在执行所述包装薄膜的多场景磨损测试前，还包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集，还包括：

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.一种包装薄膜的磨损测试分析系统，其特征在于，所述系统用于执行权利要求1至7中任一项所述的方法，所述系统包括：

技术总结
本发明公开了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统，涉及数据处理领域，其中，所述方法包括：根据测试控制信息和基础信息生成多场景测试方案；通过多场景测试方案控制测试装置执行包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；生成验证测试信息；生成验证数据集；基于验证测试信息对磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果。解决了现有技术中针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题。达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果。

技术研发人员：谭彪,党宇
受保护的技术使用者：张家港禾福新材料科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16