一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置的制作方法

本发明涉及表面缺陷检测，特别是涉及一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置。

背景技术：

1、陶瓷普遍具有轻质、隔热、耐热、耐蚀的特点，广泛地应用于过滤、催化、吸音、气敏及人工骨等领域。与氧化物基陶瓷相比，si3n4陶瓷强度高、介电常数低且稳定，作为一种新型的“结构-功能”一体化材料有应用前景，引起了广泛的研究。

2、陶瓷材料在加工过程中由于加工工艺的原因，会导致氮化硅陶瓷材料的表面存在表面缺陷，表面缺陷对氮化硅陶瓷材料在实际的应用过程中会带来安全隐患，但是现有技术中检测氮化硅陶瓷材料表面缺陷是否符合标准的方式多为人工检测，人工检测不仅检测效率和检测质量难以保证，还存在人力成本高的问题；此外，一些现有的检测设备，检测效果也不太理想，且检测效率较低。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，以解决上述现有技术存在的问题，能够对氮化硅陶瓷材料进行全方面的表面缺陷检测，并且检测效率高、自动化程度高，有效降低人力成本，提高检测效率。

2、为实现上述目的，本发明提供了如下方案：本发明提供一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，包括

3、装置主体，所述装置主体包括装置底座和支撑架，所述支撑架安装在所述装置底座上；以及

4、夹持机构，所述装置底座上设置有所述夹持机构，所述夹持机构可沿所述装置底座移动，所述夹持机构包括支撑筒体和固定盘，氮化硅陶瓷材料样品的两端分别被夹持在所述固定盘中，所述固定盘通过轴承安装在所述支撑筒体内，电机驱动所述固定盘在所述支撑筒体内转动；以及

5、照射单元，所述支撑架上安装有所述照射单元，所述照射单元用于对所述氮化硅陶瓷材料样品进行照射；以及

6、捕获单元，所述捕获单元用于捕获所述氮化硅陶瓷材料样品反射的光线，且所述捕获单元用于将捕获的光线及图案信息上传至处理器，所述处理器与输出设备相连接，通过所述输出设备上的显示器对缺陷位置进行显示。

7、优选地，所述装置底座上与氮化硅陶瓷材料样品的长度方向同向的设置有滑轨，所述支撑筒体固定在支撑柱上，所述支撑柱的底部固定在移动座上，所述移动座可沿所述滑轨来回移动。

8、优选地，所述固定盘为圆盘状，所述固定盘的内壁上均布有多个弧形的内齿，所述固定盘的内腔中设置有连接主体，氮化硅陶瓷材料样品穿设在所述连接主体上开设的安装孔内，所述连接主体的外壁面上均布有多个外牙，所述外牙对应插入所述内齿中。

9、优选地，根据所述氮化硅陶瓷材料样品的形状设置所述连接主体内所述安装孔的形状，所述连接主体可拆卸的装配在所述固定盘的内腔中。

10、优选地，所述固定盘的内侧还设置有防脱盖，所述防脱盖的中间开设有用于氮化硅陶瓷材料样品穿过的过孔，所述过孔沿所述氮化硅陶瓷材料样品的穿入方向呈内径递减的形式。

11、优选地，所述过孔的上下两侧均设置有一个或多个限位齿，所述限位齿的齿体顶部连接有连杆机构，所述连杆机构的顶部伸出所述防脱盖的外侧，且所述连杆机构的外端部装配有移动套，通过提起或下按所述移动套实现所述限位齿的关闭和打开操作。

12、优选地，所述照射单元包括显示屏和图案，图案和光源从所述显示屏一起发出，所述图案具有不同颜色或暗度的区域一和区域二，所述区域一的线条和区域二的线条呈网状相互交织。

13、优选地，所述捕获单元采用摄像头，所述摄像头通过基座安装在所述支撑架上。

14、本发明相对于现有技术取得了以下有益技术效果：

15、本发明中的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，包括装置主体、夹持机构、照射单元和捕获单元，氮化硅陶瓷材料样品的两端通过夹持机构装配在装置主体上，由于氮化硅陶瓷材料的表面缺陷往往需要多方面的检测，因此，本发明中的夹持机构是可以相对于装置主体和照射单元转动的，通过伺服电机控制固定盘的转动角度，对氮化硅陶瓷材料的一面检测完毕后，可以转动固定盘再对其他面进行表面缺陷检测，使得检测结果更加全面；照射单元对氮化硅陶瓷材料进行照射，由于样品表面是否存在缺陷其反射的光线情况是不同的，通过捕获单元对反射光线进行捕获并上传至处理器进行信息处理，最终将表面缺陷信息呈现在输出设备的显示器上。

技术特征：

1.一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：包括

2.根据权利要求1所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述装置底座上与氮化硅陶瓷材料样品的长度方向同向的设置有滑轨，所述支撑筒体固定在支撑柱上，所述支撑柱的底部固定在移动座上，所述移动座可沿所述滑轨来回移动。

3.根据权利要求1所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述固定盘为圆盘状，所述固定盘的内壁上均布有多个弧形的内齿，所述固定盘的内腔中设置有连接主体，氮化硅陶瓷材料样品穿设在所述连接主体上开设的安装孔内，所述连接主体的外壁面上均布有多个外牙，所述外牙对应插入所述内齿中。

4.根据权利要求3所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：根据所述氮化硅陶瓷材料样品的形状设置所述连接主体内所述安装孔的形状，所述连接主体可拆卸的装配在所述固定盘的内腔中。

5.根据权利要求1所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述固定盘的内侧还设置有防脱盖，所述防脱盖的中间开设有用于氮化硅陶瓷材料样品穿过的过孔，所述过孔沿所述氮化硅陶瓷材料样品的穿入方向呈内径递减的形式。

6.根据权利要求5所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述过孔的上下两侧均设置有一个或多个限位齿，所述限位齿的齿体顶部连接有连杆机构，所述连杆机构的顶部伸出所述防脱盖的外侧，且所述连杆机构的外端部装配有移动套，通过提起或下按所述移动套实现所述限位齿的关闭和打开操作。

7.根据权利要求1所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述照射单元包括显示屏和图案，图案和光源从所述显示屏一起发出，所述图案具有不同颜色或暗度的区域一和区域二，所述区域一的线条和区域二的线条呈网状相互交织。

8.根据权利要求1所述的氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，其特征在于：所述捕获单元采用摄像头，所述摄像头通过基座安装在所述支撑架上。

技术总结
本发明公开一种氮化硅陶瓷材料表面缺陷检测装置，包括装置主体、夹持机构、照射单元和捕获单元，氮化硅陶瓷材料样品的两端通过夹持机构装配在装置主体上，由于氮化硅陶瓷材料的表面缺陷往往需要多方面的检测，因此，本发明中的夹持机构是可以相对于装置主体和照射单元转动的，通过伺服电机控制固定盘的转动角度，对氮化硅陶瓷材料的一面检测完毕后，可以转动固定盘再对其他面进行表面缺陷检测，使得检测结果更加全面；照射单元对氮化硅陶瓷材料进行照射，由于样品表面是否存在缺陷其反射的光线情况是不同的，通过捕获单元对反射光线进行捕获并上传至处理器进行信息处理，最终将表面缺陷信息呈现在输出设备的显示器上。

技术研发人员：许滔,肖立,谭皓文,李能,罗文军
受保护的技术使用者：衡阳凯新特种材料科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15