基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法与流程

文档序号:35638493发布日期:2023-10-06 06:01阅读:38来源:国知局
基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法与流程

本发明涉及阵列信号领域,具体而言,涉及一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法。


背景技术:

1、均匀圆阵中的相模理论在方向图综合、波达角估计等领域已经得到了广泛应用,相模激励下全向单元以及指向性单元对圆阵方向图的影响也得到了深入的研究。

2、通常情况下,这类指向性单元的方向图,例如,会消除相模幅度曲线的零点,减小高次谐波对基波的影响,形成宽带稳定的幅度方向图,并减小相位方向图曲线上的周期性扰动。

3、圆阵干涉仪,是直接运用相模激励的圆阵。其在获得宽带稳定的全向幅度方向图的同时,得到随角度线性变化的相位方向图,从而以较高的精度进行doa估计。

4、由于单元方向图的限制,对于 n元均匀圆阵,其获得的相位方向图曲线斜率通常不超过

5、,更高斜率的相位方向图曲线,会由于幅度方向图的不稳定而失去实用价值。


技术实现思路

1、有鉴于此,本发明的目的在于提供一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法及设备。

2、为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:

3、本发明提供一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法。包括:

4、采用具有∞形方向图的 n个天线单元组成圆阵天线, n为大于2的整数;使相邻两个所述天线单元之间的间距为0.8~1.2倍波长;

5、采用一阶相模和二阶相模激励所述圆阵天线,分别获得 n-1阶和 n-2阶的远场相位方向图和幅度方向图,所述幅度方向图包括幅度曲线,所述幅度曲线在目标带宽内保持幅度相对稳定;所述远场相位方向图包括反常相模的相位曲线,在所述反常相模的相位曲线下高次谐波的幅度始终大于基波的幅度;所述相位曲线的斜率大于;

6、利用反常相模的相位曲线,获得高精度测向结果。

7、在一些可能的实现中,相邻两个所述天线单元之间的间距为1±0.1倍波长。

8、在一些可能的实现中,所述采用一阶相模和二阶相模激励所述圆阵天线,包括:

9、向各个所述天线单元馈入等幅度的激励信号,且馈入其中任意两个相邻的所述天线单元的所述激励信号的相位差相等。

10、在一些可能的实现中,采用具有 n个输入端口的巴特勒矩阵向所述圆形阵列天线的 n个天线单元馈入激励信号,每个所述天线单元与所述输入端口的其中之一电连接。

11、在一些可能的实现中,第 k阶相位模式的所述激励信号的相位沿所述天线单元所在的圆周的周向方向线性变化,变化范围为 k×360°,第 k阶相位模式的所述激励信号的相对幅度大小为,式中, r为所述圆周的半径, λ为波长, k为自然数。

12、本发明实施例提供的基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法及设备,通过∞形单元方向图对相模的影响,获得高于的高阶斜率相位曲线,同时保持相对稳定的幅度方向图,更高的线斜率意味着,可以获得更高的估计精度。

13、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。



技术特征:

1.一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法,其特征在于,包括:

2.据权利要求1所述的相位干涉仪测向方法,其特征在于,相邻两个所述天线单元之间的间距为1±0.1倍波长。

3.据权利要求1所述的相位干涉仪测向方法,其特征在于,所述采用一阶相模和二阶相模激励所述圆阵天线,包括:

4.根据权利要求3所述的相位干涉仪测向方法,其特征在于,采用具有n个输入端口的巴特勒矩阵向所述圆阵天线的n个天线单元馈入激励信号,每个所述天线单元与所述输入端口的其中之一电连接。

5.根据权利要求4所述的相位干涉仪测向方法,其特征在于,第k阶相位模式的所述激励信号的相位沿所述天线单元所在的圆周的周向方向线性变化,变化范围为k×360°,第k阶相位模式的所述激励信号的相对幅度大小为,式中,jk为k阶贝塞尔函数,r为所述圆周的半径,λ为波长,k为自然数。


技术总结
本发明实施例提出一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法,通过形单元方向图对相模的影响,获得高于的高阶斜率相位曲线,同时保持相对稳定的幅度方向图,更高的线斜率意味着,可以获得更高的估计精度。

技术研发人员:王书楠,张凡,陈俊华
受保护的技术使用者:杭州岸达科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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